本实用新型专利技术公开了一种半导体原板检测用刀片式探针，包括定位部，所述定位部包括第一边和第二边，第一边与第二边相对设置，还包括第一端和第二端，第一端和第二端垂直于第一边，分别设置在第一边的两端；所述第一端向第一边方向延伸出第一延伸部，第二边向外延伸出第二延伸部；所述第一延伸部包括设置在端部的定位头，所述定位头上设置宽度小于定位头的接触头；所述第二延伸部包括连接在一起的第二延伸端和第二接触端，本实用新型专利技术还公开了由上述刀片式探针组成的一种半导体原板检测用刀片式探针单元和用于承载刀片式探针单元的检测探头。本实用新型专利技术的主要用途是检测具有微小像素间距的平板型显示装置并保护所使用的刀片式探针。式探针。式探针。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体原板用刀片式探针、探针单元及检测探头
[0001]本技术涉及平板显示器面板检测领域，更具体地说，涉及一种半导体原板用刀片式探针、探针单元及检测探头。
技术介绍
[0002]原板(Mather Glass)是制作LCD或OLED面板时所用的大形玻璃面板。以智能手机OLED 面板为例，原板排列为数十个OLED面板，OLED面板制造完成后，将从原板中分离出来，成为智能手机用的OLED显示屏面板。LCD的构造是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶盒，下基板玻璃上设置TFT(薄膜晶体管)，上基板玻璃上设置彩色滤光片，通过TFT上的信号与电压改变来控制液晶分子的转动方向，从而控制每个像素点偏振光出射而达到显示的目的，在LCD制作完成后，都需要检测其背光和连接线路是否正常。
[0003]液晶显示屏(LCD)等平板型显示装置在生产过程中，需要先对平板型显示装置使用的平板显示面板进行良品检测，检测结果均为良性后再将平板显示面板组装成平板型显示装置。其中，在检测平板显示面板时，将检测平板显示面板上的面板电路与探针单元电接触，探针单元连接有驱动IC，然后将驱动IC中的电源及控制信号传导至平板显示面板的面板电路上，将平板显示面板点亮后，进行平板显示面板的良品检测。
[0004]经检索，中国专利授权公众号：CN 202548163 U，申请日：2011.12.12，专利名称：探针装置，该申请案涉及一种探针装置，是用于薄膜覆晶式液晶面板检测，包含有：一基座，具有一凹部朝向一待测液晶面板；一抵接件，具有一顶面与一底面，该抵接件以该顶面固设于该凹部的表面，并以该底面朝向该待测液晶面板，该抵接件向一侧且向下斜向延伸一弹性臂，该弹性臂于其末端受到下方上顶的外力时略微向上挠曲变形并产生一复归弹力。该专利技术提供的探针装置会与待检测面板发生磨损，损坏待检测面板的同时还磨损了刀片式探针，使待检测面板后续检测不够准确的同时，刀片式探针也无法循环使用，大大增加了成本消耗。
技术实现思路
[0005]1.技术要解决的技术问题
[0006]鉴于现有的半导体原板检测装置会损伤半导体原板电路，导致后续检测不够精确，且刀片式探针力学性能差，易断裂的问题，本技术提供了一种半导体原板的检测探针单元及检测探头，避免了上述问题。
[0007]2.技术方案
[0008]为达到上述目的，本技术的一种半导体原板检测用刀片式探针，包括定位部，所述定位部包括第一边和第二边，第一边与第二边相对设置，还包括第一端和第二端，第一端和第二端垂直于第一边，分别设置在第一边的两端；所述第一端向第一边方向延伸出第一延伸部，第二边向外延伸出第二延伸部；所述第一延伸部包括设置在端部的定位头，所述定位头上设置宽度小于定位头的接触头；所述第二延伸部包括连接在一起的第二延伸端和
第二接触端，所述第二接触端连接柔性电路板。
[0009]更进一步地，所述的第一延伸部与定位头通过第一延伸端连接，所述第一延伸端为“L”形，一端连接定位头中部，一端连接第一延伸部端部。
[0010]更进一步地，所述接触头上设置第一接触端，所述第一接触端与第二接触端朝向相反。
[0011]更进一步地，所述的第一边向外延伸出第三延伸部，所述第一延伸部与第三延伸部之间存在间隙。
[0012]更进一步地，所述第一延伸部含有与延伸方向同向的孔条。
[0013]更进一步地，所述定位部与每个延伸部的连接处均设置开口圆孔。
[0014]更进一步地，所述刀片式探针的厚度为0.08mm，所述接触头的厚度为所述刀片式探针厚度的30％～50％。
[0015]更进一步地，包括多个相互独立的所述的探针。
[0016]更进一步地，还包括壳体，刀片式探针完全嵌入壳体上的前定位件和后定位件，壳体侧边加装有保护板。
[0017]更进一步地，在支撑板上安装柔性电路板，第二延伸端插入用于定位的导向膜的小孔并与柔性电路板电接触。
[0018]3.有益效果
[0019]采用本技术提供的技术方案，与已有的公知技术相比，具有如下有益效果：
[0020](1)现有的半导体原板检测装置中的刀片式探针与显示面板的接触部位发生磨损，进而损伤显示面板和刀片式探针，使刀片式探针无法长期循环使用，且显示面板受损部位会导致后续检测不够准确，容易发生误判，本技术在保证刀片式探针的强度的基础上将接触头与显示面板的接触面积最小化，且本技术提供的刀片式探针采用MEMS工艺制作的半导体，不具腐蚀性，耐磨性强，具有较长的使用寿命。
[0021](2)现有的半导体原板检测装置中的刀片式探针表面平整度不够统一，每个刀片式探针与电路板的接触面不一致，从而每个探针的接触阻抗也不一样，可能会导致面板电回路和探针单元接触不良，甚至划伤面板电路，进而导致面板电路和探针单元没有一一对应，使检测结果不够准确。本技术提供的一种平板显示器面板检测探针单元及检测探头中的刀片式探针头部为平整的平面结构，每个刀片式探针与面板电路的接触面均为平面接触，避免不同阻抗的发生，且平整的刀片式探针头部可减少其在面板电路上的滑动，不会对面板电路造成划伤。
[0022](3)现有的半导体原板检测装置，所有刀片式探针均固定在检测装置上，若某一个探针发生故障则需要更换整个检测装置，使检测成本加大。此外，所有刀片式探针均固定在检测装置上，不便于对检测装置的清洁，装置内部无法得到有效清洁，若有导电物质落入检测装置中，可能导致检测电路发生短路现象，从而影响检测的准确性。本技术提供的一种平板显示器面板检测探针单元及检测探头中的刀片式探针相互独立，每个刀片式探针均可从检测装置中拆下，可实现对故障探针的单独更换，此外，所有的刀片式探针均拆下之后，便于对每个刀片式探针和检测装置进行清洁。
422中部，一端连接第一延伸部42端部。
[0042]如图4所示，为避免接触头425与平板型显示面板接触处出现接触不良，本实施例提供的接触头425上设置第一接触端423，第一接触端423为表面平整的平面结构。
[0043]如图3所示，刀片式探针4在工作时，需要提供一定的弹力以使第一接触端423与平板型显示面板电路紧密贴合，第二接触端442与柔性电路板5紧密贴合，为便于在其中一侧提供压力的同时，另一侧也具备相同的压力，本实施例提供的刀片式探针4为一体化设计，其中，第一接触端423与第二接触端442朝向相反，不论在哪一侧对刀片式探针4的接触端提供压力，其另一侧也具备相同的压力，以使两侧的接触部均紧密贴合。
[0044]如图2及图3所示，刀片式探针4在工作时需要对第一接触端423和第二接触端442提供压力，为避免刀片式探针4出现较大形变甚至造成刀片式探针4损毁，刀片式探针4需具备一定的弹力，本实施例中第一边45向外延伸出第三延伸部43，所述第一延伸部42与第三延伸部43之间存在间隙，第三延伸部43的底部与壳体1接触，第一延伸部42与第三延伸部 43之间存在的间隙可为刀片式探针4提供本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体原板检测用刀片式探针，其特征在于：包括定位部(41)，所述定位部(41)包括第一边(45)和第二边(46)，第一边(45)与第二边(46)相对设置，还包括第一端(47)和第二端(48)，第一端(47)和第二端(48)垂直于第一边(45)，分别设置在第一边(45)的两端；所述第一端(47)向第一边(45)方向延伸出第一延伸部(42)，第二边(46)向外延伸出第二延伸部(44)；所述第一延伸部(42)包括设置在端部的定位头(422)，所述定位头(422)上设置宽度小于定位头(422)的接触头(425)；所述第二延伸部(44)包括连接在一起的第二延伸端(441)和第二接触端(442)，所述第二接触端(442)连接柔性电路板(5)。2.根据权利要求1所述的一种半导体原板检测用刀片式探针，其特征在于：所述的第一延伸部(42)与定位头(422)通过第一延伸端(421)连接，所述第一延伸端(421)为“L”形，一端连接定位头(422)中部，一端连接第一延伸部(42)端部。3.根据权利要求1所述的一种半导体原板检测用刀片式探针，其特征在于：所述接触头(425)上设置第一接触端(423)，所述第一接触端(423)与第二接触端(442)朝向相反。4.根据权利要求1所述的一种半导体原板检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴镇洙，
申请(专利权)人：合肥微睿光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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