一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备技术方案

本申请公开一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备，涉及芯片测试技术领域。系统包括：仪器配置模块、寄存器读写模块、单元测试模块、数据分析处理模块和自动化测试模块；所述仪器配置模块分别和所述单元测试模块和所述寄存器读写模块连接；所述单元测试模块和所述数据分析处理模块连接；所述自动化测试模块和所述单元测试模块连接，可以减少了复杂繁琐的人工测试可能引入的各种问题，实现了芯片物理IP的各项测试，测试也变得更加快速和灵活，极大缩短了测试周期，加快整体芯片上市时间，通过图形化界面减少测试人员学习成本，支持研发测试计划导入，测试用例单元化管理及自动化执行，低代码用例开发，更加有效地实现测试数据分析与探索。与探索。与探索。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备


[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备。

技术介绍

[0002]随着我国在智能驾驶、人工智能（Artificial Intelligence，AI）、5G等应用技术方向上的创新突破与市场的快速增长，半导体已经在高速发展中逐渐迈向高端、复杂的芯片应用场景。
[0003]半导体网际协议（Internet Protocol，IP）行业处于产业链最上游，为芯片设计提供基本模块。按产品类型分，半导体IP常见分类为处理器IP、接口IP、物理IP与数字IP，往下细分又可分为处理器、接口、模拟、基础、安全IP以及SoC架构和IP加速。物理IP可分为射频IP与数模混合IP。其中，物理接口类IP，如DDR控制器IP等也可归为接口类IP，在IPnest的行业统计口径中并入到接口IP类别中。物理IP当中数模混合IP种类较多，包括SoC子系统、数据接口、存储、单元库以及模拟IP等。
[0004]IP核及供应商生态圈可降低芯片开发成本，提升开发效率。SoC开发成本可拆解为IP资格、SoC设计、验证、物理设计、软件、原型、确认与测试几部分，其中成本主要来源于验证、软件、SoC设计与物理设计，四类成本占比总计91%，而半导体IP将应用于芯片设计、物理设计以及IP验证等多个环节，是芯片开发成本中的重要一环。面对这些趋势，测试作为覆盖芯片产品生命周期的性能与质量的重要关卡，也是数据收集的重要手段，测试创新将直接加速芯片研发的进程与质量管控高效落地。面对IP功能的快速扩展，测试人员能力不足而导致的测试项目延迟、效率低下，从而影响整体芯片的上市时间，也影响了芯片的质量，缩短上市时间是半导体IP首要需求来源。
[0005]因此，亟需一种芯片物理IP测试系统来提高测试效率和质量，以及缩短芯片上市时间。

技术实现思路

[0006]本申请的目的在于提供一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备，以解决现有测试效率较低和质量较差，以及芯片上市时间较长的问题。
[0007]第一方面，本申请提供一种芯片物理IP测试系统，所述系统应用于开源集成开发环境中，所述系统包括：仪器配置模块、寄存器读写模块、单元测试模块、数据分析处理模块和自动化测试模块；其中，所述仪器配置模块分别和所述单元测试模块和所述寄存器读写模块连接；所述单元测试模块和所述数据分析处理模块连接；所述自动化测试模块和所述单元测试模块连接；所述仪器配置模块，用于确定待测试仪器或待测试芯片对应的通信接口；
所述寄存器读写模块，用于基于所述待测试芯片对应的支持读写的寄存器信息确定目标读写命令；所述单元测试模块，用于基于每一个测试用例对应的自动化执行的单位测试代码，对所述待测试仪器或所述待测试芯片进行控制和读写；所述数据分析处理模块，用于确定测试过程中的测试数据类型，基于所述测试数据类型进行数据分析，确定数据分析结果并生成测试报告；所述自动化测试模块，用于设置执行逻辑，响应用户输入的目标执行逻辑命令基于所述执行逻辑编辑自动化测试序列。
[0008]采用上述技术方案的情况下，本申请实施例提供的芯片物理IP测试系统，包括：仪器配置模块、寄存器读写模块、单元测试模块、数据分析处理模块和自动化测试模块；其中，所述仪器配置模块分别和所述单元测试模块和所述寄存器读写模块连接；所述单元测试模块和所述数据分析处理模块连接；所述自动化测试模块和所述单元测试模块连接；所述仪器配置模块，用于确定待测试仪器或待测试芯片对应的通信接口；所述寄存器读写模块，用于基于所述待测试芯片对应的支持读写的寄存器信息确定目标读写命令；所述单元测试模块，用于基于每一个测试用例对应的自动化执行的单位测试代码，对所述待测试仪器或所述待测试芯片进行控制和读写；所述数据分析处理模块，用于确定测试过程中的测试数据类型，基于所述测试数据类型进行数据分析，确定数据分析结果并生成测试报告；所述自动化测试模块，用于设置执行逻辑，响应用户输入的目标执行逻辑命令基于所述执行逻辑编辑自动化测试序列，减少了复杂繁琐的人工测试可能引入的各种问题，实现了芯片物理IP的各项测试，测试也变得更加快速和灵活，极大的缩短了测试周期，从而加快整体芯片上市时间，相比于现有单点工具可以更加快速的实现各环节研发与测试协同，通过图形化界面减少测试人员的学习成本，支持研发测试计划导入，测试用例单元化管理及自动化执行，低代码用例开发，更加有效地实现测试数据分析与探索。
[0009]在一种可能的实现方式中，所述仪器配置模块，用于确定待测试仪器或待测试芯片对应的通信接口，包括：所述仪器配置模块，用于对待测试仪器或待测试芯片进行分类，基于预存的测试仪器和芯片对应的通信协议集合将多个通信协议地址化处理，得到通信协议地址集合；所述仪器配置模块，还用于确定所述待测试仪器或所述待测试芯片对应的当前通信地址，基于所述当前通信地址调用所述通信协议地址集合中对应的通信接口。
[0010]在一种可能的实现方式中，所述寄存器读写模块，用于基于所述待测试芯片对应的支持读写的寄存器信息确定目标读写命令，包括：所述寄存器读写模块，用于提供所述待测试芯片对应的支持读写的寄存器信息，通过所述寄存器信息确定目标寄存器地址进行读写操作，根据所述待测试芯片和对应的通信协议确定目标读写命令，将所述目标读写命令和所述待测试芯片返回的信息打印至日志窗口并存档。
[0011]在一种可能的实现方式中，所述数据分析处理模块，还用于响应用户输入的查看数据指令，显示所述测试报告对应的数据。
[0012]在一种可能的实现方式中，在所述自动化测试模块，还用于设置定时执行自动化测试，导入导出测试序列。
[0013]第二方面，本申请还提供一种芯片物理IP测试方法，应用于第一方面任一所述的芯片物理IP测试系统中，所述方法包括：所述仪器配置模块确定待测试仪器或待测试芯片对应的通信接口；所述寄存器读写模块基于所述待测试芯片对应的支持读写的寄存器信息确定目标读写命令；所述单元测试模块基于每一个测试用例对应的自动化执行的单位测试代码，对所述待测试仪器或所述待测试芯片进行控制和读写；所述数据分析处理模块确定测试过程中的测试数据类型，基于所述测试数据类型进行数据分析，确定数据分析结果并生成测试报告；所述自动化测试模块设置执行逻辑，响应用户输入的目标执行逻辑命令基于所述执行逻辑编辑自动化测试序列。
[0014]在一种可能的实现方式中，所述仪器配置模块确定待测试仪器或待测试芯片对应的通信接口，包括：所述仪器配置模块对待测试仪器或待测试芯片进行分类，基于预存的测试仪器和芯片对应的通信协议集合将多个通信协议地址化处理，得到通信协议地址集合；所述仪器配置模块确定所述待测试仪器或所述待测试芯片对应的当前通信地址，基于所述当前通信地址调用所述通信协议地址集合中对应的通信接口。
[0015]在一种可能的实现方式中，所述寄存器读写模块基于所述待测试芯片对应的支持读写的寄存器信息确定目标读写命令，包括：所述寄存器读写模块提供所述待测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片物理IP测试系统，其特征在于，所述系统应用于开源集成开发环境中，所述系统包括：仪器配置模块、寄存器读写模块、单元测试模块、数据分析处理模块和自动化测试模块；其中，所述仪器配置模块分别和所述单元测试模块和所述寄存器读写模块连接；所述单元测试模块和所述数据分析处理模块连接；所述自动化测试模块和所述单元测试模块连接；所述仪器配置模块，用于确定待测试仪器或待测试芯片对应的通信接口；所述寄存器读写模块，用于基于所述待测试芯片对应的支持读写的寄存器信息确定目标读写命令；所述单元测试模块，用于基于每一个测试用例对应的自动化执行的单位测试代码，对所述待测试仪器或所述待测试芯片进行控制和读写；所述数据分析处理模块，用于确定测试过程中的测试数据类型，基于所述测试数据类型进行数据分析，确定数据分析结果并生成测试报告；所述自动化测试模块，用于设置执行逻辑，响应用户输入的目标执行逻辑命令基于所述执行逻辑编辑自动化测试序列。2.根据权利要求1所述的芯片物理IP测试系统，其特征在于，所述仪器配置模块，用于确定待测试仪器或待测试芯片对应的通信接口，包括：所述仪器配置模块，用于对待测试仪器或待测试芯片进行分类，基于预存的测试仪器和芯片对应的通信协议集合将多个通信协议地址化处理，得到通信协议地址集合；所述仪器配置模块，还用于确定所述待测试仪器或所述待测试芯片对应的当前通信地址，基于所述当前通信地址调用所述通信协议地址集合中对应的通信接口。3.根据权利要求1所述的芯片物理IP测试系统，其特征在于，所述寄存器读写模块，用于基于所述待测试芯片对应的支持读写的寄存器信息确定目标读写命令，包括：所述寄存器读写模块，用于提供所述待测试芯片对应的支持读写的寄存器信息，通过所述寄存器信息确定目标寄存器地址进行读写操作，根据所述待测试芯片和对应的通信协议确定目标读写命令，将所述目标读写命令和所述待测试芯片返回的信息打印至日志窗口并存档。4.根据权利要求1所述的芯片物理IP测试系统，其特征在于，所述数据分析处理模块，还用于响应用户输入的查看数据指令，显示所述测试报告对应的数据。5.根据权利要求1所述的芯片物理IP测试系统，其特征在于，在所述自动化测试模块，还用于设置定时执行自动化测试，导入导出测试序列。6.一种芯片物理IP测试方法，其特征在于，应用于权利要求1
...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：成都爱旗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：