本发明专利技术涉及图像处理技术领域，提供了一种石英晶片的外观质量评估方法及系统，所述方法包括：采集获得第一图像信息，输入石英晶片缺陷区域分析模型内，获得多个缺陷区域；采集多个缺陷区域内的图像，获得多个第二图像信息，输入石英晶片缺陷数量分析模型，获得包括多类缺陷数量的数量信息集合，结合预构建的缺陷评分表，计算获得多类缺陷的多个总缺陷评分；将多个总缺陷评分输入外观质量评估模型，获得外观质量评估结果，解决石英晶片的外观检测精度低，无法保障产出的石英晶片性能技术问题，实现依照裂纹、划痕、缺口等外观缺陷信息，综合进行外观质量评分，提升石英晶片的外观检测精度，为最大限度的保障产出的石英晶片性能提供支持技术效果。支持技术效果。支持技术效果。
【技术实现步骤摘要】
一种石英晶片的外观质量评估方法及系统
[0001]本专利技术涉及图像处理相关
，具体涉及一种石英晶片的外观质量评估方法及系统。
技术介绍
[0002]石英晶片广泛应用于通讯、电脑、导航、航空航天、家用电器等领域，石英晶片的产品包括石英晶体谐振器、石英晶体振荡器，具有良好的频率稳定性，在石英晶片的生产加工阶段，不可避免的，部分石英晶片会产生一些外观缺陷（例如为裂纹、划痕、缺口），严重影响了石英晶片的性能。
[0003]基于此，需要对石英晶片进行外观质量检测评估，为挑出外观质量出现问题的石英晶片提供支持，常见的，采用人工目视方法确定石英晶片存在的外观缺陷，但，检测效率低，存在人力资源浪费，无法满足生产的需要。
[0004]综上所述，现有技术中存在石英晶片的外观检测精度低，无法保障产出的石英晶片性能的技术问题。
技术实现思路
[0005]本申请通过提供了一种石英晶片的外观质量评估方法及系统，旨在解决现有技术中的石英晶片的外观检测精度低，无法保障产出的石英晶片性能的技术问题。
[0006]鉴于上述问题，本申请实施例提供了一种石英晶片的外观质量评估方法及系统。
[0007]本申请公开的第一个方面，提供了一种石英晶片的外观质量评估方法，其中，所述方法包括：通过图像采集装置，采集待进行外观质量评估的目标石英晶片的图像，获得第一图像信息；将所述第一图像信息输入石英晶片缺陷区域分析模型内，获得所述目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域；通过图像采集装置，采集所述多个缺陷区域内的图像，获得多个第二图像信息；将所述多个第二图像信息输入石英晶片缺陷数量分析模型内，获得包括多类缺陷数量的数量信息集合；根据所述数量信息集合，结合预构建的缺陷评分表，计算获得所述多类缺陷的多个总缺陷评分；将所述多个总缺陷评分输入外观质量评估模型内，获得所述目标石英晶片的外观质量评估结果。
[0008]本申请公开的另一个方面，提供了一种石英晶片的外观质量评估系统，其中，所述系统包括：第一图像采集模块，用于通过图像采集装置，采集待进行外观质量评估的目标石英晶片的图像，获得第一图像信息缺陷区域分析模块，用于将所述第一图像信息输入石英晶片缺陷区域分析模型内，获得所述目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域；第二图像采集模块，用于通过图像采集装置，采集所述多个缺陷区域内的图像，获得多个第二图像信息；缺陷数量分析模块，用于将所述多个第二图像信息输入石英晶片缺陷数量分析模型内，获得包括多类缺陷数量的数量信息集合；总缺陷评分获得模块，用于根据所述数量信息集合，结合预构建的缺陷评分表，计算获得所述多类缺陷的多个总缺陷评分；外观质量评估结果获得模块，用于将所述多个总缺陷评分输入外观质量评估模型内，获得所述目标石英晶
片的外观质量评估结果。
[0009]本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：由于采用了采集获得第一图像信息，输入石英晶片缺陷区域分析模型内，获得目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域；采集多个缺陷区域内的图像，获得多个第二图像信息，输入石英晶片缺陷数量分析模型，获得包括多类缺陷数量的数量信息集合，结合预构建的缺陷评分表，计算获得多类缺陷的多个总缺陷评分；将多个总缺陷评分输入外观质量评估模型，获得目标石英晶片的外观质量评估结果，实现了依照裂纹、划痕、缺口等外观缺陷信息，综合进行外观质量评分，提升石英晶片的外观检测精度，为最大限度的保障产出的石英晶片性能提供支持的技术效果。
[0010]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
[0011]图1为本申请实施例提供了一种石英晶片的外观质量评估方法可能的流程示意图；图2为本申请实施例提供了一种石英晶片的外观质量评估方法中获得目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域可能的流程示意图；图3为本申请实施例提供了一种石英晶片的外观质量评估方法中获得目标石英晶片的外观质量评估结果可能的流程示意图；图4为本申请实施例提供了一种石英晶片的外观质量评估系统可能的结构示意图。
[0012]附图标记说明：第一图像采集模块100，缺陷区域分析模块200，第二图像采集模块300，缺陷数量分析模块400，总缺陷评分获得模块500，外观质量评估结果获得模块600。
具体实施方式
[0013]本申请实施例提供了一种石英晶片的外观质量评估方法及系统，解决了石英晶片的外观检测精度低，无法保障产出的石英晶片性能的技术问题，实现了依照裂纹、划痕、缺口等外观缺陷信息，综合进行外观质量评分，提升石英晶片的外观检测精度，为最大限度的保障产出的石英晶片性能提供支持的技术效果。
[0014]在介绍了本申请基本原理后，下面将结合说明书附图来具体介绍本申请的各种非限制性的实施方式。
[0015]实施例一：如图1所示，本申请实施例提供了一种石英晶片的外观质量评估方法，其中，所述方法包括：S10：通过图像采集装置，采集待进行外观质量评估的目标石英晶片的图像，获得第一图像信息；S20：将所述第一图像信息输入石英晶片缺陷区域分析模型内，获得所述目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域；
具体而言，所述石英晶片的外观缺陷主要包括石英晶片裂纹（图像上会出现一条明显的线条，可能在研磨、切割或者转移时造成）、中间出现高亮、崩角、缺边，利用图像采集装置，采集待进行外观质量评估的目标石英晶片全部区域的图像，获得第一图像信息；构建石英晶片缺陷区域分析模型，将所述第一图像信息作为输入数据，输入石英晶片缺陷区域分析模型内进行缺陷区域分析，获得所述目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域，为进行外观质量评估提供数据支持。
[0016]如图2所示，步骤S20包括步骤：S21：根据历史时间内进行石英晶片外观质量检测的数据，获取历史第一图像信息集合；S22：对所述历史第一图像信息集合内的历史第一图像信息划分为多个区域，并标记出存在缺陷的区域，获得多个历史缺陷区域集合；S23：采用所述历史第一图像信息集合以及多个历史缺陷区域集合，构建所述石英晶片缺陷区域分析模型；S24：将所述第一图像信息输入所述石英晶片缺陷区域分析模型内，获得所述目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域。
[0017]步骤S23包括步骤：S231：基于卷积神经网络，构建所述石英晶片缺陷区域分析模型，其中，所述石英晶片缺陷区域分析模型的输入数据为第一图像信息，输出数据包括第一图像信息内存在缺陷的区域；S232：采用所述历史第一图像信息集合和多个历史缺陷区域集合，对所述石英晶片缺陷区域分析模型进行迭代监督训练和验证，获得准确率符合预设要求的所述石英晶片缺陷区域分析模型。
[0018]具体而言，构建石英晶片缺陷区域分析模型，具体包括：在外观质量评估系统的数据存储单元中，以缺陷区域为检索内容，对历史时间（历史时间可以是上一个自然月）内的石英晶片外观质量检测的数据进行数据检索提取，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种石英晶片的外观质量评估方法，其特征在于，所述方法包括：通过图像采集装置，采集待进行外观质量评估的目标石英晶片的图像，获得第一图像信息；将所述第一图像信息输入石英晶片缺陷区域分析模型内，获得所述目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域；通过图像采集装置，采集所述多个缺陷区域内的图像，获得多个第二图像信息；将所述多个第二图像信息输入石英晶片缺陷数量分析模型内，获得包括多类缺陷数量的数量信息集合；根据所述数量信息集合，结合预构建的缺陷评分表，计算获得所述多类缺陷的多个总缺陷评分；将所述多个总缺陷评分输入外观质量评估模型内，获得所述目标石英晶片的外观质量评估结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述第一图像信息输入石英晶片缺陷区域分析模型内，获得所述目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域，包括：根据历史时间内进行石英晶片外观质量检测的数据，获取历史第一图像信息集合；对所述历史第一图像信息集合内的历史第一图像信息划分为多个区域，并标记出存在缺陷的区域，获得多个历史缺陷区域集合；采用所述历史第一图像信息集合以及多个历史缺陷区域集合，构建所述石英晶片缺陷区域分析模型；将所述第一图像信息输入所述石英晶片缺陷区域分析模型内，获得所述目标石英晶片存在缺陷的多个缺陷区域。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，采用所述历史第一图像信息集合以及多个历史缺陷区域集合，构建所述石英晶片缺陷区域分析模型，包括：基于卷积神经网络，构建所述石英晶片缺陷区域分析模型，其中，所述石英晶片缺陷区域分析模型的输入数据为第一图像信息，输出数据包括第一图像信息内存在缺陷的区域；采用所述历史第一图像信息集合和多个历史缺陷区域集合，对所述石英晶片缺陷区域分析模型进行迭代监督训练和验证，获得准确率符合预设要求的所述石英晶片缺陷区域分析模型。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述多个第二图像信息输入石英晶片缺陷数量分析模型内，获得包括多类缺陷数量的数量信息集合，包括：根据历史时间内进行石英晶片外观质量检测的数据，获取历史第二图像信息集合；对所述历史第二图像信息集合内历史第二图像信息中不同大小的多类缺陷进行标记，获得多个历史数量信息集合；采用所述历史第二图像信息集合和多个历史数量信息集合作为构建数据，基于卷积神经网络，构建并监督训练获得准确率符合预设要求的所述石英晶片缺陷数量分析模型；将所述多个第二图像信息输入所述石英晶片缺陷数量分析模型内，获得包括多类缺陷数量的所述数量信息集合。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述数量信息集合，结合预构建的缺陷评分表，计算获得...
【专利技术属性】
技术研发人员：相军，
申请(专利权)人：日照皓诚电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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