显示面板制造技术

本发明专利技术涉及一种显示面板。显示面板可以包括：多个像素，各自包括发光元件以及驱动所述发光元件的像素电路；多个扫描线，连接于所述像素电路；以及数据线，连接于所述像素电路，所述像素电路包括：传输电容器，连接于第一节点以及第二节点；第一电路部分，包括所述第一节点；第二电路部分，包括所述第二节点，并与所述发光元件连接；以及测试部，连接于所述第一电路部分和所述第二电路部分。路部分和所述第二电路部分。路部分和所述第二电路部分。

【技术实现步骤摘要】
显示面板


[0001]本专利技术涉及一种显示面板。

技术介绍

[0002]显示面板包括多个像素以及控制其的驱动电路(例如，扫描驱动电路、数据驱动电路以及发光驱动电路)。多个像素各自包括发光元件以及控制发光元件的像素电路。像素电路可以包括有机地连接的多个薄膜晶体管。提供至发光元件的驱动电流通过多个薄膜晶体管控制。因此，在多个薄膜晶体管不正常地工作，或者连接其的布线截断或短路的情况下，驱动电流无法正常地提供至发光元件。因此，可以检查像素电路的薄膜晶体管的正常工作与否而修理缺陷或者使得不进行后续工艺。

技术实现思路

[0003]本专利技术的一目的在于提供一种包括在显示面板中的像素电路的检查方法。
[0004]本专利技术的一目的在于提供一种具有可测试的像素电路的显示面板。
[0005]可以是，根据本专利技术的一实施例的显示面板包括：多个像素，各自包括发光元件以及驱动所述发光元件的像素电路；多个扫描线，连接于所述像素电路；以及数据线，连接于所述像素电路，所述像素电路包括：传输电容器，连接于第一节点以及第二节点；第一电路部分，包括所述第一节点；第二电路部分，包括所述第二节点，并与所述发光元件连接；以及测试部，连接于所述第一电路部分和所述第二电路部分。
[0006]可以是，所述测试部包括测试薄膜晶体管，所述测试薄膜晶体管包括：第一电极，连接于所述第一节点；第二电极，连接于所述第二节点；以及栅极电极。
[0007]可以是，所述显示面板还包括：测试线，连接于所述测试薄膜晶体管的所述栅极电极，在所述测试线提供控制所述测试薄膜晶体管的工作的测试信号。
[0008]可以是，所述测试部包括：第一布线部分，连接于所述第一节点；以及第二布线部分，连接于所述第二节点，所述第一布线部分和所述第二布线部分彼此电绝缘。
[0009]可以是，所述显示面板还包括：第一至第六驱动电压线，连接于所述像素电路以及所述发光元件，所述第一电路部分包括：开关薄膜晶体管，连接于所述第一节点与所述数据线之间；保持电容器，连接于所述第一节点与所述第一驱动电压线之间；以及传输薄膜晶体管，连接于所述第一节点与所述第三驱动电压线之间，向所述第一驱动电压线提供第一电源电压，并向所述第三驱动电压线提供基准电压。
[0010]可以是，所述测试部包括测试薄膜晶体管，所述测试薄膜晶体管包括：第一电极，连接于所述数据线；第二电极，连接于所述第二节点；以及栅极电极。
[0011]可以是，所述第二电路部分包括：驱动薄膜晶体管，包括连接于所述第二节点的栅极电极、第一电极以及第二电极；补偿薄膜晶体管，连接于所述第二节点和所述驱动薄膜晶体管的所述第二电极；第一初始化薄膜晶体管，连接于所述第二节点和所述第四驱动电压线；发光控制薄膜晶体管，连接于所述驱动薄膜晶体管的所述第二电极与所述发光元件之
间；工作控制薄膜晶体管，连接于所述驱动薄膜晶体管的所述第一电极与所述第一驱动电压线之间；第二初始化薄膜晶体管，连接于所述发光元件和所述第五驱动电压线；以及偏置薄膜晶体管，连接于所述驱动薄膜晶体管的所述第一电极和所述第六驱动电压线。
[0012]可以是，所述测试部包括测试薄膜晶体管，所述测试薄膜晶体管包括：第一电极，连接于所述第一节点；第二电极，连接于所述驱动薄膜晶体管的所述第二电极；以及栅极电极。
[0013]可以是，所述测试薄膜晶体管的所述栅极电极连接于所述多个扫描线中的一个扫描线。
[0014]可以是，所述显示面板还包括：测试线，连接于所述测试薄膜晶体管的所述栅极电极，在所述测试线提供控制所述测试薄膜晶体管的工作的测试信号。
[0015]可以是，根据本专利技术的一实施例的显示面板测试方法包括：将测试电压提供于像素电路的步骤，所述像素电路具有：传输电容器；第一电路部分，电连接于所述传输电容器的第一电极；以及第二电路部分，电连接于所述传输电容器的第二电极；以及测定传输至连接于所述像素电路的至少一个布线的信号的步骤。
[0016]可以是，所述像素电路还包括：测试部，连接于所述第一电路部分和所述第二电路部分，所述测试电压提供至所述第二电路部分，所述至少一个布线连接于所述第一电路部分，所述信号为经过所述第二电路部分以及所述测试部而传输至所述第一电路部分的信号。
[0017]可以是，所述测试电压通过连接于所述第一电路部分的数据线提供，所述测试电压包括黑色灰度电压以及白色灰度电压，测定所述信号的步骤包括：当提供所述黑色灰度电压时，通过连接于所述第二电路部分的所述至少一个布线而感测所述信号的第一电流的步骤；当提供所述白色灰度电压时，通过连接于所述第二电路部分的所述至少一个布线而感测所述信号的第二电流的步骤；以及将所述第一电流以及所述第二电流转换为电压而判断所述像素电路的异常的步骤。
[0018]可以是，所述像素电路还包括：测试部，连接于所述第一电路部分和所述第二电路部分，所述测试部包括测试薄膜晶体管，所述测试薄膜晶体管包括：第一电极，连接于所述第一电路部分；第二电极，连接于所述第二电路部分；以及栅极电极，在所述栅极电极提供测试用直流信号。
[0019]可以是，所述像素电路还包括：测试部，连接于所述第一电路部分和所述第二电路部分，所述测试部包括测试薄膜晶体管，所述测试薄膜晶体管包括：第一电极，连接于所述第一电路部分；第二电极，连接于所述第二电路部分；以及栅极电极，在所述栅极电极提供测试用交流信号。
[0020]可以是，所述像素电路还包括：测试部，连接于所述第一电路部分和所述第二电路部分，所述测试部包括测试薄膜晶体管，所述测试薄膜晶体管包括：第一电极，连接于所述第一电路部分；第二电极，连接于所述第二电路部分；以及栅极电极，在所述栅极电极提供向所述像素电路提供的多个扫描信号中的一个扫描信号。
[0021]可以是，所述像素电路还包括：测试部，连接于所述第一电路部分和所述第二电路部分，所述测试部包括：布线，直接连接于所述第一电路部分以及所述第二电路部分。
[0022]可以是，所述像素电路还包括：测试部，连接于所述第一电路部分和所述第二电路
部分，所述显示面板测试方法还包括：在测定所述信号后，去除所述测试部的至少一部分的步骤。
[0023]可以是，所述像素电路以及通过所述像素电路控制工作的发光元件与第一至第六驱动电压线连接，所述第一电路部分包括：开关薄膜晶体管，连接于第一节点与数据线之间；保持电容器，连接于所述第一节点与所述第一驱动电压线之间；以及传输薄膜晶体管，连接于所述第一节点与所述第三驱动电压线之间，所述第二电路部分包括：驱动薄膜晶体管，包括连接于第二节点的栅极电极、第一电极以及第二电极；补偿薄膜晶体管，连接于所述第二节点和所述驱动薄膜晶体管的所述第二电极；第一初始化薄膜晶体管，连接于所述第二节点和所述第四驱动电压线；发光控制薄膜晶体管，连接于所述驱动薄膜晶体管的所述第二电极与所述发光元件之间；工作控制薄膜晶体管，连接于所述驱动薄膜晶体管的所述第一电极与所述第一驱动电压线之间；第二初始化薄膜晶体管本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其中，包括：多个像素，各自包括发光元件以及驱动所述发光元件的像素电路；多个扫描线，连接于所述像素电路；以及数据线，连接于所述像素电路，所述像素电路包括：传输电容器，连接于第一节点以及第二节点；第一电路部分，包括所述第一节点；第二电路部分，包括所述第二节点，并与所述发光元件连接；以及测试部，连接于所述第一电路部分和所述第二电路部分。2.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述测试部包括测试薄膜晶体管，所述测试薄膜晶体管包括：第一电极，连接于所述第一节点；第二电极，连接于所述第二节点；以及栅极电极。3.根据权利要求2所述的显示面板，其中，所述显示面板还包括：测试线，连接于所述测试薄膜晶体管的所述栅极电极，在所述测试线提供控制所述测试薄膜晶体管的工作的测试信号。4.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述测试部包括：第一布线部分，连接于所述第一节点；以及第二布线部分，连接于所述第二节点，所述第一布线部分和所述第二布线部分彼此电绝缘。5.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述显示面板还包括：第一至第六驱动电压线，连接于所述像素电路以及所述发光元件，所述第一电路部分包括：开关薄膜晶体管，连接于所述第一节点与所述数据线之间；保持电容器，连接于所述第一节点与所述第一驱动电压线之间；以及传输薄膜晶体管，连接于所述第一节点与所述第三驱动电压线之间，向所述第一驱动电压线提供第一电源电压，并向所述第三驱动电压线提供基...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴埈贤，姜章美，金亨锡，郑珉在，田武经，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：