一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统技术方案

本发明专利技术提供了一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统，包括：检测物体表面粗糙度机构、处理器和存储有计算机程序的存储器，所述检测物体表面粗糙度机构包括：透镜组件、目标发射器和目标发射器对应的若干个目标接收器，当计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：获取目标接收器标识列表；获取目标光斑面积列表；获取目标粗糙度；可知，本发明专利技术，接收器生成完整的光斑，对光斑面积进行处理，有利于提高获取待检测物体粗糙度的精准度，同时，在对光斑面积进行处理的过程中，对光斑面积的所处区域进行划分处理，可以判断出待检测物体的粗糙度是否一致，进而可以获取待检测物体粗糙度的变化状态。状态。状态。

【技术实现步骤摘要】
一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统


[0001]本专利技术涉及光学测量设备
，特别是涉及一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统。

技术介绍

[0002]现有的利用激光测量物体表面粗糙度的方法，大多为：激光发射器发射激光光束，激光光束经过一个透镜照射到物体表面，接收器接收经物体表面反射后的光束并发出信号，对接收器发出的信号进行处理，获取物体表面粗糙度。
[0003]但上述方法也存在以下技术问题：接收器接收经物体表面反射后的光束的过程中，光束不经过透镜，直接反射到接收器上，存在接收器不能接收到全部光束的情况，导致接收器发出的信号不完整，获取到的物体表面粗糙度的精准度较低；对于接收器发出的信号，不做进一步分析，统一进行处理，无法判断出物体表面粗糙度是否发生变化。

技术实现思路

[0004]针对上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统，包括：检测物体表面粗糙度机构、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述检测物体表面粗糙度机构包括：透镜组件、目标发射器和目标发射器对应的m个目标接收器，所述透镜组件设置在所述目标发射器的发送端一侧，所述目标发射器与处理器通信连接，所述处理器与每一所述目标接收器通信连接，当计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：S100、获取目标接收器ID列表A={A1，A2，
……
，A
i
，
……
，A
m
}，A
i
为第i个目标接收器ID，i=1，2<br/>……
m。
[0005]S200、获取目标接收器对应的目标光斑面积列表B={B1，B2，
……
，B
i
，
……
，B
m
}，B
i
=(B
i1
，B
i2
)，B
i1
为A
i
对应的第一目标光斑面积，B
i2
为A
i
对应的第二目标光斑面积，其中，第一目标光斑面积为目标光束经过待检测物体表面反射至第一接收区域内的光斑面积，第二目标光斑面积为目标光束经过待检测物体表面反射至第二接收区域内的光斑面积；光斑面积为接收器接收到待检测物体表面反射出的光束生成的光斑对应的面积。
[0006]S300、根据B，获取目标接收器对应的目标粗糙度D，其中，在S300步骤中包括如下步骤获取D：S301、当所有的B
i2
均为Null时，获取第一中间光斑面积列表C={C1，C2，
……
，C
i
，
……
，C
m
}，将B
i1
作为C
i
。
[0007]S303、根据C，获取D，其中，D符合如下条件：D=α1×
(∑
mi=1
C
i
/m)+β1，其中，α1为用于获取目标粗糙度的第一预设权重，β1为用于获取目标粗糙度的第二预设权重。
[0008]S305、当所有的B
i1
均为Null时，获取第二中间光斑面积列表C0={C
01
，C
02
，
……
，
C
0i
，
……
，C
0m
}，将B
i2
作为C
0i
。
[0009]S307、根据C0，获取D。
[0010]S309、当任一B
i2
不为Null时且除B
i1
之外的其他任一第一目标光斑面积也不为Null时，获取D={D1，D2}，其中，D1为第一目标粗糙度，D2为第二目标粗糙度。
[0011]本专利技术至少具有以下有益效果：本专利技术提供了一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统，包括：检测物体表面粗糙度机构、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述检测物体表面粗糙度机构包括：透镜组件、目标发射器和目标发射器对应的m个目标接收器，所述透镜组件设置在所述目标发射器的发送端一侧，所述目标发射器与处理器通信连接，所述处理器与每一所述目标接收器通信连接，当计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：获取目标接收器ID列表；根据目标接收器ID列表，获取目标接收器对应的目标光斑面积列表；根据目标光斑面积列表，获取目标接收器对应的目标粗糙度；可知，本专利技术一方面，接收器接收到的光束为待检测物体反射后的经过透镜组件的光束，接收器会生成完整的光斑，对接收器生成的光斑面积进行处理，有利于提高获取待检测物体粗糙度的精准度，另一方面，在对光斑面积进行处理的过程中，对光斑面积的所处区域进行划分处理，可以判断出待检测物体的粗糙度是否一致，进一步可以获取待检测物体粗糙度的变化状态。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为本专利技术实施例提供的一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统执行计算机程序的流程图。
[0014]图2为本专利技术实施例提供的一种检测物体表面粗糙度机构的结构示意图。
[0015]其中标号说明：1
‑
目标接收器，2
‑
目标发射器，3
‑
透镜组件，31
‑
第一平凸透镜，32
‑
第二平凸透镜，4
‑
待检测物体，5
‑
隔绝光栏。
具体实施方式
[0016]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0017]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或模块的过程、方法、系统、产品或服务器不必限于清楚地列出的那些步骤或模块，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产
品或设备固有的其它步骤或模块。
[0018]本专利技术提供了一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统，所述系统包括：检测物体表面粗糙度机构、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述检测物体表面粗糙度机构包括：透镜组件3、目标发射器2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测物体表面粗糙度的数据处理系统，其特征在于，所述系统包括：检测物体表面粗糙度机构、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述检测物体表面粗糙度机构包括：透镜组件、目标发射器和目标发射器对应的m个目标接收器，所述透镜组件设置在所述目标发射器的发送端一侧，所述目标发射器与处理器通信连接，所述处理器与每一所述目标接收器通信连接，当所述计算机程序被所述处理器执行时，实现以下步骤：S100、获取目标接收器ID列表A={A1，A2，
……
，A
i
，
……
，A
m
}，A
i
为第i个目标接收器ID，i=1，2
……
m；S200、获取目标接收器对应的目标光斑面积列表B={B1，B2，
……
，B
i
，
……
，B
m
}，B
i
=(B
i1
，B
i2
)，B
i1
为A
i
对应的第一目标光斑面积，B
i2
为A
i
对应的第二目标光斑面积，其中，所述第一目标光斑面积为目标光束经过待检测物体表面反射至第一接收区域内的光斑面积，所述第二目标光斑面积为目标光束经过待检测物体表面反射至第二接收区域内的光斑面积；所述光斑面积为接收器接收到待检测物体表面反射出的光束生成的光斑对应的面积；S300、根据B，获取目标接收器对应的目标粗糙度D，其中，在S300步骤中包括如下步骤获取D：S301、当所有的B
i2
均为Null时，获取第一中间光斑面积列表C={C1，C2，
……
，C
i
，
……
，C
m
}，将B
i1
作为C
i
，其中，所述Null为空值；S303、根据C，获取D，其中，D符合如下条件：D=α1×
(∑
mi=1
C
i
/m)+β1，其中，α1为用于获取目标粗糙度的第一预设权重，β1为用于获取目标粗糙度的第二预设权重；S305、当所有的B
i1
均为Null时，获取第二中间光斑面积列表C0={C
01
，C
02
，
……
，C
0i
，
……
，C
0m
}，将B
i2
作为C
0i
；S307、根据C0，获取D；S309、当任一B
i2
不为Null时且除B
i1
之外的其他任一第一目标光斑面积也不为Null时，获取D={D1，D2}，其中，D1为第一目标粗糙度，D2为第二目标粗糙度。2.根据权利要求1所述的检测物体表面粗糙度的数据处理系统，其特征在于，在S307步骤中包括如下步骤：S3071、遍历C0，获取C
0max
和C
0min
，其中，C
0max
为C0中最大的第二中间光斑面积，C
0min
为C0中最小的第二中间光斑面积；S3072、当ΔC0≤U时，获取D，其中，U为预设的光斑面积差阈值，ΔC0符合如下条件：ΔC0=C
0max
‑
C
0min
；D符合如下条件：D=α2×
(∑
mi=1
C
0i
/m)+β2，其中，α2为用于获取目标粗糙度的第三预设权重，β2为用于获取目标粗糙度的第四预设权重；S3073、当ΔC0＞U时，获取到C0对应的指定光斑面积列表G={G1，G2，
……
，G
x
，
……
，G
p
}，G
x
={G
x1
，G
x2
，
……
，G
xy
，
……
，G
xq(x)
}，G
xy
为C0对应的第x个指定光斑区域内的第y个指定光斑面积，x=1，2
……
p，p为指定光斑区域的数量，y=1，2，
……
，q(x)，q(x)为第x个指定光斑区域内的指定光斑面积，所述指定光斑面积是指在指定光斑区域内的第二中间光斑面积，其中，所述指定光斑区域为相邻的若干个目标接收器的接收区域构建成的区域；S3074、遍历G
x
，获取G
0xmax

【专利技术属性】
技术研发人员：代红林，
申请(专利权)人：宜科天津电子有限公司，
类型：发明
国别省市：