本发明专利技术属于精密定位夹具技术领域，尤其涉及一种用于精密测量的胀紧式芯轴、径向标定装置及径向标定方法，胀紧式芯轴包括：芯轴拉杆和套设在芯轴拉杆外侧的内胀卡套，内胀卡套对应拉杆调节结构部位设有卡套调节结构，对应胀紧调节结构部位设有中空分瓣结构，卡套调节结构通过轴向调节组件与拉杆调节结构相连。径向标定装置包括：与薄壁圆筒的中心轴相重合的固定圈和通过支承结构安装在固定圈上的直进式微分头，直进式微分头的测量杆通过专用夹头连接胀紧式芯轴，通过胀紧式芯轴将薄壁圆筒的内壁胀紧。本胀紧式芯轴能够调整自身体积，消除装配间隙，且能够适应工件长度变化，提高测试精度；本装置能够提高测试精度、效率以及操作便利性。便利性。便利性。
【技术实现步骤摘要】
一种用于精密测量的胀紧式芯轴、径向标定装置及径向标定方法
[0001]本专利技术属于精密定位夹具
，尤其涉及一种用于精密测量的胀紧式芯轴、径向标定装置及径向标定方法。
技术介绍
[0002]大批处于检测线上的薄壁筒形工件，需要逐个置于专用检测台上，对其某处的径向跳动，进行非接触式测量，以该处的径向跳动值作为判定工件合格的标准。专用检测台上用于在线测量工件径向跳动的传感器是一种非接触电涡流型传感器，工件被测量前，需要对传感器进行标定，
[0003]标定时需要将专用芯轴下端插入工件的敞口处，位移测量机构推动专用芯轴上端，带动工件直线移动，通过调整工件与电涡流传感器之间的距离，确定其电参数的输出量同位移值的数学对应关系。
[0004]目前，现有标定装置对传感器进行标定操作时存在的以下几个主要问题是：
[0005]问题一：目前，标定装置中的专用芯轴，是阶梯轴结构，芯轴同工件内径间存在间隙，造成随机误差；
[0006]问题二：位移测量杆的中心高度固定，不能适应工件的长度变化(图纸规定的公差范围内)，操作中易发生卡死现象；
[0007]问题三：直进式微分头的运动轨迹与被测传感器轴线不重合，且每次安装存在随机性，造成系统误差和随机误差。
[0008]显然，目前使用的标定装置中的专用芯轴也无法消除间隙、无法适应工件长度变化；目前使用的标定装置存在着明显的精度误差，且操作不便，极易造成对工件的误判，影响测试精度和效率，已不能满足工件在线检测的要求。
技术实现思路
[0009]本专利技术为了解决上述现有技术中存在的问题，设计了一种用于精密测量的胀紧式芯轴和针对薄壁圆筒的径向测振传感器进行现场标定的装置，该胀紧式芯轴能够调整自身体积，消除装配间隙，且能够适应工件长度变化，提高测试精度；该装置能够提高测试精度、效率以及操作便利性。
[0010]本专利技术为解决这一问题所采取的技术方案是：
[0011]一种用于精密测量的胀紧式芯轴，包括：
[0012]芯轴拉杆，其包括依次连接的拉杆连接结构、拉杆调节结构、拉杆连接结构以及胀紧调节结构；
[0013]内胀卡套，其套设在芯轴拉杆外侧，所述内胀卡套对应拉杆调节结构部位设有卡套调节结构，对应胀紧调节结构部位设有中空分瓣结构，所述卡套调节结构通过轴向调节组件与拉杆调节结构相连，通过轴向调节组件调节芯轴拉杆相对内胀卡套产生轴向滑动
时，所述中空分瓣结构在自由状态与胀紧状态之间转换。
[0014]优选的，还包括连接在拉杆连接结构上的滑套组件，所述滑套组件上设有用于装配位移测量机构的插入侧孔，所述拉杆连接结构插装在滑套组件内并可沿滑套组件上下滑动。
[0015]进一步优选的，所述滑套组件包括过盈插装在一起的压盖结构和导套结构，所述压盖结构和导套结构上均设有用于装配位移测量机构的插入侧孔，所述压盖结构上设有用于锁紧固定位移测量机构的滚花螺钉，所述拉杆连接结构插装在导套结构内并可沿导套结构上下滑动。
[0016]进一步优选的，所述拉杆连接结构上还开设有环形卡槽，所述环形卡槽上套设有弹性挡圈，所述拉杆调节结构上设有螺纹调节段，所述胀紧调节结构为锥形结构。
[0017]进一步优选的，所述卡套调节结构设置在内胀卡套的一侧端部，所述卡套调节结构包括至少一圈开设在内胀卡套的端部外壁上的环形钩圈。
[0018]进一步优选的，所述轴向调节组件包括：
[0019]锁母结构，其螺纹连接在螺纹调节段上；
[0020]挂环结构，其勾挂在环形钩圈上，所述挂环结构包括开口相对的两个半环结构；
[0021]进一步优选的，两个所述半环结构相对压住锁母结构的外端面并通过螺钉将两个半环结构固定在锁母结构上，从而将锁母结构与内胀卡套箍在一起。
[0022]进一步优选的，所述中空分瓣结构设置在内胀卡套的另一侧端部，所述中空分瓣结构包括胀紧主体，所述胀紧主体为具有一定弹性并且直径大于内胀卡套的中空柱形结构，所述胀紧主体上通过呈放射状开设有的分瓣缝将其分隔为若干个分瓣体，所述胀紧主体的内孔内成型有中空胀紧锥面，所述芯轴拉杆相对内胀卡套产生向上轴向滑动时，所述锥形结构相对中空胀紧锥面产生向上轴向滑动，各分瓣体进行向外胀紧。
[0023]本专利技术的第二个专利技术目的在于：提供了一种用于薄壁圆筒的径向标定装置，包括：
[0024]固定圈，其与薄壁圆筒的中心轴相重合，所述固定圈上设有用于标定的径向测振传感器，作为优选的选用电涡流传感器；
[0025]位移测量机构，其包括直进式微分头，所述直进式微分头通过支承结构安装在固定圈上，所述直进式微分头的测量杆通过专用夹头连接胀紧式芯轴，通过上述所述的胀紧式芯轴将薄壁圆筒的内壁胀紧，所述直进式微分头驱动薄壁圆筒运动的运动轨迹与径向测振传感器中心轴相重合。
[0026]进一步优选的，所述支承结构包括：
[0027]底座，其通过固定螺钉固定在固定圈上，所述底座上开设有若干个安装孔；
[0028]支承座，其上端设有用于装配直进式微分头的定位孔，下端设有用于适配插装在安装孔内的支承杆。
[0029]进一步优选的，所述底座为与固定圈相同直径的弧形块结构。
[0030]本专利技术的第三个专利技术目的在于：提供了一种用于薄壁圆筒的径向标定方法，包括以下步骤：
[0031]S101：组装胀紧式芯轴
[0032]首先将内胀卡套套在芯轴拉杆外侧，然后通过轴向调节组件将锁母结构与内胀卡套箍在一起，之后将芯轴拉杆的拉杆连接结构插入到滑套组件的导套结构内，最后将胀紧
式芯轴的下端分瓣处插入薄壁圆筒的开口处，将薄壁圆筒的内壁胀紧；
[0033]S102：组装位移测量机构
[0034]首先将底座通过固定螺钉安装在固定圈上，然后将支承座插入底座的安装孔中，之后将直进式微分头插入支承座的定位孔中并使用螺钉固定，最后将直进式微分头的测量杆插入专用夹头的中心孔并使用螺母锁紧；
[0035]S103：位移测量机构与胀紧式芯轴之间的组装
[0036]将专用夹头插入胀紧式芯轴上端滑套组件的插入侧孔中，并使用滚花螺钉锁紧，保证薄壁圆筒与固定圈的中心轴相重合，所述直进式微分头驱动薄壁圆筒运动的运动轨迹与传感器中心轴相重合；
[0037]S104：标定工作
[0038]将所有部件组装完成之后，通过移动直进式微分头的测量杆推动胀紧式芯轴带动薄壁圆筒移动，调整薄壁圆筒与径向测振传感器之间的距离，进行标定工作。
[0039]本专利技术具有的优点和积极效果是：
[0040]1.本专利技术中，通过芯轴拉杆与内胀卡套之间的相对运动实现芯轴与工件内壁的胀紧功能，消除了芯轴同工件内壁间的间隙，径向标定装置利用胀紧式芯轴下端的中空分瓣结构从工件内部胀紧，消除芯轴同工件内径间存在间隙，能够有效避免因存在间隙而造成的随机误差，提高测试精度。
[0041]2.本专利技术中，导套结构内具有胀紧式芯轴沿轴向移动的空间，测量杆的中心高本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于精密测量的胀紧式芯轴，其特征在于：包括：芯轴拉杆(403)，其包括依次连接的拉杆连接结构(4031)、拉杆调节结构(4032)、拉杆连接结构(4033)以及胀紧调节结构(4034)；内胀卡套(406)，其套设在芯轴拉杆(403)外侧，所述内胀卡套(406)对应拉杆调节结构部位设有卡套调节结构，对应胀紧调节结构部位设有中空分瓣结构，所述卡套调节结构通过轴向调节组件与拉杆调节结构(4032)相连，通过轴向调节组件调节芯轴拉杆(403)相对内胀卡套(406)产生轴向滑动时，所述中空分瓣结构在自由状态与胀紧状态之间转换。2.根据权利要求1所述的一种用于精密测量的胀紧式芯轴，其特征在于：还包括连接在拉杆连接结构(4031)上的滑套组件，所述滑套组件上设有用于装配位移测量机构的插入侧孔，所述拉杆连接结构(4031)插装在滑套组件内并可沿滑套组件上下滑动。3.根据权利要求2所述的一种用于精密测量的胀紧式芯轴，其特征在于：所述拉杆调节结构(4032)上设有螺纹调节段，所述胀紧调节结构(4034)为锥形结构。4.根据权利要求3所述的一种用于精密测量的胀紧式芯轴，其特征在于：所述卡套调节结构设置在内胀卡套(406)的一侧端部，所述卡套调节结构包括至少一圈开设在内胀卡套(406)的端部外壁上的环形钩圈(4061)。5.根据权利要求4所述的一种用于精密测量的胀紧式芯轴，其特征在于：所述轴向调节组件包括：锁母结构(404)，其螺纹连接在螺纹调节段上；挂环结构，其勾挂在环形钩圈(4061)上，所述挂环结构包括开口相对的两个半环结构(405)；两个所述半环结构(405)相对压住锁母结构(404)的外端面并通过螺钉将两个半环结构(405)固定在锁母结构(404)上。6.根据权利要求4所述的一种用于精密测量的胀紧式芯轴，其特征在于：所述中空分瓣结构设置在内胀卡套(406)的另一侧端部，所述中空分瓣结构包括胀紧主体，所述胀紧主体上通过呈放射状开设有的分瓣缝将其分隔为若干个分瓣体(4062)，所述胀紧主体的内孔内成型有中空胀紧锥面。7.一种用于薄壁圆筒的径向标定装置，其特征在于：包括：固定圈(7)，其与薄壁圆筒(6)的中心轴相重合，所述固定圈(7)上设有用于标定的径向测振传感器；位移测量机构，...
【专利技术属性】
技术研发人员：和玉洁，李新，谢熠晨，
申请(专利权)人：核工业理化工程研究院，
类型：发明
国别省市：
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