一种用于波长相关的3D光开关的微纳结构制造技术

技术编号:37203714 阅读:13 留言:0更新日期:2023-04-20 22:58
本发明专利技术涉及一种用于波长相关的3D光开关的微纳结构,包括:衬底;两条硅纳米柱子链,平行设置在所述衬底上;每条硅纳米柱子链包括高度相同的普通柱和缺陷柱,所述普通柱和缺陷柱排成一列,所述缺陷柱设置在所述硅纳米柱子链末端的第一根和第三根的位置;所述缺陷柱的半径大于所述普通柱的半径。本发明专利技术能够在不同的输入光相位下进行3D光链路的开关调制,并在不同波长下表现出相反的开关特性。同波长下表现出相反的开关特性。同波长下表现出相反的开关特性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于波长相关的3D光开关的微纳结构


[0001]本专利技术涉及微纳光学器件设计
,特别是涉及一种用于波长相关的3D光开关的微纳结构。

技术介绍

[0002]相控光开关是通过调制光链路中的相位,来操控光路通断的器件。在光子集成电路中,常见的光开关如马赫

增德尔干涉仪(MZI),能够实现2D链路的通断,但通常不具备3D链路开关特性,不能满足未来多层结构芯片的需求;如果做成多层MZI来满足3D链路开关特性,则工艺难度大大提升,且器件尺寸会进一步增大。因此需要设计一种结构简单、尺寸紧凑、可波长复用的微纳结构,用于制造3D光开关,来满足3D光路通断的需求。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种用于波长相关的3D光开关的微纳结构,在不同的输入光相位下进行3D光链路的开关调制,并在不同波长下表现出相反的开关特性。
[0004]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种用于波长相关的3D光开关的微纳结构,包括:
[0005]衬底;
[0006]两条硅纳米柱子链,平行设置在所述衬底上;每条硅纳米柱子链包括高度相同的普通柱和缺陷柱,所述普通柱和缺陷柱排成一列,所述缺陷柱设置在所述硅纳米柱子链末端的第一根和第三根的位置;所述缺陷柱的半径大于所述普通柱的半径。
[0007]所述硅纳米柱子链中柱子的周期为400nm。
[0008]所述普通柱的半径为110nm,所述缺陷柱的半径为190nm。
[0009]所述链条硅纳米柱子链之间的中心距为350nm,所述两条硅纳米柱子链的缺陷柱存在重叠部分。
[0010]所述普通柱和所述缺陷柱的高度均为810nm。
[0011]所述普通柱和缺陷柱的折射率均为3.46
[0012]所述衬底为二氧化硅衬底,折射率为1.5。。
[0013]有益效果
[0014]由于采用了上述的技术方案,本专利技术与现有技术相比,具有以下的优点和积极效果:本专利技术可以在不同的输入光相位下进行3D光链路的开关调制,并在不同波长下表现出相反的开关特性。该光开关有更多的自由度来操纵3D光路的通断,并可以与其他光学设备一起构建更灵活的3D光学链路。该光开关尺寸紧凑,结构灵活,在光子集成电路的器件设计中具有实用价值。
附图说明
[0015]图1是本专利技术实施方式用于波长相关的3D光开关的微纳结构的结构示意图;
[0016]图2是本专利技术实施方式用于波长相关的3D光开关的微纳结构在不同波长下发射效率的示意图;
[0017]图3是图2中点A和点B点发射场图;
[0018]图4是xoy平面在1500nm和1640nm波长处的电场分布图;
[0019]图5是不同尺寸的缺陷柱产生的散射强度图;
[0020]图6是本专利技术实施方式与多模波导连接时的在TM0模式和TM1模式的发射效率的示意图。
具体实施方式
[0021]下面结合具体实施例,进一步阐述本专利技术。应理解,这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。此外应理解,在阅读了本专利技术讲授的内容之后,本领域技术人员可以对本专利技术作各种改动或修改,这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。
[0022]本专利技术的实施方式涉及一种用于波长相关的3D光开关的微纳结构,如图1所示,包括:衬底1和两条硅纳米柱子链2。
[0023]其中,柱子链2的长度为L=18μm,柱子的周期为p=400nm。柱子链2由普通柱21和缺陷柱22组成,其中,大部分为半径r0=110nm的普通柱21。每条柱子链2的末端的第一根柱子和第三根柱子为半径为rd=190nm的缺陷柱22。两条柱子链的中心间距为s=350nm,因此本实施方式中两条柱子链的缺陷柱之间存在部分重叠。所有柱子的高度为h=810nm。柱的折射率为n=3.46,衬底采用二氧化硅衬底,其折射率为nsub=1.5。
[0024]用3D时域有限差分法模拟光开关的发射,分别在每个柱子链之前设置了一个Ez偏振的点光源。两个点光源除了的相位差外完全相同。来自点光源的光可以耦合到柱链中传播,并在缺陷柱处散射到自由空间中。将监视器放置在缺陷柱正上方3.5μm处,以记录向上散射场并计算发射效率。本实施方式计算了和在1460

1650nm工作波长下的发射效率,如图2所示。可以看出,当时,在大于1560nm的波长处有光发射,但在小于1560nm的波长处没有发射。相反,当时,只有小于1560nm的波长有明显的发射。图2中点A和点B的发射场如图3所示。当λ=1640nm,时,发射场呈现3μm
×
5μm大小的光斑,发射效率为30%,其强度主要来自Ex场,可以认为是xoz平面上两条链的发射场的叠加。当λ=1500nm,时,发射场呈字母“C”形,其是具有可比强度的Ex和Ey的叠加,Ex场由关于xoz平面对称的2个点组成,Ey是xoz平面上的一个点,因此这3个点形成字母“C”形状的发射场,发射效率为10%。
[0025]图4显示了xoy平面在1500nm和1640nm波长处的电场分布。显然,光在柱链中的传播情况直接影响了发射效率。当λ=1500nm,或λ=1640nm,时,光可以在柱链中传播并散射到自由空间中。当λ=1640nm,或λ=1500nm,时,光很难在柱链中传播,因此发光效率低。这是由于双排链中模式的叠加。为了更好地理解,将点光源放置在结构的不对称的位置,以激发双排链的模式并计算电场E(x,y)。因此,当存在相位差为的两个光源时,总电场可由下式计算:
[0026][0027]其中E(x,y)=E
x
(x,y)+E
y
(x,y)+E
z
(x,y)。图4为仅存在一个点光源时双排链中电
场分量的分布。可以看出,当波长为1500nm时,Ex和Ez分量相对于xoz平面呈反对称分布,而Ey分量呈对称分布,即:
[0028]E
x
(x,

y)=

E
x
(x,y)
[0029]E
y
(x,

y)=E
y
(x,y)
[0030]E
z
(x,

y)=

E
z
(x,y)
[0031]那么等式(1)可以写成:
[0032][0033][0034]Ez分量的强度占主导地位,因此当时光可以在柱内传播,但当时则难以传播。1640nm的情况基于相同的原理。然而,电场分量的对称性恰好与1500nm处相反。因此,光的传播状态也被反转。
[0035]本实施方式用于波长相关的3D光开关的微纳结构的发射特性主要是由于缺陷柱的散射。缺陷柱尺寸较大会导致模式不匹配。部分电场不能再束缚在柱链中而沿z方向泄漏,形成散射场。图5模拟了不同尺寸的缺陷柱产生的散射强度。本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于波长相关的3D光开关的微纳结构,其特征在于,包括:衬底;两条硅纳米柱子链,平行设置在所述衬底上;每条硅纳米柱子链包括高度相同的普通柱和缺陷柱,所述普通柱和缺陷柱排成一列,所述缺陷柱设置在所述硅纳米柱子链末端的第一根和第三根的位置;所述缺陷柱的半径大于所述普通柱的半径。2.根据权利要求1所述的用于波长相关的3D光开关的微纳结构,其特征在于,所述硅纳米柱子链中柱子的周期为400nm。3.根据权利要求1所述的用于波长相关的3D光开关的微纳结构,其特征在于,所述普通柱的半径为110nm,所述缺陷柱的半径为190...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄海阳李伟周易甘峰源
申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
类型:发明
国别省市:

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