【技术实现步骤摘要】
显示装置的制造方法
[0001]本专利技术涉及显示装置的制造技术。
技术介绍
[0002]作为显示装置,具有在基板上以行列状排列有作为自发光元件的无机发光二极管元件的LED(Light Emitting Diode,发光二极管)显示装置(例如,参照专利文献1(日本特开2019
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36719号公报))。另外,在专利文献2(日本特开2021
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18386号公报)中,记载了一种在阵列基板上安装了半导体层后进行LED元件的点亮试验的方法。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1:日本特开2019
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36719号公报
[0006]专利文献2:日本特开2021
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18386号公报
技术实现思路
[0007]在LED显示装置的情况下,在阵列基板上安装有大量的LED元件。根据大量的LED元件各自的安装状态的不同,存在发生点亮不良的情况。因此,优选对LED元件与阵列基板的电连接状态进行试验。然而,在阵列基板上安装了LED元件后进行电气性试验的方法的情况下,难以进行判断成不良的情况下的修复处理。另外,在将判断成不良的在制品(半成品)废弃的方式的情况下,产品的生产量降低。
[0008]本专利技术的目的在于提供一种提高LED显示装置的制造效率的技术。
[0009]作为本专利技术的一个方案的显示装置的制造方法包括:(a)工序,准备以行列状排列有多个第1无机发光元件的第1基板和形 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示装置的制造方法,其特征在于,包括:(a)工序,准备以行列状排列有多个第1无机发光元件的第1基板和形成有多个第1端子的阵列基板;(b)工序,在使保持于第1载台的所述第1基板与保持于第2载台的所述阵列基板相对的状态下,按压所述多个第1无机发光元件的各个第1无机发光元件和所述阵列基板,由此将所述阵列基板的所述多个第1端子与所述多个第1无机发光元件各自经由第1导电性接合材料而电连接;(c)工序,在所述(b)工序之后,将所述多个第1端子中包含的一对第1检查端子连接于检查电路,并计测与配置在所述一对第1检查端子上的第1无机发光元件的电连接状态;以及(d)工序,在所述(c)工序之后,在按压着所述多个第1无机发光元件的各个第1无机发光元件和所述阵列基板的状态下,对与所述多个第1端子接触的所述第1导电性接合材料施加热能,由此使所述第1导电性接合材料与所述多个第1无机发光元件的电极及所述多个第1端子中的至少一方接合,在所述(d)工序中,基于在所述(c)工序中计测出的结果,控制按压所述多个第1无机发光元件的各个第1无机发光元件和所述阵列基板时的压入量。2.根据权利要求1所述的显示装置的制造方法,其特征在于,在所述(a)工序中准备的所述阵列基板上,还形成有多个第2端子,所述显示装置的制造方法还包括:(e)工序,准备以行列状排列有多个第2无机发光元件的第2基板;(f)工序,在所述(d)工序及所述(e)工序之后,在使保持于所述第1载台的所述第2基板与保持于所述第2载台的所述阵列基板相对的状态下,按压所述多个第2无机发光元件的各个第2无机发光元件和所述阵列基板,由此将所述阵列基板的所述多个第2端子与所述多个第2无机发光元件各自经由第2导电性接合材料而电连接;(g)工序,在所述(f)工序之后,将所述多个第2端子中包含的一对第2检查端子连接于所述检查电路,并计测与配置在所述一对第2检查端子上的第2无机发光元件的电连接状态;以及(h)工序,在所述(g)工序之后,在按压着所述多个第2无机发光元件的各个第2无机发光元件和所述阵列基板的状态下,对与所述多个第2端子接触的所述第2导电性接合材料施加热能,由此使所述第2导电性接合材料与所述多个第2无机发光元件的电极及所述多个第2端子中的至少一方接合,在所述(h)工序中,基于在所述(g)工序中计测出的结果,控制按压所述多个第2无机发光元件的各个第2无机发光元件和所述阵列基板时的压入量。3.根据权利要求2所述的显示装置的制造方法,其特征在于,在所述(a)工序中准备的所述阵列基板上,还形成有多个第3端子,所述显示装置的制造方法还包括:(i)工序,准备以行列状排列有多个第3无机发光元件的第3基板;(k)工序,在所述(h)工序及所述(i)工序之后,在使保持于所述第1载台的所述第3基板与保持于所述第2载台的所述阵列基板...
【专利技术属性】
技术研发人员:矶野大树,山田一幸,浅田圭介,武政健一,
申请(专利权)人:株式会社日本显示器,
类型:发明
国别省市:
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