本申请提供了用于显示装置的检查设备和用于显示装置的检查方法。检查设备包括将光供给到显示装置的表面的光供应器、定位在显示装置与光供应器之间的检查图案部、测量从显示装置的表面反射的反射光的测量部和处理由测量部测量的反射光的数据的处理器，其中处理器包括包含有校准数据的校准数据部和使用校准数据部的校准数据来校准数据的校准器。据部的校准数据来校准数据的校准器。据部的校准数据来校准数据的校准器。
【技术实现步骤摘要】
用于显示装置的检查设备和检查方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年10月14日提交到韩国知识产权局的第10
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2021
‑
0136554号韩国专利申请的优先权以及权益，该韩国专利申请的全部内容通过引用并入本文中。
[0003]本公开涉及用于显示装置的检查设备和检查方法。
技术介绍
[0004]在制造显示装置之后，可能需要检查显示装置。
[0005]显示装置的检查步骤可包括检查从外部入射的光在可由用户在视觉上识别的显示装置的表面上是否畸变。
[0006]在显示装置内部可形成有诸如用于形成信号线的层、用于形成晶体管的层以及发射层的多个层，层的数量或层的厚度可根据其位置而不同，并且在包括具有不同数量和厚度的层的区上可形成有用于平坦化的层。相应地，在显示装置的外表面的平坦化层上实际上测量的表面质量检查结果可能由于内部层的数量和厚度的差异而不同于用户能够实际上从外部在视觉上识别的光的畸变结果。
[0007]在本
技术介绍
部分中公开的以上信息仅用于增强对所描述的技术的背景的理解，并且因此，其可能包含不构成在本国对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
[0008]实施方式已致力于提供能够通过减小在显示装置的外表面上测量的表面质量检查结果与用户能够实际上从外部在视觉上识别的光的畸变结果之间的差异来增加质量检查的精度的用于显示装置的检查设备和检查方法。
[0009]然而，由实施方式解决的问题不限于上述问题。本公开的其它方面对于本领域普通技术人员将为显而易见的。
[0010]实施方式提供了用于显示装置的检查设备，用于显示装置的检查设备可包括将光供给到显示装置的表面的光供应器、位于显示装置与光供应器之间的检查图案部、测量从显示装置的表面反射的反射光的测量部和处理由测量部测量的反射光的数据的处理部。处理部可包括包含有校准数据的校准数据部和通过使用校准数据部的校准数据来校准数据的校准器。
[0011]可垂直于显示装置的表面的第一方向和可垂直于检查图案部的表面的第二方向可彼此形成角度。
[0012]角度可在约0度至约45度的范围内。
[0013]角度可在约0度至约30度的范围内。
[0014]检查图案部可包括排列成具有间隔的多个阻光部和定位在多个阻光部中的两个相邻阻光部之间的透光部。
[0015]多个阻光部中的两个相邻阻光部之间的距离可根据两个相邻阻光部的位置而不同。
[0016]检查图案部可包括在平面视图中具有均一形状并且以有规律的间隔布置的多个透光部。
[0017]测量部可包括检测反射光的相机。
[0018]处理部可包括算法程序。
[0019]处理部可检测反射光的线性畸变和反射光的平面畸变。
[0020]处理部可通过计算检查图案部的宽度与反射光的宽度的比率来确定反射光的线性畸变。
[0021]反射光的平面畸变可包括橘皮和反射光的屈光力。
[0022]处理部可确定反射光是否具有异常缺陷，并且可确定异常缺陷的比率。
[0023]实施方式提供了用于显示装置的检查方法，用于显示装置的检查方法可包括将已穿过检查图案部的光供给到显示装置的表面、测量从显示装置的表面反射的反射光、通过使用所测量的反射光来确定线性畸变、通过使用所测量的反射光来确定平面畸变以及使用校准数据来校准线性畸变和平面畸变。
[0024]检查方法还可包括将显示装置的表面划分为测量区域。
[0025]检查图案部可倾斜为使得可垂直于显示装置的表面的第一方向与可垂直于检查图案部的表面的第二方向彼此形成角度。
[0026]角度可在约0度至约45度的范围内。
[0027]可用算法程序来执行确定线性畸变、确定平面畸变和校准线性畸变和平面畸变。
[0028]确定线性畸变可包括计算检查图案部的宽度与反射光的宽度的比率。
[0029]确定平面畸变可包括测量测量区域中的反射光的屈光力、通过使用屈光力来确定测量区域中是否已发生橘皮以及确定反射光是否具有异常缺陷并确定异常缺陷的比率。
[0030]依照根据实施方式的用于显示装置的检查设备和检查方法，能够通过减小在显示装置的外表面上测量的表面质量检查结果与用户能够实际上从外部在视觉上识别的光的畸变结果之间的差异来增加质量检查的精度。
[0031]然而，实施方式的效果不限于上述效果。其它效果对于本领域普通技术人员将为显而易见的。
附图说明
[0032]图1示出了根据实施方式的用于显示装置的检查设备的示意性视图。
[0033]图2至图4各自示意性地示出了根据实施方式的用于显示装置的检查设备的检查图案部的实例。
[0034]图5至图7各自示意性地示出了根据实施方式的已穿过用于显示装置的检查设备的检查图案部的缺陷部分的图像。
[0035]图8至图10示意性地示出了根据实施方式的由用于显示装置的检查设备执行的质量检查的实例。
[0036]图11概念性地示出了根据用户与显示装置之间的距离的观察距离和观察角度。
[0037]图12示出了根据实施方式的显示装置的检查方法的流程图。
[0038]图13和图14各自示意性地示出了显示实验例的结果的曲线图。
具体实施方式
[0039]在下文中将参照示出了实施方式的附图对本公开更加全面地描述。如本领域普通技术人员将认识到的，所描述的实施方式可在所有不背离本公开的精神或范围的情况下以各种不同的方式来修改。
[0040]为了清楚地描述本公开，可省略与描述无关的部分，并且在整个说明书中，类似的附图标记是指类似或相似的构成元件。
[0041]附图被提供仅以便使说明书中公开的实施方式容易理解，并且将不被解释为限制说明书中公开的精神，并且将理解的是，本公开包括所有修改、等同物和替换物。
[0042]此外，由于为了描述的更好理解和描述的方便可任意给出附图中所示的构成构件的尺寸和厚度，因此本公开不限于所示的尺寸和厚度。在附图中，为了清楚，层、膜、面板、区等的厚度可被夸大。在附图中，为了描述的更好理解和描述的方便，一些层和区域的厚度可被夸大。
[0043]除非上下文另有清楚指示，否则如本文中所使用的单数形式“一(a)”、“一(an)”和“该(the)”也旨在包括复数形式。
[0044]出于其含义和解释的目的，在说明书和权利要求书中，术语“和/或”旨在包括术语“和”和“或”的任何组合。例如，“A和/或B”可理解为意味着“A、B、或者A和B”。术语“和”和“或”可以结合或分离的方式来使用，并且可理解为等同于“和/或”。
[0045]将理解的是，当诸如层、膜、区或衬底的元件被称为在另一元件“上”时，该元件能够直接在另一元件上，或者也可存在居间元件。相反，当元件被称为“直接”在另一元件“上”时，则可不存在居间元件。另外，在说明书中，词语“上(on)本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于显示装置的检查设备，包括：光供应器，所述光供应器将光供给到所述显示装置的表面；检查图案部，所述检查图案部位于所述显示装置与所述光供应器之间；测量部，所述测量部测量从所述显示装置的所述表面反射的反射光；以及处理部，所述处理部处理由所述测量部测量的所述反射光的数据，其中，所述处理部包括：校准数据部，所述校准数据部包括校准数据；以及校准器，所述校准器通过使用所述校准数据部的所述校准数据来校准所述数据。2.根据权利要求1所述的检查设备，其中，与所述显示装置的所述表面垂直的第一方向和与所述检查图案部的表面垂直的第二方向彼此形成角度。3.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述角度在0度至45度的范围内。4.根据权利要求3所述的检查设备，其中，所述角度在0度至30度的范围内。5.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述检查图案部包括：多个阻光部，所述多个阻光部排列成具有间隔；以及透光部，所述透光部定位在所述多个阻光部中的两个相邻阻光部之间。6.根据权利要求5所述的检查设备，其中，所述多个阻光部中的所述两个相邻阻光部之间的距离根据所述两个相邻阻光部的位置而不同。7.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述检查图案部包括在平面视图中具有均一形状并且以有规律的间隔布置的多个透光部。8.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述测量部包括检测所述反射光的相机。9.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述处理部包括算法程序。10.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述处理部检测所述反射光的线性畸变和所述反射光的平面畸变。11.根据权利要求10所述的检查设备，其中，所述处...
【专利技术属性】
技术研发人员：石相俊，金南赫，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：
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