纺织准备设备和用于检测干扰性颗粒的方法技术

本发明专利技术涉及一种纺织准备设备，其包括具有至少一个可控制的机器的至少一个清洁线(41)或者开包线，以及至少一个梳理机(100)，其中，所述至少一个梳理机(100)具有至少一个传感器(30)，用于检测在经梳理的纤维薄网(16)中的干扰性颗粒，特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物。将传感器数据在控制装置(43)中汇总和评价，其中，通过输入模块(44)给控制装置(43)输送关于纤维质量的参考变量并且控制装置(43)向可操控的机器的控制装置(42a)传输调整参数。此外，本发明专利技术还涉及一种用于借助于传感器检测在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒的方法。法。法。

【技术实现步骤摘要】
纺织准备设备和用于检测干扰性颗粒的方法
[0001]本案是“梳理机、纤维网导入元件、纺织准备设备和用于检测干扰性颗粒的方法”、申请日为2020年5月5日、申请号为202080034412.0(优先权数据为DE102019115138.4,2019.06.05)的专利技术专利的分案申请。


[0002]本专利技术涉及一种纺织准备设备和一种用于检测在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物的方法。

技术介绍

[0003]根据现有技术，在纺织
中已知检测纤维网、纤维条或者纱中的棉结、干扰颗粒或者污物。已知的方法在确定值的准确度和纺纱厂日常运行的可靠性方面有所不同，因为构件必须伴随着相当大的污染和温度负荷持续良好地运行。纤维的棉结或者结头的检测可以用不同的方法在展开的纤维薄网中或者在纤维条中进行。在检测纤维条时需要更广泛的测量装置，因为通常不可能从外面看到纤维条中。因此已经建立，在道夫下方或者在道夫下游执行对棉结或者结头的检测。在此，不是计算绝对的棉结或者结头，而是仅检测纤维薄网的部分区域并且然后根据统计学上的评价，推断出总产量。
[0004]文献DE 19604499 B4公开了一种用于检测棉结和类似的干扰颗粒的传感器，该传感器设置成可在梳理机的工作宽度上在纤维网导入轮廓中来回移动。朝向剥取辊设置的纤维网导入轮廓的凹形的表面具有至少部分透明的壁，通过该壁借助于传感器检测纤维。将从道夫取下的纤维网持续但不接触地引导越过所述透明壁，所述纤维网在实际运行中会导致快速污染，这会对测量结果产生负面影响。纤维网导入元件的短时间清洁以下述条件为前提，即，完全切断梳理机，亦即不仅停止散纤维供应而且将旋转构件的转速设置为零。然后才能清洁纤维网导入轮廓。梳理运行的这种中断是不希望的并且降低了可能的产量。另一个缺点是传感器在纤维网导入轮廓中可移动的布置结构，这可非常耗费地制造并且由于在移动中携带的线缆而容易发生故障。

技术实现思路

[0005]因此，本专利技术的任务在于如下构造一种纺织准备设备，即，可以在短时间内检测在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物。
[0006]按照本专利技术的纺织准备设备包括具有至少一个可控制的机器的至少一个清洁线或者开包线，例如异物分离器或者混合器或者清洁器，以及至少一个梳理机，其中，所述至少一个梳理机具有至少一个用于检测在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物的传感器。
[0007]本专利技术的特征在于，将所述至少一个梳理机的传感器数据在控制装置中汇总和评价，其中，可以通过输入模块给控制装置输送用于纤维质量的参考变量并且控制装置向至少一个清洁线或者开包线的机器的控制装置传输至少一个调整参数。清洁线或者开包线的
机器例如可以是异物分离器或者混合器或者清洁器。传输的调整参数可以是例如异物分离器的检测灵敏度或者在混合器中不同纤维的混合比。通过在纺织准备设备上级的控制装置中评价梳理机的纤维网导入元件的数据，可以影响纺织准备设备的各个机器的调整，从而以此创建调节回路。
[0008]以有利的方式至少两个梳理机的传感器数据结果的汇总以预定的方式进行，例如通过合计、平均、统计学上的评价、分类、模式分析或者利用人工智能方法。为此，根据范围，可以在纺织准备设备内部使用另一台计算机，所述计算机也可以记录与纺织准备设备的待控制的机器的通信。通过汇总至少两个梳理机的数据，与仅利用一个梳理机的数据相比，这能够在更短的时间内汇编更大数量的数据。用于评价纤维质量的时间大大减少。在这里，纺织准备设备的上级控制装置也借助于统计学上的评价来确定例如棉结数或者短纤维百分率的定性结论。通过评价多个梳理机的数据，测量值的数量增大，从而在下一个加工阶段对生产的梳理条子进行进一步加工之前，必要时机器操作员在很短的时间内收到生产故障的警告。
[0009]控制装置优选构造用于根据预定标准在屏幕上显示经汇总并且评价的传感器数据。
[0010]在另一种实施方式中，用于汇总和评价所述至少一个梳理机的数据以及用于确定调整参数的上级控制装置集成到待控制的机器本身的控制装置中，其中，梳理机的这些单独数据可以通过梳理机或者按照本专利技术的纤维网导入元件相应的数据传输通道检索。
[0011]为此，控制装置构造用于在纤维薄网有缺陷的情况下发出视觉、听觉或者电信号，从而下一个加工步骤(例如拉伸、精梳或粗纱生产)中断或者甚至不起动。
[0012]按照本专利技术，梳理机包括用于检测在经梳理的纤维薄网中的干扰性颗粒、特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物的装置，其中，所述装置包括至少一个传感器，所述传感器位置固定地设置在纤维网导入元件中，所述纤维网导入元件设置在从道夫到剥取辊的过渡部中，其中，所述至少一个传感器检测在道夫上的纤维薄网。通过传感器检测位于道夫的针布的齿中的纤维薄网，传感器光束必须穿透的区域的污染较少。因此，纤维薄网仅擦过纤维网导入元件的大致垂直的前侧，因此该前侧与水平的凹形的上侧相比，被污染的程度明显更低。通过前侧相对于道夫的这种直立的、大致垂直的布置结构，在运行中在所述前侧上比根据现有技术更少地沉积污物颗粒。在纤维网导入元件和道夫之间的间隙构造得非常窄，从而纤维薄网部分地接触纤维网导入元件的垂直前侧并且因此通过材料的持续流动进行连续清洁。这因此实现更长的使用寿命，直到必须清洁传感器光束穿透的纤维网导入元件或者透光元件。在纤维网导入元件内部不再可移动地设置唯一的传感器，而是在纤维网导入元件内部位置固定地设置至少一个传感器。因此避免了由于拖曳断裂的线缆而导致的故障。
[0013]在一种有利的实施方式中，纤维网导入元件具有朝向道夫设置的、具有至少一个透光元件的前侧。透光元件仅可以设置在传感器的检测区域内，或者备选地在梳理机的工作宽度上延伸，例如作为纤维网导入元件正面的透明壁。
[0014]以有利的方式在纤维网导入元件内部在透光元件上设置有偏振滤光器。偏振滤光器构造用于圆偏振，从而将由道夫的针布反射的传感器光束隐没。因此传感器仅检测在纤维薄网的纤维中的异物、棉结和干扰性颗粒。偏振滤光器在透光元件上的布置结构简化了
对测量数据的评价，尤其是偏振滤光器降低了对计算机的算法和计算能力的要求。
[0015]通过在纤维网导入元件内部位置固定地设置有至少三个传感器、优选至少五个传感器、特别优选至少九个传感器，通过较大数量的数据可以影响评价的准确度和时间。根据客户要求，可以通过传感器的数量在颗粒识别的准确度和设备成本之间找到折衷方案。
[0016]在一种优选的实施方式中，每个传感器具有带有图像采集传感器和物镜的传感器电路板，其中，在传感器电路板和偏振滤光器之间设置有计算机、支承板和照明单元。
[0017]由于传感器的这种结构，传感器电路板距纤维薄网之间实现了尽可能大的间距，这在这种小的结构空间中只有利用偏转传感器光束的镜子才是可能的。
[0018]在此，传感器的物镜穿透具有计算机的板、支承板和照明单元。因此实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.纺织准备设备，包括具有至少一个可控制的机器的至少一个清洁线(41)或者开包线，以及至少一个梳理机(100)，其中，所述至少一个梳理机(100)具有至少一个传感器(30)，用于检测在经梳理的纤维薄网(16)中的干扰性颗粒，特别是杂质、棉结、壳团、粗节和/或异物，其特征在于，将传感器数据在控制装置(43)中汇总和评价，其中，通过输入模块(44)给控制装置(43)输送关于纤维质量的参考变量并且控制装置(43)向可操控的机器的控制装置(42a)传输调整参数。2.根据权利要求1所述的纺织准备设备，其特征在于，所述可控制的机器构造为异物分离器(42)或者...

【专利技术属性】
技术研发人员：圭多，
申请(专利权)人：特吕茨施勒集团欧洲公司，
类型：发明
国别省市：