基于特高频电磁信号的金属化膜电容器自愈特征监测方法技术

本申请涉及一种基于特高频电磁信号的金属化膜电容器自愈特征监测方法。该方法包括：通过安装在待测金属化膜电容器上的高频电磁信号传感器，获取待测金属化膜电容器在预设时间段内产生的多个高频电磁信号，根据多个高频电磁信号，确定待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果；高频电磁信号为待测金属化膜电容器发生自愈时产生的，且每发生一次自愈对应产生一个高频电磁信号。该方法中在不改变待测金属化膜电容器运行回路的情况下，能够用更少的监测设备实现待测金属化膜电容器的精确监测，且降低了成本。降低了成本。降低了成本。

【技术实现步骤摘要】
基于特高频电磁信号的金属化膜电容器自愈特征监测方法


[0001]本申请涉及性能检测
，特别是涉及一种基于特高频电磁信号的金属化膜电容器自愈特征监测方法。

技术介绍

[0002]金属化膜电容器运行过程中，在复杂电热应力的作用下，其内部的金属化膜弱点、杂质处会发生击穿，由于焦耳效应，击穿点附近的金属层迅速融化、蒸发；随着金属层蒸发面积扩大，放电电弧被切断，弱点区域重新恢复绝缘，称之为金属化膜电容器的自愈，这使得金属化膜电容器的运行稳定性较好。
[0003]输电系统中，长期运行的金属化膜电容器会反复发生自愈。随着自愈次数的增多，金属化膜电容器的电容值会缓慢损失，电容器逐渐老化，为保证系统安全可靠运行，需要及时更换已达到寿命终点的电容器。基于此，需要对金属化膜电容器的自愈特征进行监测，以便于及时更换老化的电容器。
[0004]然而，相关技术中，金属化膜电容器的自愈特征存在难以监测的问题。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种基于特高频电磁信号的金属化膜电容器自愈特征监测方法，能够以简单且成本较低的方式对电容器的自愈特征进行监测。
[0006]第一方面，本申请提供了一种金属化膜电容器自愈特征监测方法，该方法包括：
[0007]通过安装在待测金属化膜电容器上的高频电磁信号传感器，获取待测金属化膜电容器在预设时间段内产生的多个高频电磁信号；高频电磁信号为待测金属化膜电容器发生自愈时产生的，且每发生一次自愈对应产生一个高频电磁信号；
[0008]根据多个高频电磁信号，确定待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果。
[0009]在其中一个实施例中，根据多个高频电磁信号，确定待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果，包括：
[0010]根据多个高频电磁信号，获取待测金属化膜电容器在预设时间段内的自愈特征和自愈特征变化；
[0011]根据自愈特征和自愈特征变化，确定待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果。
[0012]在其中一个实施例中，自愈特征包括自愈次数，根据多个高频电磁信号，确定待测金属化膜电容器在预设时间段内的自愈特征，包括：
[0013]统计多个高频电磁信号的数量；
[0014]根据高频电磁信号的数量与脉冲电流的数量之间的对应关系，确定待测金属化膜电容器在预设时间段内的自愈次数。
[0015]在其中一个实施例中，自愈特征包括自愈能量；根据多个高频电磁信号，获取待测金属化膜电容器在预设时间段内的自愈特征，包括：
[0016]根据各高频电磁信号，确定各高频电磁信号对应的频域能量；
[0017]根据高频电磁信号的频域能量和脉冲电流的自愈能量之间的对应关系，获取待测金属化膜电容器在预设时间段内每一次自愈时产生的自愈能量；高频电磁信号的频域能量能够反映待测金属化膜电容器发生自愈时产生的自愈能量。
[0018]在其中一个实施例中，根据多个高频电磁信号，获取待测金属化膜电容器在预设时间段内的自愈特征变化，包括：
[0019]根据各高频电磁信号，确定各高频电磁信号的特征变化；
[0020]根据各高频电磁信号的特征变化，确定待测金属化膜电容器在预设时间段内的自愈特征变化。
[0021]在其中一个实施例中，根据各高频电磁信号，确定各高频电磁信号的特征变化，包括：
[0022]分别对各高频电磁信号进行信号变换处理，得到多个频域谱图；
[0023]根据各频域谱图的能量分布，分别确定各高频电磁信号的特征变化。
[0024]在其中一个实施例中，根据各高频电磁信号，确定各高频电磁信号的特征变化，包括：
[0025]根据各高频电磁信号，确定各高频电磁信号的时域特征变化。
[0026]第二方面，本申请还提供了一种金属化膜电容器自愈特征监测装置，该装置包括：
[0027]获取模块，用于通过安装在待测金属化膜电容器上的高频电磁信号传感器，获取待测金属化膜电容器在预设时间段内产生的多个高频电磁信号；高频电磁信号为待测金属化膜电容器发生自愈时产生的，且每发生一次自愈对应产生一个高频电磁信号；
[0028]确定模块，用于根据多个高频电磁信号，确定待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果。
[0029]第三方面，本申请实施例提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述第一方面中任一实施例提供的方法的步骤。
[0030]第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一实施例提供的方法的步骤。
[0031]第五方面，本申请实施例还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一实施例提供的方法的步骤。
[0032]上述基于特高频电磁信号的金属化膜电容器自愈特征监测方法，通过安装在待测金属化膜电容器上的高频电磁信号传感器，获取待测金属化膜电容器在预设时间段内产生的多个高频电磁信号，根据多个高频电磁信号，确定待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果；高频电磁信号为待测金属化膜电容器发生自愈时产生的，且每发生一次自愈对应产生一个高频电磁信号。该方法中，通过布置非接触式的电磁传感器，在不改变待测金属化膜电容器运行回路的情况下，就能够采集待测金属化膜电容器产生的高频电磁信号，并根据高频电磁信号确定待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果，该方法在不改变待测金属化膜电容器运行回路的情况下，用更少的监测设备就能够实现待测金属化膜电容器的精确监测，并且，不采用额外设备仅使用电磁传感器，成本较低。
附图说明
[0033]图1为一个实施例中金属化膜电容器自愈特征监测方法的应用环境图；
[0034]图2为一个实施例中金属化膜电容器自愈特征监测方法的流程示意图；
[0035]图3为一个实施例中自愈监测平台的结构示意图；
[0036]图4a为一个实施例中金属化膜电容器自愈特征监测方法的仿真结果示意图；
[0037]图4b为另一个实施例中金属化膜电容器自愈特征监测方法的仿真结果示意图；
[0038]图5a为另一个实施例中金属化膜电容器自愈特征监测方法的仿真结果示意图；
[0039]图5b为另一个实施例中金属化膜电容器自愈特征监测方法的仿真结果示意图；
[0040]图6为另一个实施例中金属化膜电容器自愈特征监测方法的流程示意图；
[0041]图7为一个实施例中金属化膜电容器自愈特征监测装置的结构框图；
[0042]图8为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0043]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0044]本申请实施例提供的金属化膜电容器自愈特征监测方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金属化膜电容器自愈特征监测方法，其特征在于，所述方法包括：通过安装在待测金属化膜电容器上的高频电磁信号传感器，获取所述待测金属化膜电容器在预设时间段内产生的多个高频电磁信号；所述高频电磁信号为所述待测金属化膜电容器发生自愈时产生的，且每发生一次自愈对应产生一个高频电磁信号；根据所述多个高频电磁信号，确定所述待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个高频电磁信号，确定所述待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果，包括：根据所述多个高频电磁信号，获取所述待测金属化膜电容器在所述预设时间段内的自愈特征和自愈特征变化；根据所述自愈特征和所述自愈特征变化，确定所述待测金属化膜电容器的自愈特征监测结果。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述自愈特征包括自愈次数，根据所述多个高频电磁信号，获取所述待测金属化膜电容器在所述预设时间段内的自愈特征，包括：统计所述多个高频电磁信号的数量；根据高频电磁信号的数量与脉冲电流的数量之间的对应关系，确定所述待测金属化膜电容器在所述预设时间段内的自愈次数。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述自愈特征包括自愈能量；根据所述多个高频电磁信号，获取所述待测金属化膜电容器在所述预设时间段内的自愈特征，包括：根据各所述高频电磁信号，确定各所述高频电磁信号对应的频域能量；根据高频电磁信号的频域能量和脉冲电流的自愈能量之间的对应关系，获取所述待测金属化膜电容器在所述预设时间段内每一次自愈时产生的自愈能量；所述高频电磁信号的频域能量能够反映所述待测金属化膜电容器发生自愈时产生的自愈能量。5....

【专利技术属性】
技术研发人员：汲胜昌，郑琳子，祝令瑜，孙启明，李斯盟，何国阳，邸振国，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：