用于对被检物进行扫描检测的检测设备制造技术

本公开的实施例涉及辐射检测技术领域，提供了一种检测设备，用于对被检物进行扫描检测，所述检测设备包括：检测通道，被检物通过检测通道进出检测设备；成像系统，用于对被检物进行扫描检测，成像系统包括：射线源，用于产生射线，射线源设置在检测通道的一侧，射线至少形成适于对被检物进行扫描检测的主束面；以及探测器，用于接收通过被检物的射线，探测器设置在检测通道的另一侧，在射线源与探测器之间形成检测区域；以及姿态调整结构，姿态调整结构设置在检测区域中，用于调整位于检测区域中的被检物的姿态，其中，被检物具有检测面，姿态调整结构能够调整被检物的姿态，使得检测面与主束面在同一平面内。主束面在同一平面内。主束面在同一平面内。

【技术实现步骤摘要】
用于对被检物进行扫描检测的检测设备


[0001]本公开涉及辐射检测
，更具体地，涉及一种被用于对被检物进行扫描检测的检测设备。

技术介绍

[0002]辐射检测技术是一种利用射线检测物体内部的技术。这种技术可以在不破坏物体的情况下获得物体内部的结构和密度等信息，目前广泛应用在医院的胸透和车站、机场的安检等场景下。
[0003]在目前的检测设备中，可以采用CT扫描技术对被检物进行检测。例如，被检物包括薄层结构，特别是“三明治”式的薄层结构，薄层层厚小且薄层的相邻层存在成像干扰，传统的螺旋扫描会造成相邻层对中心层(即薄层)的干扰，即射线穿过中心层时也穿过了相邻层，从而影响图像分辨与识别。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本公开提供了一种被用于对被检物进行扫描检测的检测设备。
[0005]在一个方面，提供一种检测设备，用于对被检物进行扫描检测，所述检测设备包括：
[0006]检测通道，所述被检物通过所述检测通道进出所述检测设备；
[0007]成像系统，用于对被检物进行扫描检测，所述成像系统包括：
[0008]射线源，用于产生射线，所述射线源设置在所述检测通道的一侧，所述射线至少形成适于对所述被检物进行扫描检测的主束面；以及
[0009]探测器，用于接收通过所述被检物的射线，所述探测器设置在所述检测通道的另一侧，在所述射线源与所述探测器之间形成检测区域；以及
[0010]姿态调整结构，所述姿态调整结构设置在所述检测区域中，用于调整位于所述检测区域中的被检物的姿态，
[0011]其中，所述被检物具有检测面，所述姿态调整结构能够调整所述被检物的姿态，使得所述检测面与所述主束面在同一平面内。
[0012]根据一些示例性的实施例，在所述主束面所在的平面内，所述成像系统和所述被检物的相对位置能够改变，以使得所述成像系统能够以多个角度对所述被检物进行扫描检测。
[0013]根据一些示例性的实施例，在所述主束面所在的平面内，所述成像系统能够相对所述被检物旋转。
[0014]根据一些示例性的实施例，所述成像系统包括多个探测器，所述多个探测器与所述射线源相对设置，在所述射线源与所述多个探测器之间形成多个主束面，所述多个主束面在同一平面内；以及所述姿态调整结构能够调整所述被检物的姿态，使得所述检测面与所述多个主束面在同一平面内。
[0015]根据一些示例性的实施例，所述姿态调整结构能够在第一方向上移动所述被检物，使得所述被检物具有多个检测面，其中，所述第一方向平行于被检物的输送方向。
[0016]根据一些示例性的实施例，对于每一个检测面，所述姿态调整结构能够定位所述被检物，使得该检测面与所述主束面在同一个平面内。
[0017]根据一些示例性的实施例，所述被检物包括检测部分，所述检测部分具有所述检测面，所述检测部分沿第一方向的投影的面积值与所述检测部分在所述第一方向上的尺寸值的比值大于等于10，其中，所述第一方向平行于被检物的输送方向。
[0018]根据一些示例性的实施例，所述探测器在所述第一方向上的尺寸与所述检测部分在所述第一方向上的尺寸的比值在1～8的范围内。
[0019]根据一些示例性的实施例，所述射线源的焦点尺寸小于等于1毫米。
[0020]根据一些示例性的实施例，所述姿态调整结构包括：
[0021]基体，沿所述第一方向延伸布置，所述基体具有承载面，所述承载面上适于放置被检物；
[0022]第一调整组件，设置在所述基体上，用于驱动所述被检物在所述承载面上发生绕第二方向的偏移以及用于驱动所述被检物发生沿所述第一方向的移动；
[0023]至少一第二调整组件，设置在所述基体上，用于驱动所述被检物发生绕第三方向的转动，
[0024]其中，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向中的任意两者彼此相交。
[0025]根据一些示例性的实施例，所述第一调整组件包括：
[0026]机架，相对所述基体在所述第一方向上可滑动；
[0027]转动件，以平行于所述第二方向的轴线为转动轴线，可转动地设置在所述机架上，在外力的驱动下，所述转动件用于驱动所述被检物在所述承载面上发生绕第二方向的偏移，以及在所述机架的带动下所述转动件驱动所述被检物产生沿所述第一方向的移动。
[0028]根据一些示例性的实施例，所述检测区域包括入口和出口；所述检测设备还包括第一传动机构，所述第一传动机构设置于所述检测区域的入口的一侧，用于向所述检测区域输送所述被检物。
[0029]根据一些示例性的实施例，所述第一传动机构包括：
[0030]驱动装置；
[0031]丝杠，所述丝杠与所述驱动装置连接，所述丝杠能被所述驱动装置驱动；
[0032]第一滑轨，所述第一滑轨的延伸方向与所述丝杠的延伸方向平行；
[0033]滑动机构，所述滑动机构与所述丝杠连接，所述丝杠能带动所述滑动机构运动，使得所述滑动机构推动所述被检物在所述第一滑轨上滑动。
[0034]根据一些示例性的实施例，所述成像系统包括多个射线源和多个探测器，所述多个射线源分别与所述多个探测器相对设置，以形成多个源探组件，每一个源探组件之间形成一个主束面，所述多个源探组件的主束面位于同一平面内；以及所述姿态调整结构能够调整所述被检物的姿态，使得所述检测面与所述多个源探组件的主束面在同一平面内。
附图说明
[0035]通过以下参照附图对本公开实施例的描述，本公开的上述以及其他目的、特征和
优点将更为清楚，在附图中：
[0036]图1示意性示出了根据本公开实施例的检测设备的整体结构图。
[0037]图2示意性示出了根据本公开实施例的第一传动机构的俯视示意图。
[0038]图3示意性示出了图2中A
‑
A面的剖视图。
[0039]图4示意性示出了根据本公开实施例的第二调整组件的调整方式简图。
[0040]图5示意性示出了根据本公开实施例的第一调整组件的调整方式简图。
[0041]图6示意性示出了根据本公开实施例的第一调整组件的主视图。
[0042]图7示意性示出了根据本公开实施例的第一调整组件的俯视图。
[0043]图8示意性示出了图7中A
‑
A处的剖视图。
[0044]图9示意性示出了图7中B
‑
B处的剖视图。
[0045]图10示意性示出了根据本公开实施例的拨头的结构示意图。
[0046]图11示意性示出了图7中C
‑
C处的剖视图。
[0047]图12示意性示出了根据本公开实施例的第一传动机构的侧视图。
[0048]图13示意性示出了根据本公开实施例的辐射成像的原理简图。
[0049]图14示意性示出了根据本公开实施例的第二调整组件的俯视图。
[0050]图15示意性示出了根据本公开实施例的第二调整组本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测设备，用于对被检物进行扫描检测，其特征在于，所述检测设备包括：检测通道，所述被检物通过所述检测通道进出所述检测设备；成像系统，用于对被检物进行扫描检测，所述成像系统包括：射线源，用于产生射线，所述射线源设置在所述检测通道的一侧，所述射线至少形成适于对所述被检物进行扫描检测的主束面；以及探测器，用于接收通过所述被检物的射线，所述探测器设置在所述检测通道的另一侧，在所述射线源与所述探测器之间形成检测区域；以及姿态调整结构，所述姿态调整结构设置在所述检测区域中，用于调整位于所述检测区域中的被检物的姿态，其中，所述被检物具有检测面，所述姿态调整结构能够调整所述被检物的姿态，使得所述检测面与所述主束面在同一平面内。2.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，在所述主束面所在的平面内，所述成像系统和所述被检物的相对位置能够改变，以使得所述成像系统能够以多个角度对所述被检物进行扫描检测。3.根据权利要求2所述的检测设备，其特征在于，在所述主束面所在的平面内，所述成像系统能够相对所述被检物旋转。4.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述成像系统包括多个探测器，所述多个探测器与所述射线源相对设置，在所述射线源与所述多个探测器之间形成多个主束面，所述多个主束面在同一平面内；以及所述姿态调整结构能够调整所述被检物的姿态，使得所述检测面与所述多个主束面在同一平面内。5.根据权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述姿态调整结构能够在第一方向上移动所述被检物，使得所述被检物具有多个检测面，其中，所述第一方向平行于被检物的输送方向。6.根据权利要求5所述的检测设备，其特征在于，对于每一个检测面，所述姿态调整结构能够定位所述被检物，使得该检测面与所述主束面在同一个平面内。7.根据权利要求1
‑
6中任一项所述的检测设备，其特征在于，所述被检物包括检测部分，所述检测部分具有所述检测面，所述检测部分沿第一方向的投影的面积值与所述检测部分在所述第一方向上的尺寸值的比值大于等于10，其中，所述第一方向平行于被检物的输送方向。8.根据权利要求7所述的检测设备，其特征在于，所述探测器在所述第一方...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志强，张丽，黄清萍，金鑫，常铭，洪明志，张立国，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：