本发明专利技术公开了一种无源器件的性能测试装置及方法，所述装置包括：调节平台，具有支撑座和安装在支撑座一侧的限位座；测试台，设置在调节平台上，所述调节平台的上表面夹持有光源光纤；以及调整台，安装在调节平台上，所述调整台包括圆盘、卡盘、连接块、插销、扭簧、旋钮和镜头，所述连接块的中间开设有插槽，所述插销适于水平旋转连接在连接块的插槽内，所述扭簧的一端缠绕在旋钮上，另一端缠绕在插销上；所述光源光纤的一端连接在测试仪的接头上，另一端经过测试台和调整台进行对准，以调整不同型号的光源光纤的位置。本发明专利技术同时还提供了一种性能测试方法，在提高检测精度和效率下，用于检测不同规格型号的无源器件。测不同规格型号的无源器件。测不同规格型号的无源器件。
【技术实现步骤摘要】
一种无源器件的性能测试装置及方法
[0001]本专利技术涉及光通信
，尤其涉及一种无源器件的性能测试装置及方法。
技术介绍
[0002]无源器件在进行性能测试时需要用到专用的测试工装。而且无源器件有特别多种不同的规格型号，每种型号都需要检测其性能，并且检测要求高，现有技术中，一般采用人工手持或者使用简单夹具将无源器件放置在仪器的检测口，这会导致检测结果不准确，并且效率低下。
[0003]另外，由于不同型号的无源器件对应的测试工装结构相似，若仅仅因为尺寸不同，便需要制作多个测试工装，这会造成大量的材料浪费和较高的成本；同时测试工装数量繁多，在实际工作中，对测试工装的管理也极为麻烦。
[0004]最后，无源器件前端的角度和无源器件与仪器的相对位置都对检测数值存在影响，为此有些型号的无源器件在进行检测时，其前端需要与仪器的检测口平行，当无源器件的前端角度过大时，还会存在无法检测的问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供了一种无源器件的性能测试装置及方法，以解决现有技术中无源器件专用的测试工装无法通用、检测精度低、以及无源器件前端角度过大时存在无法检测的技术问题。
[0006]为解决上述问题，本专利技术的第一目的在于提供一种无源器件的性能测试装置，适于将多型号的光源光纤与测试仪进行连接以进行性能测试，所述装置包括：调节平台，具有支撑座和安装在所述支撑座一侧的限位座；测试台，设置在所述调节平台上，所述调节平台的上表面夹持有所述光源光纤，所述测试台能够对所述光源光纤进行精确对准后并形成夹紧状态或松开状态；以及调整台，安装在所述调节平台上，所述调整台包括圆盘、连接在所述圆盘且远离所述测试台一侧的卡盘、安装在所述圆盘中间的连接块、插销、扭簧、连接在所述圆盘上的旋钮和插接在所述卡盘远离所述圆盘一侧的镜头，所述连接块的中间开设有插槽，所述插销适于水平旋转连接在所述连接块的插槽内，所述扭簧的一端缠绕在所述旋钮上，另一端缠绕在所述插销上；所述光源光纤的一端连接在所述测试仪的接头上，另一端经过所述测试台和所述调整台进行对准，以调整不同型号的所述光源光纤的位置，使所述光源光纤与所述测试仪的测试口进行精准对接。
[0007]优选的，所述圆盘的中心开设有仿形槽，所述光源光纤的末端连接有接口，且所述仿形槽适于与所述光源光纤的接口形状相匹配。
[0008]优选的，所述卡盘的中心设有卡槽，所述卡槽内适于安装所述镜头。
[0009]优选的，所述连接块的下侧设有插槽和第三通槽，所述第三通槽水平贯穿所述连
接块且水平穿过所述插槽，所述插销水平横跨在所述插槽内，且其两端位于所述第三通槽内。
[0010]优选的，所述测试台包括底座、连接在所述底座上的顶座、压紧块和滚花头螺丝，所述底座的上表面开设有第一水平通槽，所述顶座适于连接在第一水平通槽内，所述压紧块铰接在所述顶座的一侧，且所述压紧块翻转将所述光源光纤压紧在所述顶座的对准槽内，所述滚花头螺丝连接在所述底座相对所述压紧块的一侧。
[0011]优选的，所述顶座包括并列水平平行排列的第一顶座和第二顶座，所述压紧块对应设置有第一压块和第二压块，所述第一压块铰接在所述第一顶座上，所述第二压块铰接在所述第二顶座上；所述第一顶座和所述第二顶座的结构相同，所述第一压块和所述第二压块的结构相同。
[0012]优选的，所述调节平台还包括设置在所述支撑座上的滑台，所述滑台的两侧通过限位块固定连接；所述滑台包括滑轨和滑座，所述滑座适于在所述滑轨上滑动。
[0013]优选的，所述限位座上设有水平滑槽，所述滚花头螺丝穿过所述水平滑槽连接在所述底座上，通过所述滚花头螺丝调节所述底座位置。
[0014]本专利技术的第二目的在于提供一种无源器件的性能测试方法，基于上述所述的无源器件的性能测试装置，所述性能测试方法具体包括如下步骤：S1：将测试台和调整台安装在调节平台上，并将光源光纤的一端连接在测试仪的接头上；S2：选择与所述光源光纤型号对应的圆盘和镜头，并将所述光源光纤的另一端放置在所述测试台的对准槽中，通过调整所述测试台和所述调整台，以将所述光源光纤对准并夹紧固定；S3：将所述光源光纤插入到所述圆盘中，通过旋钮施加力矩给扭簧，并将力矩传递给所述光源光纤固定；S5：测试完成后，反向旋转所述旋钮以卸载所述扭簧的扭力，取走所述光源光纤。
[0015]优选的，在所述的步骤S1中，当所述光源光纤的前端角度大于90度时，所述镜头的角度与所述光源光纤的前端角度相等。
[0016]本专利技术与现有技术相比具有显著的优点和有益效果，具体体现在以下方面：本申请通过设计无源器件的性能测试装置，装置包括调节平台、测试台和调整台，其中测试台和调整台的零部件可设计为对应不同型号光源光纤的零部件，选择与光源光纤对应的测试台的零部件进行安装替换，选择与光源光纤对应的调整台的零部件进行安装替换，从而将限制无源器件的零件部位设计为可替换的部件，以用于检测不同规格型号的无源器件，测试台和调整台的新结构零部件方便取放，避免磨损，提高效率，调整台的中间新增过渡的镜头，用于调整角度，便于检测前端角度大的无源器件。
附图说明
[0017]图1为本专利技术实施例中无源器件的性能测试装置的结构示意图；图2为本专利技术实施例中无源器件的性能测试装置的分解结构示意图；
图3为本专利技术实施例中调节平台的结构示意图；图4为本专利技术实施例中测试台与调整台的一方向结构示意图；图5为本专利技术实施例中测试台与调整台的另一方向结构示意图；图6为本专利技术实施例中测试台的分解结构示意图；图7为本专利技术实施例中调整台与光源光纤的结构示意图；图8为本专利技术实施例中调整台的分解结构示意图；图9为本专利技术实施例中无源器件的性能测试方法的流程示意图。
[0018]附图标记说明：1
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调节平台；11
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支撑座；12
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限位座；121
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水平滑槽；13
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滑台；131
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滑轨；132
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滑座；14
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限位块；15
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连接块；2
‑
测试台；21
‑
底座；211
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第一水平通槽；212
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第一锁紧孔；213
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第二锁紧孔；214
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第一通孔；22
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顶座；221
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第一顶座；2211
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第二水平通槽；2212
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第一对准槽；2213
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第一竖直通槽；2214
‑
第二通孔；222
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第二顶座；23
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压紧块；231
‑
第一压块；2311
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水平板；2312
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侧板；23121
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第三通孔；232
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第二压块；24
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种无源器件的性能测试装置，适于将多型号的光源光纤（4）与测试仪（5）进行连接以进行性能测试，其特征在于，包括：调节平台（1），具有支撑座（11）和安装在所述支撑座（11）一侧的限位座（12）；测试台（2），设置在所述调节平台（1）上，所述调节平台（1）的上表面夹持有所述光源光纤（4），所述测试台（2）能够对所述光源光纤（4）进行精确对准后并形成夹紧状态或松开状态；以及调整台（3），安装在所述调节平台（1）上，所述调整台（3）包括圆盘（31）、连接在所述圆盘（31）且远离所述测试台（2）一侧的卡盘（32）、安装在所述圆盘（31）中间的连接块（33）、插销（34）、扭簧（35）、连接在所述圆盘（31）上的旋钮（36）和插接在所述卡盘（32）远离所述圆盘（31）一侧的镜头（37），所述连接块（33）的中间开设有插槽（331），所述插销（34）适于水平旋转连接在所述连接块（33）的插槽（331）内，所述扭簧（35）的一端缠绕在所述旋钮（36）上，另一端缠绕在所述插销（34）上；所述光源光纤（4）的一端连接在所述测试仪（5）的接头上，另一端经过所述测试台（2）和所述调整台（3）进行对准，以调整不同型号的所述光源光纤（4）的位置，使所述光源光纤（4）与所述测试仪（5）的测试口进行精准对接。2.根据权利要求1所述的无源器件的性能测试装置，其特征在于：所述圆盘（31）的中心开设有仿形槽（311），所述光源光纤（4）的末端连接有接口，且所述仿形槽（311）适于与所述光源光纤（4）的接口形状相匹配。3.根据权利要求1所述的无源器件的性能测试装置，其特征在于：所述卡盘（32）的中心设有卡槽（321），所述卡槽（321）内适于安装所述镜头（37）。4.根据权利要求3所述的无源器件的性能测试装置，其特征在于：所述连接块（33）的下侧设有插槽（331）和第三通槽（332），所述第三通槽（332）水平贯穿所述连接块（33）且水平穿过所述插槽（331），所述插销（34）水平横跨在所述插槽（331）内，且其两端位于所述第三通槽（332）内。5.根据权利要求4所述的无源器件的性能测试装置，其特征在于：所述测试台（2）包括底座（21）、连接在所述底座（21）上的顶座（22）、压紧块（23）和滚花头螺丝（24），所述底座（21）的上表面开设有第一水平通槽（211），所述顶座（22）适于连接在第一水平通槽（211）内，所述压紧块（23）铰...
【专利技术属性】
技术研发人员：易湘贺，韩勋，
申请(专利权)人：武汉驿路通科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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