一种半导体测试装置制造方法及图纸

本申请提供了一种半导体测试装置，属于半导体测试技术领域。该半导体测试装置，包括测试组件。所述测试组件包括限位块、连接板、弹性件、挤压板和测试器。使用时，可将需要进行测试的半导体从通槽靠近挤压板的一端插进通槽内部，可在若干道通槽内部均插入半导体，然后便可向通槽的方向推动连接板，进而向通槽的方向推动弹性件和挤压板，进而便可将挤压板推进通槽内部，进而使得挤压板推动通槽内部的半导体进行移动，挤压板推动半导体向弹性触头移动，可使半导体与弹性触头相接触，进而使得测试器对半导体进行测试，进而便可同时对多个半导体进行测试，在进行大批量测试时效率较高，实用性较高。性较高。性较高。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试装置


[0001]本申请涉及半导体测试领域，具体而言，涉及一种半导体测试装置。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，对半导体进行性能测试，是对其产品评价的重要依据，公开号为CN214067208U的专利技术公开了一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，在该装置中，通过旋转丝杆来带动第一夹持板与第二夹持板进行夹持，通过检测器进行测器，这使得该装置无法同时对多个半导体进行检测，在进行大批量测试时效率不高，实用性较低。

技术实现思路

[0003]为了弥补以上不足，本申请提供了一种半导体测试装置，旨在改善无法同时对多个半导体进行检测，在进行大批量测试时效率不高，实用性较低的问题。
[0004]本申请实施例提供了一种半导体测试装置，包括测试组件。
[0005]所述测试组件包括限位块、连接板、弹性件、挤压板和测试器，所述限位块的块体开设有通槽，所述通槽开设有若干道，所述连接板与所述限位块滑动连接，所述弹性件设置有若干个，若干个所述弹性件均与所述连接板相连，所述挤压板设置有若干个，若干个所述挤压板分别一一对应的与若干个所述弹性件相连，若干个所述挤压板分别与若干道所述通槽一一对应设置，所述测试器电性连接有弹性触头，所述弹性触头设置有若干个，若干个所述弹性触头均匀分布于若干道所述通槽内部。
[0006]在一种具体的实施方案中，若干道所述通槽均匀排列，若干道所述通槽均为凸形槽。
[0007]在一种具体的实施方案中，所述限位块的一侧设置有滑板，所述滑板的板体开设有滑槽，所述连接板的板体连接有连接杆，所述连接杆的底端滑动连接于所述滑槽的内部。
[0008]在一种具体的实施方案中，所述滑槽的内部设置有限位杆，所述连接杆的底端设置有滑块，所述滑块滑动连接于所述滑槽内部，所述滑块滑动套设于所述限位杆的杆体。
[0009]在一种具体的实施方案中，若干个所述弹性件均包括定位杆、滑杆和弹簧，所述定位杆的一端与所述连接板靠近所述限位块的一面固定连接，所述滑杆杆体滑动插接于所述定位杆的内部，所述弹簧的一端与所述连接板固定连接，所述弹簧套设于所述定位杆和所述滑杆的外部。
[0010]在一种具体的实施方案中，所述定位杆的内部开设有定位槽，所述滑杆滑动插接于所述定位槽内部。
[0011]在一种具体的实施方案中，所述挤压板与所述滑杆远离所述定位杆的一端固定连接，所述挤压板与所述弹簧远离所述连接板的一端固定连接。
[0012]在一种具体的实施方案中，若干道所述通槽的端部均设置有固定板，若干个所述
弹性触头均匀所述固定板固定连接。
[0013]本技术的有益效果是：本技术通过上述设计得到的一种半导体测试装置，使用时，可将需要进行测试的半导体从通槽靠近挤压板的一端插进通槽内部，通槽开设有若干道，可在若干道通槽内部均插入半导体，然后便可向通槽的方向推动连接板，进而向通槽的方向推动弹性件和挤压板，进而便可将挤压板推进通槽内部，进而使得挤压板推动通槽内部的半导体进行移动，挤压板推动半导体向弹性触头移动，可使半导体与弹性触头相接触，进而使得测试器对半导体进行测试，进而便可同时对多个半导体进行测试，在进行大批量测试时效率较高，实用性较高。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本申请实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0015]图1是本申请实施方式提供的半导体测试装置第一视角结构示意图；
[0016]图2为本申请实施方式提供的半导体测试装置第二视角结构示意图；
[0017]图3为本申请实施方式提供的限位块结构示意图；
[0018]图4为本申请实施方式提供的弹性件结构示意图。
[0019]图中：100
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测试组件；110
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限位块；111
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通槽；130
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连接板；131
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连接杆；1311
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滑块；140
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弹性件；141
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定位杆；142
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滑杆；143
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弹簧；150
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挤压板；160
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测试器；170
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滑板；171
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滑槽；172
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限位杆；180
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固定板；201
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弹性触头。
具体实施方式
[0020]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。
[0021]为使本申请实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施方式中的附图，对本申请实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本申请一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本申请中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本申请保护的范围。
[0022]请参阅图1，本申请提供一种半导体测试装置，包括测试组件100。
[0023]请参阅图1
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4，测试组件100包括限位块110、连接板130、弹性件140、挤压板150和测试器160，限位块110的块体开设有通槽111，通槽111开设有若干道，若干道通槽111均匀排列，若干道通槽111均为凸形槽，连接板130与限位块110滑动连接，限位块110的一侧设置有滑板170，滑板170的板体开设有滑槽171，连接板130的板体连接有连接杆131，连接杆131的底端滑动连接于滑槽171的内部，滑槽171的内部设置有限位杆172，连接杆131的底端设置有滑块1311，滑块1311滑动连接于滑槽171内部，滑块1311滑动套设于限位杆172的杆体。
[0024]在本申请中，弹性件140设置有若干个，若干个弹性件140均与连接板130相连，若干个弹性件140均包括定位杆141、滑杆142和弹簧143，定位杆141的一端与连接板130靠近限位块110的一面固定连接，滑杆142杆体滑动插接于定位杆141的内部，定位杆141的内部
开设有定位槽，滑杆142滑动插接于定位槽内部，弹簧143的一端与连接板130固定连接，弹簧143套设于定位杆141和滑杆142的外部。
[0025]在本实施例中，挤压板150设置有若干个，若干个挤压板150分别一一对应的与若干个弹性件140相连，挤压板150与滑杆142远离定位杆141的一端固定连接，挤压板150与弹簧143远离连接板130的一端固定连接，若干个挤压板150分别与若干道通槽111一一对应设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试装置，其特征在于，包括测试组件(100)，所述测试组件(100)包括限位块(110)、连接板(130)、弹性件(140)、挤压板(150)和测试器(160)，所述限位块(110)的块体开设有通槽(111)，所述通槽(111)开设有若干道，所述连接板(130)与所述限位块(110)滑动连接，所述弹性件(140)设置有若干个，若干个所述弹性件(140)均与所述连接板(130)相连，所述挤压板(150)设置有若干个，若干个所述挤压板(150)分别一一对应的与若干个所述弹性件(140)相连，若干个所述挤压板(150)分别与若干道所述通槽(111)一一对应设置，所述测试器(160)电性连接有弹性触头(201)，所述弹性触头(201)设置有若干个，若干个所述弹性触头(201)均匀分布于若干道所述通槽(111)内部。2.根据权利要求1所述的一种半导体测试装置，其特征在于，若干道所述通槽(111)均匀排列，若干道所述通槽(111)均为凸形槽。3.根据权利要求1所述的一种半导体测试装置，其特征在于，所述限位块(110)的一侧设置有滑板(170)，所述滑板(170)的板体开设有滑槽(171)，所述连接板(130)的板体连接有连接杆(131)，所述连接杆(131)的底端滑动连接于所述滑槽(171)的内部。4.根据权利要求3所述的一种半导体测试装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏辉忠，倪宏宏，
申请(专利权)人：杭州源峰检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：