电路板、显示模组和电子设备制造技术

本发明专利技术涉及一种电路板、显示模组和电子设备，所述电路板上设置有测试引脚组，所述测试引脚组包括第一空引脚和第二空引脚，所述第一空引脚和所述第二空引脚连通，并且，所述第一空引脚和所述第二空引脚分别与不同的测试端口电性连接。测试电阻线设置有测试端口组，所述测试端口组包括第一测试端口和第二测试端口，所述第一测试端口电性连接于所述第一空引脚，所述第二测试端口电性连接于所述第二空引脚。在上述结构中，若第一测试端口、第二测试端口、第一空引脚和第二空引脚则无法形成完整的回路，或者回路的阻值会发生变化，则说明出现剥落或者磕碰的现象。通过上述设置，可对剥落和磕碰进行检测，从而提升显示模组的良品率。从而提升显示模组的良品率。从而提升显示模组的良品率。

【技术实现步骤摘要】
电路板、显示模组和电子设备


[0001]本专利技术属于显示
，尤其涉及一种电路板、显示模组和电子设备。

技术介绍

[0002]显示模组在人员作为或者运输过程中，其的边缘容易出现磕碰损伤以及引脚剥落损伤的现象。然而，当损伤程度较小时，无法通过点灯检测发现。虽然能通过显微镜镜检确认，但是操作繁琐，效率低下，同时容易出现遗漏现象。一旦发生损伤却不能及时检测出来，水汽容易向内侵蚀，从而严重影响显示面板的良品率。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种电路板、显示模组和电子设备，其可对电路板边缘的磕碰和引脚剥落进行检测，提升显示模组的良品率。
[0004]根据本专利技术实施例的第一方面，提供一种电路板，用于与测试电阻线的测试端口连通，所述电路板上设置有测试引脚组，所述测试引脚组包括第一空引脚和第二空引脚，所述第一空引脚和所述第二空引脚连通，并且，所述第一空引脚和所述第二空引脚分别与不同的测试端口电性连接。
[0005]进一步的，一个所述第一空引脚和一个所述第二空引脚形成一个空引脚组件，所述空引脚组件的数量均为两个；
[0006]两个所述空引脚组相互绝缘，并且，两个所述空引脚组件分别设置于所述电路板的两侧。
[0007]根据本专利技术实施例的第二方面，提供一种显示模组，所述显示模组包括显示面板和上述的电路板；
[0008]所述显示面板上设置有测试电阻线；
[0009]所述测试电阻线设置有测试端口组，所述测试端口组包括第一测试端口和第二测试端口，所述第一测试端口电性连接于所述第一空引脚，所述第二测试端口电性连接于所述第二空引脚。
[0010]进一步的，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述显示面板的非显示区中设置有显示引脚组；
[0011]所述电路板设置于所述显示面板的靠近非显示区的一侧，并且，沿所述显示模组的厚度方向，所述电路板的投影和所述显示面板的非显示区的投影存在重叠区域，所述显示引脚组和所述测试引脚组均设置于所述重叠区域，并且，所述显示引脚组和所述测试引脚组对应设置并电性连接；
[0012]所述测试端口组电性连接于所述显示引脚组，并通过所述显示引脚组电性连接于所述第一空引脚和第二空引脚；或者，所述测试端口组作为显示引脚组的部分结构。
[0013]进一步的，所述显示模组包括控制芯片，所述控制芯片设置于所述显示面板的非显示区，用于控制所述显示面板的发光显示，所述测试电阻线电性连接所述控制芯片，所述
控制芯片用于检测所述测试电阻线的电信号。
[0014]进一步的，沿所述显示模组的厚度方向，所述控制芯片在所述显示面板上的投影相对于所述电路板在所述显示面板上的投影靠近所述显示区域。
[0015]进一步的，所述电信号至少包括电阻值或者电流值。
[0016]进一步的，所述显示引脚组还包括第一显示引脚和第二显示引脚，所述第一显示引脚和第二显示引脚绝缘设置，并且，所述第一显示引脚和所述第一空引脚电连接，所述第二显示引脚和所述第二空引脚电连接；
[0017]所述第一测试端口电性连接所述第一显示引脚，并通过所述第一显示引脚电性连接所述第一空引脚；所述第二测试端口电性连接所述第二显示引脚，并通过所述第二显示引脚电性连接所述第二空引脚；或者，第一测试端口作为所述第一显示引脚，所述第二测试端口作为第二显示引脚。
[0018]进一步的，所述测试电阻线的至少部分结构环绕设置于所述显示面板的显示区，并靠近所述显示区的边沿。
[0019][0020]进一步的，所述测试电阻线距离所述显示区的边沿的最小距离大于或等于100微米，并且，小于或等于400微米。
[0021]进一步的，当所述空引脚组件的数量为两个时候，所述测试端口组的数量也为两个，并且，所述空引脚组件和所述测试端口组一一对应并电性连接。
[0022]进一步的，所述显示面板包括沿第一方向相对设置的第一端部和第二端部，所述显示面板还包括沿第二方向相对设置的第三端部和第四端部，所述第一方向垂直所述第二方向，所述电路板设置于显示面板的第三端部；
[0023]所述测试电阻线包括第一测试回路和第二测试回路，所述第一测试回路和所述第二测试回路绝缘设置，并且，所述第一测试回路和所述第二测试回路均包括测试端口组；所述第一测试回路的至少部分位于所述显示面板的第一端部，所述第二测试回路的至少部分位于所述显示面板的第二端部。
[0024]进一步的，所述测试引脚组包括空引脚和信号引脚，所述第一空引脚和所述第二空引脚均为所述空引脚，所述信号引脚用于传输控制信号；
[0025]所述空引脚相对于所述信号引脚靠近所述电路板的边缘设置。
[0026]根据本专利技术实施例的第二方面，提供一种电子设备，包括外壳和上述的显示模组，所述显示模组设置于所述外壳上。
[0027]本申请提供的电路板、显示模组和电子设备，在电路板上设置有连通的第一空引脚和第二空引脚，同时，使得第一空引脚和第二空引脚分别与不同的测试端口电性连接。此时，若测试端口、第一空引脚和第二空引脚则无法形成完整的回路，或者回路的阻值会发生变化，则说明出现剥落或者磕碰的现象。通过上述设置，可对剥落和磕碰进行检测，从而提升显示模组的良品率。
[0028]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。
附图说明
[0029]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。
[0030]图1为根据本专利技术实施例示出的一种显示模组的结构示意图。
[0031]图2为根据本专利技术实施例示出的一种显示面板的结构示意图。
[0032]图3为根据本专利技术实施例示出的一种电路板的结构示意图。
[0033]图4为根据本专利技术实施例示出的另一种显示模组的结构示意图。
[0034]图5为根据本专利技术实施例示出的一种显示模组部分结构的剖面结构示意图。
[0035]附图标记说明
[0036]显示模组10
[0037]显示面板100
[0038]第一端部101
[0039]第二端部102
[0040]第三端部103
[0041]第四端部104
[0042]显示区110
[0043]非显示区120
[0044]邦定区域121
[0045]显示引脚组130
[0046]第一显示引脚140
[0047]第二显示引脚150
[0048]控制芯片200
[0049]电路板300
[0050]空引脚组件301
[0051]测试引脚组310
[0052]空引脚311
[0053]信号引脚312
[0054]第一空引脚320
[0055]第二空引脚330
[0056]金属连接部340
[0057]测试电阻线400
[0058本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板，用于与测试电阻线的测试端口连通，其特征在于，所述电路板上设置有测试引脚组，所述测试引脚组包括第一空引脚和第二空引脚，所述第一空引脚和所述第二空引脚连通，并且，所述第一空引脚和所述第二空引脚分别与不同的测试端口电性连接。2.如权利要求1所述的电路板，其特征在于，一个所述第一空引脚和一个所述第二空引脚形成一个空引脚组件，所述空引脚组件的数量均为两个；两个所述空引脚组相互绝缘，并且，两个所述空引脚组件分别设置于所述电路板的两侧。3.一种显示模组，其特征在于，所述显示模组包括显示面板和如权利要求1或2所述的电路板；所述显示面板上设置有测试电阻线；所述测试电阻线设置有测试端口组，所述测试端口组包括第一测试端口和第二测试端口，所述第一测试端口电性连接于所述第一空引脚，所述第二测试端口电性连接于所述第二空引脚。4.如权利要求3所述的显示模组，其特征在于，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述显示面板的非显示区中设置有显示引脚组；所述电路板设置于所述显示面板的靠近非显示区的一侧，并且，沿所述显示模组的厚度方向，所述电路板的投影和所述显示面板的非显示区的投影存在重叠区域，所述显示引脚组和所述测试引脚组均设置于所述重叠区域，并且，所述显示引脚组和所述测试引脚组对应设置并电性连接；所述测试端口组电性连接于所述显示引脚组，并通过所述显示引脚组电性连接于所述第一空引脚和第二空引脚；或者，所述测试端口组作为显示引脚组的部分结构。5.如权利要求4所述的显示模组，其特征在于，所述显示模组包括控制芯片，所述控制芯片设置于所述显示面板的非显示区，用于控制所述显示面板的发光显示，所述测试电阻线电性连接所述控制芯片，所述控制芯片用于检测所述测试电阻线的电信号。6.如权利要求5所述的显示模组，其特征在于，沿所述显示模组的厚度方向，所述控制芯片在所述显示面板上的投影相对于所述电路板在所述显示面板上的投影靠近所述显示区域。7.如权利要求5所述的显示模组，其特征在于，所述电信号至少包括电阻值或者电流值。8.如权利要求4所述的显示模组，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘国彦，王静，杨广杰，郭文峰，薛孝忠，李成毅，赵红豆，唐笑语，曾杰，宋柯缙，黄自强，陈志龙，张凯，
申请(专利权)人：成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：