本实用新型专利技术公开了一种新型的芯片吸嘴测高装置，包括吸嘴滑块，吸嘴滑块的底部一侧活动连接有芯片吸嘴，吸嘴滑块的底部另一侧安装有滑块固定底座，滑块固定底座的正下方安装有固定在机台上的固定块，固定块的中心处开设有贯通的内螺纹孔，内螺纹孔的内部旋接有与滑块固定底座底部中心处接触的吸嘴高度调节螺丝，固定块的侧边安装有光电传感器，滑块固定底座上安装有遮挡光电传感器感应位置的挡片。本实用新型专利技术采用非接触式测高方式，避免的出现测高失灵故障，减少停机维修时间，提高产能，使芯片不会出现压碎不良，提高产品良率，同时非接触式测高方式不会造成滑块固定底座磨损，不需要定期更换，减少维护费用。减少维护费用。减少维护费用。
【技术实现步骤摘要】
一种新型的芯片吸嘴测高装置
[0001]本技术涉及芯片吸嘴配件
，具体为一种新型的芯片吸嘴测高装置。
技术介绍
[0002]半导体芯片的品质检测，会使用一半导体检测设备进行半导体芯片的检测，其中，该半导体检测设备包含一机台、一吸嘴装置及一摄像装置，该吸嘴装置可移动地设置于该机台上。吸嘴装置在动前要先对芯片吸嘴进行测高操作，来检测吸嘴原始高度作为原点，测高完成后才能运行设备。设备开启后，芯片吸嘴从待机高度下降吸取芯片盘上芯片，吸到芯片后抬起至待机高度，移动至陶瓷底座上方，芯片吸嘴在下降将芯片防置在BASE内，芯片吸嘴抬起至待机位置，等待对下一颗BASE种晶。以此循环动作。
[0003]现有技术中芯片吸嘴测高装置由测高信号线、固定测高线螺丝、马达驱动I/O、电脑组成。操作电脑软件点击芯片吸嘴测高，芯片吸嘴移至测高平台，会缓慢下降，固定芯片嘴滑块会慢慢上抬，当其脱离测高信号线固定螺丝后，当前高度位置参数为新校正基准值，会和原校正基准值做对比，差异值为零时，则校高完成。才正常开启设备。此原理为接触式测高方式。
[0004]上述测高方式具有以下缺点：1)测高线对地是有24V电压，固定吸嘴滑块处于接地状态，经过多次测高后，吸嘴固定滑块和固定测高信号线螺丝接触面会积累碳化物，导致测高功能失灵；2)芯片的厚度只有0.01MM左右，当吸嘴固定滑块和固定测高信号线螺丝接触面积累碳化物清理不干净时，会导致芯片出现压碎的情况；3)固定吸嘴滑块底部因经常触电、断开的方式，容易出现磨损，需定期更换螺丝及滑块，增加保养维护费用。因此，设计一种新型的芯片吸嘴测高装置是很有必要的。
技术实现思路
[0005]针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本技术提供一种新型的芯片吸嘴测高装置，采用非接触式测高方式，避免的出现测高失灵故障，减少停机维修时间，提高产能，使芯片不会出现压碎不良，提高产品良率，同时非接触式测高方式不会造成滑块固定底座磨损，不需要定期更换，减少维护费用。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种新型的芯片吸嘴测高装置，包括吸嘴滑块，所述吸嘴滑块的底部一侧活动连接有芯片吸嘴，所述吸嘴滑块的底部另一侧安装有滑块固定底座，所述滑块固定底座的正下方安装有固定在机台上的固定块，所述固定块的中心处开设有贯通的内螺纹孔，所述内螺纹孔的内部旋接有与滑块固定底座底部中心处接触的吸嘴高度调节螺丝，所述固定块的侧边安装有光电传感器，所述滑块固定底座上安装有遮挡光电传感器感应位置的挡片，所述光电传感器的输出端与机台电控箱内部的继电器的13#接线端连接，所述继电器的1#接线端通过测高信号线与驱动I/O组件的输出端连接，所述驱动I/O组件的输入端与电脑的输出端连接。
[0007]优选的，所述固定块的侧边旋接有与吸嘴高度调节螺丝接触的止步螺丝。
[0008]优选的，所述光电传感器的供电端和继电器的14#接线端均与DC24V电源电性连接。
[0009]优选的，所述光电传感器采用SENSOR EE
‑
SX671光电传感器，所述继电器采用OMRON MY2NJ继电器。
[0010]优选的，所述滑块固定底座为一种POM塑料材料构件，所述挡片为一种不锈钢材料构件。
[0011]本技术的有益效果为：
[0012]1、采用非接触式测高方式，避免的出现测高失灵故障，减少停机维修时间，提高产能，使芯片不会出现压碎不良，提高产品良率，同时非接触式测高方式不会造成滑块固定底座磨损，不需要定期更换，减少维护费用；
[0013]2、旋紧止步螺丝，使其顶在吸嘴高度调节螺丝的侧边，防止吸嘴高度调节螺丝松动。
附图说明
[0014]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：
[0015]图1是本技术整体正视平面结构示意图；
[0016]图2是本技术固定块区域剖视平面结构示意图；
[0017]图3是本技术挡片三维结构示意图；
[0018]图4为本技术电路接线平面结构示意图；
[0019]图中标号：1、吸嘴滑块；2、芯片吸嘴；3、滑块固定底座；4、固定块；5、吸嘴高度调节螺丝；6、光电传感器；7、挡片；8、内螺纹孔；9、止步螺丝；10、DC24V电源；11、继电器；12、测高信号线；13、驱动I/O组件；14、电脑。
具体实施方式
[0020]在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本技术的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。
[0021]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
[0022]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0023]实施例一
[0024]由图1、图2、图3和图4给出，本技术提供如下技术方案：一种新型的芯片吸嘴测高装置，包括吸嘴滑块1，吸嘴滑块1的底部一侧活动连接有芯片吸嘴2，吸嘴滑块1的底部
另一侧安装有滑块固定底座3，滑块固定底座3的正下方安装有固定在机台上的固定块4，固定块4的中心处开设有贯通的内螺纹孔8，内螺纹孔8的内部旋接有与滑块固定底座3底部中心处接触的吸嘴高度调节螺丝5，固定块4的侧边安装有光电传感器6，滑块固定底座3上安装有遮挡光电传感器6感应位置的挡片7，光电传感器6的输出端与机台电控箱内部的继电器11的13#接线端连接，继电器11的1#接线端通过测高信号线12与驱动I/O组件13的输出端连接，驱动I/O组件13的输入端与电脑14的输出端连接，操作电脑14进行芯片吸嘴测高作业，芯片吸嘴2移至测高平台，会缓慢下降，吸嘴滑块1会慢慢上抬，带动滑块固定底座3慢慢上抬，固定在滑块固定底座3下面的挡片7也同样跟着上抬，使挡片7脱离光电传感器6的感应位置，当前高度位置参数为新校正基准值，会和原校正基准值做对比，差异值为零时，则校高完成，采用非接触式测高方式，避免的出现测高失灵故障，减少停机维修时间，提高产能，使芯片不会出现压碎不良，提高产品良率，同时非接触式测高方式不会造成滑块固定底座3磨损，不需要定期更换，减少维护费用。
[0025]优选的，光电传感器6的供电端和继电器11的14#接线端均与DC24V本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种新型的芯片吸嘴测高装置，包括吸嘴滑块(1)，其特征在于：所述吸嘴滑块(1)的底部一侧活动连接有芯片吸嘴(2)，所述吸嘴滑块(1)的底部另一侧安装有滑块固定底座(3)，所述滑块固定底座(3)的正下方安装有固定在机台上的固定块(4)，所述固定块(4)的中心处开设有贯通的内螺纹孔(8)，所述内螺纹孔(8)的内部旋接有与滑块固定底座(3)底部中心处接触的吸嘴高度调节螺丝(5)，所述固定块(4)的侧边安装有光电传感器(6)，所述滑块固定底座(3)上安装有遮挡光电传感器(6)感应位置的挡片(7)，所述光电传感器(6)的输出端与机台电控箱内部的继电器(11)的13#接线端连接，所述继电器(11)的1#接线端通过测高信号线(12)与驱动I/O组件(13)的输出端连接，所述驱动I/O组件(13)的输...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨聪滨，陈玉仿，
申请(专利权)人：无锡嘉硕科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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