热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质。包括：测试系统包括脉冲电源、测试模块、数据采集器和处理装置，数据采集器的输入端与测试模块的输出端连接，数据采集器的输出端与处理装置连接，该方法应用于处理装置，在脉冲电源为测试模块提供脉冲电压时，获取数据采集器采集的多个输出电压值；输出电压值用于表征待测探测器两端的电压变化值；根据多个输出电压值，获取输出电压值随时间的变化曲线；根据输出电压值随时间的变化曲线，获取待测探测器的热响应时间；输出热响应时间。本申请能够提高热响应时间测试便捷性的同时提高测试精度。捷性的同时提高测试精度。捷性的同时提高测试精度。

【技术实现步骤摘要】
热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质


[0001]本申请涉及非制冷红外探测器
，尤其涉及一种热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质。

技术介绍

[0002]非制冷红外探测器因其质量轻、功耗小、成本低等优点，广泛应用于电力、消防、医疗等众多领域。其中，热敏电阻型的探测器主导了非制冷红外探测技术。
[0003]当探测器接收到入射辐射时，探测器的输出需要一定时间才能调节至与入射辐射功率值接近，这段时间即为热响应时间。热响应时间是衡量热敏电阻型的探测器性能的重要参数之一。目前，关于热敏电阻型的探测器的热响应时间的测量，一是利用了机械斩波器调制黑体辐射；二是利用脉冲激光器进行测量。但热响应时间的测试便捷性差，且测试精度较低。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质，用以解决热响应时间的测试便捷性差，且测试精度较低的问题。
[0005]第一方面，本申请提供一种热响应时间获取方法，测试系统包括脉冲电源、测试模块、数据采集器和处理装置，所述测试模块包括平衡电桥，所述平衡电桥包括测试臂、比较臂，所述测试臂包括待测探测器和第一定值电阻，所述比较臂包括第二定值电阻和可变电阻，所述数据采集器的输入端与所述测试模块的输出端连接，所述数据采集器的输出端与所述处理装置连接，所述方法应用于所述处理装置，该方法包括：
[0006]在所述脉冲电源为所述测试模块提供脉冲电压时，获取所述数据采集器采集的多个输出电压值；所述输出电压值用于表征所述待测探测器两端的电压变化值；
[0007]根据多个所述输出电压值，获取所述输出电压值随时间的变化曲线；
[0008]根据所述输出电压值随时间的变化曲线，获取所述待测探测器的热响应时间；
[0009]输出所述热响应时间。
[0010]可选的，所述根据多个所述输出电压值，获取所述输出电压值随时间的变化曲线，包括：
[0011]获取所述脉冲电源的脉冲周期；
[0012]获取所述脉冲电源在每个脉冲周期为所述测试模块提供脉冲电压时，所述数据采集器采集的多个所述输出电压值；
[0013]根据所述脉冲电源在每个脉冲周期为所述测试模块提供脉冲电压时，所述数据采集器采集的多个所述输出电压值，获取多个脉冲周期内所述输出电压值随时间的变化曲线。
[0014]可选的，所述根据所述输出电压值随时间的变化曲线，获取所述待测探测器的热响应时间，包括：
[0015]根据各所述输出电压值随时间的变化曲线，确定各变化曲线中与所述待测探测器的初始电压相差预设差值的电压对应的时间；
[0016]根据各变化曲线对应的时间，确定所述待测探测器的热响应时间。
[0017]可选的，所述根据各变化曲线对应的时间，确定所述待测探测器的热响应时间，包括：
[0018]将各变化曲线对应的时间的平均值，作为所述待测探测器的热响应时间。
[0019]可选的，该方法还包括：
[0020]调节所述测试系统的测试参数，所述测试参数包括：所述脉冲电源的电压输出值，和/或，所述可变电阻的阻值。
[0021]可选的，所述待测探测器为微测辐射热计。
[0022]第二方面，本申请提供一种处理装置，测试系统包括脉冲电源、测试模块、数据采集器和所述处理装置，所述测试模块包括平衡电桥，所述平衡电桥包括测试臂、比较臂，所述测试臂包括待测探测器和第一定值电阻，所述比较臂包括第二定值电阻和可变电阻，所述数据采集器的输入端与所述测试模块的输出端连接，所述数据采集器的输出端与所述处理装置连接，该处理装置包括：
[0023]第一获取模块，用于在所述脉冲电源为所述测试模块提供脉冲电压时，获取所述数据采集器采集的多个所述输出电压值；所述输出电压值用于表征所述待测探测器两端的电压变化值；
[0024]第二获取模块，用于根据多个所述输出电压值，获取所述输出电压值随时间的变化曲线；
[0025]第三获取模块，用于根据所述输出电压值随时间的变化曲线，获取所述待测探测器的热响应时间；
[0026]输出模块，用于输出所述热响应时间。
[0027]第三方面，本申请提供一种电子设备，包括：处理器，以及与所述处理器通信连接的存储器；
[0028]所述存储器存储计算机执行指令；
[0029]所述处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，以实现如第一方面中任一项所述的热响应时间获取方法。
[0030]第四方面，本申请提供一种测试系统，所述测试系统包括：脉冲电源、测试模块、数据采集器和处理装置；所述测试模块包括平衡电桥，所述平衡电桥包括测试臂、比较臂，所述测试臂包括待测探测器和第一定值电阻，所述比较臂包括第二定值电阻和可变电阻，所述数据采集器的输入端与所述测试模块的输出端连接，所述数据采集器的输出端与所述处理装置连接。
[0031]所述处理装置，用于执行如第一方面中任一项所述的热响应时间获取方法。
[0032]第五方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，包括：所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如第一方面中任一项所述的热响应时间获取方法。
[0033]第六方面，本申请提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被所述处理器执行时实现如第一方面任一项所述的热响应时间获取方法。
[0034]第七方面，本申请提供一种芯片，所述芯片上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述芯片执行时，实现如第一方面任一项所述的热响应时间获取方法。
[0035]本申请提供的热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质，通过将温度与时间的关系等效替代为电压与时间的关系，进而利用脉冲电源和平衡电桥构成的测试系统获取到待测探测器的电压随时间的变化曲线，进而获取热响应时间，可以避免采用机械斩波器等对探测器测试造成的不利影响，使得探测器的热响应时间的测试更加便捷、精准，同时可以避免由电压转换到温度进行计算，使计算更加简便、精准。
附图说明
[0036]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
[0037]图1为本申请实施例提供的一种测试系统的系统架构示意图；
[0038]图2为本申请实施例提供的一种测试系统的电路连接示意图；
[0039]图3为本申请实施例提供的一种热响应时间获取方法的流程示意图；
[0040]图4为本申请实施例提供的一种电压随时间变化曲线的示意图；
[0041]图5为本申请实施例提供的另一种热响应时间的获取方法的流程示意图；
[0042]图6为本申请实施例提供的一种处理装置的结构示意图；
[0043]图7为本申请实施例提供的一种电子设备700的结构示意图。
[0044]通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种热响应时间获取方法，其特征在于，测试系统包括脉冲电源、测试模块、数据采集器和处理装置，所述测试模块包括平衡电桥，所述平衡电桥包括测试臂、比较臂，所述测试臂包括待测探测器和第一定值电阻，所述比较臂包括第二定值电阻和可变电阻，所述数据采集器的输入端与所述测试模块的输出端连接，所述数据采集器的输出端与所述处理装置连接，所述方法应用于所述处理装置，所述方法包括：在所述脉冲电源为所述测试模块提供脉冲电压时，获取所述数据采集器采集的多个输出电压值；所述输出电压值用于表征所述待测探测器两端的电压变化值；根据多个所述输出电压值，获取所述输出电压值随时间的变化曲线；根据所述输出电压值随时间的变化曲线，获取所述待测探测器的热响应时间；输出所述热响应时间。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据多个所述输出电压值，获取所述输出电压值随时间的变化曲线，包括：获取所述脉冲电源的脉冲周期；获取所述脉冲电源在每个脉冲周期为所述测试模块提供脉冲电压时，所述数据采集器采集的多个所述输出电压值；根据所述脉冲电源在每个脉冲周期为所述测试模块提供脉冲电压时，所述数据采集器采集的多个所述输出电压值，获取多个脉冲周期内所述输出电压值随时间的变化曲线。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述输出电压值随时间的变化曲线，获取所述待测探测器的热响应时间，包括：根据各所述输出电压值随时间的变化曲线，确定各变化曲线中与所述待测探测器的初始电压相差预设差值的电压对应的时间；根据各变化曲线对应的时间，确定所述待测探测器的热响应时间。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据各变化曲线对应的时间，确定所述待测探测器的热响应时间，包括：将各变化曲线对应的时间的平均值，作为所述待测探测器的热响应时间。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：调节所述测试系统的测试参数，所述测试参数包括：所述脉冲电源的电压输出值，和/或，所述可...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔晋彬，
申请(专利权)人：上海集成电路研发中心有限公司，
类型：发明
国别省市：