测试方法、电子设备以及存储介质技术

本发明专利技术公开了测试方法、电子设备以及存储介质，其中，测试方法包括：间隔固定时长对电子设备的待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令，并获取待测试摄像头拍摄的照片数量；响应于待测试摄像头拍摄的照片数量小于预设次数，延长固定时长，再次对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令；响应于待测试摄像头拍摄的照片数量等于预设次数，将对应的固定时长确定为待测试摄像头的响应时间。通过上述方法，本发明专利技术能够提高测试电子设备的待测试摄像头的响应时间的准确率。的准确率。的准确率。

【技术实现步骤摘要】
测试方法、电子设备以及存储介质


[0001]本专利技术应用于摄像头测试的
，尤其是测试方法、电子设备以及存储介质。

技术介绍

[0002]随着摄像头的高速发展，消费者对各类摄像头快速拍照成像的渴求越来越强烈。摄像头在拍照后何时能进行下次拍照，即其响应时间的确定，也是比较耗费测试时间的。
[0003]市面上常见方案是，对着秒表拍摄，快速不停触发摄像头拍照按钮多次，然后取出两个照片拍摄的秒表图片，人眼读出照片秒表数据，然后做差，约等于两次连续拍照成功的时间差，多测试几次取平均值，就是一次模式拍照完后，下次可拍照成功的时间。
[0004]该方案有以下不足：由于每个人手指的点击速度不一致，如果摄像头性能很好，测试结果差距很大。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了测试方法、电子设备以及存储介质，以解决摄像头的测试准确率不高的问题。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种测试方法，包括：间隔固定时长对电子设备的待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令，并获取待测试摄像头拍摄的照片数量；响应于待测试摄像头拍摄的照片数量小于预设次数，延长固定时长；再次对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令；响应于待测试摄像头拍摄的照片数量等于预设次数，将对应的固定时长确定为待测试摄像头的响应时间。
[0007]其中，间隔固定时长对电子设备的待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令，并获取待测试摄像头拍摄的照片数量的步骤包括：调用自动化测试工具连接待测试摄像头；调用自动化测试工具模拟待测试摄像头的拍摄操作，并间隔固定时长基于拍摄操作对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令；检测待测试摄像头的图库中的照片，确定待测试摄像头拍摄的照片数量。
[0008]其中，间隔固定时长通过拍摄操作对电子设备的待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令的步骤之前包括：清空待测试摄像头的图库中的照片。
[0009]其中，通过调用自动化测试工具连接待测试摄像头的步骤包括：获取到待测试摄像头，并确定待测试摄像头的功能按钮的位置，功能按钮包括拍摄按钮；通过调用自动化测试工具连接待测试摄像头；调用自动化测试工具模拟待测试摄像头的拍摄操作，并间隔固定时长基于拍摄操作对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令的步骤包括：利用拍摄按钮的位置调用自动化测试工具模拟待测试摄像头的拍摄操作，并间隔固定时长基于拍摄操作对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令。
[0010]其中，功能按钮还包括多个场景按钮；调用自动化测试工具模拟待测试摄像头的拍摄操作，并间隔固定时长基于拍摄操作对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令的步骤包括：利用一个场景按钮的位置调用自动化测试工具触发待测试摄像头的当前场景模式；
在当前场景模式下，利用拍摄按钮的位置调用自动化测试工具模拟待测试摄像头的拍摄操作，并间隔固定时长基于拍摄操作对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令；将对应的固定时长确定为待测试摄像头的响应时间的步骤包括：将对应的固定时长确定为待测试摄像头在当前场景模式下的响应时间。
[0011]其中，将对应的固定时长确定为待测试摄像头在当前场景模式下的响应时间的步骤之后还包括：利用其他场景按钮的位置调用自动化测试工具更换待测试摄像头的当前场景模式，再次间隔固定时长对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令，确定待测试摄像头在更换后的当前场景模式下的响应时间，直至确定待测试摄像头在所有场景模式下的响应时间。
[0012]其中，待测试摄像头包括智能终端的摄像头。
[0013]其中，固定时长的单次延长时长相等，且单次延长时长的范围为40
‑
60毫秒。
[0014]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种电子设备，包括：相互耦接的存储器和处理器，处理器用于执行存储器中存储的程序指令，以实现如上述任一项的测试方法。
[0015]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有程序数据，程序数据能够被执行以实现如上述任一项的测试方法。
[0016]本专利技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，本专利技术通过预先设置一个固定时长，基于固定时长对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令，并在待测试摄像头拍摄的照片数量小于预设次数，延长固定时长，再次对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令，直至待测试摄像头拍摄的照片数量等于预设次数，将对应的固定时长确定为待测试摄像头的响应时间，从而能够提高测试的规范性，提高测试待测试摄像头的响应时间的准确率。
附图说明
[0017]图1是本专利技术提供的测试方法一实施例的流程示意图；
[0018]图2是本专利技术提供的测试方法另一实施例的流程示意图；
[0019]图3是本专利技术提供的电子设备一实施例的结构示意图；
[0020]图4是本专利技术提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0021]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本专利技术保护的范围。
[0022]需要说明，若本专利技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0023]另外，若本专利技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能
够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。
[0024]请参阅图1，图1是本专利技术提供的测试方法一实施例的流程示意图。
[0025]步骤S11：间隔固定时长对电子设备的待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令，并获取待测试摄像头拍摄的照片数量。
[0026]获取到电子设备的待测试摄像头。其中，电子设备包括智能终端、单反相机、监测相机、数码相机等，在此不做限定。
[0027]间隔固定时长对电子设备的待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令。即在对待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令时，每相邻的两次拍摄指令之间的间隔时长均为固定时长。
[0028]其中，固定时长的具体时长可以基于实际情况进行设置，在此不做限定，例如基于低于待测试摄像头的预估响应时间进行设置，以避免固定时长高于待测试摄像头的响应时间，影响测试的准确性的情况发生。其中，预估响应时间可以基于待测试摄像头的性能进行确定。
[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：间隔固定时长对电子设备的待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令，并获取所述待测试摄像头拍摄的照片数量；响应于所述待测试摄像头拍摄的照片数量小于所述预设次数，延长固定时长；再次对所述待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令；响应于所述待测试摄像头拍摄的照片数量等于所述预设次数，将所述固定时长确定为所述待测试摄像头的响应时间。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述间隔固定时长对电子设备的待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令，并获取所述待测试摄像头拍摄的照片数量的步骤包括：调用自动化测试工具连接所述待测试摄像头；调用所述自动化测试工具模拟所述待测试摄像头的拍摄操作，并间隔所述固定时长基于所述拍摄操作对所述待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令；检测所述待测试摄像头的图库中的照片，确定所述待测试摄像头拍摄的照片数量。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述间隔所述固定时长通过所述拍摄操作对电子设备的待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令的步骤之前包括：清空所述待测试摄像头的图库中的照片。4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述调用自动化测试工具连接待测试摄像头的步骤包括：获取到待测试摄像头，并确定所述待测试摄像头的功能按钮的位置，所述功能按钮包括拍摄按钮；通过调用所述自动化测试工具连接待测试摄像头；所述调用所述自动化测试工具模拟所述待测试摄像头的拍摄操作，并间隔所述固定时长基于所述拍摄操作对所述待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令的步骤包括：利用所述拍摄按钮的位置调用所述自动化测试工具模拟所述待测试摄像头的拍摄操作，并间隔所述固定时长基于所述拍摄操作对所述待测试摄像头下发预设次数的拍摄指令。5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述功...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈功，
申请(专利权)人：深圳天珑无线科技有限公司，
类型：发明
国别省市：