OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法技术

本申请涉及OLED技术领域，具体涉及一种OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法。该OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法包括：获取所述OLED的目标膜厚、像素槽的网格参数以及喷墨设备中各喷头的墨滴参数，并根据所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况；根据各像素槽内喷墨体积和分布情况对各像素槽进行喷墨；对各像素槽进行烘干处理，并获取烘干后的各像素槽内各网格的膜厚；根据各像素槽内各网格的膜厚和所述目标膜厚确定各像素槽内各网格的补偿喷墨体积，根据所述补偿喷墨体积对各像素槽内各网格进行喷墨，直到各像素槽的膜厚达到目标膜厚。采用本方法能够提高OLED膜厚的均匀性。方法能够提高OLED膜厚的均匀性。方法能够提高OLED膜厚的均匀性。

【技术实现步骤摘要】
OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法


[0001]本申请涉及OLED
，特别是涉及一种OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法。

技术介绍

[0002]OLED作为一种电流型发光器件已越来越多地被应用于高性能显示中。由于它自发光的特性，与LCD相比，AMOLED具有高对比度、超轻薄、可弯曲等诸多优点。
[0003]OLED印刷工艺在制作过程中，首先利用喷墨设备将OLED材料和作为溶剂的墨水通过喷嘴打印在TFT基板的像素槽内，呈现出溶液状态，再经过VCD（真空干燥）和Bake（加热烘干）工艺，使得墨水中的溶剂挥发除去，留下OLED材料并成膜在像素槽中。喷墨设备对像素槽内喷射墨滴体积的大小和分布直接影响膜厚的均匀性及成膜效果，甚至影响发光质量。
[0004]传统技术为了解决OLED喷墨打印所造成的像素槽膜厚不均问题，主要对喷墨过程、干燥和烘干等打印工艺流程进行改进。然而在干燥过程中，难以在像素级别的区域上进行精准地控制，容易导致像素槽中膜厚不均匀的情况。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高膜厚均匀性的OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法。
[0006]第一方面，本申请提供了一种OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法。所述方法包括：获取所述OLED的目标膜厚、像素槽的网格参数以及喷墨设备中各喷头的墨滴参数，并根据所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况；根据各像素槽内喷墨体积和分布情况对各像素槽进行喷墨；对各像素槽进行烘干处理，并获取烘干后的各像素槽内各网格的膜厚；根据各像素槽内各网格的膜厚和所述目标膜厚确定各像素槽内各网格的补偿喷墨体积，根据所述补偿喷墨体积对各像素槽内各网格进行喷墨，直到各像素槽的膜厚达到目标膜厚。
[0007]在一个实施例中，所述获取所述OLED的目标膜厚、像素槽的网格参数以及喷墨设备各喷头的墨滴参数，包括：控制喷墨设备中各喷头喷出墨滴，并获取所述墨滴的第一图像，根据所述第一图像确定各喷头的墨滴参数。
[0008]在一个实施例中，所述根据所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况，包括：获取所述像素槽所在基板的图像，根据所述图像将各像素槽划分为对应的像素槽类型；根据所述目标膜厚、网格参数、墨滴参数以及各像素的类型计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况。
[0009]在一个实施例中，所述像素槽类型包括靠近基板一边缘的单边缘像素槽、靠近基板两边缘的双边缘像素槽以及位于基板内部的内部像素槽中的至少一种在一个实施例中，所述根据各像素槽内各网格的膜厚和所述目标膜厚确定各像素槽内各网格的补偿喷墨体积，根据所述补偿喷墨体积对各像素槽内各网格进行喷墨，直到各像素槽的膜厚达到目标膜厚，包括：获取所述目标膜厚与上一次烘干后各像素槽内各网格膜厚的膜厚补充参数；根据所述膜厚补充参数和预设加权参数获得各像素槽的墨滴补充体积；根据各像素槽的墨滴补充体积进行迭代优化，获得各像素槽的补偿墨滴体积和分布组合方案。
[0010]在一个实施例中，所述根据所述膜厚补充参数和预设加权参数获得各像素槽的墨滴补充体积，包括：确定各像素槽的类型，根据各像素槽的类型确定与各像素槽膜厚补充参数对应的加权参数。
[0011]在一个实施例中，所述喷墨设备中各喷头包括多个喷孔，各喷头可以通过对应的多个喷孔喷出至少两种不同体积的墨滴，所述根据所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况，包括：获取各喷头喷向各像素槽的墨滴体积和线性组合；根据各喷头喷向各像素槽的墨滴体积和线性组合、所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况。
[0012]在一个实施例中，所述获取各喷头喷向各像素槽的墨滴体积和线性组合，包括：获取各像素槽的体积和所述目标膜厚中打印要求的像素槽体积之差；根据所述体积之差进行迭代计算获得各像素槽的墨滴体积和线性组合。
[0013]在一个实施例中，所述根据各喷头喷向各像素槽的墨滴体积和线性组合、所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况，包括：根据各喷头喷向各像素槽的墨滴体积和线性组合，获得各喷头单位步数能够完成多个像素槽的喷墨矩阵；根据基板上像素槽数量，以及单位步数能够完成多个像素槽的喷墨矩阵，获得最小喷墨步数，以及各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况。
[0014]在一个实施例中，各像素槽内各网格的大小为喷墨设备能够实现的最小打印区域的大小。
[0015]第二方面，本申请还提供了一种OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿装置，所述装置包括：获取模块，用于获取所述OLED的目标膜厚、像素槽的网格参数以及喷墨设备中各喷头的墨滴参数，并根据所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况；喷墨模块，用于根据各像素槽内喷墨体积和分布情况对各像素槽进行喷墨；膜厚获取模块，用于对各像素槽进行烘干处理，并获取烘干后的各像素槽内各网格的膜厚；补充模块，用于根据各像素槽内各网格的膜厚和所述目标膜厚确定各像素槽内各
网格的补偿喷墨体积，根据所述补偿喷墨体积对各像素槽内各网格进行喷墨，直到各像素槽的膜厚达到目标膜厚。
[0016]第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法的步骤。
[0017]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法的步骤。
[0018]第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法的步骤。
[0019]上述OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法，通过获取所述OLED的目标膜厚、像素槽的网格参数以及喷墨设备中各喷头的墨滴参数，并根据所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况；根据各像素槽内喷墨体积和分布情况对各像素槽进行喷墨；对各像素槽进行烘干处理，并获取烘干后的各像素槽内各网格的膜厚；根据各像素槽内各网格的膜厚和所述目标膜厚确定各像素槽内各网格的补偿喷墨体积，根据所述补偿喷墨体积对各像素槽内各网格进行喷墨，直到各像素槽的膜厚达到目标膜厚。通过上述方式，本申请将各像素槽进行网格化，然后计算各像素槽内各网格的墨滴体积和分布情况，再烘干处理后，获取各像素槽的膜厚，根据各像素槽的膜厚和目标膜厚确定各像素槽内各网格的补偿喷墨体积，重新进行喷墨，如此能够避免烘干处理导致的膜厚误差。
附图说明
[0020]图1为一个实施例中OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法的应用环境示意图；图2为一个实施例中OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法的流本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种OLED喷墨打印膜厚均匀性补偿方法，其特征在于，所述方法包括：获取所述OLED的目标膜厚、像素槽的网格参数以及喷墨设备中各喷头的墨滴参数，并根据所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况；根据各像素槽内喷墨体积和分布情况对各像素槽进行喷墨；对各像素槽进行烘干处理，并获取烘干后的各像素槽内各网格的膜厚；根据各像素槽内各网格的膜厚和所述目标膜厚确定各像素槽内各网格的补偿喷墨体积，根据所述补偿喷墨体积对各像素槽内各网格进行喷墨，直到各像素槽的膜厚达到目标膜厚。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述OLED的目标膜厚、像素槽的网格参数以及喷墨设备各喷头的墨滴参数，包括：控制喷墨设备中各喷头喷出墨滴，并获取所述墨滴的第一图像，根据所述第一图像确定各喷头的墨滴参数。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标膜厚、网格参数以及墨滴参数计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况，包括：获取所述像素槽所在基板的图像，根据所述图像将各像素槽划分为对应的像素槽类型；根据所述目标膜厚、网格参数、墨滴参数以及各像素的类型计算各像素槽内墨滴的喷墨体积和分布情况。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述像素槽类型包括靠近基板一边缘的单边缘像素槽、靠近基板两边缘的双边缘像素槽以及位于基板内部的内部像素槽中的至少一种。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据各像素槽内各网格的膜厚和所述目标膜厚确定各像素槽内各网格的补偿喷墨体积，根据所述补偿喷墨体积对各像素槽内各网格进行喷墨，直到各像素槽的膜厚达到目标膜厚，包括：获取所述目标膜厚与上一次烘干后各像素槽内各网格膜厚的膜厚补充参数；根据所述膜厚补充参数和预设...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱云龙，许伟钊，杨新海，贾智慧，
申请(专利权)人：季华实验室，
类型：发明
国别省市：