可控硅电源调光方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种可控硅电源调光方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括获取可控硅电源的输入检测状态值；将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量；根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流。通过对输入检测状态值的采集，以便于对可控硅电源的输入测试控制信号进行取样，之后将输入检测状态值与预设状态值进行比较，以便于确定可控硅电源的当前调光测试状态差异情况，最后根据可控硅电源的调光状态差异程度对恒流源输出的调光维持电流进行调整，使得可控硅电源的调光输出更加稳定，有效地提高了调光兼容性。光兼容性。光兼容性。

【技术实现步骤摘要】
可控硅电源调光方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及调光电源
，特别是涉及一种可控硅电源调光方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]由于可控硅的价格便宜，无需信号线，不用改变原有线路的简便性，成本低、施工方便比较受工程方欢迎，所以，可控硅调光电源还是占据调光电源很大的市场份额。
[0003]然而，传统的可控硅也有很有一个致命的缺点，它在非阻性状态下，需要有足够的调光维持电流来保证导通，如果调光维持电流不够就会发生误关闭与误导通，由此容易导致采用可控硅电源的灯源存在兼容性较差的问题，从而容易导致经常性闪灯。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种有效提高调光兼容性的可控硅电源调光方法、装置、计算机设备和存储介质。
[0005]本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：
[0006]一种可控硅电源调光方法，所述方法包括：
[0007]获取可控硅电源的输入检测状态值；
[0008]将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量；
[0009]根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流。
[0010]在其中一个实施例中，所述获取可控硅电源的输入检测状态值，包括：获取所述可控硅电源的输入瞬态电压。
[0011]在其中一个实施例中，所述将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量，包括：求取所述输入瞬态电压与预设瞬态电压的压差值，以得到光检瞬态差分电压。
[0012]在其中一个实施例中，所述根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流，包括：检测所述光检瞬态差分电压是否小于第一预设电压差；当所述光检瞬态差分电压小于所述第一预设电压差时，向所述调光系统发送恒流增流信号，以增大所述可控硅电源的调光维持电流。
[0013]在其中一个实施例中，所述获取可控硅电源的输入检测状态值，包括：获取所述可控硅电源的输入期望电压。
[0014]在其中一个实施例中，所述将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量，包括：求取所述输入期望电压与预设期望电压的压差值，以得到光检平均差分电压。
[0015]在其中一个实施例中，所述根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流，包括：检测所述光检平均差分电压是否大于或等
于第二预设电压差；当所述光检瞬态差分电压大于或等于所述第二预设电压差时，向所述调光系统发送恒流禁流信号，以停止向所述可控硅电源输出调光维持电流。
[0016]一种可控硅电源调光装置，包括：调光检测采集器以及恒流调光主板；所述调光检测采集器用于获取可控硅电源的输入检测状态值；所述恒流调光主板的输入端与所述调光检测采集器的输出端连接，所述恒流调光主板用于将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量；根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流。
[0017]一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0018]获取可控硅电源的输入检测状态值；
[0019]将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量；
[0020]根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流。
[0021]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0022]获取可控硅电源的输入检测状态值；
[0023]将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量；
[0024]根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流。
[0025]与现有技术相比，本专利技术至少具有以下优点：
[0026]通过对输入检测状态值的采集，以便于对可控硅电源的输入测试控制信号进行取样，之后将输入检测状态值与预设状态值进行比较，以便于确定可控硅电源的当前调光测试状态差异情况，最后根据可控硅电源的调光状态差异程度对恒流源输出的调光维持电流进行调整，使得可控硅电源的调光输出更加稳定，有效地提高了调光兼容性。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0028]图1为一实施例中可控硅电源调光方法的流程图；
[0029]图2为一实施例中计算机设备的内部结构图；
[0030]图3为一实施例中可控硅调光电路的电路图；
[0031]图4为图3所示可控硅调光电路中恒流维持电路的电路图；
[0032]图5为图3所示可控硅调光电路中调光输入检测电路的电路图；
[0033]图6为一实施例中控流电路的电路图。
具体实施方式
[0034]为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中
给出了本专利技术的较佳实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。
[0035]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0036]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0037]本专利技术涉及一种可控硅电源调光方法。在其中一个实施例中，所述可控硅电源调光方法包括获取可控硅电源的输入检测状态值；将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量；根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流。通过对输入检测状态值的采集，以便于对可控硅电源的输入测试控制信号进行取样，之后将输入检测状态值与预设状态值进行比较，以便于确定可控硅电源的当前调光测试状态差异情况，最后根据可控硅电源的调光状态差异程度对恒流源输出的调光维持电流进行调整，使得可控硅电源的调光输出更加稳定，有效地提高了调本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可控硅电源调光方法，其特征在于，包括：获取可控硅电源的输入检测状态值；将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量；根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流。2.根据权利要求1所述的可控硅电源调光方法，其特征在于，所述获取可控硅电源的输入检测状态值，包括：获取所述可控硅电源的输入瞬态电压。3.根据权利要求2所述的可控硅电源调光方法，其特征在于，所述将所述输入检测状态值与预设状态值进行灯检差分处理，得到光检差分量，包括：求取所述输入瞬态电压与预设瞬态电压的压差值，以得到光检瞬态差分电压。4.根据权利要求3所述的可控硅电源调光方法，其特征在于，所述根据所述光检差分量向调光系统发送恒流调流信号，以调整所述可控硅电源的调光维持电流，包括：检测所述光检瞬态差分电压是否小于第一预设电压差；当所述光检瞬态差分电压小于所述第一预设电压差时，向所述调光系统发送恒流增流信号，以增大所述可控硅电源的调光维持电流。5.根据权利要求1所述的可控硅电源调光方法，其特征在于，所述获取可控硅电源的输入检测状态值，包括：获取所述可控硅电源的输入期望电压。6.根据权利要求5所述的可控硅电源调光方法，其特征在于，所述将所述输入检测状态值与预设状态...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪祥，杨飞，张玉兴，胡世武，张安福，钟少强，
申请(专利权)人：惠州市西顿工业发展有限公司，
类型：发明
国别省市：