进样系统及样本分析仪技术方案

本发明专利技术适用于样本分析设备领域，公开了进样系统及样本分析仪。其中，进样系统包括存放通道、探测装置、调度机构和控制器，存放通道包括承载面、第一凸出部和第二凸出部，存放通道在靠近第一凸出部的一端还形成有装载口；当将具有把手的样本架放置于存放通道时，把手与第一凸出部和承载面都存在间距；探测装置被配置为：当样本架放置于存放通道上，且样本架未支撑于第一凸出部或第二凸出部上时，产生触发信号；调度机构包括承载部件和转移机构，控制器被配置为：当接收到触发信号时，能够控制转移机构将样本架从存放通道内转移至承载部件上。该进样系统结构简单，适用性高，且降低了对样本架把手的结构要求和成本。本架把手的结构要求和成本。本架把手的结构要求和成本。

【技术实现步骤摘要】
进样系统及样本分析仪


[0001]本专利技术涉及样本分析设备领域，尤其涉及一种进样系统以及采用该进样系统的样本分析仪。

技术介绍

[0002]在具有自动进样系统的样本分析仪中，其进样方式一般为：用户将承载有样本容器且样本容器内装载有待测样本的样本架放置于存放通道内，然后调度机构将样本架调度入样本分析仪内进行吸样。然而，用户在将样本架放置于存放通道上时，会存在样本架未放置到位(即样本架的一端伸于存放通道的装载口外)或过放(即样本架的一端伸于存放通道的转运口外)的问题，如果调度机构直接调度未放置到位或过放的样本架，则容易出现样本架在调度时倾翻洒液的不良现象。为了解决这个问题，相关技术提供的方案为：依靠存放通道中的传感器以保证样本架未放置到位时不触发传感器，依靠样本架把手底面与存放通道的抵接保证样本架无法过放，即需要传感器和把手的结合进行解决样本架未放置到位或过放的问题。然而，该技术方案在具体应用中，存在以下不足之处：
[0003]1)需要依赖于样本架的把手，因此成本高，适用性低；
[0004]2)当样本架把手被去除时，仍存在样本架过放导致倾倒洒液的风险；
[0005]3)存放通道对样本架的把手结构产生配合要求，导致样本架把手的结构比较复杂，体积较大。

技术实现思路

[0006]本专利技术的第一个目的在于提供一种进样系统，其旨在解决相关技术中需要依赖把手与传感器的结合来防止调度机构调度存放通道上未放置到位或过放的样本架，导致样本架和进样系统存在成本高、适应性低、结构复杂的技术问题。<br/>[0007]为达到上述目的，本专利技术提供的方案是：一种进样系统，包括：
[0008]存放通道，所述存放通道包括存放槽，所述存放槽用于放置装载有样本容器的样本架，所述存放槽包括承载面、第一凸出部和第二凸出部，所述承载面用于承载所述样本架，所述第一凸出部和所述第二凸出部分别位于所述存放槽相对的两端，且所述第一凸出部和所述第二凸出部都位于所述承载面的上方，所述存放通道在靠近所述第一凸出部的一端还形成有装载口，所述装载口用于供用户将装载有所述样本容器且所述样本容器内装载有样本的样本架放置于所述存放槽内，当将具有把手的所述样本架放置于所述存放通道时，所述把手与所述第一凸出部和所述承载面都存在间距；
[0009]探测装置，所述探测装置用于探测所述存放通道上的所述样本架，且所述探测装置被配置为：当所述样本架放置于所述存放通道上，且所述样本架的底面未支撑于所述第一凸出部或所述第二凸出部上时，产生触发信号；
[0010]调度机构，所述调度机构包括承载部件和转移机构，所述承载部件用于承载所述样本架，所述转移机构被配置为：在所述探测装置产生所述触发信号时，能够将所述样本架
从所述存放通道内转移至所述承载部件上；
[0011]控制器，所述控制器被配置为：当接收到所述触发信号时，能够控制所述转移机构将所述样本架从所述存放通道内转移至所述承载部件上。
[0012]本专利技术的第二个目的在于提供一种样本分析仪，其包括：
[0013]上述的进样系统；
[0014]样本输送装置，所述样本输送装置包括吸样通道和驱动装置，所述吸样通道用于供承载有样本容器且样本容器内承载有样本的所述样本架移动通过，且所述吸样通道形成有吸样位，所述吸样位用于为待吸样的所述样本容器提供容置场所，所述驱动装置用于驱动所述样本架在所述吸样通道内移动，以使所述样本架中承载的所述样本容器逐个移动至所述吸样位；
[0015]检测装置，所述检测装置用于对样本执行至少一个检测项目；
[0016]采样装置，所述采样装置用于从位于所述吸样位处且承载于样本架上的样本容器内采集样本，并将采集的至少部分样本分配至所述检测装置；
[0017]第一缓存机构，所述第一缓存机构用于缓存承载有采样前的所述样本架，所述调度机构用于将所述样本架从所述存放通道调度至所述第一缓存机构，所述驱动装置还用于驱动所述样本架从所述第一缓存机构上移动至所述吸样通道内。
[0018]本专利技术提供的进样系统及样本分析仪，通过在存放通道上设置探测装置，且探测装置被配置：当样本架放置于存放通道上，且样本架的底面未支撑于第一凸出部或第二凸出部时，即样本架的底面完全与存放通道的承载面接触时，产生触发信号。此外，控制器只有在探测装置产生触发信号时，才控制转移机构将样本架从存放通道内转移走，这样，有效防止了样本架在调度时倾翻洒液的不良现象发生。本专利技术中，由于样本架在存放通道上是否放置到位，完全由探测装置进行探测，而无需依赖于样本架的把手，从而实现了把手与进样系统功能的解耦，使得进样系统可以适应于带把手的样本架，也可以适应不带把手的样本架，降低了对样本架把手结构的要求，进而降低了样本架的成本，且利于减小把手的体积。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0020]图1是本专利技术实施例一提供的样本架在存放通道上未放置到位的状态示意图；
[0021]图2是本专利技术实施例一提供的探测装置安装于样本架上的半剖立体示意图；
[0022]图3是本专利技术实施例一提供的样本架在存放通道上过放的状态示意图；
[0023]图4是本专利技术实施例一提供的样本架在存放通道上过放且刚好触发探测装置的状态示意图；
[0024]图5是本专利技术实施例一提供的样本架在存放通道上未到位且刚好触发探测装置的数学模型示意图；
[0025]图6是本专利技术实施例一提供的样本架在存放通道上过放且刚好触发探测装置的数
学模型示意图；
[0026]图7是本专利技术实施例一提供的样本架在样本分析仪进样的一个状态示意图；
[0027]图8是本专利技术实施例一提供的样本架在吸样通道输送的一个状态示意图；
[0028]图9是本专利技术实施例一提供的样本架的立体结构示意图；
[0029]图10是本专利技术实施例一提供的样本架的主视剖面示意图；
[0030]图11是图10中A处的局部放大示意图；
[0031]图12是本专利技术实施例一提供的把手的立体示意图；
[0032]图13是本专利技术实施例一提供的把手的主视平面示意图；
[0033]图14是本专利技术实施例一提供的把手的左视平面示意图；
[0034]图15是本专利技术实施例一提供的样本架本体的分解示意图；
[0035]图16是本专利技术实施例二提供的探测装置在存放通道上的设置示意图；
[0036]图17是本专利技术实施例三提供的探测装置在存放通道上的设置示意图；
[0037]图18是本专利技术实施例四提供的探测装置在存放通道上的设置示意图。
[0038]附图标号说明：
[0039]100、样本架；110、样本架本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种进样系统，其特征在于：包括：存放通道，所述存放通道包括存放槽，所述存放槽用于放置装载有样本容器的样本架，所述存放槽包括承载面、第一凸出部和第二凸出部，所述承载面用于承载所述样本架，所述第一凸出部和所述第二凸出部分别位于所述存放槽相对的两端，且所述第一凸出部和所述第二凸出部都位于所述承载面的上方，所述存放通道在靠近所述第一凸出部的一端还形成有装载口，所述装载口用于供用户将装载有所述样本容器且所述样本容器内装载有样本的样本架放置于所述存放槽内，当将具有把手的所述样本架放置于所述存放通道时，所述把手与所述第一凸出部和所述承载面都存在间距；探测装置，所述探测装置用于探测所述存放通道上的所述样本架，且所述探测装置被配置为：当所述样本架放置于所述存放通道上，且所述样本架未支撑于所述第一凸出部或所述第二凸出部上时，产生触发信号；调度机构，所述调度机构包括承载部件和转移机构，所述承载部件用于承载所述样本架。控制器，所述控制器被配置为：当接收到所述触发信号时，能够控制所述转移机构将所述样本架从所述存放通道内转移至所述承载部件上。2.如权利要求1所述的进样系统，其特征在于：当所述样本架放置于所述存放通道上，且所述样本架支撑于所述第一凸出部或所述第二凸出部上时，不产生所述触发信号。3.如权利要求1所述的进样系统，其特征在于：所述探测装置包括第一探测装置，所述第一探测装置具有沿所述存放通道的长度方向设于所述第一凸出部和所述第二凸出部之间的第一探测部，且所述第一探测部到所述第一凸出部的距离x与所述第一凸出部到所述第二凸出部的距离c满足关系：0.2c＜x＜0.5c。4.如权利要求3所述的进样系统，其特征在于：所述第一探测装置为第一接触触发式探测装置，且所述第一探测部设于所述存放槽的底部。5.如权利要求4所述的进样系统，其特征在于：所述第一接触触发式探测装置包括第一接触触发式传感器、第一触发杆和第一弹性件，所述第一接触触发式传感器设于所述承载面的下方，所述第一触发杆形成所述第一探测部，所述第一触发杆通过所述第一弹性件弹性安装于所述存放槽的底部，所述第一触发杆的一端延伸于所述承载面的上方、另一端延伸于所述承载面的下方，且所述第一触发杆在外力作用下能够下降并抵压所述第一接触触发式传感器，以触发所述第一接触触发式传感器产生所述触发信号。6.如权利要求5所述的进样系统，其特征在于：定义所述第一凸出部顶端到所述承载面的高度为a，所述第二凸出部顶端到所述承载面的高度为b，所述样本架的底面长度为L；在所述第一触发杆下降至刚好能够触发所述第一接触触发式传感器产生所述触发信号的临界状态时，所述第一触发杆顶端到所述承载面的高度为y；所述样本架被配置为：在所述样本架的底面部分抵接于所述承载面、部分抵接于所述第一凸出部，且在所述第一触发杆下降至能够触发所述第一接触触发式传感器产生所述触发信号的临界状态时，所述样本架具有从所述第一凸出部朝所述存放槽外延伸的第一外延部，所述第一外延部的底面长度为q；所述样本架还被配置为：在所述样本架的底面部分抵接于所述承载面、部分抵接于所述第二凸出部，且在所述第一触发杆下降至能够触发所述第一接触触发式传感器产生所述
触发信号的临界状态时，所述样本架具有从所述第二凸出部朝所述存放槽外延伸的第二外延部，所述第二外延部的底面长度为p；则x、c、a、b、L、y、q、p满足关系：7.如权利要求6所述的进样系统，其特征在于：定义在所述第一弹性件处于自然状态下，所述第一触发杆顶端到所述承载面的高度为y0；则a、b、y、y0满足关系式：y≤y0＜a≤b。8.如权利要求3所述的进样系统，其特征在于：所述第一探测装置为第一反射光触发式探测装置或者第一对射光触发式探测装置，所述第一探测部设于所述存放槽的侧部。9.如权利要求8所述的进样系统，其特征在于：定义所述第一凸出部顶端到所述承载面的高度为a，所述第二凸出部顶端到所述承载面的高度为b，所述样本架的底面长度为L；所述第一反射光触发式探测装置或者第一对射光触发式探测装置的触发中心点到所述承载面的高度为h...

【专利技术属性】
技术研发人员：张坤，郁琦，
申请(专利权)人：深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：