一种高稳定性电气元件测试冶具制造技术

本实用新型专利技术提供一种高稳定性电气元件测试冶具，涉及电气元件测试技术领域。包括测试台，测试台一侧设有升降台、另一侧设有测试组件，升降台上设有夹持组件，测试台上开有与测试组件相配合的滑槽，测试组件包括滑动设置在滑槽内的滑块一，滑块一顶部固接有固定块，滑块一上开有相互连通的通孔二和通孔三，通孔三内设有活动环和固定环，活动环与固定环之间固接有弹簧四，固定块开有与通孔三相连通的通孔一，通孔一侧壁绕周向等角度开有插槽，插槽内活动插设有夹持板，夹持板与插槽内壁之间固接有弹簧二。本实用新型专利技术通过测试组件和夹持组件的设置，解决了现有电气元件测试时效率低、稳定性差的问题。定性差的问题。定性差的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种高稳定性电气元件测试冶具


[0001]本技术提供一种高稳定性电气元件测试冶具，涉及电气元件测试


技术介绍

[0002]电气元件一般指电子元件(电子电路中的基本元素)，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，例如：放大器、无线电接收机、振荡器等，连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上。电子元件也许是单独的封装(电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管等)，或是各种不同复杂度的群组，例如：集成电路(运算放大器、排阻、逻辑门等)。电气元件生产厂家在电子元件出厂前需要对其进行检测，确保出厂电子元件的品质，测试时通常会使用到数字万用表上的指针探头与电子元件的引脚贴靠读取数值来进行判断。同一检测工位的检测人员往往是批量检测同一规格的电气元件，手动检测效率较低，且数字万用表的两指针探头接触待测引脚的过程中，指针探头的接触受限于操作者的使用水平，有的检测员用力较大会使指针探头损坏三极管的引脚，导致测试结果存在波动，稳定性较差，为此，我们提出一种高稳定性电气元件测试冶具。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本技术提供一种高稳定性电气元件测试冶具，通过测试组件和夹持组件的设置，解决了现有电气元件测试时效率低、稳定性差的问题。
[0004]本技术提供一种高稳定性电气元件测试冶具，包括测试台，所述测试台一侧设有升降台、另一侧设有测试组件，所述升降台上设有夹持组件，所述测试台上开有与测试组件相配合的滑槽，所述测试组件包括滑动设置在滑槽内的滑块一，所述滑块一顶部固接有固定块，所述滑块一上开有相互连通的通孔二和通孔三，所述通孔三和通孔二垂直设置，所述通孔三沿纵向设置，所述通孔三内设有活动环和固定环，所述活动环设置在固定环的上方，所述活动环与固定环之间固接有弹簧四，所述固定环与通孔三内壁固接，所述活动环与通孔三滑动连接，所述固定块开有与通孔三相连通的通孔一，所述通孔一侧壁绕周向等角度开有插槽，所述插槽内活动插设有夹持板，所述夹持板与插槽内壁之间固接有弹簧二。
[0005]作为本技术的一项优选方案，所述滑槽沿长度方向固接有连接棱，所述连接棱的顶部固接有齿条一，所述滑块一的底部开有与连接棱和齿条一相配合的凹槽，且凹槽一侧设有空腔，所述空腔内设有齿条二，所述齿条二与齿条一相啮合，所述齿条二远离齿条一的一侧固接有弹簧三和连杆一，所述弹簧三远离齿条二的一端与空腔内壁固接，所述连杆一远离齿条二的一端伸出至滑块一外并固接有连接板，所述连接板上固接有拉环。
[0006]作为本技术的一项优选方案，所述测试组件设置有若干个。
[0007]作为本技术的一项优选方案，所述升降台与测试台之间固接有电动推杆。
[0008]作为本技术的一项优选方案，所述夹持组件包括固接在升降台一侧的刹车电机，所述升降台为中空结构，所述刹车电机的输出轴伸入升降台内并同轴固接有双向丝杠，
所述双向丝杠外对称套设有滑块二并与滑块二形成螺纹传动，所述滑块二的顶部固接有连杆二，所述连杆二远离滑块二的一端向上贯穿升降台顶部并固接有固定板，所述升降台顶部开有与连杆二相配合的长圆孔，所述固定板相对的一侧均固接有弹簧一，所述弹簧一远离固定板的一端固接有挤压板。
[0009]作为本技术的一项优选方案，所述挤压板相对的一侧均固接有橡胶垫。
[0010]作为本技术的一项优选方案，所述夹持板外侧包裹有橡胶层。
[0011]本技术的有益效果：
[0012]本技术提供一种高稳定性电气元件测试冶具，通过测试组件的设置，能够对测试用数字万用表的指针探头进行固定，并缓冲指针探头的探针与电气元件的引脚之间的接触，防止测试人员用力过猛导致探针划伤引脚，从而使得测试过程更加稳定，测试结果更加稳定可靠，同时通过夹持组件的设置，进一步对电气元件本身进行固定，进一步提升了测试时的稳定性。
[0013]测试组件可在滑槽内滑动，从而能够根据电气元件的引脚数调节测试组件的位置，实用性更强。
附图说明
[0014]图1为本技术一种高稳定性电气元件测试冶具的俯视图。
[0015]图2为本技术一种高稳定性电气元件测试冶具的左视图。
[0016]图3为本技术一种高稳定性电气元件测试冶具的测试组件结构示意图。
[0017]图4为本技术一种高稳定性电气元件测试冶具的夹持组件结构示意图。
[0018](1、滑槽；2、齿条一；3、滑块一；4、测试台；5、升降台；6、固定板；7、刹车电机；8、弹簧一；9、挤压板；10、长圆孔；11、固定块；12、电动推杆；13、通孔一；14、弹簧二；15、活动环；16、通孔二；17、连接棱；18、齿条二；19、弹簧三；20、连杆一；21、连接板；22、空腔；23、通孔三；24、固定环；25、弹簧四；26、夹持板；27、滑块二；28、双向丝杠；29、连杆二)
具体实施方式
[0019]下面将结合附图，对本技术的优选实施例进行详细的描述。
[0020]图1至图4所示为本技术的实施例。
[0021]实施例一
[0022]本技术提供一种高稳定性电气元件测试冶具，包括测试台4，所述测试台4一侧设有升降台5、另一侧设有测试组件，所述测试组件设置有若干个，所述测试台4上开有与测试组件相配合的滑槽1，所述测试组件包括滑动设置在滑槽1内的滑块一3，所述滑块一3顶部固接有固定块11，所述滑块一3上开有相互连通的通孔二16和通孔三23，所述通孔三23和通孔二16垂直设置，所述通孔三23沿纵向设置，所述通孔三23内设有活动环15和固定环24，所述活动环15设置在固定环24的上方，所述活动环15与固定环24之间固接有弹簧四25，所述固定环24与通孔三23内壁固接，所述活动环15与通孔三23滑动连接，所述固定块11开有与通孔三23相连通的通孔一13，所述通孔一13侧壁绕周向等角度开有插槽，所述插槽内活动插设有夹持板26，所述夹持板26与插槽内壁之间固接有弹簧二14。具体地，固定环24和活动环15仅能够使指针探头的探针通过，则当探针通过活动环15时，会带动活动环15向下
移动，对弹簧四25进行挤压，通过弹簧四25减缓探针与引脚的接触，防止检测人员使用探头时用力较大对引脚进行损坏，从而避免测试结果出现波动，使测试结果更加稳定可靠。
[0023]进一步地，本实施例中所述滑槽1沿长度方向固接有连接棱17，所述连接棱17的顶部固接有齿条一2，所述滑块一3的底部开有与连接棱17和齿条一2相配合的凹槽，且凹槽一侧设有空腔22，所述空腔22内设有齿条二18，所述齿条二18与齿条一2相啮合，所述齿条二18远离齿条一2的一侧固接有弹簧三19和连杆一20，所述弹簧三19远离齿条二18的一端与空腔22内壁固接，所述连杆一20远离齿条二18的一端伸出至滑块一3外并固接有连接板21，所述连接板21上固接有拉环。具体地，向外侧拉动拉环，通过连杆一20拉本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高稳定性电气元件测试冶具，其特征在于：包括测试台，所述测试台一侧设有升降台、另一侧设有测试组件，所述升降台上设有夹持组件，所述测试台上开有与测试组件相配合的滑槽，所述测试组件包括滑动设置在滑槽内的滑块一，所述滑块一顶部固接有固定块，所述滑块一上开有相互连通的通孔二和通孔三，所述通孔三和通孔二垂直设置，所述通孔三沿纵向设置，所述通孔三内设有活动环和固定环，所述活动环设置在固定环的上方，所述活动环与固定环之间固接有弹簧四，所述固定环与通孔三内壁固接，所述活动环与通孔三滑动连接，所述固定块开有与通孔三相连通的通孔一，所述通孔一侧壁绕周向等角度开有插槽，所述插槽内活动插设有夹持板，所述夹持板与插槽内壁之间固接有弹簧二。2.根据权利要求1所述的一种高稳定性电气元件测试冶具，其特征在于：所述滑槽沿长度方向固接有连接棱，所述连接棱的顶部固接有齿条一，所述滑块一的底部开有与连接棱和齿条一相配合的凹槽，且凹槽一侧设有空腔，所述空腔内设有齿条二，所述齿条二与齿条一相啮合，所述齿条二远离齿条一的一侧固接有弹簧三和连杆一，所述弹簧三远离齿条二的一端与...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘尚明，
申请(专利权)人：济南良格机械设备有限公司，
类型：新型
国别省市：