一种半自动化整盘测试机制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种半自动化整盘测试机，包括底座、导向柱和顶板，导向柱的下端和底座的上侧相连，上端和顶板相连，底座通过安装腔安装有推杆电机，推杆电机的推杆顶端通过连通孔穿出安装腔，并且在顶板和底座之间连接有推动组件，推动组件通过滑动孔和导向柱上下滑动相连，推动组件的上侧放置有PCB托盘，PCB托盘上设置有若干个芯片槽，顶板上设置有贯通上下两侧的安装孔，安装孔内安装有PCB检测机构，PCB检测机构的下端在顶板的下侧连接有若干个和芯片槽相对应的连接器，PCB检测机构的上端在测试部的上方通过信号线连接至测试端。解决现有技术中，芯片测试设备大多单次只能对一块芯片进行测试，难以提升测试效率的问题。以提升测试效率的问题。以提升测试效率的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种半自动化整盘测试机


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体涉及一种半自动化整盘测试机。

技术介绍

[0002]随着移动互联网、云计算、物联网、大数据等新兴产业的增长，电子信息产业进入了新的发展阶段。控制、通信、人机交互和网络互联等融入了大量的新兴的电子技术，设备功能越来越复杂，系统集成度越来越复杂。新兴电子信息技术的发展依赖与半导体产业的不断推动，因此，芯片作为一项核心技术，其使用变得越来越频繁和重要。
[0003]芯片在封装完成后，一般都会对其进行测试，以便将良品和不良品分开。现有的芯片测试方法一般是采用人工测试或者通过设备进行自动化测试。
[0004]例如公开号CN206270458U公开了一种自动标记坏点的芯片测试机包括芯片测试机，自动标记装置和固定装置，所述自动标记装置可以根据所述芯片测试机的检测结果对芯片上的坏点进行标记；所述固定装置包括硬质板，所述硬质板固定在所述芯片测试机上，所述自动标记装置固定于所述硬质板上；所述自动标记装置通过所述芯片测试机顶部的开口对放置于芯片测试机中的待测芯片的坏点进行标记。
[0005]该技术能在同一台机器上完成测试与标记坏点的工作，提高了工作效率。但是在现有技术中，大多数对芯片测试的方式或者用于测试芯片的设备都只能进行单一芯片的测试，这样需要操作人员或者自动化的机械装置等频繁的，一个一个的将芯片放到测试座然后再拿出来。这样一方面操作起来比较繁琐，另一方面在大量测试同一型号芯片的时候效率难以得到提升。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种半自动化整盘测试机，解决现有技术中，芯片测试设备大多单次只能对一块芯片进行测试，难以提升测试效率的问题。
[0007]为解决上述的技术问题，本技术采用以下技术方案：
[0008]一种半自动化整盘测试机，包括底座、导向柱和顶板，导向柱的下端和底座的上侧相连，上端和顶板相连，底座通过安装腔安装有推杆电机，推杆电机的推杆顶端通过连通孔穿出安装腔，并且在顶板和底座之间连接有推动组件，推动组件通过滑动孔和导向柱上下滑动相连，推动组件的上侧放置有PCB托盘，PCB托盘上设置有若干个芯片槽，顶板上设置有贯通上下两侧的安装孔，安装孔内安装有PCB检测机构，PCB检测机构的下端在顶板的下侧连接有若干个和芯片槽相对应的连接器，PCB检测机构的上端在测试部的上方通过信号线连接至测试端。
[0009]进一步的技术方案是，推动组件包括推板和载板，滑动孔设置于载板靠近边缘的位置，导向柱的中部穿过滑动孔和载板上下滑动相连；推板的下侧和推杆电机的推杆顶端相连，上侧和载板的下侧相连；PCB托盘放置于载板的上侧；导向柱和滑动孔配套设置有两个以上，且两个以上导向柱分布设置于顶板下侧靠近边缘的位置。
[0010]更进一步的技术方案是，还包括左侧板、右侧板和后侧板，左侧板的上侧和顶板的左侧边缘下侧相连，下侧和底座的上侧相连，右侧板的上侧和顶板的右侧边缘下侧相连，下侧和底座的上侧相连，后侧板的上侧和顶板的后侧边缘下侧相连，下侧和底座的上侧相连，左侧板和后侧板的后侧均与后侧板的前侧相连。
[0011]更进一步的技术方案是，左侧板的前侧凸出于顶板的前侧形成左安装板，右侧板的前侧凸出于顶板的前侧形成右安装板，左安装板和右安装板相对一侧分别安装有安全光栅的传送器和接收器。
[0012]更进一步的技术方案是，载板的前侧凹陷形成有圆弧形缺口。
[0013]更进一步的技术方案是，载板的上侧设置有呈“匚”字形的定位档条，定位档条配合载板形成前侧具有开口的定位槽，PCB托盘放置于载板上时，PCB托盘卡设于定位槽内。
[0014]更进一步的技术方案是，定位档条的上侧设置有挡片，挡片的边缘朝水平延伸至定位槽内。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、通过PCB托盘上的若干个芯片槽和PCB检测机构上的若干个连接器相配合，能够同时对放置于若干个芯片槽内的若干个芯片进行测试；2、通过设置推杆电机和推动组件，能够很好的将PCB托盘朝向顶板推动，这样能够使所有的芯片同时和所有的连接器相连，以便于同时进行测试；3、通过设置导向柱，能够使PCB托盘在上下移动的时候保持平稳，避免因为PCB托盘倾斜，导致PCB托盘上的芯片不能很好的和连接器相连。
附图说明
[0016]图1为本技术一种半自动化整盘测试机的立体示意图。
[0017]图2为本技术一种半自动化整盘测试机的爆炸示意图。
[0018]图3为图2中标记A处的局部放大示意图。
[0019]图4为本技术一种半自动化整盘测试机的底座内部以及推动组件示意图。
[0020]图标：1
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底座，2
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导向柱，3
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顶板，4
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安装腔，5
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推杆电机，6
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推杆，7
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推动组件，8
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滑动孔，9
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PCB托盘，10
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芯片槽，11
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安装孔，12
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PCB检测机构，13
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推板，14
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载板，15
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左侧板，16
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右侧板，17
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后侧板,18
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左安装板，19
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右安装板，20
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传送器，21
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接收器，22
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圆弧形缺口，23
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定位档条，24
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挡片。
具体实施方式
[0021]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0022]图1至图4所示为本技术的实施例。
[0023]实施例1：
[0024]如图1、2所示，一种半自动化整盘测试机，包括底座1、导向柱2和顶板3，导向柱2的下端和底座1的上侧相连，上端和顶板3相连，底座1通过安装腔4安装有推杆电机5，推杆电机5的推杆6顶端通过连通孔穿出安装腔4，并且在顶板3和底座1之间连接有推动组件7，推动组件7通过滑动孔8和导向柱2上下滑动相连，推动组件7的上侧放置有PCB托盘9，PCB托盘
9上设置有若干个芯片槽10，顶板3上设置有贯通上下两侧的安装孔11，安装孔11内安装有PCB检测机构12，PCB检测机构12的下端在顶板3的下侧连接有若干个和芯片槽10相对应的连接器，PCB检测机构12的上端在测试部的上方通过信号线连接至测试端。通过PCB托盘9上的若干个芯片槽10和PCB检测机构12上的若干个连接器相配合，能够同时对放置于若干个芯片槽10内的若干个芯片进行测试。通过设置推杆电机5和推动组件7，能够很好的将PCB托盘9朝本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半自动化整盘测试机，其特征在于，包括底座(1)、导向柱(2)和顶板(3)，所述导向柱(2)的下端和底座(1)的上侧相连，上端和顶板(3)相连，所述底座(1)通过安装腔(4)安装有推杆电机(5)，所述推杆电机(5)的推杆(6)顶端通过连通孔穿出安装腔(4)，并且在顶板(3)和底座(1)之间连接有推动组件(7)，所述推动组件(7)通过滑动孔(8)和导向柱(2)上下滑动相连，所述推动组件(7)的上侧放置有PCB托盘(9)，所述PCB托盘(9)上设置有若干个芯片槽(10)，所述顶板(3)上设置有贯通上下两侧的安装孔(11)，所述安装孔(11)内安装有PCB检测机构(12)，所述PCB检测机构(12)的下端在顶板(3)的下侧连接有若干个和芯片槽(10)相对应的连接器，所述PCB检测机构(12)的上端在测试部的上方通过信号线连接至测试端。2.根据权利要求1所述的一种半自动化整盘测试机，其特征在于：所述推动组件(7)包括推板(13)和载板(14)，所述滑动孔(8)设置于载板(14)靠近边缘的位置，所述导向柱(2)的中部穿过滑动孔(8)和载板(14)上下滑动相连；所述推板(13)的下侧和推杆电机(5)的推杆(6)顶端相连，上侧和载板(14)的下侧相连；所述PCB托盘(9)放置于载板(14)的上侧；所述导向柱(2)和滑动孔(8)配套设置有两个以上，且两个以上所述导向柱(2)分布设置于顶板(3)下侧靠近边缘的位置。3.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴炜奇，
申请(专利权)人：深圳文治电子有限公司，
类型：新型
国别省市：