中央处理器的电源保护方法、装置及中央处理器制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种中央处理器的电源保护方法、装置及中央处理器，该方法包括：接收电子保险丝芯片输出的负载电流；在确定所述负载电流大于或者等于电流门限的情况下，向所述电子保险丝芯片发送关闭控制信号，以供所述电子保险丝芯片根据所述关闭控制信号切断中央处理器的输出电流后，将剩余的负载电流输送至后端电容进行放电供给。本发明专利技术提供的中央处理器的电源保护方法、装置及中央处理器，能够在CPU处于大压力工作环境下对功率级芯片进行限流，避免现有技术频繁关断输出电压所导致的芯片寿命大幅度减少，优化过电保护效果，降低整机的故障率。障率。障率。

【技术实现步骤摘要】
中央处理器的电源保护方法、装置及中央处理器


[0001]本专利技术涉及服务器
，尤其涉及一种中央处理器的电源保护方法、装置及中央处理器。

技术介绍

[0002]随着中央处理器(Central Processing Unit，CPU)技术迭代，服务器相关电源电流越来越大，相应的CPU电源芯片供电压力也越大，服务器长时间处于极大压力工作条件下，CPU的电源调整器(Voltage Regulation，VR)功率级(Power Stage)芯片损毁风险增大。
[0003]若仅通过提高Power Stage芯片功率规格会带来成本的增加。因此，在不增加功率规格和成本的情况下，目前对服务器CPU电源在大电流下的保护，仅限于过电流保护和短路保护等异常工作状态，而服务器长时间高负荷工作条件下，CPU负载电流过大，通常以切断CPU负载电流的方式执行过电保护，其过电保护效果较差，容易导致Power Stage芯片寿命大大缩短或损毁，导致服务器宕机、芯片烧毁甚至有引起烧板的风险。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种中央处理器的电源保护方法、装置及中央处理器，用以解决现有技术中频繁切断CPU负载电流所导致的过电保护效果差的缺陷。
[0005]本专利技术提供一种中央处理器的电源保护方法，包括：
[0006]接收电子保险丝芯片输出的负载电流；
[0007]在确定所述负载电流大于或者等于电流门限的情况下，向所述电子保险丝芯片发送关闭控制信号，以供所述电子保险丝芯片根据所述关闭控制信号切断中央处理器的输出电流后，将剩余的负载电流输送至后端电容进行放电供给；
[0008]其中，所述后端电容输出的电流值小于所述电流门限，所述电流门限是根据与所述后端电容的容量值确定的。
[0009]根据本专利技术提供的一种中央处理器的电源保护方法，在接收电子保险丝芯片输出的负载电流之前，还包括：
[0010]基于所述后端电容输出的电压测试波形，确定降压区间和降压持续时长；
[0011]基于所述降压区间、所述降压持续时长和所述后端电容的容量值，确定所述电流门限，并写入所述电流门限；
[0012]其中，电压测试波形是所述后端电容在所述中央处理器的动态负载电流增大至额定最大值的过程中进行持续放电时所输出的测试电压；所述降压区间由第一测试电压和第二测试电压构成，所述降压持续时长为所述后端电容在所述中央处理器的动态负载电流增大至额定最大值后由所述第二测试电压降至所述第一测试电压的过程所对应的时长。
[0013]根据本专利技术提供的一种中央处理器的电源保护方法，在所述写入所述电流门限之后，还包括：
[0014]基于所述后端电容输出的电压验证波形，获取目标电压；
[0015]在确定所述目标电压大于或者等于第一测试电压的情况下，将所述电流门限判定为验证通过；
[0016]其中，电压验证波形是所述后端电容在所述中央处理器的动态负载电流增大至额定最大值的过程中进行持续放电时所输出的验证电压；所述目标电压为所述电压验证波形处于所述第二测试电压后经过所述降压持续时长所读取到的验证电压。
[0017]根据本专利技术提供的一种中央处理器的电源保护方法，获取所述后端电容输出的电压验证波形之后，还包括：
[0018]基于所述电压验证波形，获取最小验证电压；
[0019]在确定所述最小验证电压大于或者等于电压阈值的情况下，将所述电流门限判定为验证通过。
[0020]根据本专利技术提供的一种中央处理器的电源保护方法，在所述接收电子保险丝芯片输出的负载电流之后，还包括：
[0021]在确定所述负载电流小于电流门限的情况下，向所述电子保险丝芯片发送调整控制信号，以供所述电子保险丝芯片根据所述调整控制信号进行放电供给。
[0022]根据本专利技术提供的一种中央处理器的电源保护方法，所述关闭控制信号为脉冲宽度调制信号。
[0023]本专利技术还提供一种中央处理器的电源保护装置，包括：
[0024]电流监控模块，用于接收电子保险丝芯片输出的负载电流；
[0025]过电保护模块，用于在确定所述负载电流大于或者等于电流门限的情况下，向所述电子保险丝芯片发送关闭控制信号，以供所述电子保险丝芯片根据所述关闭控制信号切断中央处理器的输出电流后，将剩余的负载电流输送至后端电容进行放电供给；
[0026]其中，所述后端电容输出的电流值小于所述电流门限，所述电流门限是根据与所述后端电容的容量值确定的。
[0027]本专利技术还提供一种中央处理器，包括电子保险丝芯片和控制芯片，所述控制芯片用于执行如上任一项所述中央处理器的电源保护方法；
[0028]所述电子保险丝芯片，用于基于中央处理器本体的输出电流，向所述控制芯片输出负载电流；
[0029]所述控制芯片，用于在确定所述负载电流大于或者等于电流门限的情况下，向所述电子保险丝芯片发送关闭控制信号，以供所述电子保险丝芯片根据所述关闭控制信号切断中央处理器的输出电流后，将剩余的负载电流输送至后端电容进行放电供给；
[0030]其中，所述后端电容输出的电流值小于所述电流门限，所述电流门限是根据与所述后端电容的容量值确定的。
[0031]本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述中央处理器的电源保护方法。
[0032]本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述中央处理器的电源保护方法。
[0033]本专利技术提供的中央处理器的电源保护方法、装置及中央处理器，基于对电子保险丝芯片输出的负载电流进行实时采集，在监控到负载电流大于或者等于电流门限时，决策
利用关闭控制信号关断电子保险丝芯片的输入电流，通过将内部剩余的负载电流传输至后端电容进行放电供给的方式，限制电源的电流输出能力。能够在CPU处于大压力工作环境下对功率级芯片进行限流，避免现有技术频繁关断输出电压所导致的芯片寿命大幅度减少，优化过电保护效果，降低整机的故障率。
附图说明
[0034]为了更清楚地说明本专利技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0035]图1是本专利技术提供的中央处理器的电源保护方法的流程示意图之一；
[0036]图2是本专利技术提供的中央处理器的电源保护方法的流程示意图之二；
[0037]图3是本专利技术提供的中央处理器的电源保护装置的结构示意图；
[0038]图4是本专利技术提供的中央处理器的结构示意图；
[0039]图5是本专利技术提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0040]为使本专利技术的目的、技术方案和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种中央处理器的电源保护方法，其特征在于，包括：接收电子保险丝芯片输出的负载电流；在确定所述负载电流大于或者等于电流门限的情况下，向所述电子保险丝芯片发送关闭控制信号，以供所述电子保险丝芯片根据所述关闭控制信号切断中央处理器的输出电流后，将剩余的负载电流输送至后端电容进行放电供给；其中，所述后端电容输出的电流值小于所述电流门限，所述电流门限是根据与所述后端电容的容量值确定的。2.根据权利要求1所述的中央处理器的电源保护方法，其特征在于，在接收电子保险丝芯片输出的负载电流之前，还包括：基于所述后端电容输出的电压测试波形，确定降压区间和降压持续时长；基于所述降压区间、所述降压持续时长和所述后端电容的容量值，确定所述电流门限，并写入所述电流门限；其中，电压测试波形是所述后端电容在所述中央处理器的动态负载电流增大至额定最大值的过程中进行持续放电时所输出的测试电压；所述降压区间由第一测试电压和第二测试电压构成，所述降压持续时长为所述后端电容在所述中央处理器的动态负载电流增大至额定最大值后由所述第二测试电压降至所述第一测试电压的过程所对应的时长。3.根据权利要求2所述的中央处理器的电源保护方法，其特征在于，在所述写入所述电流门限之后，还包括：基于所述后端电容输出的电压验证波形，获取目标电压；在确定所述目标电压大于或者等于第一测试电压的情况下，将所述电流门限判定为验证通过；其中，电压验证波形是所述后端电容在所述中央处理器的动态负载电流增大至额定最大值的过程中进行持续放电时所输出的验证电压；所述目标电压为所述电压验证波形处于所述第二测试电压后经过所述降压持续时长所读取到的验证电压。4.根据权利要求3所述的中央处理器的电源保护方法，其特征在于，获取所述后端电容输出的电压验证波形之后，还包括：基于所述电压验证波形，获取最小验证电压；在确定所述最小验证电压大于或者等于电压阈值的情况下，将所述电流门限判定为验证通过。5.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘滔，隋鑫，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：