探针卡装置及双臂式探针制造方法及图纸

技术编号:37256757 阅读:20 留言:0更新日期:2023-04-20 23:32
本发明专利技术公开一种探针卡装置及双臂式探针,所述双臂式探针具有一针长度,并包括分别位于两端的一分叉端部及一测试端部。所述双臂式探针的外表面包含分别位于相反侧的两个宽侧面。所述双臂式探针自所述分叉端部的分叉口朝向所述测试端部延伸形成有自两个所述宽侧面的其中之一贯穿至其中另一的一分隔槽,据以通过所述分隔槽而定义有彼此间隔一距离的两个支臂。所述双臂式探针的所述分隔槽的一槽长度是介于所述针长度的50%~90%。于所述双臂式探针的两个支臂的截面中,任一个所述支臂的截面积为另一个所述支臂的截面积的90%~110%。据此,所述双臂式探针可以通过两个所述支臂的结构设计,以使多个所述双臂式探针可具备相近电传导特性及相近的机械特性。电传导特性及相近的机械特性。电传导特性及相近的机械特性。

【技术实现步骤摘要】
探针卡装置及双臂式探针


[0001]本专利技术涉及一种探针卡,尤其涉及一种探针卡装置及双臂式探针。

技术介绍

[0002]为了符合信号转接板的线路布局,所以现有探针卡装置包含有多种不同类型的导电探针;然而,多种所述导电探针的截面积也都彼此不同且差异甚大,因而导致多种所述导电探针具备有不同的电传导特性(如:电阻值)及不同的机械特性(如:接触力)。
[0003]于是,本专利技术人认为上述缺陷可改善,乃特潜心研究并配合科学原理的运用,终于提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的本专利技术。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例的目的在于提供一种探针卡装置及双臂式探针,其能有效地改善现有导电探针所可能产生的缺陷。
[0005]本专利技术实施例公开一种探针卡装置,其包括:一第一导板单元与一第二导板单元,其彼此间隔地设置;以及多个双臂式探针,穿设于第一导板单元与第二导板单元;每个双臂式探针定义有一长度方向且在长度方向上具有一针长度,并且每个双臂式探针的外表面包含有平行长度方向且分别位于相反两侧的两个宽侧面;其中,每个双臂式探针包含有:一分叉端部,位于远离第二导板单元的第一导板单元的一外侧,并且分叉端部具有一分叉口;及一测试端部,位于远离第一导板单元的第二导板单元的一外侧,并且测试端部用来可分离地顶抵于一待测物;其中,每个双臂式探针自分叉口沿长度方向朝向测试端部延伸形成有自两个宽侧面的其中之一贯穿至其中另一的一分隔槽,以使每个双臂式探针通过分隔槽而定义有彼此间隔一距离的两个支臂;其中,每个双臂式探针的分隔槽在长度方向上的一槽长度是介于针长度的50%~90%,而多个双臂式探针的其中一个双臂式探针的距离不同于其中另一个双臂式探针的距离;其中,于垂直长度方向的每个双臂式探针的两个支臂的截面中,任一个支臂的截面积为另一个支臂的截面积的90%~110%。
[0006]优选地,至少一个双臂式探针在两个支臂彼此相向的两个内表面的其中一个内表面上形成有呈突出状的至少一个间隔肋;其中,当第一导板单元与第二导板单元彼此斜向错位时,具有至少一个间隔肋的至少一个双臂式探针,其两个支臂通过至少一个间隔肋而保持彼此间隔。
[0007]优选地,在具有至少一个间隔肋的至少一个双臂式探针中,两个内表面的其中另一个内表面凹设形成有位置对应于至少一个间隔肋的至少一个限位缺口,并且至少一个限位缺口的深度小于至少一个间隔肋的高度。
[0008]优选地,位于第一导板单元内的每个双臂式探针的部位定义为一第一连接部,并且位于第二导板单元内的每个双臂式探针的部位定义为一第二连接部;于至少一个双臂式探针中,分隔槽是自分叉口延伸至第二连接部。
[0009]优选地,位于第一导板单元与第二导板单元之间的每个双臂式探针的部位定义为
一行程部;于每个双臂式探针中,行程部的两个末端部位各在任一个宽侧面上的宽度大于位于两个末端部位之间的行程部的主体部位在任一个宽侧面上的宽度。
[0010]优选地,探针卡装置进一步包含有邻近第一导板单元的一信号转接板;在至少一个双臂式探针中,两个支臂在长度方向上具有不同的长度,并且两个支臂仅其中一个支臂顶抵于信号转接板。
[0011]优选地,探针卡装置进一步包含有邻近第一导板单元的一信号转接板;在至少一个双臂式探针中,两个支臂在长度方向上具有相同的长度,并且两个支臂一同顶抵于信号转接板。
[0012]优选地,每个双臂式探针的外表面包含平行长度方向且分别位于相反两侧的两个窄侧面;于每个双臂式探针中,任一个支臂在宽侧面上的厚度为任一个窄侧面的宽度的20%~100%。
[0013]本专利技术实施例也公开一种双臂式探针,其定义有一长度方向且在长度方向上具有一针长度,并且双臂式探针的外表面包含有平行长度方向且分别位于相反两侧的两个宽侧面;其中,双臂式探针包括:一分叉端部,具有一分叉口;及一测试端部,用来可分离地顶抵于一待测物,并且分叉端部与测试端部分别位于双臂式探针的两端;其中,双臂式探针自分叉口沿长度方向朝向测试端部延伸形成有自两个宽侧面的其中之一贯穿至其中另一的一分隔槽,以使双臂式探针通过分隔槽而定义有彼此间隔一距离的两个支臂;其中,双臂式探针的分隔槽在长度方向上的一槽长度是介于针长度的50%~90%;其中,于垂直长度方向的双臂式探针的两个支臂的截面中,任一个支臂的截面积为另一个支臂的截面积的90%~110%。
[0014]优选地,双臂式探针在两个支臂彼此相向的两个内表面的其中一个内表面上形成有呈突出状的至少一个间隔肋,其中另一个内表面凹设形成有位置对应于至少一个间隔肋的至少一个限位缺口,并且至少一个限位缺口的深度小于至少一个间隔肋的高度。
[0015]综上所述,本专利技术实施例所公开的探针卡装置,其所包含的多个所述双臂式探针可以在相同结构设计原理下,包含有不同结构(如:多个所述双臂式探针的其中一个所述双臂式探针的所述距离不同于其中另一个所述双臂式探针的所述距离),据以符合所述信号转接板上的线路布局。
[0016]再者,本专利技术实施例所公开的所述双臂式探针可以通过两个所述支臂的结构设计(如:任一个所述支臂的截面积为另一个所述支臂的截面积的90%~110%),以使多个所述双臂式探针可以具备有相近电传导特性(如:电阻值)及相近的机械特性(如:接触力)。
[0017]为能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
,请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图,但是此等说明与附图仅用来说明本专利技术,而非对本专利技术的保护范围作任何的限制。
附图说明
[0018]图1为本专利技术实施例一的探针卡装置的平面示意图。
[0019]图2为图1的探针卡装置于第一导板与第二导板相互错位时的平面示意图。
[0020]图3为图1中的双臂式探针的立体示意图。
[0021]图4为图1沿剖线IV

IV的剖视示意图。
[0022]图5为本专利技术实施例一的双臂式探针的另一方式立体示意图。
[0023]图6为图1的部位VI的放大示意图。
[0024]图7为图2部位VII的放大示意图。
[0025]图8为图1的部位VIII的放大示意图。
[0026]图9为本专利技术实施例二的双臂式探针的立体示意图。
[0027]图10为图9的部位X的放大示意图。
[0028]图11为本专利技术实施例三的双臂式探针的立体示意图。
[0029]图12为本专利技术实施例三的双臂式探针的另一方式的立体示意图。
具体实施方式
[0030]以下是通过特定的具体实施例来说明本专利技术所公开有关“探针卡装置及双臂式探针”的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本专利技术的优点与效果。本专利技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用,本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用,在不悖离本专利技术的构思下进行各种修改与变更。另外,本专利技术的附图仅为简单示意说明,并非依实际尺寸的描绘,事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本专利技术的相关
技术实现思路
,但所公开的内容并非用以限制本本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针卡装置,其特征在于,所述探针卡装置包括:一第一导板单元与一第二导板单元,其彼此间隔地设置;以及多个双臂式探针,穿设于所述第一导板单元与所述第二导板单元;每个所述双臂式探针定义有一长度方向且在所述长度方向上具有一针长度,并且每个所述双臂式探针的外表面包含有平行所述长度方向且分别位于相反两侧的两个宽侧面;其中,每个所述双臂式探针包含有:一分叉端部,位于远离所述第二导板单元的所述第一导板单元的一外侧,并且所述分叉端部具有一分叉口;及一测试端部,位于远离所述第一导板单元的所述第二导板单元的一外侧,并且所述测试端部用来可分离地顶抵于一待测物;其中,每个所述双臂式探针自所述分叉口沿所述长度方向朝向所述测试端部延伸形成有自两个所述宽侧面的其中之一贯穿至其中另一的一分隔槽,以使每个所述双臂式探针通过所述分隔槽而定义有彼此间隔一距离的两个支臂;其中,每个所述双臂式探针的所述分隔槽在所述长度方向上的一槽长度是介于所述针长度的50%~90%,而多个所述双臂式探针的其中一个所述双臂式探针的所述距离不同于其中另一个所述双臂式探针的所述距离;其中,于垂直所述长度方向的每个所述双臂式探针的两个所述支臂的截面中,任一个所述支臂的截面积为另一个所述支臂的截面积的90%~110%。2.依据权利要求1所述的探针卡装置,其特征在于,至少一个所述双臂式探针在两个所述支臂彼此相向的两个内表面的其中一个所述内表面上形成有呈突出状的至少一个间隔肋;其中,当所述第一导板单元与所述第二导板单元彼此斜向错位时,具有至少一个所述间隔肋的至少一个所述双臂式探针,其两个所述支臂通过至少一个所述间隔肋而保持彼此间隔。3.依据权利要求2所述的探针卡装置,其特征在于,在具有至少一个所述间隔肋的至少一个所述双臂式探针中,两个所述内表面的其中另一个所述内表面凹设形成有位置对应于至少一个所述间隔肋的至少一个限位缺口,并且至少一个所述限位缺口的深度小于至少一个所述间隔肋的高度。4.依据权利要求1所述的探针卡装置,其特征在于,位于所述第一导板单元内的每个所述双臂式探针的部位定义为一第一连接部,并且位于所述第二导板单元内的每个所述双臂式探针的部位定义为一第二连接部;于至少一个所述双臂式探针中,所述分隔槽是自所述分叉口延伸至所述第二连接部。5.依据权利要求1所述的探针卡装置,其特征在于,位于所述第一导板...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢开杰苏伟志陈弘明李帅
申请(专利权)人:台湾中华精测科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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