一种集成电路测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及集成电路领域，具体是涉及一种集成电路测试装置，包括工作台以及电路测试机构；工作台上设置有能够将多种规格大小的集成电路板定位至工作台的中心处的定位机构；工作台的中心处开设有条形的避让槽，避让槽的长度方向与工作台的长度方向一致，避让槽的两端部处分别设置有一个气动吸盘；工作台的下侧设置有用于调节两个气动吸盘在避让槽内位置的位置调节机构；通过定位机构能够将多种规格大小的集成电路板均定位至工作台的中心处，通过位置调节机构能够调节两个气动吸盘之间的距离，由此能够保证两个气动吸盘均能够在合适的位置对不同规格的集成电路板进行吸附固定。置对不同规格的集成电路板进行吸附固定。置对不同规格的集成电路板进行吸附固定。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置和方法


[0001]本专利技术涉及集成电路领域，具体是涉及一种集成电路测试装置，具体还涉及一种集成电路测试装置的使用方法。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
[0003]目前许多芯片在出厂时需要进行测试，基于FPGA对集成电路芯片件测试是常用到的一种测试方式之一，集成电路的好坏检测：集成电路的好坏可以检测引脚电阻值、引脚电压值和引脚波形等相关的参量，引脚电阻值可以反映集成电路是否损坏的检测参量之一，集成电路引脚电阻值可以外为在线电阻值和非在线电阻值；中国专利申请号为CN202121413752.2的中国技术专利申请文件公开了一种方便分拣的集成电路芯片测试机，所述测试机通过将集成芯片放置在检测板上，从而可以通过检测板上的探针母板对集成芯片的各种参数进行测试，但是所述测试机无法对不同规格的集成芯片进行检测，而一般的工厂均会生产多种型号、尺寸规格的集成芯片，由此就造成所述测试机的适用性较差。

技术实现思路

[0004]针对现技术所存在的问题，提供一种集成电路测试装置，通过定位机构能够将多种规格大小的集成电路板均定位至工作台的中心处，通过位置调节机构能够调节两个气动吸盘之间的距离，由此能够保证两个气动吸盘均能够在合适的位置对不同规格的集成电路板进行吸附固定。
[0005]为解决现有技术问题，本专利技术采用的技术方案为：
[0006]一种集成电路测试装置，用于对集成电路板进行电路测试，所述测试装置包括工作台以及用于对集成电路板的电路通断进行检测的电路测试机构，电路测试机构位于工作台的上方；
[0007]工作台上设置有能够将多种规格大小的集成电路板定位至工作台的中心处的定位机构；
[0008]工作台的中心处开设有条形的避让槽，避让槽的长度方向与工作台的长度方向一致，避让槽的两端部处分别设置有一个气动吸盘；
[0009]工作台的下侧设置有用于调节两个气动吸盘在避让槽内位置的位置调节机构。
[0010]优选的，定位机构包括第一定位块和第二定位块，第一定位块和第二定位块均呈条形状；
[0011]第一定位块的长度方向与工作台的长度方向一致，第一定位块沿着工作台的宽度
方向滑动设置在工作台的上端；
[0012]第二定位块的长度方向与工作台的宽度方向一致，第二定位块沿着工作台的长度方向滑动设置在工作台的上端；
[0013]第二定位块靠近第一定位块的一端开设有沿着第二定位块的长度方向延伸的矩形槽，矩形槽内滑动设置有一个条形的连接块，连接块靠近第一定位块的一端部沿着第一定位块的长度方向与第一定位块滑动配合；
[0014]第一定位块的右端部处设置有沿其长度方向刻画的第一刻度线，连接块上设置有沿其长度方向刻画的第二刻度线。
[0015]优选的，连接块上固定安装有一个条形块，条形块竖直设置在连接块的内侧且位于连接块靠近第一定位块的一端部。
[0016]优选的，第一定位块的内侧开设有沿其长度方向延伸的第三滑槽，第三滑槽内滑动设置有第三滑块，第三滑块固定安装在连接块靠近第一定位块的一端。
[0017]优选的，矩形槽的底部开设有螺纹槽，螺纹槽的长度方向与第二定位块的长度方向一致；
[0018]螺纹槽内螺纹连接有第一螺纹杆，第一螺纹杆靠近第一定位块的一端设置有与其同轴的圆板，圆板的直径大于第一螺纹杆的直径；
[0019]圆板靠近第一定位块的一端设置有与其同轴的第一圆杆，第一圆杆的直径小于圆板的直径；
[0020]连接块靠近矩形槽底部的一端开设有圆槽，圆槽的底部开设有贯穿连接块的插孔，圆板转动设置在圆槽内，第一圆杆转动设置在插孔内；
[0021]第一圆杆的末端固定连接有第一旋钮，第一旋钮位于连接块的外侧并且位于第一定位块的上方；
[0022]矩形槽内滑动设置有矩形板，矩形板上开设有用于避让第一螺纹杆的避让孔，矩形板安装在连接块靠近矩形槽底部的一侧；
[0023]第一定位块的其中一端部安装有底板，第一定位块的另一端部安装有矩形块；
[0024]第三滑槽内设置有第二螺纹杆，第二螺纹杆的其中一端转动设置在底板上，第二螺纹杆的另一端固定连接有第二圆杆，第二圆杆贯穿矩形块至其外侧，第二圆杆的末端安装有第二旋钮，第二螺纹杆与第三滑块螺纹连接。
[0025]优选的，连接块靠近第一旋钮的一端设置有第一安装孔，第一安装孔与第一圆杆同轴设置，第一圆杆上套设有第一弹簧，第一弹簧位于第安装孔内；
[0026]第一圆杆上还套设有第一环形套，第一环形套靠近第一旋钮的一端设置有第一环形抵压板，第一环形抵压板抵靠在第一旋钮上；
[0027]矩形块靠近第二旋钮的一端设置有第二安装孔，第二安装孔与第二圆杆同轴设置，第二圆杆上套设有第二弹簧，第二弹簧位于第二安装孔内；
[0028]第二圆杆上还套设有第二环形套，第二环形套靠近第二旋钮的一端设置有第二环形抵压板，第二环形抵压板抵靠在第二旋钮上。
[0029]优选的，位置调节机构包括竖板、电动直线滑台、连接件和条形板；
[0030]竖板固定安装在工作台的下端，竖板沿着工作台的长度方向延伸；
[0031]电动直线滑台固定安装在竖板的前端用于带动连接件沿着工作台的长度方向移
动；
[0032]条形板横向安装在连接件的上方，条形板上开设有两个与其长度方向一致的第一条形槽，两个第一条形槽分别位于条形板的两端部处；
[0033]两个第一条形槽的上方均设置有一个横向放置的安装板，每一个安装板上均开设有第二条形槽，每一个第二条形槽的长度方向均与第一条形槽的长度方向一致；
[0034]每一个安装板的下端均设置有多个竖直延伸的导向杆，条形板上开设有与多个导向杆一一对应的多个导向孔，每一个导向杆均滑动设置在与其对应的导向孔内，每一个导向杆的末端均固定安装有圆形板，圆形板的直径大于导向杆的直径并且均位于条形板的下方，每一个导向杆上均套设有一个第三弹簧，第三弹簧位于条形板的上方；
[0035]两个气动吸盘分别位于两个第二条形槽的正上方，每一个气动吸盘均包括一个螺杆安装部，所述螺杆安装部纵向插设于其下方的第一条形槽和第二条形槽内，每一个螺杆安装部上均螺纹连接有两个螺母，两个螺母分别位于与其对应的安装板的上下两侧。
[0036]优选的，条形板的两端部处均设置有一个推块；
[0037]两个安装板的上方均设置有一个压板；
[0038]每一个压板和与其对应的推块之间均设置有联动组件，所述联动组件能够在推块向外侧移动时而带动其上方的压板竖直向下移动。
[0039]优选的，每一组联动组件均包括直线滑轨、滑动块、铰接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，用于对集成电路板进行电路测试，所述测试装置包括工作台(1)以及用于对集成电路板的电路通断进行检测的电路测试机构(2)，电路测试机构(2)位于工作台(1)的上方；其特征在于，工作台(1)上设置有能够将多种规格大小的集成电路板定位至工作台(1)的中心处的定位机构(3)；工作台(1)的中心处开设有条形的避让槽(11)，避让槽(11)的长度方向与工作台(1)的长度方向一致，避让槽(11)的两端部处分别设置有一个气动吸盘(4)；工作台(1)的下侧设置有用于调节两个气动吸盘(4)在避让槽(11)内位置的位置调节机构(5)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，定位机构(3)包括第一定位块(31)和第二定位块(32)，第一定位块(31)和第二定位块(32)均呈条形状；第一定位块(31)的长度方向与工作台(1)的长度方向一致，第一定位块(31)沿着工作台(1)的宽度方向滑动设置在工作台(1)的上端；第二定位块(32)的长度方向与工作台(1)的宽度方向一致，第二定位块(32)沿着工作台(1)的长度方向滑动设置在工作台(1)的上端；第二定位块(32)靠近第一定位块(31)的一端开设有沿着第二定位块(32)的长度方向延伸的矩形槽(321)，矩形槽(321)内滑动设置有一个条形的连接块(33)，连接块(33)靠近第一定位块(31)的一端部沿着第一定位块(31)的长度方向与第一定位块(31)滑动配合；第一定位块(31)的右端部处设置有沿其长度方向刻画的第一刻度线(311)，连接块(33)上设置有沿其长度方向刻画的第二刻度线(322)。3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，连接块(33)上固定安装有一个条形块(34)，条形块(34)竖直设置在连接块(33)的内侧且位于连接块(33)靠近第一定位块(31)的一端部。4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，第一定位块(31)的内侧开设有沿其长度方向延伸的第三滑槽(312)，第三滑槽(312)内滑动设置有第三滑块(313)，第三滑块(313)固定安装在连接块(33)靠近第一定位块(31)的一端。5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，矩形槽(321)的底部开设有螺纹槽(323)，螺纹槽(323)的长度方向与第二定位块(32)的长度方向一致；螺纹槽(323)内螺纹连接有第一螺纹杆(35)，第一螺纹杆(35)靠近第一定位块(31)的一端设置有与其同轴的圆板(351)，圆板(351)的直径大于第一螺纹杆(35)的直径；圆板(351)靠近第一定位块(31)的一端设置有与其同轴的第一圆杆(352)，第一圆杆(352)的直径小于圆板(351)的直径；连接块(33)靠近矩形槽(321)底部的一端开设有圆槽(331)，圆槽(331)的底部开设有贯穿连接块(33)的插孔(332)，圆板(351)转动设置在圆槽(331)内，第一圆杆(352)转动设置在插孔(332)内；第一圆杆(352)的末端固定连接有第一旋钮(353)，第一旋钮(353)位于连接块(33)的外侧并且位于第一定位块(31)的上方；矩形槽(321)内滑动设置有矩形板(36)，矩形板(36)上开设有用于避让第一螺纹杆(35)的避让孔(361)，矩形板(36)安装在连接块(33)靠近矩形槽(321)底部的一侧；
第一定位块(31)的其中一端部安装有底板(324)，第一定位块(31)的另一端部安装有矩形块(325)；第三滑槽(312)内设置有第二螺纹杆(37)，第二螺纹杆(37)的其中一端转动设置在底板(324)上，第二螺纹杆(37)的另一端固定连接有第二圆杆(371)，第二圆杆(371)贯穿矩形块(325)至其外侧，第二圆杆(371)的末端安装有第二旋钮(372)，第二螺纹杆(37)与第三滑块(313)螺纹连接。6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置，其特征在于，连接块(33)靠近第一旋钮(353)的一端设置有第一安装孔(333)，第一安装孔(333)与第一圆杆(352)同轴设置，第一圆杆(352)上套设有第一弹簧(354)，第一弹簧(354)位于第一安装孔(333)内；第一圆杆(352)上还套设有第一环形套(355)，第一环形套(355)靠近第一旋钮(353)的一端设置有第一环形抵压板(3551)，第一环形抵压板(3551)抵靠在第一旋钮(353)上；矩形块(325)靠近第二旋钮(372)的一端设置有第二安装孔(3251)，第二安装孔(3251)与第二圆杆(371)同轴设置，第二圆杆(371)上套设有第二弹簧(373)，第二弹簧(373)位于第二安装孔(3251)内；第二圆杆(371)上还套设有第二环形套(374)，第二环形套(374)靠近第二旋钮(372)的一端设置有第二环形抵压板(3741)，第二环形抵压板(3741)抵靠在第二旋钮(372)上...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜喜成，王国宁，
申请(专利权)人：姜喜成，
类型：发明
国别省市：