双金式开关、继电器的延时特性校验方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及低压电气领域，具体涉及一种双金式开关的延时特性校验方法，其包括脱扣行程预调操作和脱扣点校验操作；所述双金式开关的延时特性校验方法，其适合自动化操作，而且校验合格率高且效率高。本发明专利技术还涉及一种继电器的延时特性校验方法，其包括一次预调、脱扣点校验、二次预调等操作，其适合自动化操作，而且交验合格率高且效率高。本发明专利技术还涉及一种应用所述继电器的延时特性校验方法的继电器的延时特性校验装置，实现了对于继电器的延时特性的自动化、快速校验。快速校验。快速校验。

【技术实现步骤摘要】
双金式开关、继电器的延时特性校验方法及系统


[0001]本专利技术涉及低压电气领域，具体涉及一种双金式开关的延时特性校验方法，还涉及一种继电器的延时特性校验方法以及一种应用所述继电器的延时特性校验方法的继电器的延时特性校验装置。

技术介绍

[0002]热过载继电器和电机起动器的一般要求(过载保护特性)：1.05倍额定电流下稳定2小时不脱扣且1.2倍额定电流下2小时内脱扣。所以生产热过载继电器和电机起动器，都需要较长时间的通电校验(大于1小时以上)，以在额定电流下，使双金属片受热稳定，再手工调整机构脱扣点与双金受热弯曲的相对位置点匹配。因此，目前校验方法效率低，人为因素影响大、调整的合格率不稳定等不足。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种双金式开关的延时特性校验方法，其适合自动化操作，而且校验合格率高且效率高；还提供一种继电器的动作特性校验方法，其适合自动化操作，而且交验合格率高且效率高；还提供一种应用所述继电器动作特性校验方法的继电器动作特性校验系统，实现了对于继电器的延时特性的自动化、快速校验。
[0004]为实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0005]一种双金式开关的延时特性校验方法，其包括以下操作：
[0006]脱扣行程预调操作：通过调整所述双金式开关的双金属片与传动结构的相对位置，对双金式开关的脱扣行程进行调整；
[0007]脱扣点校验操作，完成所述脱扣行程预调操作后，对双金式开关的a电流档位脱扣点进行校验，a电流档位表示双金式开关的任意一个电流档位：向双金式开关的主触头系统输入第一校验电流并保持第一设定时长，第一校验电流为继电器的a电流档位的额定电流的2
‑
6倍，第一设定时长为10
‑
120s，然后向双金式开关的主触头系统输入第二校验电流并保持第二设定时长，第二校验电流为继电器的a电流档位的额定电流的1.05
‑
1.2倍，第二设定时长为1
‑
60s；在所述第二设定时长结束时刻，开始旋拧用于调节双金式开关的电流档位的调节凸轮，直至双金式开关的主触头系统断开或者辅助常闭触头组断开，在旋拧调节凸轮的过程中，保持向双金式开关的主触头系统输入第二校验电流；
[0008]所述双金式开关包括多个电流档位时，重复脱扣点校验操作即可；
[0009]所述双金式开关完成首次脱扣点校验操作后，若校验结果不合格，则重复脱扣行程预调操作，然后再次进行脱扣点校验操作。
[0010]优选的，通过凸轮调整电机带动调节凸轮转动，凸轮调整电机带动调节凸轮转动使双金式开关的辅助常闭触头系统断开时，凸轮调整电机所处的角度即是校验结果，若校验结果在合格角度范围内则校验结果合格，若校验结果不在合格角度范围内则校验结果不合格。
[0011]一种继电器的延时特性校验方法，其包括以下操作步骤：
[0012]步骤1，旋拧所述继电器的调节螺钉对继电器的脱扣行程进行一次预调；
[0013]步骤2，包括以下子步骤：
[0014]步骤21，对所述继电器的J
a
电流档位脱扣点进行校验，J
a
电流档位表示继电器的任意一个电流档位：向继电器的主触头系统输入第三校验电流并保持第三设定时长，第三校验电流为J
a
电流档位的额定电流的2
‑
6倍，第三设定时长为1
‑
60s，然后向继电器的主触头系统输入第四校验电流并保持第四设定时长，第四校验电流为J
a
电流档位的额定电流的1.05
‑
1.2倍，第四设定时长为1
‑
60s；所述继电器的调节凸轮为第一调节凸轮，在第四设定时长结束时刻，开始旋拧第一调节凸轮，直至继电器的辅助常闭触头系统断开，旋拧第一调节凸轮的过程中，保持向继电器的主触头系统输入第四校验电流；
[0015]步骤22，所述继电器完成第一次的J
a
电流档位脱扣点校验后，若校验结果不合格则旋拧继电器的调节螺钉对继电器的脱扣行程进行二次预调，然后再进入步骤20；若校验结果合格则进入步骤3；
[0016]步骤3，包括以下子步骤：
[0017]步骤31，冷却所述继电器。
[0018]优选的，所述步骤1包括以下子步骤：
[0019]步骤11，依据所述继电器的产品状态信息调取对应的调试行程参数X；
[0020]步骤12，识别所述继电器的辅助触头系统的状态，辅助触头系统的状态包括辅助常闭触头接通状态和辅助常开触头接通状态；
[0021]步骤13，依据所述辅助触头系统的状态和调试行程参数X，对继电器的脱扣行程进行一次预调。
[0022]优选的，所述步骤13包括以下子步骤：
[0023]步骤131，所述继电器的辅助触头系统的状态为辅助常闭触头接通状态，则向第一方向旋拧调节螺钉，直至辅助常闭触头系统断开，然后在依据调试行程参数X，向第一方向或第二方向旋拧调节螺钉n0圈，n0＝X/P，P为调节螺钉的螺距；所述第一方向和第二方向互为反方向；
[0024]步骤132，所述继电器的辅助触头系统的状态为辅助常开触头接通状态，则向第二方向旋拧调节螺钉，直至辅助常闭触头系统接通使辅助触头系统的状态切换为辅助常闭触头接通状态，然后进行步骤131。
[0025]优选的，通过凸轮调整电机带动第一调节凸轮转动，凸轮调整电机带动第一调节凸轮转动使继电器的辅助常闭触头系统断开时，凸轮调整电机所处的角度为第一角度，第一角度即是校验结果，若第一角度不在合格角度范围内，则校验结果不合格。
[0026]优选的，依据以下公式对所述继电器的脱扣行程进行二次预调：
[0027][0028]其中，
[0029]Q为对所述继电器的脱扣行程进行二次预调时，需要对调节螺钉旋拧的圈数；Q为正值则向第一方向旋拧调节螺钉，Q为负值则向第二方向旋拧调节螺钉；
[0030]A为第一角度；
[0031]W为脱扣点角度值；
[0032]T为调节凸轮提升量；
[0033]P为调节螺钉的螺距。
[0034]优选的，在完成首次脱扣点校验的继电器中，校验结果不合格的继电器所占比例超过设定界限后，依据校验不合格的继电器的校验结果调整其对应的调试行程参数X。
[0035]优选的，在进行步骤1之前，检测所述继电器的辅助触头系统的辅助触头性能。
[0036]优选的，重复步骤21和31，完成继电器的多个电流档位脱扣点校验。
[0037]优选的，所述步骤3还包括以下子步骤：步骤32，所述继电器完成首次脱扣点校验且校验结果合格后，在第一调节凸轮上标记相应的电流档位刻度。
[0038]优选的，还包括步骤4，检测继电器的辅助触头系统的辅助触头性能，并依据脱扣点校验的校验结果，为第一调节凸轮标记其余电流档位刻度。
[0039]一种继电器的延时特性校验系统，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双金式开关的延时特性校验方法，其特征在于，其包括以下操作：脱扣行程预调操作：通过调整所述双金式开关的双金属片与传动结构的相对位置，对双金式开关的脱扣行程进行调整；脱扣点校验操作，完成所述脱扣行程预调操作后，对双金式开关的a电流档位脱扣点进行校验，a电流档位表示双金式开关的任意一个电流档位：向双金式开关的主触头系统输入第一校验电流并保持第一设定时长，第一校验电流为继电器的a电流档位的额定电流的2
‑
6倍，第一设定时长为10
‑
120s，然后向双金式开关的主触头系统输入第二校验电流并保持第二设定时长，第二校验电流为继电器的a电流档位的额定电流的1.05
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1.2倍，第二设定时长为1
‑
60s；在所述第二设定时长结束时刻，开始旋拧用于调节双金式开关的电流档位的调节凸轮，直至双金式开关的主触头系统断开或者辅助常闭触头组断开，在旋拧调节凸轮的过程中，保持向双金式开关的主触头系统输入第二校验电流；所述双金式开关包括多个电流档位时，重复脱扣点校验操作即可；所述双金式开关完成首次脱扣点校验操作后，若校验结果不合格，则重复脱扣行程预调操作，然后再次进行脱扣点校验操作。2.根据权利要求1所述的双金式开关的延时特性校验方法，其特征在于：通过凸轮调整电机带动调节凸轮转动，凸轮调整电机带动调节凸轮转动使双金式开关的辅助常闭触头系统断开时，凸轮调整电机所处的角度即是校验结果，若校验结果在合格角度范围内则校验结果合格，若校验结果不在合格角度范围内则校验结果不合格。3.一种继电器的延时特性校验方法，其特征在于，其包括以下操作步骤：步骤1，旋拧所述继电器的调节螺钉(100s)对继电器的脱扣行程进行一次预调；步骤2，包括以下子步骤：步骤21，对所述继电器的J
a
电流档位脱扣点进行校验，J
a
电流档位表示继电器的任意一个电流档位：向继电器的主触头系统输入第三校验电流并保持第三设定时长，第三校验电流为J
a
电流档位的额定电流的2
‑
6倍，第三设定时长为1
‑
60s，然后向继电器的主触头系统输入第四校验电流并保持第四设定时长，第四校验电流为J
a
电流档位的额定电流的1.05
‑
1.2倍，第四设定时长为1
‑
60s；所述继电器的调节凸轮为第一调节凸轮(100cam)，在第四设定时长结束时刻，开始旋拧第一调节凸轮(100cam)，直至继电器的辅助常闭触头系统(100c)断开，旋拧第一调节凸轮(100cam)的过程中，保持向继电器的主触头系统输入第四校验电流；步骤22，所述继电器完成第一次的J
a
电流档位脱扣点校验后，若校验结果不合格则旋拧继电器的调节螺钉(100s)对继电器的脱扣行程进行二次预调，然后再进入步骤20；若校验结果合格则进入步骤3；步骤3，包括以下子步骤：步骤31，冷却所述继电器。4.根据权利要求3所述的继电器的延时特性校验方法，其特征在于：所述步骤1包括以下子步骤：步骤11，依据所述继电器的产品状态信息调取对应的调试行程参数X；步骤12，识别所述继电器的辅助触头系统的状态，辅助触头系统的状态包括辅助常闭触头接通状态和辅助常开触头接通状态；
步骤13，依据所述辅助触头系统的状态和调试行程参数X，对继电器的脱扣行程进行一次预调。5.根据权利要求4所述的继电器的延时特性校验方法，其特征在于：所述步骤13包括以下子步骤：步骤131，所述继电器的辅助触头系统的状态为辅助常闭触头接通状态，则向第一方向旋拧调节螺钉，直至辅助常闭触头系统(100c)断开，然后在依据调试行程参数X，向第一方向或第二方向旋拧调节螺钉n0圈，n0＝X/P，P为调节螺钉的螺距；所述第一方向和第二方向互为反方向；步骤132，所述继电器的辅助触头系统的状态为辅助常开触头接通状态，则向第二方向旋拧调节螺钉，直至辅助常闭触头系统(100c)接通使辅助触头系统的状态切换为辅助常闭触头接通状态，然后进行步骤131。6.根据权利要求3所述的继电器的延时特性校验方法，其特征在于：通过凸轮调整电机带动第一调节凸轮(100cam)转动，凸轮调整电机带动第一调节凸轮(100cam)转动使继电器的辅助常闭触头系统(100c)断开时，凸轮调整电机所处的角度为第一角度，第一角度即是校验结果，若第一角度不在合格角度范围内，则校验结果不合格。7.根据权利要求6所述的继电器的延时特性校验方法，其特征在于：依据以下公式对所述继电器的脱扣行程进行二次预调：其中，Q为对所述继电器的脱扣行程进行二次预调时，需要对调节螺钉(100s)旋拧的圈数；Q为正值则向第一方向旋拧调节螺钉(100s)，Q为负值则向第二方向旋拧调节螺钉(100s)；A为第一角度；W为脱扣点角度值；T为调节凸轮提升量；P为调节螺钉(100s)的螺距。8.根据权利要求6所述的继电器的延时特性校验方法，其特征在于：在完成首次脱扣点校验的继电器中，校验结果不合格的继电器所占比例超过设定界限后，依据校验不合格的继电器的校验结果调整其对应的调试行程参数X。9.根据权利要求3所述的继电器的延时特性校验方法，其特征在于：在进行步骤1之前，检测所述继电器的辅助触头系统的辅助触头性能；重复步骤21和31，完成继电器的多个电流档位脱扣点校验；所述步骤3还包括以下子步骤：步骤32，所述继电器完成首次脱扣点校验且校验结果合格后，在第一调节凸轮(100cam)上标记相应的电流档位刻度；还包括步骤4，检测继电器的辅助触头系统的辅助触头性能，并依据脱扣点校验的校验结果，为第一调节凸轮(100cam)标记其余电流档位刻度。10.一种继电器的延时特性校验系统，其特征在于，其应用权利要求3
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9任意一项所述的继电器的延时特性校验方法；所述继电器的延时特性校验系统包括前置检测/标记单元、预调单元、校验/冷却子系
统、电流档位标记单元和终端检测/标记单元；所述校验/冷却子系统包括至少一个校验冷却组合单元，每个所述校验冷却组合单元均包括一个校验单元和一个冷却单元，预调单元和终端检测/标记单元之间设有一个或多个校验冷却组合单元，电流档位标记单元设置在首个校验冷却组合单元的校验单元和冷却单元之间或者设置在第一个校验冷却组合单元和第二个校验冷却组合单元之间；所述前置检测/标记单元，在对继电器的脱扣行程进行一次预调之前，检测继电器的辅助触头系统的辅助触头性能，为继电器标记唯一的产品状态码；所述预调单元，对继电器的脱扣行程进行一次预调或二次预调；所述校验单元，对继电器的各电流档位脱扣点进行校验；所述冷却单元，在继电器完成一次脱扣点校验后对继电器进行冷却；所述电流档位标记单元，在继电器完成首次脱扣点校验且校验结果合格后，将对应的电流档位标记在继电器的第一调节凸轮(100cam)上；所述终端检测/标记单元，在继电器完成脱扣点校验后，依据校验结果在第一调节凸轮(100cam)上标记其余电流档位刻度；还包括分别与前置检测/标记单元、预调单元、校验/冷却子系统、电流档位标记单元和终端检测/标记单元通讯相连的控制单元；所述控制单元内存储有继电器的产品状态信息和调试行程参数X；所述预调单元读取继电器的产品状态码以从控制单元获取对应的调试行程参数；所述校验/冷却子系统读取继电器的产品...

【专利技术属性】
技术研发人员：王彬鸣，肖体锋，叶扬，岳喜雷，胡建国，林铸鑫，
申请(专利权)人：浙江正泰电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：