离线啜漏试验设备探测器系统技术方案

本发明专利技术公开一种离线啜漏试验设备探测器系统，其包括屏蔽体以及设于屏蔽体中的气体探测装置，该气体探测装置包括设置在屏蔽体中的取样腔室、设于取样腔室一侧的第一检测组件以及设于取样腔室另一侧的第二检测组件，该第一检测组件插入取样腔室通过检测β射线来检测Xe

【技术实现步骤摘要】
离线啜漏试验设备探测器系统


[0001]专利技术涉及核电站检修装置领域，尤其涉及一种离线啜漏试验设备探测器系统。

技术介绍

[0002]在反应堆换料期间，需使用离线啜漏试验设备探测器监测系统中的放射性惰性气体活度，评估燃料组件包壳完整性。传统离线啜漏试验探测器存在检测灵敏度低、易受外伽马场干扰等问题，不利于检测到有轻微缺陷的燃料组件。此外，因所检测的Xe
‑
133的半衰期短，无法检测修复后燃料组件及长期贮存燃料组件的包壳完整性。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题在于提供一种离线啜漏试验设备探测器系统。
[0004]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种离线啜漏试验设备探测器系统，其包括屏蔽体以及设于屏蔽体中的气体探测装置；
[0005]所述气体探测装置包括设置在屏蔽体中的取样腔室、设于所述取样腔室一侧的第一检测组件以及设于所述取样腔室另一侧的第二检测组件；
[0006]所述第一检测组件插入取样腔室通过检测β射线来检测Xe
‑
133和Kr
‑
85的活度浓度值；
[0007]所述第二检测组件插入取样腔室通过检测γ射线来检测Xe
‑
133的活度浓度值。
[0008]在一些实施例中，所述第一检测组件包括插接取样腔室内用于测量所述取样腔室内β射线活度浓度值的第一探头、用于对环境本底造成的计数进行复合扣除的第二探头以及采用电流积分法来对β射线活度进行测量的第三探头；r/>[0009]所述第二探头底部设有用于屏蔽放射性惰性气体中β射线的屏蔽板。
[0010]在一些实施例中，所述第二检测组件包括用于对所述取样腔室内Xe
‑
133进行能谱采集并测量相应活度浓度值的第一检测头以及用于避免环境本底造成计数干扰的第二检测头；
[0011]所述第一检测头底部设有衰减层；
[0012]所述第二检测头分别与所述第一检测头和所述取样腔室之间设有阻挡层；
[0013]所述第一检测头与所述第二检测头上均设有放射源检查托盘。
[0014]在一些实施例中，所述第一探头、所述第二探头以及所述第三探头均为β探头；
[0015]所述第一检测头以及所述第二检测头均为碘化钠晶体构成的γ探头。
[0016]在一些实施例中，所述第一探头与所述第二探头共同作用用于测量3.7E+03Bq/m3～3.7E+09Bq/m3量程范围内Kr
‑
85、Xe
‑
133的活度浓度值；
[0017]所述第三探头用于测量3.7E+07Bq/m3～3.7E+12Bq/m3量程范围内Kr
‑
85、Xe
‑
133的活度浓度值；
[0018]所述第一检测头与所述第二检测头共同作用用于测量3.7E+04Bq/m3～3.7E+010Bq/m3量程范围内Xe
‑
133的活度浓度值。
[0019]在一些实施例中，所述气体探测装置还包括定位架、设于所述定位架中用于加固所述定位架的碳纤维层、设于所述取样腔室上的密封圈以及设于所述定位架上的处理电路。
[0020]在一些实施例中，所述屏蔽体包括若干屏蔽块单元，若干述屏蔽块单元之间通过紧固件连接在一起；
[0021]所述屏蔽体上还设有吊环。
[0022]在一些实施例中，所述离线啜漏试验设备探测器系统还包括用于搭载所述屏蔽体的运输小车；
[0023]所述屏蔽体与所述运输小车之间设有减震垫。
[0024]在一些实施例中，所述离线啜漏试验设备探测器系统还包括通气回路，所述通气回路包括与所述取样腔室连接的进气口以及与所述取样腔室连接的出气口；
[0025]所述进气口与所述取样腔室之间设有过滤器；
[0026]所述出气口与所述取样腔室之间设有取样泵。
[0027]在一些实施例中，所述离线啜漏试验设备探测器系统还包括与所述气体探测装置连接的电箱以及与所述电箱连接的上位机。
[0028]实施本专利技术具有以下有益效果：该离线啜漏试验设备探测器系统包括：屏蔽体以及设于屏蔽体中的气体探测装置，该气体探测装置包括设置在屏蔽体中的取样腔室、设于取样腔室一侧的第一检测组件以及设于取样腔室另一侧的第二检测组件，该第一检测组件插入取样腔室通过检测β射线来检测Xe
‑
133和Kr
‑
85的活度浓度值；该第二检测组件插入取样腔室通过检测γ射线来检测Xe
‑
133的活度浓度值。该离线啜漏试验设备探测器系统可用于测量啜漏系统管路中Kr
‑
85,Xe
‑
133的活度浓度，并输出Kr
‑
85和Xe
‑
133的能谱信息，考虑到现场较大的γ辐照本底水平，还设置了专门的辅探测器用于降低环境本底波动的干扰，且该离线啜漏试验设备探测器系统检测灵敏度高、抗干扰能力强，可实现对轻微缺陷组件的检测。
附图说明
[0029]为了更清楚地说明本专利技术的技术方案，下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，应当理解地，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可根据这些附图获得其他相关的附图。附图中：
[0030]图1是本专利技术一些实施例中的离线啜漏试验设备探测器系统的结构示意图；
[0031]图2是本专利技术一些实施例中的气体探测装置的结构示意图；
[0032]图3是本专利技术一些实施例中的气体探测装置的另一方向结构示意图；
[0033]图4是本专利技术一些实施例中的屏蔽体的结构示意图；
[0034]图5是本专利技术一些实施例中的离线啜漏试验设备探测器系统的功能结构示意图。
具体实施方式
[0035]为了对本专利技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本专利技术的具体实施方式。以下描述中，需要理解的是，“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”、
“
纵”、“横”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“头”、“尾”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系、以特定的方位构造和操作，仅是为了便于描述本技术方案，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0036]还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“设置”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。当一个元件被称为在另一元件“上”或“下”时，该元件能够“直接地”或“间接地”位于另一元件之上，或者也可能存在一个或更多个居间元件。术语“第一”、“第二”、“本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种离线啜漏试验设备探测器系统，其特征在于，包括：屏蔽体(1)以及设于屏蔽体(1)中的气体探测装置(2)；所述气体探测装置(2)包括设置在屏蔽体(1)中的取样腔室(21)、设于所述取样腔室(21)一侧的第一检测组件(22)以及设于所述取样腔室(21)另一侧的第二检测组件(23)；所述第一检测组件(22)插入取样腔室(21)通过检测β射线来检测Xe
‑
133和Kr
‑
85的活度浓度值；所述第二检测组件(23)插入取样腔室(21)通过检测γ射线来检测Xe
‑
133的活度浓度值。2.根据权利要求1所述的离线啜漏试验设备探测器系统，其特征在于，所述第一检测组件(22)包括插接取样腔室(21)内用于测量所述取样腔室(21)内β射线活度浓度值的第一探头、用于对环境本底造成的计数进行复合扣除的第二探头以及采用电流积分法来对β射线活度进行测量的第三探头；所述第二探头底部设有用于屏蔽放射性惰性气体中β射线的屏蔽板。3.根据权利要求1所述的离线啜漏试验设备探测器系统，其特征在于，所述第二检测组件(23)包括用于对所述取样腔室(21)内Xe
‑
133进行能谱采集并测量相应活度浓度值的第一检测头以及用于避免环境本底造成计数干扰的第二检测头；所述第一检测头底部设有衰减层；所述第二检测头分别与所述第一检测头和所述取样腔室(21)之间设有阻挡层；所述第一检测头与所述第二检测头上均设有放射源检查托盘。4.根据权利要求2或3所述的离线啜漏试验设备探测器系统，其特征在于，所述第一探头、所述第二探头以及所述第三探头均为β探头；所述第一检测头以及所述第二检测头均为碘化钠晶体构成的γ探头。5.根据权利要求4所述的离线啜漏试验设备探测器系统，其特征在于，所述第一探头与所述第二探头共同作用用于测量3.7E+03Bq/m3...

【专利技术属性】
技术研发人员：章安龙，高中宇，孙云，方军，田朝晖，朱必胜，胡向盟，周府治，乔航，聂敏，
申请(专利权)人：苏州热工研究院有限公司中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：