一种电阻校准电路、电阻校准方法和存储器技术

本公开实施例涉及半导体领域，提供了一种电阻校准电路、电阻校准方法和存储器，电阻校准电路包括仲裁电路和校准电路，在接收到新的校准处理命令时，根据当前环境参数与上一环境参数的变化情况，选择利用全校准模式或短校准模式对阻值控制码进行校准处理。模式对阻值控制码进行校准处理。模式对阻值控制码进行校准处理。

【技术实现步骤摘要】
一种电阻校准电路、电阻校准方法和存储器


[0001]本公开涉及半导体存储器
，尤其涉及一种电阻校准电路、电阻校准方法和存储器。

技术介绍

[0002]在动态随机存取存储器（Dynamic Random Access Memory，DRAM）的工作过程中，需要通过输出驱动电路实现信号的输出驱动或者终结处理。应理解，由于输出驱动电路的等效电阻会随着环境参数（例如温度、电压）的变化发生改变，所以存储器需要对相关等效电阻的阻值进行校准，以上称为ZQ校准。然而，目前的ZQ校准会占用过多的功耗和系统时间，降低了存储器的性能。

技术实现思路

[0003]本公开提供了一种电阻校准电路、电阻校准方法和存储器。
[0004]本公开的技术方案是这样实现的：第一方面，本公开实施例提供了一种电阻校准电路，所述电阻校准电路包括：仲裁电路，配置为在接收到新的校准处理命令时，对当前环境参数与上一环境参数进行比较，产生并输出模式标志信号；其中，所述上一环境参数是指上一次校准处理时的环境参数；校准电路，与所述仲裁电路连接，配置为在接收到所述校准处理命令时，基于所述模式标志信号，利用短校准模式和全校准模式的两者之一对阻值控制码进行校准处理；其中，所述校准电路包括电阻单元，且所述阻值控制码用于调整电阻单元的阻值。
[0005]在一些实施例中，所述校准电路，还配置为在接收到系统初始化后的第一个所述校准处理命令时，利用所述全校准模式对所述阻值控制码进行校准处理；或者，在接收到系统重置处理后的第一个所述校准处理命令时，利用所述全校准模式对所述阻值控制码进行校准处理。
[0006]在一些实施例中，所述仲裁电路，具体配置为在接收到新的校准处理命令时，若所述当前环境参数与所述上一环境参数之间的差值大于预设阈值，则产生并输出第一状态的所述模式标志信号；若所述当前环境参数与所述上一环境参数之间的差值小于等于预设阈值，则产生并输出第二状态的所述模式标志信号；所述校准电路，具体配置为在接收到所述校准处理命令时，若所述模式标志信号处于第一状态，则利用所述全校准模式对所述阻值控制码进行校准处理；若所述模式标志信号处于第二状态，则利用所述短校准模式对所述阻值控制码进行校准处理；其中，所述短校准模式占用的时钟周期数小于所述全校准模式占用的时钟周期数，和/或，所述短校准模式的功耗小于所述全校准模式的功耗。
[0007]在一些实施例中，所述校准电路，还配置为在校准处理完成后，输出校准结束信号；所述仲裁电路，还配置为对周围环境进行检测；以及，在接收到所述校准结束信号时，将实时检测结果存储为所述上一环境参数；以及，在接收到新的所述校准处理命令时，将实时
检测结果存储为所述当前环境参数。
[0008]在一些实施例中，所述仲裁电路包括：环境参数探测器，配置为对周围环境进行检测；第一寄存器，配置为接收所述环境参数探测器输出的实时检测结果；以及在接收到所述校准结束信号时，将所述实时检测结果存储为所述上一环境参数；第二寄存器，配置为接收所述环境参数探测器输出的实时校测结果；以及在接收到新的所述校准处理命令时，将所述实时检测结果存储为所述当前环境参数；其中，所述环境参数探测器的输出端与所述第一寄存器的输入端、所述第二寄存器的输入端均连接。
[0009]在一些实施例中，所述仲裁电路还包括：减法器，配置为对所述当前环境参数和所述上一环境参数进行减法运算，产生并输出环境差值参数；比较器，配置为对所述环境差值参数和所述预设阈值进行比较，产生并输出所述模式标志信号；其中，所述减法器的输入端与所述第一寄存器的输出端、所述第二寄存器的输出端连接，所述减法器的输出端与所述比较器的输入端连接。
[0010]在一些实施例中，所述校准处理包括上拉校准处理和下拉校准处理，所述阻值控制码包括上拉控制码和下拉控制码；在所述全校准模式中，以初始默认值为校准起点对所述上拉控制码进行上拉校准处理，且以初始默认值为校准起点对所述下拉控制码进行下拉校准处理；在所述短校准模式中，以所述上拉控制码的上一锁定值为校准起点对所述上拉控制码进行上拉校准处理，且以所述下拉控制码的上一锁定值为校准起点对所述下拉控制码进行下拉校准处理。
[0011]在一些实施例中，所述短校准模式支持对所述阻值控制码的内部位进行连续两次减法运算，或者对所述阻值控制码的内部位进行连续两次加法运算，或者保持所述阻值控制码不变，所述内部位是指所述阻值控制码的最小位，且所述内部位不向用户开放；所述预设阈值=单位变化量4，所述单位变化量是指所述环境参数的变化量与所述阻值控制码的变化量的比值。
[0012]在一些实施例中，所述环境参数包括温度参数和/或电压参数。
[0013]第二方面，本公开实施例提供了一种电阻校准方法，所述方法包括：在接收到新的校准处理命令时，对当前环境参数与上一环境参数进行比较；若当前环境参数与上一环境参数之间的差值大于预设阈值，则利用全校准模式对阻值控制码进行校准处理；或者，若所述当前环境参数与所述上一环境参数之间的差值小于等于预设阈值，则利用短校准模式对阻值控制码进行校准处理；其中，所述上一环境参数是指上一次校准处理时的环境参数，所述阻值控制码用于调整电阻单元的阻值。
[0014]在一些实施例中，在所述对当前环境参数与上一环境参数进行比较之后，所述方法还包括：若所述当前环境参数与所述上一环境参数之间的差值大于预设阈值，则产生并输出第一状态的模式标志信号；或者，若所述当前环境参数与所述上一环境参数之间的差值小于等于预设阈值，则产生并输出第二状态的所述模式标志信号；在所述模式标志信号处于第一状态时，利用所述全校准模式对所述阻值控制码进行校准处理；或者，在所述模式标志信号处于第二状态时，利用所述短校准模式对所述阻值控制码进行校准处理。
[0015]在一些实施例中，所述方法还包括：在接收到系统初始化后的第一个所述校准处理命令时，利用所述全校准模式对所述阻值控制码进行校准处理；在接收到系统重置处理后的第一个所述校准处理命令时，利用所述全校准模式对所述阻值控制码进行校准处理。
[0016]在一些实施例中，所述方法还包括：对周围环境进行检测；在接收到校准结束信号时，将实时检测结果存储为所述上一环境参数；在接收到新的所述校准处理命令时，将实时检测结果存储为所述当前环境参数；其中，所述校准结束信号是在一次校准处理完成后产生的。
[0017]在一些实施例中，所述校准处理包括上拉校准处理和下拉校准处理，所述阻值控制码包括上拉控制码和下拉控制码；所述利用短校准模式对所述阻值控制码进行校准处理，包括：以上拉控制码的上一锁定值为校准起点，调整所述上拉控制码以完成上拉校准处理；以下拉控制码的上一锁定值为校准起点，调整所述下拉控制码以完成下拉校准处理。
[0018]在一些实施例中，所述下拉校准处理包括2个时钟周期；所述以下拉控制码的上一锁定值为校准起点，调整所述下拉控制码以完成下拉校准处理，包括：在下拉校准处理的第1个时钟周期中，若所述电阻单元的下拉阻值大于标准阻值，则对所述下本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电阻校准电路，其特征在于，所述电阻校准电路包括：仲裁电路，配置为在接收到新的校准处理命令时，对当前环境参数与上一环境参数进行比较，产生并输出模式标志信号；其中，所述上一环境参数是指上一次校准处理时的环境参数；校准电路，与所述仲裁电路连接，配置为在接收到所述校准处理命令时，基于所述模式标志信号，利用短校准模式和全校准模式的两者之一对阻值控制码进行校准处理；其中，所述校准电路包括电阻单元，且所述阻值控制码用于调整电阻单元的阻值。2.根据权利要求1所述的电阻校准电路，其特征在于，所述校准电路，还配置为在接收到系统初始化后的第一个所述校准处理命令时，利用所述全校准模式对所述阻值控制码进行校准处理；或者，在接收到系统重置处理后的第一个所述校准处理命令时，利用所述全校准模式对所述阻值控制码进行校准处理。3.根据权利要求1所述的电阻校准电路，其特征在于，所述仲裁电路，具体配置为在接收到新的校准处理命令时，若所述当前环境参数与所述上一环境参数之间的差值大于预设阈值，则产生并输出第一状态的所述模式标志信号；若所述当前环境参数与所述上一环境参数之间的差值小于等于预设阈值，则产生并输出第二状态的所述模式标志信号；所述校准电路，具体配置为在接收到所述校准处理命令时，若所述模式标志信号处于第一状态，则利用所述全校准模式对所述阻值控制码进行校准处理；若所述模式标志信号处于第二状态，则利用所述短校准模式对所述阻值控制码进行校准处理；其中，所述短校准模式占用的时钟周期数小于所述全校准模式占用的时钟周期数，和/或，所述短校准模式的功耗小于所述全校准模式的功耗。4.根据权利要求3所述的电阻校准电路，其特征在于，所述校准电路，还配置为在校准处理完成后，输出校准结束信号；所述仲裁电路，还配置为对周围环境进行检测；以及，在接收到所述校准结束信号时，将实时检测结果存储为所述上一环境参数；以及，在接收到新的所述校准处理命令时，将实时检测结果存储为所述当前环境参数。5.根据权利要求4所述的电阻校准电路，其特征在于，所述仲裁电路包括：环境参数探测器，配置为对周围环境进行检测；第一寄存器，配置为接收所述环境参数探测器输出的实时检测结果；以及在接收到所述校准结束信号时，将所述实时检测结果存储为所述上一环境参数；第二寄存器，配置为接收所述环境参数探测器输出的实时校测结果；以及在接收到新的所述校准处理命令时，将所述实时检测结果存储为所述当前环境参数；其中，所述环境参数探测器的输出端与所述第一寄存器的输入端、所述第二寄存器的输入端均连接。6.根据权利要求5所述的电阻校准电路，其特征在于，所述仲裁电路还包括：减法器，配置为对所述当前环境参数和所述上一环境参数进行减法运算，产生并输出环境差值参数；比较器，配置为对所述环境差值参数和所述预设阈值进行比较，产生并输出所述模式标志信号；
其中，所述减法器的输入端与所述第一寄存器的输出端、所述第二寄存器的输出端连接，所述减法器的输出端与所述比较器的输入端连接。7.根据权利要求1所述的电阻校准电路，其特征在于，所述校准处理包括上拉校准处理和下拉校准处理，所述阻值控制码包括上拉控制码和下拉控制码；在所述全校准模式中，以初始默认值为校准起点对所述上拉控制码进行上拉校准处理，且以初始默认值为校准起点对所述下拉控制码进行下拉校准处理；在所述短校准模式中，以所述上拉控制码的上一锁定值为校准起点对所述上拉控制码进行上拉校准处理，且以所述下拉控制码的上一锁定值为校准起点对所述下拉控制码进行下拉校准处理。8.根据权利要求3所述的电阻校准电路，其特征在于，所述短校准模式支持对所述阻值控制码的内部位进行连续两次减法运算，或者对所述阻值控制码的内部位进行连续两次加法运算，或者保持所述阻值控制码不变，所述内部位是指所述阻值控制码的最小位，且所述内部位不向用户开放；所述预设阈值=单位变化量
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4，所述单位变化量是指所述环境参数的变化量与所述阻值控制码的变化量的比值。9.根据权利要求1
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8任一项所述的电阻校准电路，其特征在于，所述环境参数包括温度参数和/或电压参数。10.一种电阻校准方法，其特征在于，所述方法包括：在接收到新的校准处理命令时，对当前环境参数与上一环境参数进行比较；若当前环境参数与上一环境参数之间的差值大于预设阈值，则利用全校准模式对阻值控制码进行校准处理；或者，若所述当前环境参数与所述上一环境参数之间的差值小于等于预设阈值，则利用短校准模式对阻值控制码进行校准处理；其中，所述上一环境参数是指上一次校准处理时的环境参数，所述阻值控制码用于调整电阻单元的阻值。11.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈姝雨，汪锡，田凯，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
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