一种监控光源偏心的光电探测器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种监控光源偏心的光电探测器，包括PCB板和配合PCB板的光电探测单元，所述光电探测单元和PCB板间设有基板，所述光电探测单元包括封装单元和装配在封装单元内的两颗光电探测器芯片，所述光电探测单元安装在基板上，所述光电探测器芯片引出若干个电极穿过封装单元并连接在基板上，随后将电极通过基板延伸至PCB板上并在PCB板上配置光电转换电路和单片机用以处理信号，本实用新型专利技术的优点在于采用两颗光电探测器以并联的方式封装在一个单体内，通过光照在两颗探测器上会产生不同的电流值，根据两个光电探测器电流的比值来确定光源是否存在偏心，检测时间大大减短，且检测准确度极大增加。且检测准确度极大增加。且检测准确度极大增加。

【技术实现步骤摘要】
一种监控光源偏心的光电探测器


[0001]本技术涉及光电探测器领域，具体地说，是一种监控光源偏心的光电探测器。

技术介绍

[0002]光学产品光纤端与部件端（或PD端），因不在同一方向，同心度很难测量，虽然通过产品光路的相关尺寸或许可算出同心度。但是，牵扯的尺寸较多，误差较大，直观性不强。用现有的二次元表面光照射产品，聚焦出来的影像比较模糊不清，测量取点比较困难，测量误差较大，即使增加辅助光源，光源不能垂直打进光纤端，会造成投影影像倾斜，测量误差较大。
[0003]为解决这一问题，目前的处理方法是使用光电探测器找出光强最大值（峰值），采样光强最大值即为中心值的方式进行监控光源是否偏心，随后通过数学计算的方式估算出光源中心偏离法向中心多少度，此方式严重影响工作效率，给操作者带来极大的不便，因此我们需要一种可以自动监测光源是否偏心的光电探测器。

技术实现思路

[0004]技术目的：本技术目的在于针对现有技术的不足，提供一种监控光源偏心的光电探测器。
[0005]技术方案：本技术所述一种监控光源偏心的光电探测器，包括PCB板和配合PCB板的光电探测单元，所述光电探测单元和PCB板间设有基板，所述光电探测单元包括封装单元和装配在封装单元内的两颗光电探测器芯片，所述光电探测单元安装在基板上，所述光电探测器芯片引出若干个电极穿过封装单元并连接在基板上。
[0006]作为优选的，所述基板上连接的光电探测器芯片电极延伸并连接至PCB板上，所述PCB板上设有与电极配合的光电转换电路。
[0007]作为优选的，所述光电转换电路上连接有单片机。
[0008]作为优选的，所述单片机上连接有外接显示器。
[0009]本技术相比于现有技术具有以下有益效果：本技术相比于现有技术具有以下有益效果：采用两颗光电探测器以并联的方式封装在一个单体内，通过光照在两颗探测器上会产生不同的电流值，根据两个光电探测器电流的比值来确定光源是否存在偏心，检测时间大大减短，且检测准确度极大增加。
附图说明
[0010]图1为本技术一种监控光源偏心的光电探测器的结构示意图一；
[0011]图2为本技术一种监控光源偏心的光电探测器的结构示意图二。
[0012]图中：1、光电探测器芯片；2、封装单元；3、电极；4、基板；5、PCB板。
具体实施方式
[0013]下面将对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0014]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0015]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，也可以是成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，也可以是通讯连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介的间接连接，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0016]下面以具体地实施例对本技术的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
[0017]一种监控光源偏心的光电探测器，包括PCB板5和配合PCB板5的光电探测单元，光电探测单元和PCB板5间设有基板4，光电探测单元包括封装单元2和装配在封装单元2内的两颗光电探测器芯片1，光电探测单元安装在基板4上，光电探测器芯片1引出若干个电极3穿过封装单元2并连接在基板4上。这一技术方案的优点在于采用两颗光电探测器以并联的方式封装在一个单体内，通过光照在两颗探测器上会产生不同的电流值，根据两个光电探测器电流的比值来确定光源是否存在偏心，检测时间大大减短，且检测准确度极大增加。
[0018]具体实施时，为了实现光电探测器获取的光信号向电信号的转化，基板4上连接的光电探测器芯片1电极3延伸并连接至PCB板5上，PCB板5上设有与电极3配合的光电转换电路，光电转换电路上连接有单片机，单片机上连接有外接显示器。
[0019]实施例：一种监控光源偏心的光电探测器的装配方法，包括以下步骤：
[0020]S1、将两颗光电探测器芯片1封装于一个单元模块内；
[0021]S2、用超声焊线的方式将光电探测器芯片1的不同电极3引出到基板4上，通过基板4形成不同的电极3；
[0022]S3、采取SMT工艺通过回流焊的方式将其焊接于PCB板5上；
[0023]S4、在PCB板5上设置外围电子元器件构成的光电转换电路，光电转换电路与电极3配合，用来将光电探测器芯片1获得的光信号转化为电信号；
[0024]S5、在光电转换电路上连接单片机，通过单电机对数据进行处理，可以将其测试数据进行逻辑运算，单片机外接显示器，可将其测试数据进行目视化。
[0025]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一特征和第二特征直接接触，或第一特征和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可以是第一特征在第二特征正上方或斜
上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述，意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。
[0026]而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任意一个或者多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
[0027]最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或对其中部分或者本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种监控光源偏心的光电探测器，包括PCB板和配合PCB板的光电探测单元，其特征在于：所述光电探测单元和PCB板间设有基板，所述光电探测单元包括封装单元和装配在封装单元内的两颗光电探测器芯片，所述光电探测单元安装在基板上，所述光电探测器芯片引出若干个电极穿过封装单元并连接在基板上。2.根据权利要求1所述的一种监控光源偏心的光电...

【专利技术属性】
技术研发人员：方成应，杜明珠，
申请(专利权)人：江苏泓冠光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：