电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法、检测系统和电动机械的制造方法、电动机械技术方案

电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法具有以下步骤：行进步骤(S01)，使电磁线(2)沿线方向行进；第1放电检测步骤(S02)，对行进中的电磁线(2)上的测定点施加交流电压，检测第1放电；第2放电检测步骤(S03)，在检测到第1放电后，对电磁线上的测定点施加交流电压，检测第2放电；以及判定步骤(S04

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法、检测系统和电动机械的制造方法、电动机械


[0001]本申请涉及电磁线包覆层(magnet wire coating)的绝缘缺陷检测方法、检测系统和电动机械(electric machine)的制造方法、电动机械。

技术介绍

[0002]马达的定子使用卷绕有电磁线的线圈。当电磁线的包覆层产生针孔(pinhole)或损伤时，在工作中流过异常电流，绕组线(winding wire)被异常地加热，可能导致烧损。
[0003]针对该问题，公开有如下方法：设置对行进的电磁线施加针孔检测用的电压的电极，在其上游侧设置施加数kV的电压的电极，在施加数kV的高电压后，对显现出的针孔施加数100V的检测电压，提高检测的可靠性(例如专利文献1)。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特许第5949612号公报

技术实现思路

[0007]专利技术要解决的课题
[0008]但是，在专利文献1的方法中，通过对电磁线施加高电压来提高针孔的检测频度，但是，当施加电压过高时产生火花放电，可能对正常的覆膜也造成损伤。
[0009]本申请公开用于解决上述课题的技术，其目的在于，提供不会对卷绕前的电磁线整体施加过度的高电压的、能够检测绝缘缺陷的、可靠性高的检测方法和检测系统。
[0010]用于解决课题的手段
[0011]本申请公开的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法检测电磁线包覆层的缺陷，其中，电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法具有以下步骤：行进步骤，使电磁线沿线方向行进；第1放电检测步骤，对行进中的电磁线上的第1测定点施加交流电压，检测第1放电；第2放电检测步骤，在检测到第1放电后，对电磁线上的第2测定点施加交流电压，检测第2放电；以及判定步骤，对第1放电和第2放电进行比较，判定电磁线包覆层有无缺陷。
[0012]本申请公开的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统检测电磁线包覆层的缺陷，其中，电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统在电磁线的行进路径的前后具有使电磁线沿线方向以恒定速度行进的送出装置和卷取装置，电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统具有交流电源，交流电源产生为了检测来自行进路径中的电磁线包覆层的缺陷的放电而施加的交流电压，电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统在检测来自电磁线包覆层的缺陷的放电的第1测定点具有第1放电检测电极，在第2测定点具有第2放电检测电极，电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统具有检测第1放电检测电极检测到的放电信号的第1放电检测装置和检测第2放电检测电极检测到的放电信号的第2放电检测装置，电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统具有包含比较部的评价装置，比较部对在第1测定点处检测到的第1放电的放电信号和在第2测定
点处检测到的第2放电的放电信号进行比较，判定电磁线包覆层有无缺陷。
[0013]本申请公开的电动机械的制造方法具有以下步骤：使用卷绕有由上述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统检查后的电磁线的铁芯制造电动机械。
[0014]本申请公开的电动机械是使用卷绕有由上述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统检查后的电磁线的铁芯制造的。
[0015]专利技术效果
[0016]根据本申请公开的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法，能够提供不会对卷绕前的电磁线整体施加过度的高电压的、能够检测绝缘缺陷的、可靠性高的检测方法。
[0017]根据本申请公开的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统，能够提供不会对卷绕前的电磁线整体施加过度的高电压的、能够检测绝缘缺陷的、可靠性高的检测系统。
[0018]根据本申请公开的电动机械的制造方法，能够提供使用由不会对卷绕前的电磁线整体施加过度的高电压的、能够检测绝缘缺陷的、可靠性高的检测系统检查后的电磁线的电动机械的制造方法。
[0019]根据本申请公开的电动机械，能够提供使用由不会对卷绕前的电磁线整体施加过度的高电压、能够检测绝缘缺陷的、可靠性高的检测系统检查后的电磁线的电动机械。
附图说明
[0020]图1是实施方式1的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的结构图。
[0021]图2是实施方式1的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的送出装置和卷取装置的概略图。
[0022]图3是实施方式1的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的电磁线的结构的说明图。
[0023]图4是实施方式1的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的放电检测电极的形状的说明图。
[0024]图5是实施方式1的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的放电检测电极和放电检测装置的连接状态的说明图。
[0025]图6是实施方式1的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的放电检测电极和放电检测装置的连接状态的等效电路图。
[0026]图7是实施方式1的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法的基本流程图。
[0027]图8是实施方式1的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法的流程图。
[0028]图9是实施方式2的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的结构图。
[0029]图10是实施方式3的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的结构图。
[0030]图11是实施方式4的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的噪声去除机构的说明图。
[0031]图12是实施方式5的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的行进稳定化机构的说明图。
[0032]图13是实施方式6的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的结构图。
[0033]图14是实施方式6的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的放电波形的平滑实施例。
[0034]图15是实施方式6的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的放电波形的平滑实施
例。
[0035]图16是实施方式6的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的放电波形的平滑实施例。
[0036]图17是实施方式7的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的结构图。
[0037]图18是实施方式7的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统针对定子铁芯的应用例的说明图。
[0038]图19是电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的评价装置的硬件结构例的框图。
具体实施方式
[0039]实施方式1
[0040]实施方式1涉及如下的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统：该绝缘缺陷检测系统在电磁线的行进路径的前后具有使电磁线沿线方向以恒定速度行进的送出、卷绕装置，该绝缘缺陷检测系统具有在行进路径中的第1测定点和第2测定点处产生为了检测来自电磁线包覆层的缺陷的放电而施加的交流电压的交流电源、以及检测来自电磁线包覆层的缺陷的放电的第1、第2放电检测电极，该绝缘缺陷检测系统具有检测第1、第2放电检测电极检测到的放电信号的第1、第2放电检测装置，该绝缘缺陷检测系统具有评价装置，该评价装置对在第1、第2测定点处检测到的放电信号进行比较，判定电磁线包覆层有无缺陷。进而，实施方式1涉及使用电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法。
[0041]下面，根据电磁线包覆层的绝本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法，检测电磁线包覆层的缺陷，其中，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法具有以下步骤：行进步骤，使电磁线沿线方向行进；第1放电检测步骤，对行进中的所述电磁线上的第1测定点施加交流电压，检测第1放电；第2放电检测步骤，在检测到所述第1放电后，对所述电磁线上的第2测定点施加所述交流电压，检测第2放电；以及判定步骤，对所述第1放电和所述第2放电进行比较，判定所述电磁线包覆层有无缺陷。2.根据权利要求1所述的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法，其中，在所述行进步骤中，使所述电磁线沿线方向以恒定速度行进，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法还具有以下步骤：放电存储步骤，存储在所述第1放电检测步骤中检测到的所述第1放电和在所述第2放电检测步骤中检测到的所述第2放电；时间计算步骤，根据所述电磁线的行进速度和从所述第1测定点到所述第2测定点的距离，计算所述电磁线从第1测定点移动到第2测定点的时间；以及时间计测步骤，计测所述电磁线从所述第1测定点移动到所述第2测定点的时间，在所述判定步骤中，对所述第1放电的放电信号和从在所述第1测定点处检测到所述第1放电起经过到达所述第2测定点的时间后在所述第2测定点处检测到的所述第2放电的放电信号进行比较，当比较出的2个放电信号的差异在预先设定的范围内的情况下，判定为所述电磁线包覆层存在缺陷。3.根据权利要求2所述的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法，其中，在所述判定步骤中，还具有计算所述第1放电和所述第2放电的所述放电信号的峰值放电电荷量、放电持续时间或总放电电荷量的放电特征量计算步骤，在所述判定步骤中，通过所述峰值放电电荷量、所述放电持续时间和所述总放电电荷量中的任意1个或2个以上的特征量的组合进行判定，当所述特征量的差异或所述特征量的一致比率在预先设定的范围内的情况下，判定为所述电磁线包覆层存在缺陷。4.根据权利要求2或3所述的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法，其中，在所述时间计测步骤中，还具有检测所述电磁线正在行进的电磁线行进检测步骤，在所述时间计测步骤中，仅在所述电磁线正在行进的期间，持续计测所述电磁线移动的时间，在所述电磁线停止的期间，停止计测所述移动的时间。5.根据权利要求2～4中的任意一项所述的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法，其中，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法还具有发送基准放电电荷量的基准信号的基准信号发送步骤，在所述第1测定点的第1放电检测电极和所述第2测定点的第2放电检测电极中预先检测所述基准信号，在所述放电存储步骤中，参照检测到的所述基准信号去除所述基准信号以下的放电电荷量的信号。6.根据权利要求2～5中的任意一项所述的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法，其中，在所述判定步骤中，还进行使检测到的放电信号的波形平滑的波形平滑处理。
7.根据权利要求6所述的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法，其中，在所述波形平滑处理中，计算所述放电信号的移动平均。8.根据权利要求1所述的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法，其中，设N为3以上的整数，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测方法依次具有如下的第3放电检测步骤～第N放电检测步骤：在检测到所述第2放电后，对所述电磁线上的第3测定点～第N测定点施加所述交流电压，检测放电，在所述判定步骤中，还一并对在所述第3放电检测步骤～第N放电检测步骤中检测到的放电信号进行比较，判定所述电磁线有无缺陷。9.一种电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统，其检测电磁线包覆层的缺陷，其中，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统在电磁线的行进路径的前后具有使所述电磁线沿线方向以恒定速度行进的送出装置和卷取装置，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统具有交流电源，该交流电源产生为了检测来自所述行进路径中的所述电磁线包覆层的缺陷的放电而施加的交流电压，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统在检测来自所述电磁线包覆层的缺陷的放电的第1测定点具有第1放电检测电极，在第2测定点具有第2放电检测电极，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统具有检测所述第1放电检测电极检测到的放电信号的第1放电检测装置和检测所述第2放电检测电极检测到的放电信号的第2放电检测装置，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统具有包含比较部的评价装置，该比较部对在所述第1测定点处检测到的第1放电的放电信号和在所述第2测定点处检测到的第2放电的放电信号进行比较，判定所述电磁线包覆层有无所述缺陷。10.根据权利要求9所述的电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统，其中，所述电磁线包覆层的绝缘缺陷检测系统还...

【专利技术属性】
技术研发人员：高桥贞治，三泽贵浩，李旭涛，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：