本发明专利技术提供一种电光学装置。各单位电路（Ｕ）包括ＯＬＥＤ元件（１６）和控制其动作的控制电路（１５）。在检查端子（ＴＰａ１）输入为了试验性地驱动ＯＬＥＤ元件（１６）的检查信号。多个单位电路（Ｕ）之中，位于有效区域（Ａ）的边角的检查单位电路（Ｕｔ）连接了开关元件（４１）。此开关元件（４１）使检查单位电路（Ｕｔ）的ＯＬＥＤ元件（１６）和检查端子（ＴＰａ１）电绝缘的关断状态切换为检查单位电路（Ｕｔ）的ＯＬＥＤ元件（１６）和检查端子（ＴＰａ１）电导通的导通状态。由此，能有效地检查包括电光学装置和控制电路的多个单位电路。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及检査利用了从电作用变换为光学作用的元件或者从光学 作用变换为电作用的元件(以下总称为"电光学元件")的电光学装置的 技术。
技术介绍
利用了液晶和有机发光二极管元件(以下称为"OLED (有机发光二 极管)元件")等的电光学元件的电光学装置广泛普及。例如，由薄膜晶 体管等的开关元件控制电光学元件的动作的多个单位电路(像素电路)以 平面状配置的有源矩阵型的电光学装置以前就被提出。在这种电光学装置 中，各单位电路的特性(例如开关元件的电特性)的误差特别成问题。为 了解决此问题，例如在专利文献l中，记载了和单位电路分别形成与在各 单位电路中所包含的开关元件具有同样构成的开关元件，通过检査其电特 性检査各单位电路的特性的技术。但是，在作为电光学元件利用了液晶的电光学装置中，由于液晶本身 的特性对于全部的单位电路是大致相同的，所以只要检査各单位电路之中 开关元件的特性，就能够对于全部的单位电路判断特性差异的有无。但是， 在电光学元件是对每个单位电路分别形成的电光学装置中，不只是开关元 件的特性，电光学元件的特性也有存在差异的可能性，所以只检查开关元 件特性的优良，作为单位电路全体的检査来说是不充分的。例如，由喷墨 法和真空蒸镀法这样的方法形成作为电光学元件的OLED元件的情况下， 各单位电路中OLED元件的特性虽然产生不少的差异，但根据专利文献1 中记载的技术不能检查到各单位电路的OLED元件的特性。还有，这样的问题不只是存在于从电作用变换为光学作用(例如亮度)的OLED元件等 的电光学元件中，在利用为了从光学作用变换为电作用的电光学元件(例 如，输出和受光量相对应的电信号的光电检测元件)的电光学装置中也产 生同样的问题。专利文献h特幵平11-167123号公报(段0019以及图1)
技术实现思路
本专利技术是鉴于这样的情况进行的专利技术，目的在于对排列了包括电光学 元件和控制它的控制电路的多个单位电路的电光学装置有效地进行检査。为了解决上述的问题，本专利技术包括分别具有电光学元件和控制该电 光学元件的控制电路的多个单位电路、输入为了驱动所述电光学元件的检 査信号的检查端子、能获取在所述多个单位电路之中作为检查对象被选择 的检查单位电路的电光学元件和所述检查端子之间设置的、使所述检查单 位电路的电光学元件和所述检查端子电绝缘的第1状态以及使所述检查单 位电路的所述电光学元件和所述检查端子电导通的第2状态的检查信号提 供元件。根据此构成，因为从检查端子输入的检査信号经由作为第2状态的检査信号提供元件被提供给检査单位电路的电光学元件，所以能只独立检査 单位电路之中电光学元件的特性。还有，本专利技术中所谓电光学元件是包括 从电作用变换为光学作用的元件以及从光学作用变换为电作用的元件两 方面的概念。关于前者的电光学元件是例如根据提供的电信号，光学特性 (例如亮度和透过率)产生变化的元件。这种电光学元件的典型例子有利用了发光聚合物和发光低分子材料的有机EL (电致发光)元件，但本发 明适用的范围不限定于此。另一方面，关于后者的电光学元件是例如根据 对该电光学元件的入射光的特性(例如入射光量)，输出电信号的元件。 这种电光学元件的典型例子有根据入射光的光量输出电信号的CCD(电荷 耦合器件)元件等的光电检测元件。在本专利技术的具体形式中，配置了输入检查指示信号的检查输入端子， 该检查指示信号指示电光学元件的检查的执行，检査信号提供元件是根据 从检查输入端子输入的检查指示信号，将第1状态以及第2状态的一种状态切换为另一种状态的开关元件。根据此形式，第1状态和第2状态由检 査指示端子被适当地切换，开关元件作为第2状态进行检查的另一方面， 在通常的使用状态下，通过将开关元件作为第1状态，抑制检查端子对检 查单位电路的影响(例如检查端子附带的寄生电容的影响和在检查端子产 生的噪声的影响)。另外，在其他的形式中，作为检査信号提供元件采用了通过赋予能量 从第l状态变化为第2状态的反熔丝。根据此构成，通过使反熔丝变化为 第2状态执行检查的另一方面，例如对于检査的必要性较少的电光学装置， 通过使反熔丝维持在第1状态这样，减少对于检查单位电路来说检査端子 的影响。还有，在本形式中，优选反熔丝和构成各单位电路的控制电路的 晶体管以共同的工艺形成。S卩，在更优选的形式中，各单位电路的控制电 路包括具有连接了布线层的半导体层、夹着栅绝缘膜与半导体层相对的栅 极的晶体管元件，反熔丝包括由和布线层相同的材料形成的、和检査单 位电路的电光学元件相连的第1端部、由和布线层相同的材料和第1端部 分离形成的、和检查端子相连的第2端部、由和栅极相同的材料形成的、 同时夹着栅绝缘膜、和第1端部以及第2端部相对的中间部。通过对中间部和第1端部以及第2端部相互相对的部分施加能量，第1端部和第2端部经由中间部导通。根据此形式，和由独立的工艺形成反熔丝的情况相比 较，能谋求制造工艺的简化和制造成本的降低。但是，以平面状排列的多个单位电路中的边缘部，特别是位于边角的 单位电路比位于其它位置的单位电路存在更容易产生特性误差的倾向。因 此，在本专利技术的优选形式中，在以平面状排列形成有效区域的多个单位电 路之中，将位于有效区域的边缘的单位电路作为检查单位电路选定。进一 步优选的是在多个单位电路之中，将位于成为大致矩形形状的有效区域的 边缘的单位电路作为检查单位电路。根据这样的形式，通过将位于有效区 域的边缘的单位电路作为检查的对象，能以更优良的精度判断电光学装置 是否良好。在其它的形式中，虚电光学元件被配置在有效区域的周围。在 电光学元件排列的区域中，存在位于边缘的电光学元件特别容易产生特性 误差的倾向。作为此倾向的根源，如果在有效区域的周围形成虚的电光学 元件，就能够使有效区域内的电光学元件的特性均一。还有，所谓虚的电光学元件是不具备电光学元件本来的功能(例如显示图像的功能和受光的 功能)的电光学元件，而不管是否对其配备控制电路。本专利技术中的有效区域是指和电光学装置本来的功能直接相关的单位 电路排列的区域。例如，在利用从电作用变换为光学作用的电光学元件显 示图像的电光学装置中，由使用者识别的图像实际被显示的区域(所谓显 示区域)作为有效区域这样来理解。另外，利用从光学作用变换为电作用 的电光学元件，在输出和受光量相对应的电信号的电光学装置中，将实际 接收作为向电信号变换的对象的光的区域作为有效区域这样来理解。在本专利技术的优选形式中，各单位电路的控制电路包括电光学元件、切 换和该控制电路的电导通以及非导通的开关元件(后面叙述的各实施方式 中的晶体管T3)。根据此形式，因为能在电光学元件的检查时，将该电光 学元件和控制电路电切断，所以能够排除控制电路的影响，更精度良好地 检査电光学元件的特性。在进一步其它的形式中，介于检査信号提供元件和检查端子之间的布 线包括相互隔离形成的多个第1布线部和由比各个第1布线部耐腐蚀性高 的材料形成的、使多个第l布线部的各个相互电连接的第2布线部。根据 这样的形式，由于各个第l布线部是相互隔离地形成的，所以能够防止在 检查端子侧的第1布线部产生的腐蚀扩散到检查信号提供元件和电光学元 件的情况。在这样的形式中，优选各个单位电路的控制电路包括具有和布 线层本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电光学装置，其特征在于，具备： 分别具有能够发光或者受光的电光学元件和控制该电光学元件的控制电路的多个单位电路； 被输入用于驱动所述电光学元件的检查信号的检查端子；和 检查信号提供元件，其被设置在所述多个单位电路之中作为检查对象被选择的检查单位电路的电光学元件与所述检查端子之间，取得第１状态和第２状态，其中第１状态是使所述检查单位电路的电光学元件与所述检查端子电绝缘的状态，第２状态是使所述检查单位电路的所述电光学元件与所述检查端子电导通的状态， 所述检查信号提供元件，在显示模式采用所述第１状态，在检查模式采用所述第２状态。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：今村阳一，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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