本发明专利技术提供一种适于检测多个微型发光元件的微型发光元件检测设备,其包括载台、导光模块以及感测模块。载台配置用以承载这些微型发光元件。导光模块设置在各个微型发光元件发出的光束的传递路径上,且包括多条光纤。每条光纤具有彼此远离的收光面的出光面。每条光纤的收光面对应至少一微型发光元件设置,且用以接收所述至少一微型发光元件发出的至少一光束。所述至少一光束在光纤内传输并经由其出光面出射。感测模块设置在多条光纤的多个出光面的一侧。感测模块用以接收并检测来自每条光纤的出光面的所述至少一光束,以取得至少一光学特性。特性。特性。
【技术实现步骤摘要】
微型发光元件检测设备
[0001]本专利技术涉及一种检测设备,尤其涉及一种微型发光元件检测设备。
技术介绍
[0002]微型发光二极管显示器除了低耗能及材料使用寿命长的优势外,还具有优异的光学表现,例如高色彩饱和度、应答速度快及高对比度。为了取得较低的生产成本与较大的产品设计裕度,微型发光二极管显示器的制造技术是采用晶粒转移的方式。例如:将预先制作好的微型发光二极管晶粒直接转移到驱动电路背板上的巨量转移(Mass transfer)技术。具体而言,晶粒制造商需先将客户所需的微型发光二极管晶粒制作(或放置)在暂存基板上,客户再依据不同的应用需求将存放在暂存基板上的微型发光二极管晶粒转移至不同产品的驱动电路板上。
[0003]为了检测这些存放在暂时基板上的微型发光二极管晶粒,现行的方法是利用探针卡(probe card)上的探针接触待测晶粒的电极或接垫并且提供测试电流及搭配诸如积分球的收光方式来取得微型发光二极管晶粒的光学特性。然而,随着微型发光二极管晶粒的尺寸越来越小,检测设备的精度需求也越来越高。此外,现行采用积分球来进行光学测量的过程中,每次只能点亮一个微型发光二极管晶粒。因此,巨量晶粒的测量会耗费冗长的时间才能完成。
技术实现思路
[0004]本专利技术是针对一种微型发光元件检测设备,能满足巨量微型发光元件的光电特性测量需求,且其检测方式较为弹性。
[0005]根据本专利技术的实施例,微型发光元件检测设备适于检测多个微型发光元件,且包括载台、导光模块以及感测模块。载台配置用以承载这些微型发光元件。各个微型发光元件发出光束。导光模块设置在各个微型发光元件的光束的传递路径上,且包括多条光纤。每条光纤具有彼此远离的收光面的出光面。每条光纤的收光面对应至少一微型发光元件设置,且用以接收所述至少一微型发光元件发出的至少一光束。所述至少一光束在光纤内传输并经由其出光面出射。感测模块设置在多条光纤的多个出光面的一侧。感测模块用以接收并检测来自每条光纤的出光面的所述至少一光束,以取得至少一光学特性。
[0006]根据本专利技术的实施例,微型发光元件检测设备适于检测多个微型发光元件,且包括载台、导光模块以及感测模块。载台配置用以承载这些微型发光元件。各个微型发光元件发出至少两光束。导光模块设置在每个微型发光元件发出的至少两光束的传递路径上,且包括多条光纤。每条光纤具有彼此远离的收光面的出光面。每个微型发光元件朝向至少两条光纤的至少两收光面分别发出至少两光束。所述至少两条光纤接收至少两光束并且在所述至少两条光纤的至少两出光面射出所述至少两光束。感测模块设置在多条光纤的多个出光面的一侧。感测模块用以接收并检测来自所述至少两条光纤的所述至少两光束,以取得至少一光学特性。
[0007]基于上述,在本专利技术的一实施例的微型发光元件检测设备中,多条光纤的独立设置可确保多个微型发光元件发出的多道光束在传送至感测模块的过程中不会彼此干扰。因此,在检测过程中,这些微型发光元件可同时被致能,且发出的多道光束可同时被感测模块接收并分析以取得这些光束各自的光学特性。除了能大幅缩减检测时间外,还能增加微型发光元件检测设备的检测弹性以满足不同的检测需求。
附图说明
[0008]图1是依照本专利技术的第一实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0009]图2是图1的微型发光元件检测设备的部分模块的上视示意图;
[0010]图3A及图3B是图1的导光模块的另一些变形实施例的立体示意图;
[0011]图4是依照本专利技术的第二实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0012]图5是图4的微型发光元件检测设备的部分模块的上视示意图;
[0013]图6A是依照本专利技术的第三实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0014]图6B是依照本专利技术的第四实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0015]图7A是依照本专利技术的第五实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0016]图7B是依照本专利技术的第六实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0017]图7C是依照本专利技术的第七实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0018]图8A是依照本专利技术的第八实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0019]图8B是依照本专利技术的第九实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图。
[0020]图9是依照本专利技术的第十实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0021]图10A是依照本专利技术的第十一实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0022]图10B是依照本专利技术的第十二实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0023]图11A是依照本专利技术的第十三实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图;
[0024]图11B是依照本专利技术的第十四实施例的微型发光元件检测设备的侧视示意图。
[0025]附图标记说明
[0026]10、10A、10B、10C、10D、10E、10F、10G、10H、10I、20、20A、30、30A:微型发光元件检测设备;
[0027]100、100A、100B、100C、100D、100E、100F、100G:导光模块;
[0028]110、110B、110C、110D、110
‑
1、110
‑
2、110
‑
3:光纤;
[0029]110es、110es
‑
A、110es
‑
B:出光面;
[0030]110rs:收光面;
[0031]112、112C、112D:核心层;
[0032]114、114B:包覆层;
[0033]150、150A、150B、150C:固定结构;
[0034]151、152、151A、151B:平板;
[0035]171、172、171A、172A:挡光结构;
[0036]181:集光元件;
[0037]183、183A、183B、183C、183D:聚光元件;
[0038]200、200A、200B:感测模块;
[0039]211、212、213:传感器;
[0040]251、252、253、251A、252A:滤光图案;
[0041]300、300A:驱动模块;
[0042]310:线路板;
[0043]CS、CS”:载台;
[0044]Da:直径;
[0045]f1:第一焦距;
[0046]f2:第二焦距;
[0047]IRZ、IRZ”:照射区域;
[0048]LB、LB1、LB2、LB3:光束;
[0049]MD、MD1、MD2、MD3、MD”:微型发光元件;
[0050]MDe1、MDe2、MDe3:发光面;
[0051]P1、P2、P3、P4、P2”、P3本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种微型发光元件检测设备,适于检测多个微型发光元件,其特征在于,包括:载台,配置用以承载所述多个微型发光元件,每一所述多个微型发光元件发出光束;导光模块,设置在每一所述多个微型发光元件的所述光束的传递路径上,且包括:多条光纤,各自具有彼此远离的收光面和出光面,每一所述多条光纤的所述收光面对应至少一所述多个微型发光元件设置,且用以接收所述至少一微型发光元件发出的至少一所述光束,所述至少一光束在所述多条光纤的一者内传输并经由所述出光面出射;以及感测模块,设置在所述多条光纤的多个所述出光面的一侧,所述感测模块用以接收并检测来自每一所述多条光纤的所述出光面的所述至少一光束,以取得至少一光学特性。2.根据权利要求1所述的微型发光元件检测设备,其特征在于,还包括:驱动模块,具有多个探针组,所述多个探针组适于分别电性连接所述多个微型发光元件的多个接垫组以驱动所述多个微型发光元件并取得至少一电学特性。3.根据权利要求1所述的微型发光元件检测设备,其特征在于,所述感测模块包括多个感测单元,每一所述多条光纤的所述出光面对应至少一所述多个感测单元设置,且自每一所述多条光纤的所述出光面出射的所述至少一光束被所述至少一感测单元接收。4.根据权利要求3所述的微型发光元件检测设备,其特征在于,每一所述多个感测单元包括第一传感器、第二传感器与第三传感器,所述多个感测单元与所述多条光纤的所述多个出光面之间设有多个第一滤光图案、多个第二滤光图案和多个第三滤光图案,所述多个第一滤光图案分别重叠于多个所述第一传感器,所述多个第二滤光图案分别重叠于多个所述第二传感器,所述多个第三滤光图案分别重叠于多个所述第三传感器。5.根据权利要求3所述的微型发光元件检测设备,其特征在于,自每一所述多条光纤的所述出光面出射的所述至少一光束被至少三个所述感测单元接收。6.根据权利要求3所述的微型发光元件检测设备,其特征在于,所述多个感测单元依第一节距沿着一个方向排列,所述多个微型发光元件依第二节距沿着所述方向排列,且所述第一节距不同于所述第二节距。7.根据权利要求6所述的微型发光元件检测设备,其特征在于,所述多条光纤的多个所述收光面依第三节距沿着所述方向排列,所述多条光纤的所述多个出光面依第四节距沿着所述方向排列,且所述第三节距不同于所述第四节距。8.根据权利要求1所述的微型发光元件检测...
【专利技术属性】
技术研发人员:林呈谦,
申请(专利权)人:錼创显示科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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