检测芯片及其制备方法和进样方法技术

一种检测芯片，其中，包括：微腔限定层(1)，其上设置有贯穿微腔限定层(1)的多个微孔(1a)；透气阻液层(2)，位于微腔限定层(1)的一侧且完全覆盖微孔(1a)的一侧开口，透气阻液层(2)配置为允许气体透过且阻止液体透过。还提供了一种检测芯片的其制备方法和检测芯片的进样方法。进样方法。进样方法。进样方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：彭康，范蓓媛，丁丁，
申请(专利权)人：北京京东方技术开发有限公司，
类型：发明
国别省市：