本发明专利技术涉及一种实现测向方位角统计及展示处理的方法，包括以下步骤：使用电平门限与测向质量门限进行测向数据过滤；进行测向方位角的累积统计；进行测向方位角的水平全向的线性插值；展示测向方位角分布以及测向方位角概率统计结果。本发明专利技术还涉及一种实现测向方位角统计及展示功能的装置、处理器及存储介质。采用了本发明专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质，以概率统计的方式，优化了最佳测向角方位的评估，适用于相关干涉测向、比幅测向、空间谱测向等多种测向体制的结果统计。等多种测向体制的结果统计。等多种测向体制的结果统计。
【技术实现步骤摘要】
实现测向方位角统计及展示处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质
[0001]本专利技术涉及无线电领域，尤其涉及无线电监测测向领域，具体是指一种实现测向方位角统计及展示处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]随着无线电监测测向技术的发展，各种测向体制得到了充分的应用，如：比幅测向、相关干涉测向、空间谱测向；但测向系统的天线阵、接收通道，由于元器件差异难以做到一致，且空口信号的接收受多径、绕射等无线电传播途径的影响，测向接收机给出的测向数据总会存在随机抖动；这里就需要对测向数据进行数据过滤，并通过概率统计的方法得到更为可靠的测向方位角结果，为了更好的展示测向方位角的概率变化曲线，这里使用了线性拟合方法，拟合函数以每一个方位角概率统计结果作为抽样点，即函数穿过每一个抽样点，并且函数的一阶导数连续，在水平全向上进行线性插值；该统计方法过滤了实时随机跳变的不可靠的测向角结果，使测向方位角稳定在几个扇形区间，以框图和极坐标图较佳地直观展示统计结果，比数据列表展示更为方便观测和读取测向方位角结果。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种满足稳定可靠、操作简便、适用范围较为广泛的实现测向方位角统计及展示处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质如下：
[0005]该实现测向方位角统计及展示处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质，其主要特点是，所述的方法包括以下步骤：
[0006](1)使用电平门限与测向质量门限进行测向数据过滤；
[0007](2)进行测向方位角的累积统计；
[0008](3)进行测向方位角的水平全向的线性插值；
[0009](4)展示测向方位角分布以及测向方位角概率统计结果。
[0010]较佳地，所述的步骤(1)具体包括以下步骤：
[0011](1.1)设置预设电平门限与预设置信度门限；
[0012](1.2)分别计算频谱总功率、信号功率、噪声功率和信噪比，判断信噪比是否低于预设电平门限，如果是，则不进行测向计算；否则，继续步骤(1.3)；
[0013](1.3)计算置信度，判断置信度是否高于预设置信度门限，如果是，则不进行测向计算；否则，使用测向数据，继续步骤(2)。
[0014]较佳地，所述的步骤(2)具体包括以下步骤：
[0015](2.1)下发测向参数，统计超过质量门限的测向次数，并记录所在方位角的出现次
数；
[0016](2.2)以一个时间窗内测向结果在360
°
的各方向出现概率占比为基数，计算方位角概率百分比。
[0017]较佳地，所述的步骤(2.2)中计算方位角概率百分比，具体为：
[0018]根据以下公式计算方位角概率百分比：
[0019]P＝N/T
×
100％；
[0020]其中，N为具体角度出现次数，T为累积总次数。
[0021]较佳地，所述的步骤(3)具体包括以下步骤：
[0022](3.1)以方位角概率百分比为抽样点，进行归一化处理，采用分段样条插值方法进行函数拟合，求得线性插值函数；
[0023](3.2)以需要的精度间隔进行线性插值，并选定测向方位角。
[0024]更佳地，所述的步骤(3.1)具体包括以下步骤：
[0025](3.1.1)对角度分布占比离散序列，求得最大最小值，分别记为max和min；
[0026](3.1.1)分别求得离散序列在(0，1]的映射；
[0027](3.1.1)拟合各插值点间多项式系数，得到插值曲线。
[0028]较佳地，所述的步骤(1.2)中分别计算频谱总功率、信号功率、噪声功率和信噪比，具体为：
[0029]根据以下公式计算频谱总功率P：
[0030][0031]根据以下公式计算信号功率P
s
：
[0032][0033]根据以下公式计算信号功率P
n
：
[0034]Pn＝P
‑
Ps；
[0035]根据以下公式计算信噪比S
nr
：
[0036]Snr＝Ps/Pn；
[0037]其中，X
n
为频谱样点的瞬时功率，left为频谱中心瞬时功率下降3dB的左边界，right为频谱中心瞬时功率下降3dB的右边界，left与right区间频谱为信号包络，n＝1、2、3、
……
。
[0038]较佳地，所述的步骤(1.3)中计算置信度，具体为：
[0039]根据以下公式计算置信度：
[0040]C＝N/T
×
100％；
[0041]其中，N为落在某一方向的计数，T为时间窗内的总测量次数。
[0042]该用于实现测向方位角统计及展示功能的装置，其主要特点是，所述的装置包括：
[0043]处理器，被配置成执行计算机可执行指令；
[0044]存储器，存储一个或多个计算机可执行指令，所述的计算机可执行指令被所述的处理器执行时，实现上述的实现测向方位角统计及展示处理的方法的各个步骤。
[0045]该实现测向方位角统计及展示功能的处理器，其主要特点是，所述的处理器被配置成执行计算机可执行指令，所述的计算机可执行指令被所述的处理器执行时，实现上述
的实现测向方位角统计及展示处理的方法的各个步骤。
[0046]该计算机可读存储介质，其主要特点是，其上存储有计算机程序，所述的计算机程序可被处理器执行以实现上述的实现测向方位角统计及展示处理的方法的各个步骤。
[0047]采用了本专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质，以概率统计的方式，优化了最佳测向角方位的评估，适用于相关干涉测向、比幅测向、空间谱测向等多种测向体制的结果统计。
附图说明
[0048]图1为本专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法的流程图。
[0049]图2为本专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法的测向结果展示示意图。
[0050]图3为本专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法的拟合函数示意图。
[0051]图4为本专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法的理想八阵元天线方向图。
[0052]图5为本专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法的阵元方向图示意图。
[0053]图6为本专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法的插值奇点处理示意图。
[0054]图7为本专利技术的实现测向方位角统计及展示处理的方法的标场测向结果示意图。
具体实施方式
[0055]为了能够更清楚地描述本专利技术的
技术实现思路
，下面结合具体实施例来进行进一本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种实现测向方位角统计及展示处理的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：(1)使用电平门限与测向质量门限进行测向数据过滤；(2)进行测向方位角的累积统计；(3)进行测向方位角的水平全向的线性插值；(4)展示测向方位角分布以及测向方位角概率统计结果。2.根据权利要求1所述的实现测向方位角统计及展示处理的方法，其特征在于，所述的步骤(1)具体包括以下步骤：(1.1)设置预设电平门限与预设置信度门限；(1.2)分别计算频谱总功率、信号功率、噪声功率和信噪比，判断信噪比是否低于预设电平门限，如果是，则不进行测向计算；否则，继续步骤(1.3)；(1.3)计算置信度，判断置信度是否高于预设置信度门限，如果是，则不进行测向计算；否则，使用测向数据，继续步骤(2)。3.根据权利要求1所述的实现测向方位角统计及展示处理的方法，其特征在于，所述的步骤(2)具体包括以下步骤：(2.1)下发测向参数，统计超过质量门限的测向次数，并记录所在方位角的出现次数；(2.2)以一个时间窗内测向结果在360
°
的各方向出现概率占比为基数，计算方位角概率百分比。4.根据权利要求3所述的实现测向方位角统计及展示处理的方法，其特征在于，所述的步骤(2.2)中计算方位角概率百分比，具体为：根据以下公式计算方位角概率百分比：P＝N/T
×
100％；其中，N为具体角度出现次数，T为累积总次数。5.根据权利要求1所述的实现测向方位角统计及展示处理的方法，其特征在于，所述的步骤(3)具体包括以下步骤：(3.1)以方位角概率百分比为抽样点，进行归一化处理，采用分段样条插值方法进行函数拟合，求得线性插值函数；(3.2)以需要的精度间隔进行线性插值，并选定测向方位角。6.根据权利要求5所述的实现测向方位角统计及展示处理的方法，其特征在于，所述的步骤(3.1)具体包括以下步骤：(3.1.1)对角度分布占比离散序列，求得最大最小值，分别记为max和min；(3.1.1)分...
【专利技术属性】
技术研发人员：周洪荣，
申请(专利权)人：创远信科上海技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。