本发明专利技术涉及数据检测技术领域，公开了一种内存等长表的检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取原始内存等长表；基于原始内存等长表对预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内存等长表；对待检测内存等长表中的各数据进行随机抽样，获得预设数量的抽样数据；基于抽样数据以及抽样数据对应的目标数据对待检测内存等长表进行检测。相比于现有技术中对内存等长表进行检测的检测方法，由于本发明专利技术通过程序来对数据进行检测，其检测过程不受人为因素、外界因素等因素的影响，且每组数据的检测逻辑是一致的，从而消除了人工检测中存在错误内存等长表数据的隐患，进而避免了待生产显卡由于错误数据而造成的批量报废。显卡由于错误数据而造成的批量报废。显卡由于错误数据而造成的批量报废。
【技术实现步骤摘要】
内存等长表的检测方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及数据检测
，尤其涉及一种内存等长表的检测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]随着信息技术的发展，显卡芯片中的数据越来越多。相应地，在显卡设计初期需要使用的内存等长表包含的数据量也越来越庞大。而由于内存等长表直接决定了显卡芯片对应的走线长度，也就是说，只有数据准确的内存等长表才能对应制造出符合设计预期的显卡芯片。因此，对于内存等长表的检测成为显卡芯片制造过程中不可或缺的一环。
[0003]目前的内存等长表检测技术通常是采用人工检测的方法，这就导致检测过程中不可避免地存在各种因素(例如工作疲劳、外界干扰等)导致检测人员未检测出内存等长表中包含的错误数据，从而使得采用包含错误数据的内存等长表制作出来的显卡芯片未能满足设计预期的要求，进而导致批量报废造成严重损失。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
[0005]本专利技术的主要目的在于提供了一种内存等长表的检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有的内存等长表的检测方法无法准确检测内存等长表中错误数据的技术问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供了一种内存等长表的检测方法，所述方法包括以下步骤：
[0007]获取原始内存等长表，所述原始内存等长表中存放有待生产显卡芯片的处理器与显存之间的走线长度数据；
[0008]基于所述原始内存等长表对预设内存等长表进行数据填充，得到待检测内存等长表；
[0009]对所述待检测内存等长表中的各数据进行随机抽样，确定预设数量的抽样数据；
[0010]基于所述抽样数据以及所述抽样数据对应的目标数据，对所述待检测内存等长表进行检测，得到检测结果。
[0011]可选地，所述基于所述原始内存等长表对预设内存等长表进行数据填充，得到待检测内存等长表，包括：
[0012]从预设内存等长表中提取走线标识和芯片引脚标识；
[0013]以所述走线标识和所述芯片引脚标识为检索词，在所述原始内存等长表中进行检索；
[0014]基于检索结果对所述预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内存等长表。
[0015]可选地，所述基于检索结果对所述预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内
存等长表，包括：
[0016]当检索到与所述预设内存等长表相同的走线标识和芯片引脚标识时，提取出所述原始内存等长表中对应的表层变量以及内层变量；
[0017]基于所述表层变量以及所述内层变量，对所述预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内存等长表。
[0018]可选地，所述基于所述表层变量以及所述内层变量，对所述预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内存等长表，包括：
[0019]对所述表层变量以及所述内层变量分别进行求和，获得总体表层变量以及总体内层变量；
[0020]将所述总体表层变量以及所述总体内层变量填充至所述预设内存等长表中；
[0021]判断所述预设内存等长表中是否存在空值单元格；
[0022]若所述预设内存等长表中不存在空值单元格，则将当前预设内存等长表设定为待检测内存等长表。
[0023]可选地，所述判断所述预设内存等长表中是否存在空值单元格之后，还包括：
[0024]若所述预设内存等长表中存在空值单元格，则获取所述空值单元格对应的走线标识和芯片引脚标识；
[0025]基于所述空值单元格对应的走线标识和芯片引脚标识在所述原始内存等长表中进行检索；
[0026]基于检索结果对所述预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内存等长表。
[0027]可选地，所述基于所述抽样数据以及所述抽样数据对应的目标数据，对所述待检测内存等长表进行检测，得到检测结果，包括：
[0028]将所述抽样数据与所述抽样数据对应的目标数据进行对比；
[0029]基于对比结果对所述待检测内存等长表进行检测，得到检测结果。
[0030]可选地，所述基于对比结果对于所述待检测内存等长表进行检测，得到检测结果，包括：
[0031]判断在所述对比结果中，是否存在所述抽样数据与所述抽样数据对应的目标数据不相等的情况；
[0032]若存在所述抽样数据与所述抽样数据对应的目标数据不相等的情况，则判断所述待检测内存等长表的检测结果为错误；
[0033]若不存在所述抽样数据与所述抽样数据对应的目标数据不相等的情况，则判断所述待检测内存等长表的检测结果为正确。
[0034]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种内存等长表的检测装置，所述内存等长表的检测装置包括：
[0035]数据获取模块，用于获取原始内存等长表，所述原始内存等长表中存放有待生产显卡芯片的处理器与显存之间的走线长度数据；
[0036]数据填充模块，用于基于所述原始内存等长表对预设内存等长表进行数据填充，得到待检测内存等长表；
[0037]数据抽样模块，用于对所述待检测内存等长表中的各数据进行随机抽样，确定预设数量的抽样数据；
Access Memory，RAM)，也可以是稳定的非易失性存储器(Non
‑
Volatile Memory，NVM)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
[0051]本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对内存等长表的检测设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
[0052]如图1所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及内存等长表的检测程序。
[0053]在图1所示的内存等长表的检测设备中，网络接口1004主要用于与网络服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于与用户进行数据交互；本专利技术内存等长表的检测设备中的处理器1001、存储器1005可以设置在内存等长表的检测设备中，所述内存等长表的检测设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的内存等长表的检测程序，并执行本专利技术实施例提供的内存等长表的检测方法。
[0054]本专利技术实施例提供了一种内存等长表的检测方法，参照图2，图2为本专利技术内存等长表的检测方法第一实施例的流程示意图。
[0055]本实施例中，所述内存等长表的检测方法包括以下步骤：
[0056]步骤S10：获取原始内存等长表，所述原始内存等长表中存放有待生产显卡芯片的处理器与显存之间的走线长度数据。
[0057]需要说明的是，本实施例方法的执行主体可以是具有数据处理、网络通讯以及程序运行功能的计算服务设备，例如手机、平板电脑、个人电脑等，还可以是能够实现相同或相似功能的其他电子设备，本实施例对此不加以限制。此处将以内存等长表的检测设备(下文简称检测设备)为例对本专利技术内存等长表的检测方法的各项实本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种内存等长表的检测方法，其特征在于，包括：获取原始内存等长表，所述原始内存等长表中存放有待生产显卡芯片的处理器与显存之间的走线长度数据；基于所述原始内存等长表对预设内存等长表进行数据填充，得到待检测内存等长表；对所述待检测内存等长表中的各数据进行随机抽样，确定预设数量的抽样数据；基于所述抽样数据以及所述抽样数据对应的目标数据，对所述待检测内存等长表进行检测，得到检测结果。2.如权利要求1所述的内存等长表的检测方法，其特征在于，所述基于所述原始内存等长表对预设内存等长表进行数据填充，得到待检测内存等长表，包括：从预设内存等长表中提取走线标识和芯片引脚标识；以所述走线标识和所述芯片引脚标识为检索词，在所述原始内存等长表中进行检索；基于检索结果对所述预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内存等长表。3.如权利要求2所述的内存等长表的检测方法，其特征在于，所述基于检索结果对所述预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内存等长表，包括：当检索到与所述预设内存等长表相同的走线标识和芯片引脚标识时，提取出所述原始内存等长表中对应的表层变量以及内层变量；基于所述表层变量以及所述内层变量，对所述预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内存等长表。4.如权利要求3所述的内存等长表的检测方法，其特征在于，所述基于所述表层变量以及所述内层变量，对所述预设内存等长表进行数据填充，获得待检测内存等长表，包括：对所述表层变量以及所述内层变量分别进行求和，获得总体表层变量以及总体内层变量；将所述总体表层变量以及所述总体内层变量填充至所述预设内存等长表中；判断所述预设内存等长表中是否存在空值单元格；若所述预设内存等长表中不存在空值单元格，则将当前预设内存等长表设定为待检测内存等长表。5.如权利要求4所述的内存等长表的检测方法，其特征在于，所述判断所述预设内存等长表中是否存在空值单元格之后，还包括：若所述预设内存等长表中存在空值单元格，则获取所述空值单元格对应的走线标识和芯片引脚标识；基于所述空值单元格...
【专利技术属性】
技术研发人员：王怀鑫，
申请(专利权)人：武汉宝龙达信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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