一种POS机上安全触点的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种POS机上安全触点的测试装置，用于测试POS机上的安全触点，所述测试装置包括：一主控模块、一存储模块、一电源模块及一固定电阻模块，所述主控模块具有复数个引脚，连接至存储模块对应的引脚；所述电源模块分别连接至主控模块、存储模块和固定电阻模块；所述主控模块还具有复数个ADC接口，每一个所述ADC接口一一连接至固定电阻模块中对应的电阻；所述POS机上的每一个安全触点一一连接至对应的ADC接口，所述ADC接口的数量与固定电阻模块中各电阻的数量一样，且均不小于安全触点的数量。本实用新型专利技术可以判断待测设备的安全触点在测试的过程中松动情况。触点在测试的过程中松动情况。触点在测试的过程中松动情况。

【技术实现步骤摘要】
一种POS机上安全触点的测试装置


[0001]本技术涉及POS机安全触点
，具体是涉及一种POS机上安全触点的测试装置。

技术介绍

[0002]POS机上常见的安全触点(比如碳粒、锅仔等)在做械性的测试，比如跌落测试，温度冲击，验证触点的接触情况，目前传统的测试方式都是经过直接测试后，根据结果判断设计是否有问题。
[0003]但是传统的测试方式存在一个缺陷，就是无法实时的记录测试过程中安全触点的变化情况和量化过程中安全触点的接触情况(就是安全触点总的变化情况)，无法为设计提供详细过程数据，评估设计的余量是否充足和分析出问题时的数据。因为如果直接看结果，如果结果是通过的，由于测试的样本是有限的，有些设计虽然从结果上看都是没问题的，但是可能它处于一种临界的状态，一旦测试样本变大，有概率会出问题。如果结果是不通过的，也没有详细的过程数据，用来做分析，为改进提供依据。

技术实现思路

[0004]为解决上述问题，本技术提供了一种POS机上安全触点的测试装置，通过电路的方式，去实时获取ADC接口的电压值，判断在温度冲击、跌落等测试过程中触点的电阻情况，从而判断待测设备的安全触点在测试的过程中松动情况。
[0005]本技术是这样实现的：一种POS机上安全触点的测试装置，用于测试POS机上的安全触点，所述测试装置包括：一主控模块、一存储模块、一电源模块及一固定电阻模块，所述主控模块具有复数个引脚，连接至存储模块对应的引脚；所述电源模块分别连接至主控模块、存储模块和固定电阻模块；所述主控模块还具有复数个ADC接口，每一个所述ADC接口一一连接至固定电阻模块中对应的电阻；所述POS机上的每一个安全触点一一连接至对应的ADC接口，所述ADC接口的数量与固定电阻模块中各电阻的数量一样，且均不小于安全触点的数量。
[0006]进一步的，所述存储模块包括一芯片U2、一电阻R3、一电阻R4、一电阻R5及一电容C2，所述芯片U2的型号为W25Q16DVSNIG；所述芯片U2的第一引脚通过电阻R3连接至电源VCC，所述芯片U2的第三引脚通过电阻R4连接至电源VCC，所述芯片U2的第四引脚接地，所述电容C2的一端、电阻R5的一端和芯片U2的第八引脚均连接至电源VCC，所述电阻R5的另一端连接至芯片U2的第七引脚，所述电容C2的另一端接地，所述芯片U2的第一引脚、第二引脚、第五引脚及第六引脚一一连接至主控模块对应的引脚上。
[0007]进一步的，所述主控模块包括一芯片U1、一电阻R1、一电阻R2及一电容C1,所述芯片U1的型号为STM32F103x8；所述芯片U1的第七引脚通过电阻R2分别与电阻R1的一端及电容C1的一端连接，所述电阻R2的另一端连接至电源VCC，所述电阻C1的另一端接地；所述芯片U1的第二十五引脚、第二十六引脚、第二十七引脚和第二十八引脚一一连接至存储模块
对应的引脚上；所述芯片U1的第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚、第十四引脚、第十五引脚、第十六引脚、第十七引脚、第十八引脚和第十九引脚均作为ADC接口，分别连接至固定电阻模块和安全触点上；
[0008]所述芯片U1的第一引脚、第九引脚、第二十四引脚、第三十六引脚及第四十八引脚均连接至电源VCC，所述芯片U1的第八引脚、第二十三引脚、第三十五引脚及第四十七引脚均接地，所述芯片U1的第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第二十引脚、第二十一引脚、第二十二引脚、第二十九引脚、第三十引脚、第三十一引脚、第三十二引脚、第三十三引脚、第三十四引脚、第三十七引脚、第三十八引脚、第三十九引脚、第四十引脚、第四十一引脚、第四十二引脚、第四十三引脚、第四十四引脚、第四十五引脚和第四十六引脚均悬空。
[0009]进一步的，所述固定电阻模块包括一电阻R6、一电阻R7、一电阻R8、一电阻R9、一电阻R10、一电阻R11、一电阻R12、一电阻R13、一电阻R14及一电阻R15，所述电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R14及电阻R15的一端均连接至电源VCC，所述电阻R6的另一端连接至芯片U1的第十引脚，所述电阻R7的另一端连接至芯片U1的第十一引脚，所述电阻R8的另一端连接至芯片U1的第十二引脚，所述电阻R9的另一端连接至芯片U1的第十三引脚，所述电阻R10的另一端连接至芯片U1的第十四引脚，所述电阻R11的另一端连接至芯片U1的第十五引脚，所述电阻R12的另一端连接至芯片U1的第十六引脚，所述电阻R13的另一端连接至芯片U1的第十七引脚，所述电阻R14的另一端连接至芯片U1的第十八引脚，所述电阻R15的另一端连接至芯片U1的第十九引脚。
[0010]进一步的，所述主控模块包括一芯片U1、一电阻R1、一电容C1及一电容C3,所述芯片U1的型号为STM8AF5268；所述芯片U1的第一引脚分别与电阻R1的一端及电容C1的一端连接，所述电阻R1的另一端、所述芯片U1的第七引脚、第十三引脚及第三十二引脚均连接至电源VCC，所述芯片U1的第六引脚连接至电容C3的一端，所述电容C1的另一端、电容C3的另一端、所述芯片U1的第四引脚、第五引脚、第十四引脚及第三十一引脚均接地，所述芯片U1的第十五引脚、第十六引脚、第十七引脚、第十八引脚、第十九引脚、第二十引脚、第二十一引脚及第二十二引脚均作为ADC接口，分别连接至固定电阻模块和安全触点上；所述芯片U1的第二十五引脚、第三十引脚、第三十三引脚和第三十四引脚一一连接至存储模块对应的引脚上；
[0011]所述芯片U1的第二引脚、第三引脚、第八引脚、第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第二十三引脚、第二十四引脚、第二十六引脚、第二十七引脚、第二十八引脚、第二十九引脚、第三十五引脚、第三十六引脚、第三十七引脚、第三十八引脚、第三十九引脚、第四十引脚、第四十一引脚、第四十二引脚、第四十三引脚、第四十四引脚、第四十五引脚、第四十六引脚、第四十七引脚和第四十八引脚均悬空。
[0012]进一步的，所述固定电阻模块包括一电阻R5、一电阻R6、一电阻R7、一电阻R8、一电阻R9、一电阻R10、一电阻R11及一电阻R12，所述电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11及电阻R12的一端均连接至电源VCC，所述电阻R5的另一端连接至芯片U1的第二十二引脚，所述电阻R6的另一端连接至芯片U1的第二十一引脚，所述电阻R7的另一端连接至芯片U1的第二十引脚，所述电阻R8的另一端连接至芯片U1的第十九引脚，所述电阻R9的另一端连接至芯片U1的第十八引脚，所述电阻R10的另一端连接至芯片U1的第十七引
脚，所述电阻R11的另一端连接至芯片U1的第十六引脚，所述电阻R12的另一端连接至芯片U1的第十五引脚。
[0013]进一步的，所述固定电阻模块的各电阻取值范围为1～10K。
[0014]进一步的，所述安全触点上设有一第一信号端和一第二信号端，所述安全触点安装于POS机的本体内，所述安全触点本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种POS机上安全触点的测试装置，用于测试POS机上的安全触点，其特征在于，所述测试装置包括：一主控模块、一存储模块、一电源模块及一固定电阻模块，所述主控模块具有复数个引脚，连接至存储模块对应的引脚；所述电源模块分别连接至主控模块、存储模块和固定电阻模块；所述主控模块还具有复数个ADC接口，每一个所述ADC接口一一连接至固定电阻模块中对应的电阻；所述POS机上的每一个安全触点一一连接至对应的ADC接口，所述ADC接口的数量与固定电阻模块中各电阻的数量一样，且均不小于安全触点的数量。2.根据权利要求1所述的一种POS机上安全触点的测试装置，其特征在于，所述存储模块包括一芯片U2、一电阻R3、一电阻R4、一电阻R5及一电容C2，所述芯片U2的型号为W25Q16DVSNIG；所述芯片U2的第一引脚通过电阻R3连接至电源VCC，所述芯片U2的第三引脚通过电阻R4连接至电源VCC，所述芯片U2的第四引脚接地，所述电容C2的一端、电阻R5的一端和芯片U2的第八引脚均连接至电源VCC，所述电阻R5的另一端连接至芯片U2的第七引脚，所述电容C2的另一端接地，所述芯片U2的第一引脚、第二引脚、第五引脚及第六引脚一一连接至主控模块对应的引脚上。3.根据权利要求1所述的一种POS机上安全触点的测试装置，其特征在于，所述主控模块包括一芯片U1、一电阻R1、一电阻R2及一电容C1,所述芯片U1的型号为STM32F103x8；所述芯片U1的第七引脚通过电阻R2分别与电阻R1的一端及电容C1的一端连接，所述电阻R2的另一端连接至电源VCC，所述电阻C1的另一端接地；所述芯片U1的第二十五引脚、第二十六引脚、第二十七引脚和第二十八引脚一一连接至存储模块对应的引脚上；所述芯片U1的第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚、第十四引脚、第十五引脚、第十六引脚、第十七引脚、第十八引脚和第十九引脚均作为ADC接口，分别连接至固定电阻模块和安全触点上；所述芯片U1的第一引脚、第九引脚、第二十四引脚、第三十六引脚及第四十八引脚均连接至电源VCC，所述芯片U1的第八引脚、第二十三引脚、第三十五引脚及第四十七引脚均接地，所述芯片U1的第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第二十引脚、第二十一引脚、第二十二引脚、第二十九引脚、第三十引脚、第三十一引脚、第三十二引脚、第三十三引脚、第三十四引脚、第三十七引脚、第三十八引脚、第三十九引脚、第四十引脚、第四十一引脚、第四十二引脚、第四十三引脚、第四十四引脚、第四十五引脚和第四十六引脚均悬空。4.根据权利要求3所述的一种POS机上安全触点的测试装置，其特征在于，所述固定电阻模块包括一电阻R6、一电阻R7、一电阻R8、一电阻R9、一电阻R10、一电阻R11、一电阻R12、一电阻R13、一电阻R14及一电阻R15，所述电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R14及电阻R15的一端均连接至电源VCC，所述电阻R6的另一端连接至芯片U1的第十引脚，所述电阻R7的另一端连接至芯片U1的第十一引脚，所述电阻R8的另一端连接至芯片U1的第十二引脚，所述电阻R9的另一端连接至芯片U1的第十三引脚，所述电阻R10的另一端连接至芯片U1的第十四引脚，所述电阻R11的另一端连...

【专利技术属性】
技术研发人员：游友锋，叶佺淼，王诗平，陈永长，
申请(专利权)人：环汇科技福建有限公司，
类型：新型
国别省市：