本申请提供一种上电时序测试装置及上电时序测试方法，该装置包括：测试探针模块包括包含有探针孔的底板和设置在底板上的支撑杆，测试探针模块通过底板支撑杆以及支撑杆上的卡扣固定待测试主板，主控模块获取通过探针采集到的待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号，并根据电信号确定目标测试点的上电时序，与主控模块电连接的显示模块显示上电时序。本申请能够大大降低上电时序测试的成本，提高上电时序测试的效率。提高上电时序测试的效率。提高上电时序测试的效率。
【技术实现步骤摘要】
上电时序测试装置及上电时序测试方法
[0001]本申请涉及上电时序测试
，尤其涉及一种上电时序测试装置及上电时序测试方法。
技术介绍
[0002]随着芯片的集成度越来越高，主芯片需要不同的电压对系统包含的各个模块进行供电，供电的先后顺序即为系统上电时序。为了保障系统的稳定运行，需要确保系统上电时序满足芯片要求。
[0003]目前，通常需要人工对系统上电时序进行测试以确保系统上电时序满足芯片要求。例如，人工根据印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)图提供的电压测试点以及各电压测试点信号的时序，利用示波器分多次测量PCB在通电后各信号的时序。上述人工对系统上电时序进行测试的方式成本高。
技术实现思路
[0004]本申请提供一种上电时序测试装置及上电时序测试方法，以解决人工对系统上电时序进行测试的方式成本高的问题。
[0005]第一方面，本申请提供一种上电时序测试装置，用于测试待测试主板的上电时序，该上电时序测试装置包括：
[0006]测试探针模块，包括包含有探针孔的底板和设置在底板上的支撑杆，用于通过底板、支撑杆以及支撑杆上的卡扣固定待测试主板；
[0007]主控模块，用于获取通过探针采集到的待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号，并根据电信号确定目标测试点的上电时序；
[0008]与主控模块电连接的显示模块，用于显示上电时序。
[0009]可选的，主控模块具体用于：以底板的坐标原点为待测试主板的坐标原点；根据输入的目标测试点的坐标以及探针孔在底板上的坐标，确定目标测试点对应的探针孔；根据目标测试点对应的探针孔，获取通过探针采集到的待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号。
[0010]可选的，主控模块还用于：在确定目标测试点对应的探针孔之后，对目标测试点对应的探针孔进行区别标识，并标识对应的电信号。
[0011]可选的，支撑杆在底板上的位置是可变的，和/或，卡扣可沿支撑杆上下移动。
[0012]可选的，主控模块还用于：在根据电信号确定目标测试点的上电时序之后，若确定上电时序需要调整，则根据电信号以及输入的目标测试点的期望上电时序参数，确定要调整的目标测试点的目标上电时序参数。
[0013]可选的，显示模块还用于：显示目标测试点对应的探针孔、期望上电时序参数以及目标上电时序参数。
[0014]第二方面，本申请提供一种上电时序测试方法，应用于如本申请第一方面所述的
上电时序测试装置，该上电时序测试方法包括：
[0015]获取通过探针采集到的待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号；
[0016]根据电信号确定目标测试点的上电时序；
[0017]输出上电时序。
[0018]可选的，获取通过探针采集到的待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号，包括：以底板的坐标原点为待测试主板的坐标原点；根据输入的目标测试点的坐标以及探针孔在底板上的坐标，确定目标测试点对应的探针孔；根据目标测试点对应的探针孔，获取通过探针采集到的待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号。
[0019]可选的，确定目标测试点对应的探针孔之后，该上电时序测试方法还包括：对目标测试点对应的探针孔进行区别标识，并标识对应的电信号。
[0020]可选的，根据电信号确定目标测试点的上电时序之后，该上电时序测试方法还包括：若确定上电时序需要调整，则根据电信号以及输入的目标测试点的期望上电时序参数，确定要调整的目标测试点的目标上电时序参数。
[0021]第三方面，本申请提供一种上电时序测试装置，应用于如本申请第一方面所述的上电时序测试装置，该上电时序测试装置包括：
[0022]获取模块，用于获取通过探针采集到的待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号。
[0023]确定模块，用于根据电信号确定目标测试点的上电时序。
[0024]输出模块，用于输出上电时序。
[0025]可选的，获取模块具体用于：以底板的坐标原点为待测试主板的坐标原点；根据输入的目标测试点的坐标以及探针孔在底板上的坐标，确定目标测试点对应的探针孔；根据目标测试点对应的探针孔，获取通过探针采集到的待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号。
[0026]可选的，获取模块还用于：在确定目标测试点对应的探针孔之后，对目标测试点对应的探针孔进行区别标识，并标识对应的电信号。
[0027]可选的，确定模块还用于：在根据电信号确定目标测试点的上电时序之后，若确定上电时序需要调整，则根据电信号以及输入的目标测试点的期望上电时序参数，确定要调整的目标测试点的目标上电时序参数。
[0028]第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序指令，计算机程序指令被执行时，实现如本申请第二方面所述的上电时序测试方法。
[0029]第五方面，本申请提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如本申请第二方面所述的上电时序测试方法。
[0030]本申请提供的上电时序测试装置及上电时序测试方法，测试探针模块包括包含有探针孔的底板和设置在底板上的支撑杆，测试探针模块通过底板支撑杆以及支撑杆上的卡扣固定待测试主板，主控模块获取通过探针采集到的待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号，并根据电信号确定目标测试点的上电时序，与主控模块电连接的显示模块显示上电时序。由于本申请实施例的上电时序测试装置能够自动确定目标测试点的上电时序，相比人工对系统上电时序进行测试的方式，能够大大降低上电时序测试的成本，提高上
电时序测试的效率；且，上电时序测试装置的结构简单，易于携带。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1为本申请一实施例提供的上电时序测试装置的示意图；
[0033]图2为本申请一实施例提供的测试探针模块110的结构示意图；
[0034]图3为本申请一实施例提供的9个探针孔111的示意图；
[0035]图4为本申请一实施例提供的探针115的示意图；
[0036]图5为本申请一实施例提供的四个目标测试点的上电时序的示意图；
[0037]图6为本申请一实施例提供的目标测试点对应的探针孔的示意图；
[0038]图7为本申请一实施例提供的主控模块120的系统示意图；
[0039]图8为本申请一实施例提供的上电时序测试方法的流程图；
[0040]图9为本申请一实施例提供的上电时序测试装置的结构示意图。
具体实施方式
[0041]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种上电时序测试装置，其特征在于，用于测试待测试主板的上电时序，所述上电时序测试装置包括：测试探针模块，包括包含有探针孔的底板和设置在所述底板上的支撑杆，用于通过所述底板、所述支撑杆以及所述支撑杆上的卡扣固定所述待测试主板；主控模块，用于获取通过探针采集到的所述待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号，并根据所述电信号确定所述目标测试点的上电时序；与所述主控模块电连接的显示模块，用于显示所述上电时序。2.根据权利要求1所述的上电时序测试装置，其特征在于，所述主控模块具体用于：以所述底板的坐标原点为所述待测试主板的坐标原点；根据输入的所述目标测试点的坐标以及探针孔在所述底板上的坐标，确定所述目标测试点对应的探针孔；根据所述目标测试点对应的探针孔，获取通过探针采集到的所述待测试主板上位于探针孔处的目标测试点的电信号。3.根据权利要求2所述的上电时序测试装置，其特征在于，所述主控模块还用于：在确定所述目标测试点对应的探针孔之后，对所述目标测试点对应的探针孔进行区别标识，并标识对应的电信号。4.根据权利要求1所述的上电时序测试装置，其特征在于，所述支撑杆在所述底板上的位置是可变的，和/或，所述卡扣可沿所述支撑杆上下移动。5.根据权利要求1至4中任一项所述的上电时序测试装置，其特征在于，所述主控模块还用于：在根据所述电信号确定所述目标测试点的上电时序之后，若确定所述上电时序需要调整，则根据所述电信号以及输入的所述目标测试点的期望上电时序参数，确定...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄炜敏，
申请(专利权)人：广州视睿电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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