本发明专利技术涉及微波检测技术领域，公开一种谐振腔检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取放置预设数量待检测样品的平行板，并使平行板的谐振腔处于恒温箱；向恒温箱输入第一测试温度，当达到第一测试温度时，逐一检测待检测样品，获得第一谐振频率；待待检测样品均检测完成后，向恒温箱输入第二测试温度，当达到第二测试温度预设时长后，逐一检测预设数量待检测样品，获得第二谐振频率；根据第一谐振频率和所述第二谐振频率获得待检测材料的温度系数。本发明专利技术通过检测不同温度下待检测样品的谐振频率，确定待检测材料的温度系数，解决已有的传输法不能实现对样品较高精度的测量的问题，使用过程不必校准，携带方便，测试精确。确。确。
【技术实现步骤摘要】
谐振腔检测方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及微波检测
，尤其涉及一种谐振腔检测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]微波介质陶瓷材料的谐振频率温度系数表示环境温度变化时，谐振中心频率的相对偏移量，该系数是微波介质陶瓷材料介电性能的重要参数之一。随着电路的集成度提高，元件密度增大，单位体积上产生的热量越来越多，因而电路对器件性能的温度稳定性要求越来越高，精确快速的检测材料的温度系数显得越来越重要，传输法检测温度系数的优点是测试频带宽，操作简单且同时对波导系统和同轴系统均适用，但是该方法也存在很多缺点，对于低损耗的材料，当样品厚度小于系统中样品中的半个波导波长时，会使得测量的不确定度增大，最终导致测试不确定度较大，并且，当样品厚度正好是半个波导波长的整数倍时，系统中会产生厚度谐振，该方法还存在多值性问题，其次，极薄样品测量的不确定度高，因此，已有的传输法不能实现对样品的较高精度的测量。
技术实现思路
[0003]本专利技术的主要目的在于提供一种谐振腔检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术已有的传输法不能实现对样品的较高精度的测量的技术问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供了一种谐振腔检测方法，所述方法包括以下步骤：
[0005]获取放置预设数量待检测样品的平行板，并使所述平行板的谐振腔处于恒温箱，所述预设数量待检测样品均为待检测材料制成；
[0006]向所述恒温箱输入第一测试温度，当所述恒温箱的温度达到第一测试温度时，逐一检测所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品，获得第一谐振频率；
[0007]待所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品均检测完成后，向所述恒温箱输入第二测试温度，当所述恒温箱的温度达到第二测试温度预设时长后，逐一检测所述第二测试温度下的所述预设数量待检测样品，获得第二谐振频率；
[0008]根据所述第一谐振频率和所述第二谐振频率获得所述待检测材料的温度系数。
[0009]可选地，所述获取放置预设数量待检测样品的平行板，并使所述平行板的谐振腔处于恒温箱之前，还包括：
[0010]获取所述预设数量待检测样品的直径，所述预设数量待检测样品的直径均一致；
[0011]根据所述预设数量待检测样品的直径与相邻待检测样品间最小间距之间的对应关系，确定所述预设数量待检测样品之间的目标放置间距；
[0012]根据所述预设数量待检测样品之间的目标放置间距调整所述平行板上相邻待检测样品之间的间距。
[0013]可选地，所述向所述恒温箱输入第一测试温度，当所述恒温箱的温度达到第一测试温度时，逐一检测所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品，获得第一谐振频率，
包括：
[0014]向所述恒温箱输入第一测试温度，并实时监测所述恒温箱的温度；
[0015]当所述恒温箱的温度达到第一测试温度时，逐一检测所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品，得到所述预设数量待检测样品的谐振频率；
[0016]计算所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值；
[0017]重复进行预设次数的检测并计算所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值，获得所述预设次数对应的所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值；
[0018]根据所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值和所述预设次数对应的所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值再次进行平均值计算，获得第一谐振频率。
[0019]可选地，所述当所述恒温箱的温度达到第一测试温度时，逐一检测所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品，得到所述预设数量待检测样品的谐振频率，包括：
[0020]通过调节所述平行板间的高度，确定所述预设数量待检测样品对应的谐振峰；
[0021]检测所述预设数量待检测样品对应的谐振峰的谐振频率，将所述预设数量待检测样品对应的谐振峰的谐振频率作为所述预设数量待检测样品的谐振频率。
[0022]可选地，所述当所述恒温箱的温度达到第二测试温度预设时长后，逐一检测所述第二测试温度下的所述预设数量待检测样品，获得第二谐振频率，包括
[0023]当所述恒温箱的温度达到第二测试温度预设时长后，通过调节所述平行板间的高度确定所述预设数量待检测样品对应的谐振峰；
[0024]检测所述预设数量待检测样品对应的谐振峰的谐振频率，将所述预设数量待检测样品对应的谐振峰的谐振频率作为所述预设数量待检测样品的谐振频率；
[0025]计算所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值；
[0026]重复进行预设次数的检测并计算所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值，获得所述预设次数对应的所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值；
[0027]根据所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值和所述预设次数对应的所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值再次进行平均值计算，获得第二谐振频率。
[0028]可选地，所述向所述恒温箱输入第一测试温度，当所述恒温箱的温度达到第一测试温度时，逐一检测所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品，获得第一谐振频率之前，还包括：
[0029]获取脉冲信号，将所述脉冲信号输入至所述平行板的步进电机，以使所述平行板上的待检测样品开始转动。
[0030]可选地，所述根据所述第一谐振频率和所述第二谐振频率获得所述待检测材料的温度系数，包括：
[0031]根据所述第一谐振频率和所述第二谐振频率，获得频率差值；
[0032]根据所述第一检测温度和所述第二检测温度，获得温度差值；
[0033]获取所述待检测材料的温度系数与所述频率差值和温度差值的对应关系；
[0034]根据所述待检测材料的温度系数与所述频率差值和温度差值的对应关系，确定所述待检测材料的温度系数。
[0035]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种谐振腔检测装置，所述谐振腔检测装置包括：
Access Memory，RAM)，也可以是稳定的非易失性存储器(Non
‑
Volatile Memory，NVM)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
[0052]本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对谐振腔检测设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
[0053]如图1所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及谐振腔检测程序。
[0054]在图1所示的谐振腔检测设备中，网络接口1004主要用于与网络服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于与用户进行数据交互；本专利技术谐振腔检测设备中的处理器1001、存储器1005可以设置在谐振腔检测设备中，所述谐振腔检测设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的谐振腔检测程序，并执行本专利技术实施例提供的谐振腔检测方法。
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种谐振腔检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取放置预设数量待检测样品的平行板，并使所述平行板的谐振腔处于恒温箱，所述预设数量待检测样品均为待检测材料制成；向所述恒温箱输入第一测试温度，当所述恒温箱的温度达到第一测试温度时，逐一检测所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品，获得第一谐振频率；待所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品均检测完成后，向所述恒温箱输入第二测试温度，当所述恒温箱的温度达到第二测试温度预设时长后，逐一检测所述第二测试温度下的所述预设数量待检测样品，获得第二谐振频率；根据所述第一谐振频率和所述第二谐振频率获得所述待检测材料的温度系数。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取放置预设数量待检测样品的平行板，并使所述平行板的谐振腔处于恒温箱之前，还包括：获取所述预设数量待检测样品的直径，所述预设数量待检测样品的直径均一致；根据所述预设数量待检测样品的直径与相邻待检测样品间最小间距之间的对应关系，确定所述预设数量待检测样品之间的目标放置间距；根据所述预设数量待检测样品之间的目标放置间距调整所述平行板上相邻待检测样品之间的间距。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述恒温箱输入第一测试温度，当所述恒温箱的温度达到第一测试温度时，逐一检测所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品，获得第一谐振频率，包括：向所述恒温箱输入第一测试温度，并实时监测所述恒温箱的温度；当所述恒温箱的温度达到第一测试温度时，逐一检测所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品，得到所述预设数量待检测样品的谐振频率；计算所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值；重复进行预设次数的检测并计算所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值，获得所述预设次数对应的所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值；根据所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值和所述预设次数对应的所述预设数量待检测样品的谐振频率的平均值再次进行平均值计算，获得第一谐振频率。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述当所述恒温箱的温度达到第一测试温度时，逐一检测所述第一测试温度下的所述预设数量待检测样品，得到所述预设数量待检测样品的谐振频率，包括：通过调节所述平行板间的高度，确定所述预设数量待检测样品对应的谐振峰；检测所述预设数量待检测样品对应的谐振峰的谐振频率，将所述预设数量待检测样品对应的谐振峰的谐振频率作为所述预设数量待检测样品的谐振频率。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当所述恒温箱的温度达到第二测试温度预设时长后，逐一检测所述第二测试温度下的所述预设数量待检测样品，获得第二谐振频率，包括：当所述恒温箱的温度达到第二测试温度预设时长后，通过...
【专利技术属性】
技术研发人员：乐卫平，林桂浩，唐亚海，
申请(专利权)人：深圳市恒运昌真空技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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