一种光栅保护高度测试方法、系统、设备及介质技术方案

本发明专利技术提供了光栅测试技术领域的一种光栅保护高度测试方法、系统、设备及介质，方法包括如下步骤：步骤S10、将光栅锁附在支架上，获取光栅的保护高度；步骤S20、对光栅传感器的初始位置进行校准；步骤S30、通过伺服电机驱动光栅传感器进行位移，对从光栅射出的光栅信号进行感应；步骤S40、当光栅传感器感应不到光栅信号时，记录伺服电机从初始位置开始的移动距离；步骤S50、基于所述移动距离对保护高度进行校验，并生成测试结果。本发明专利技术的优点在于：极大的提升了光栅保护高度测试的质量以及效率，极大的降低了测试成本。大的降低了测试成本。大的降低了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种光栅保护高度测试方法、系统、设备及介质


[0001]本专利技术涉及光栅测试
，特别指一种光栅保护高度测试方法、系统、设备及介质。

技术介绍

[0002]由大量等宽等间距的平行狭缝构成的光学器件称为光栅，光栅结合光栅传感器即可测量位移距离。光栅在应用前，需要对其保护高度进行测试，而传统上采取人工测试的方法；在小批量测试时，人工测试的成本相对较低，但在大批量测试时，人工测试的成本就相对较高了，且效率低下、测试数据不全面、测试数据不稳定；甚至有的公司为了节约成本，直接根据规格书来使用光栅而省略光栅保护高度的测试，当应用不合格光栅的设备送往客户现场出现问题时，更换不合格的光栅需要付出更多的人工成本。
[0003]因此，如何提供一种光栅保护高度测试方法、系统、设备及介质，实现提升光栅保护高度测试的质量以及效率，降低测试成本，成为一个亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题，在于提供一种光栅保护高度测试方法、系统、设备及介质，实现提升光栅保护高度测试的质量以及效率，降低测试成本。
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种光栅保护高度测试方法，包括如下步骤：
[0006]步骤S10、将光栅锁附在支架上，获取光栅的保护高度；
[0007]步骤S20、对光栅传感器的初始位置进行校准；
[0008]步骤S30、通过伺服电机驱动光栅传感器进行位移，对从光栅射出的光栅信号进行感应；
[0009]步骤S40、当光栅传感器感应不到光栅信号时，记录伺服电机从初始位置开始的移动距离；
[0010]步骤S50、基于所述移动距离对保护高度进行校验，并生成测试结果。
[0011]进一步地，所述步骤S10中，所述保护高度为光栅射出光栅信号的最低位置和最高位置的距离。
[0012]进一步地，所述步骤S20具体为：
[0013]PLC驱动伺服电机进行位移，通过伺服电机联动光栅传感器位移到光栅射出光栅信号的最低位置，将伺服电机此时的位置设为初始位置，进而完成光栅传感器的初始位置的校准。
[0014]进一步地，所述步骤S50具体为：
[0015]获取光栅传感器的感应时间以及伺服电机的移动速度，基于所述感应时间以及移动速度计算误差距离；
[0016]将所述移动距离减去误差距离得到实际移动距离，判断所述实际移动距离是否等于保护高度，若是，则生成测试通过的测试结果；若否，则生成测试不通过的测试结果。
[0017]第二方面，本专利技术提供了一种光栅保护高度测试系统，包括如下模块：
[0018]保护高度获取模块，用于将光栅锁附在支架上，获取光栅的保护高度；
[0019]初始位置校准模块，用于对光栅传感器的初始位置进行校准；
[0020]光栅信号感应模块，用于通过伺服电机驱动光栅传感器进行位移，对从光栅射出的光栅信号进行感应；
[0021]移动距离记录模块，用于当光栅传感器感应不到光栅信号时，记录伺服电机从初始位置开始的移动距离；
[0022]保护高度校验模块，用于基于所述移动距离对保护高度进行校验，并生成测试结果。
[0023]进一步地，所述保护高度获取模块中，所述保护高度为光栅射出光栅信号的最低位置和最高位置的距离。
[0024]进一步地，所述初始位置校准模块具体用于：
[0025]PLC驱动伺服电机进行位移，通过伺服电机联动光栅传感器位移到光栅射出光栅信号的最低位置，将伺服电机此时的位置设为初始位置，进而完成光栅传感器的初始位置的校准。
[0026]进一步地，所述保护高度校验模块具体用于：
[0027]获取光栅传感器的感应时间以及伺服电机的移动速度，基于所述感应时间以及移动速度计算误差距离；
[0028]将所述移动距离减去误差距离得到实际移动距离，判断所述实际移动距离是否等于保护高度，若是，则生成测试通过的测试结果；若否，则生成测试不通过的测试结果。
[0029]第三方面，本专利技术提供了一种光栅保护高度测试设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现第一方面所述的方法。
[0030]第四方面，本专利技术提供了一种光栅保护高度测试介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面所述的方法。
[0031]本专利技术实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
[0032]1、通过PLC驱动伺服电机联动光栅传感器进行自动升降，光栅传感器从校准的初始位置开始升起，直至光栅传感器感应不到光栅信号，通过伺服电机换算得到光栅传感器在此期间的移动距离，再基于移动距离对保护高度进行校验以生成测试结果，即自动对光栅保护高度进行测试以代替传统的人工测试，避免人工测试导致测试数据不全面和不稳定的问题，最终极大的提升了光栅保护高度测试的质量以及效率，极大的降低了光栅保护高度的测试成本。
[0033]2、由于光栅传感器存在感应时间，即接收的光栅信号存在时延，通过感应时间以及伺服电机的移动速度计算误差距离，再将移动距离减去误差距离得到实际移动距离来对保护高度进行校验，进而极大的提升了光栅保护高度测试的精度。
[0034]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
附图说明
[0035]下面参照附图结合实施例对本专利技术作进一步的说明。
[0036]图1是本专利技术一种光栅保护高度测试方法的流程图。
[0037]图2是本专利技术一种光栅保护高度测试系统的结构示意图。
[0038]图3是本专利技术一种光栅保护高度测试设备的结构示意图。
[0039]图4是本专利技术一种光栅保护高度测试介质的结构示意图。
具体实施方式
[0040]本申请实施例通过提供一种光栅保护高度测试方法、系统、设备及介质，实现提升光栅保护高度测试的质量以及效率，降低测试成本。
[0041]本申请实施例中的技术方案，总体思路如下：通过PLC控制光栅传感器进行自动升降，使光栅传感器从校准的初始位置开始升起，直至光栅传感器感应不到光栅信号，根据光栅传感器的移动距离对保护高度进行校验，即自动对光栅保护高度进行测试以代替传统的人工测试，以提升光栅保护高度测试的质量以及效率，降低测试成本。
[0042]实施例一
[0043]本实施例提供一种光栅保护高度测试方法，如图1所示，包括如下步骤：
[0044]步骤S10、将光栅锁附在支架上，保证光栅在测试过程中不晃动，获取光栅的保护高度；
[0045]步骤S20、对光栅传感器的初始位置进行校准，即设定光栅传感器的原点；
[0046]步骤S30、通过伺服电机驱动光栅传感器进行位移，对从光栅射出的光栅信号进行感应；
[0047]步骤S本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光栅保护高度测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤S10、将光栅锁附在支架上，获取光栅的保护高度；步骤S20、对光栅传感器的初始位置进行校准；步骤S30、通过伺服电机驱动光栅传感器进行位移，对从光栅射出的光栅信号进行感应；步骤S40、当光栅传感器感应不到光栅信号时，记录伺服电机从初始位置开始的移动距离；步骤S50、基于所述移动距离对保护高度进行校验，并生成测试结果。2.如权利要求1所述的一种光栅保护高度测试方法，其特征在于：所述步骤S10中，所述保护高度为光栅射出光栅信号的最低位置和最高位置的距离。3.如权利要求1所述的一种光栅保护高度测试方法，其特征在于：所述步骤S20具体为：PLC驱动伺服电机进行位移，通过伺服电机联动光栅传感器位移到光栅射出光栅信号的最低位置，将伺服电机此时的位置设为初始位置，进而完成光栅传感器的初始位置的校准。4.如权利要求1所述的一种光栅保护高度测试方法，其特征在于：所述步骤S50具体为：获取光栅传感器的感应时间以及伺服电机的移动速度，基于所述感应时间以及移动速度计算误差距离；将所述移动距离减去误差距离得到实际移动距离，判断所述实际移动距离是否等于保护高度，若是，则生成测试通过的测试结果；若否，则生成测试不通过的测试结果。5.一种光栅保护高度测试系统，其特征在于：包括如下模块：保护高度获取模块，用于将光栅锁附在支架上，获取光栅的保护高度；初始位置校准模块，用于对光栅传感器的初始位置进行校准；光栅信号感应模块，用于通...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘震，黄智斌，张飞，
申请(专利权)人：福建星云电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：