本实用新型专利技术公开了一种集成电路芯片老化测试装置，包括测试仪以及便携盒，还包括固定机构，本实用新型专利技术属于芯片老化测试技术领域；本实用新型专利技术中通过滑动组件的设置使测试仪在便携盒内部更加流畅安全的做往复线性运动，散热组件对测试仪进行持续降热延长测试仪使用寿命的目的，测试仪通过限位块A以及限位块B进行夹持固定，使测试仪在运输过程中不会与便携盒的内壁发生接触碰撞导致测试仪损坏，由于螺杆A以及螺杆B均为双向螺杆，由相关工作人员转动手轮，通过传动带使螺杆B以及螺杆A进行同步转动，限位块A以及限位块B在滑块的限位下带动测试仪做线性往复运动，实现将测试仪固定在限位块A以及限位块B间做往复线性运动的技术效果。果。果。
【技术实现步骤摘要】
一种集成电路芯片老化测试装置
[0001]本技术属于芯片老化测试
，尤其涉及一种集成电路芯片老化测试装置。
技术介绍
[0002]集成电路是指一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路的各个电气元件及布线互连一起，集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，通过集成电路是各个电气元件进行联系工作，由于集成电路芯片可能是具有不同的使用寿命，所以需要进行老化测试，老化测试是指对确保芯片的使用寿命及可靠性和芯片的功能，老化测试主要是确定所生产的芯片是否为良品。
[0003]专利号为202121293048.8的一项专利公开了一种集成电路芯片老化测试装置包括箱体，设置于箱体上侧的调节机构，设置于箱体侧面的散热机构以及设置于箱体前端的手持机构。
[0004]上述专利通过设置安装块、连接轴和把手相互配合，使用把手可以将箱体进行携带，使装置便于转移，通过设置通风箱和风扇相互配合进行散热，通过设置导轨配合滑块，滑块连接检测器进行移动便于调整检测器的位置，但上述专利中无法对检测器在导轨上进行固定，在移动箱体的过程中会导致检测器沿着导轨与箱体内壁发生碰撞，造成检测器的损坏。
技术实现思路
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种集成电路芯片老化测试装置，解决了上述问题。
[0006]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种集成电路芯片老化测试装置，包括用于对集成电路芯片进行老化测试的测试仪以及用于对集成电路芯片进行老化测试的测试仪进行放置的便携盒，所述便携盒上铰接有用于对便携盒进行封盖的盒盖，所述盒盖与便携盒通过琐合连接，所述盒盖上表面固定连接有用于方便对便携盒进行移动的提拉把手，还包括：
[0007]固定机构，用于对测试仪进行夹持固定移动，所述固定机构包括螺杆A、螺杆B、限位块A、限位块B以及移动组件，所述螺杆A以及螺杆B分别设置在测试仪两侧且与便携盒转动连接，所述限位块A设置在螺杆A上且与测试仪一侧接触连接，所述限位块B设置在螺杆B上且与测试仪远离限位块A的一侧接触连接，所述限位块A与螺杆A螺纹连接，所述限位块B与螺杆B螺纹连接，所述螺杆A以及螺杆B均与移动组件连接，所述测试仪下表面设置有滑动组件，所述便携盒内部设置有散热组件。
[0008]在上述技术方案的基础上，本技术还提供以下可选技术方案：
[0009]进一步的技术方案：所述移动组件包括安装架、滑块以及传动带，所述安装架设置在便携盒上且与便携盒固定连接，所述滑块设置有两个分别固定连接在限位块A以及限位
块B上表面，所述安装架下表面设置有与滑块相契合的滑槽，所述滑块与滑槽内壁滑动连接，所述螺杆A以及螺杆B穿过便携盒侧壁的一端与传动带固定连接，所述螺杆B靠近传动带的一端固定连接有手轮。
[0010]进一步的技术方案：所述螺杆A以及螺杆B均设置为双向螺杆。
[0011]进一步的技术方案：所述限位块A以及限位块B接触测试仪侧壁的一侧上固定连接有橡胶垫。
[0012]进一步的技术方案：所述滑动组件包括连接座、固定板、滑动板以及凹槽，所述连接座固定连接在测试仪下表面，所述固定板与便携盒内底面固定连接，所述固定板呈竖直方向对称分布在连接座两侧，所述连接座靠近固定板的两侧固定连接有滑动板，所述凹槽设置在两个固定板内部，所述滑动板与凹槽相契合且与凹槽内壁滑动连接。
[0013]进一步的技术方案：所述滑动板以及凹槽均设置为T字型。
[0014]进一步的技术方案：所述散热组件包括电机、转轴以及扇叶，所述电机通过支架固定连接在便携盒内壁上，所述转轴与电机输出轴固定连接，所述扇叶设置有若干个且均匀分布在转轴上，所述扇叶与转轴固定连接。
[0015]进一步的技术方案：所述散热组件呈竖直方向对称分布在便携盒内壁上，所述散热组件外侧设置有防护网。
[0016]有益效果
[0017]本技术提供了一种集成电路芯片老化测试装置。与现有技术相比具备以下有益效果：
[0018]1、通过滑动组件的设置使测试仪在便携盒内部更加流畅安全的做往复线性运动，散热组件对长时间进行工作的测试仪进行持续降热延长测试仪使用寿命的目的，测试仪通过连接在螺杆A以及螺杆B上的限位块A以及限位块B进行夹持固定，使测试仪在运输过程中不会与便携盒的内壁发生接触碰撞导致测试仪损坏，由于螺杆A以及螺杆B均为双向螺杆，由相关工作人员转动手轮，通过传动带使螺杆B以及螺杆A进行同步转动，限位块A以及限位块B在滑块的限位下带动测试仪在螺杆A以及螺杆B上稳定的做线性往复运动，实现将测试仪固定在限位块A以及限位块B间做往复线性运动的技术效果；
[0019]2、由电机驱动转轴上的扇叶进行转动产生风量对测试仪进行散热降温，通过散热组件外侧的防护网实现对相关工作人员进行保护，防止相关工作人员误触扇叶对相关工作人员造成伤害的目的。
附图说明
[0020]图1为本技术整体结构示意图。
[0021]图2为本技术局部俯视结构分布示意图。
[0022]图3为本技术正面局部剖结构示意图。
[0023]图4为本技术侧面局部剖的结构示意图。
[0024]附图标记注释：1、便携盒；2、盒盖；3、安装架；4、固定机构；5、滑动组件；6、散热组件；7、提拉把手；8、测试仪；9、螺杆A；10、限位块A；11、滑块；12、螺杆B；13、限位块B；14、传动带；15、手轮；16、固定板；17、连接座；18、滑动板；19、凹槽；20、防护网；21、电机；22、转轴；23、扇叶。
具体实施方式
[0025]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0026]以下结合具体实施例对本技术的具体实现进行详细描述。
[0027]请参阅图1～4，为本技术一种实施例提供的，一种集成电路芯片老化测试装置，包括用于对集成电路芯片进行老化测试的测试仪8以及用于对集成电路芯片进行老化测试的测试仪8进行放置的便携盒1，便携盒1上铰接有用于对便携盒1进行封盖的盒盖2，盒盖2与便携盒1通过琐合连接，盒盖2上表面固定连接有用于方便对便携盒1进行移动的提拉把手7，还包括：
[0028]固定机构4，用于对测试仪8进行夹持固定移动，固定机构4包括螺杆A9、螺杆B12、限位块A10、限位块B13以及移动组件，螺杆A9以及螺杆B12分别设置在测试仪8两侧且与便携盒1转动连接，限位块A10设置在螺杆A9上且与测试仪8一侧接触连接，限位块B13设置在螺杆B12上且与测试仪8远离限位块A10的一侧接触连接，限位块A10与螺杆A9螺纹连接，限位块B13与螺杆B12螺纹连接，螺杆A9以及螺杆B12均与移动组件连接，测试仪8下表面设置有滑动组件5，便携盒1内部设置有散热组件6。<本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片老化测试装置，包括用于对集成电路芯片进行老化测试的测试仪(8)以及用于对集成电路芯片进行老化测试的测试仪(8)进行放置的便携盒(1)，所述便携盒(1)上铰接有用于对便携盒(1)进行封盖的盒盖(2)，所述盒盖(2)与便携盒(1)通过琐合连接，所述盒盖(2)上表面固定连接有用于方便对便携盒(1)进行移动的提拉把手(7)，其特征在于，还包括：固定机构(4)，用于对测试仪(8)进行夹持固定移动，所述固定机构(4)包括螺杆A(9)、螺杆B(12)、限位块A(10)、限位块B(13)以及移动组件，所述螺杆A(9)以及螺杆B(12)分别设置在测试仪(8)两侧且与便携盒(1)转动连接，所述限位块A(10)设置在螺杆A(9)上且与测试仪(8)一侧接触连接，所述限位块B(13)设置在螺杆B(12)上且与测试仪(8)远离限位块A(10)的一侧接触连接，所述限位块A(10)与螺杆A(9)螺纹连接，所述限位块B(13)与螺杆B(12)螺纹连接，所述螺杆A(9)以及螺杆B(12)均与移动组件连接，所述测试仪(8)下表面设置有滑动组件(5)，所述便携盒(1)内部设置有散热组件(6)。2.根据权利要求1所述的集成电路芯片老化测试装置，其特征在于，所述移动组件包括安装架(3)、滑块(11)以及传动带(14)，所述安装架(3)设置在便携盒(1)上且与便携盒(1)固定连接，所述滑块(11)设置有两个分别固定连接在限位块A(10)以及限位块B(13)上表面，所述安装架(3)下表面设置有与滑块(11)相契合的滑槽，所述滑块(11)与滑槽内壁滑动连接，所述螺杆A(9)以及螺杆B(12)穿过便携盒(1)侧壁的一端与传动带(14)固定...
【专利技术属性】
技术研发人员：白帆，
申请(专利权)人：日月科技辽阳有限公司，
类型：新型
国别省市：
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