本发明专利技术提供图像检查方法、不良部位的图像的管理方法和图像检查装置，使用了图像检查装置(例如X射线检查装置等)的图像检查方法通过将某部件的不良部位的图像转印到其他部件的图像，生成并显示模拟的不良部位的图像和计测值，能够在视觉上和数值上判别良品与不良品的差异。本公开的使用了图像检查装置的图像检查方法具有将不良部位的图像转印到良品的图像中的转印目的地而生成转印图像的转印步骤作为全部步骤中的一部分。为全部步骤中的一部分。为全部步骤中的一部分。
【技术实现步骤摘要】
图像检查方法、不良部位的图像的管理方法和图像检查装置
[0001]本专利技术涉及用于通过对检查对象物的图像进行检查来判定检查对象物的良否的图像检查方法和图像检查装置。
技术介绍
[0002]以往，已知在实际的制造工序中无法得到品质管理所需的数量的不良图像的情况下，基于良品图像来生成模拟的不良图像。例如，在模拟地生成初始学习时所需要的不良图像的情况下，能够自动且大量地进行生成的模拟不良图像自动生成装置是公知的。该模拟不良图像自动生成装置从良品输入部输入良品图像作为神经网络的学习数据来进行学习。另外，不良图像从不良图像输入部输入，进行学习。另外，通过不良图像提取部，提取与良品的差分数据，在模拟数据条件设定部中，根据随机数产生部的随机数值，生成多套不良合成位置等的不良生成条件，基于该不良生成条件，模拟不良图像生成部对良品图像合成差分数据，由此，生成多套模拟不良图像，作为神经网络的学习数据而输入(比如，参照专利文献1)。
[0003]另外，能够高精度地针对判别良品和不良品的模型执行学习的学习装置也是公知的。该学习装置具备中间图像生成部、中间图像显示部、边界受理部以及教师图像确定部。中间图像生成部根据作为表示良品的图像的良品图像和作为表示不良品的图像的不良品图像，生成多个中间图像。中间图像显示部在良品图像与不良品图像之间配置多个中间图像并显示于显示装置。边界受理部从用户受理中间图像的边界的指定，作为良品图像和不良品图像之间的边界。教师图像确定部基于指定的边界来确定良品图像和不良品图像的图像(例如，参照专利文献2)。此外，能够容易地根据不良品图像生成良品图像的图像处理装置也是公知的(例如，参照专利文献3)。
[0004]根据上述专利文献1所公开的内容，基于良品图像的数据和不良图像的数据来生成模拟不良图像，将该模拟不良图像作为神经网络的学习数据进行输入，由此能够提高作为模拟不良图像自动生成装置的检查装置的合格与否判定的精度。但是，不能说能够使用过去蓄积的不良图像高效地生成模拟不良图像或其计测值。
[0005]此外，根据上述专利文献2中公开的内容，当基于良品图像和不良品图像生成多个中间图像时，边界受理部从用户受理中间图像的边界的指定作为良品图像和不良品图像之间的边界。然而，如果在指定中间图像的边界时没有充分地获得不良品图像，则必须仅基于良品图像来指定中间图像的边界，可能需要依赖于经验的指定。该依赖于经验的指定有可能使学习装置的检查品质产生偏差，因此不优选。另外，不能说能够使用过去蓄积的不良图像高效地生成新的模拟不良图像。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1：日本特开2005
‑
156334号公报
[0009]专利文献2：日本专利第6780769号公报
[0010]专利文献3：日本特开2020
‑
008488号公报
技术实现思路
[0011]专利技术所要解决的课题
[0012]本公开是鉴于上述那样的问题点而完成的，其最终的目的在于提供一种图像检查方法以及图像检查装置，通过将过去取得的不良部位的图像转印到良品图像，能够高效地生成模拟的不良部位的图像，利用于品质管理。
[0013]用于解决课题的手段
[0014]用于解决上述课题的本公开包含一种图像检查方法，其能够使用图像检查装置判别检查对象物中的良品和不良品，所述图像检查方法具有：图像显示步骤，显示所述良品的图像；不良图像显示步骤，显示与所述良品相同种类的检查对象物中的多个不良部位的图像；选择步骤，选择所述良品的图像中的转印目的地以及所述多个不良部位的图像中的与该转印目的地对应的一个以上的不良部位的图像；以及转印步骤，将在所述选择步骤中选择出的所述多个不良部位的图像中的一个以上的不良部位的图像转印到所述良品的图像中的所述转印目的地，生成转印图像。
[0015]根据本公开，在转印步骤中，通过将不良部位的图像转印到良品的图像中的转印目的地，能够高效地生成模拟的不良部位的图像。该模拟的不良部位的图像能够用于判别制造工序中的良品与不良品的差异，由此，容易执行将良品与不良品的差异登记于图像检查装置的示教这样的作业。也能够提供该转印图像作为良品与不良品的差异的判别基准。另外，在转印步骤中转印的不良部位的图像越多，越能够得到更多的模拟的不良部位的图像。
[0016]另外，在本公开中，也可以是，所述图像检查方法还具有：转印图像显示步骤，显示所述转印图像；计测步骤，计测所述转印图像中的规定特征量；以及计测结果显示步骤，显示在所述计测步骤中得到的计测结果或者在所述计测步骤中得到的计测结果及其他检查对象物中的所述规定特征量的计测结果。由此，能够在视觉上以及数值上判别良品与不良品的差异，判别基准变得更明确，因此示教变得更容易执行。
[0017]另外，在本公开中，也可以是，所述图像检查方法的特征在于，在所述图像显示步骤以及所述不良图像显示步骤中，所述良品的图像以及所述多个不良部位的图像分别被显示为自XYZ这三个方向的断层图像。由此，在不良品为立体的情况下，能够防止因死角而漏看该不良品中的不良部位的风险。
[0018]另外，在本公开中，也可以设为如下的图像检查方法：在所述转印步骤中，在所述转印目的地的尺寸与所述不良部位的图像的尺寸不同的情况下，能够调整所述不良部位的图像的尺寸，以使各自的尺寸相同。由此，无论转印目的地的尺寸如何都能够进行转印。
[0019]另外，在本公开中，也可以是，图像检查方法的特征在于，在所述计测结果显示步骤中，以直方图显示所述计测结果。通过以直方图显示，能够根据计测值简单地确认不良品的频度。
[0020]另外，在本公开中，也可以是，图像检查方法的特征在于，所述检查对象物是搭载有电子元件的电路基板，所述良品的图像中的所述转印目的地是所述电子元件与所述电路基板的连接部，所述良品图像中的所述连接部的XY方向的边界是通过二值化而自动判定
的。由此，能够明确地确定转印目的地。
[0021]另外，在本公开中，也可以是，图像检查方法的特征在于，所述连接部的Z方向的边界是所述连接部的两端，是通过捕捉所述连接部的两端的位置而自动地设定的。由此，即使在良品是立体的情况下，也能够明确地确定转印目的地。
[0022]另外，在本公开中，也可以是上述的图像检查方法中的多个不良部位的图像的管理方法，其中，对在过去的检查中取得的所述多个不良部位的图像进行数据库化，对所述多个不良部位的图像各自关联所述检查对象物的种类、不良的种类以及基于表示不良程度的数值的不良阶段，基于该数值的不良阶段是基于过去在所述计测步骤中计测出的计测结果或者基于过去通过目视判定出的结果而决定的数值。由此，能够掌握与不良部位相关的更详细的信息。也能够提供与该不良部位相关的更详细的信息。
[0023]另外，本公开包括一种图像检查装置，其能够判别检查对象物中的良品和不良品，所述图像检查装置具备：数据库，其蓄积所述良品的图像的数据；不良数据库，其蓄积本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像检查方法，其能够使用图像检查装置判别检查对象物中的良品和不良品，所述图像检查方法具有：图像显示步骤，显示所述良品的图像；不良图像显示步骤，显示与所述良品相同种类的检查对象物中的多个不良部位的图像；选择步骤，选择所述良品的图像中的转印目的地以及所述多个不良部位的图像中的与该转印目的地对应的一个以上的不良部位的图像；以及转印步骤，将在所述选择步骤中选择出的所述多个不良部位的图像中的一个以上的不良部位的图像转印到所述良品的图像中的所述转印目的地，生成转印图像。2.根据权利要求1所述的图像检查方法，其特征在于，所述图像检查方法还具有：转印图像显示步骤，显示所述转印图像；计测步骤，计测所述转印图像中的规定特征量；以及计测结果显示步骤，显示在所述计测步骤中得到的计测结果、或者显示在所述计测步骤中得到的计测结果及其他检查对象物中的所述规定特征量的计测结果。3.根据权利要求1或2所述的图像检查方法，其特征在于，在所述图像显示步骤及所述不良图像显示步骤中，所述良品的图像及所述多个不良部位的图像分别被显示为自XYZ三个方向的断层图像。4.根据权利要求1或2所述的图像检查方法，其特征在于，在所述转印步骤中，在所述转印目的地的尺寸与所述不良部位的图像的尺寸不同的情况下，能够调整所述不良部位的图像的尺寸，以使各自的尺寸相同。5.根据权利要求2所述的图像检查方法，其特征在于，在所述计测结果显示步骤中，以直方图显示所述计测结果。6.根据权利要求1或2所述的图像检查方法，其特征在于，所述检查对象物是搭载有电子元件的电路基板，所述良品的图像中的所述转印目的地是所述电子元件与所述电路基板的连接部，所述良品的图像中的所述连接部的XY方向的边界是通过二值化而自动判定的。7.根据权利要求6所述的图像检查方法，其特征在于，所述连接部的Z方向的边界是所述连接部的两端，是通过捕捉所述连接部的两端的位置而自动设定的。8.一种不良部位的图像的管理方法，其是权利要求2所述的图像检查方法中的多个不良部位的图像的管理方法，其特征在于，对在过去的检查中取得的所述多个不良部位的图像进行数据库化，对所述多个不良部位的图像各自关联所述检查对象物的种类、不良的种类以及基于表示不良程度的数值的不良阶段，基于该数值的不良阶段是基于过去在所述计测步骤中计测出的计测结果或...
【专利技术属性】
技术研发人员：小原晃，杉田信治，笠原启雅，望月葵，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：
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