基色校正方法、装置、投影设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:36765876 阅读:12 留言:0更新日期:2023-03-08 21:21
本申请公开了一种基色校正方法、装置、投影设备及存储介质,该基色校正方法应用于投影设备,该基色校正方法包括:获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度;基于所述每个比特平面的投射亮度,确定所述每个比特平面对应的待投射时长,所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关;将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长,校正为所述每个比特平面的待投射时长。本方法可以实现基于投影设备实际投影时每个基色的每个比特平面的亮度,对每个比特平面的投射时长进行校正,由此实现对投影设备的显示基色的校正,使其基色的灰阶过渡较为平滑。使其基色的灰阶过渡较为平滑。使其基色的灰阶过渡较为平滑。

【技术实现步骤摘要】
基色校正方法、装置、投影设备及存储介质


[0001]本申请涉及投影
,更具体地,涉及一种基色校正方法、装置、投影设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着科技水平的进步,投影设备(例如投影机、激光投影电视等)被人们广泛使用于生活和工作中。相关技术中,投影设备在成像时,通过驱动电路驱动三种颜色的激光器或者LED产生三基色,并且经过一定比例的混合形成彩色图像。但投影设备实际工作时会受到驱动电路、光源等器件的影响,而导致显示出的基色灰阶与实际所要显示的基色灰阶不同,使基色的灰阶过渡不平滑,进而出现显示问题。

技术实现思路

[0003]鉴于上述问题,本申请提出了一种基色校正方法、装置、投影设备及存储介质。
[0004]第一方面,本申请实施例提供了一种基色校正方法,应用于投影设备,所述方法包括:获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度;基于所述每个比特平面的投射亮度,确定所述每个比特平面对应的待投射时长,所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关;将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长,校正为所述每个比特平面的待投射时长。
[0005]第二方面,本申请实施例提供了一种基色校正装置,应用于投影设备,所述装置包括:亮度获取模块、时长确定模块以及时长校正模块,其中,所述亮度获取模块用于获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度;所述时长确定模块用于基于所述每个比特平面的投射亮度,确定所述每个比特平面对应的待投射时长,所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关;所述时长校正模块用于将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长,校正为所述每个比特平面的待投射时长。
[0006]第三方面,本申请实施例提供了一种投影设备,包括:一个或多个处理器;存储器;一个或多个应用程序,其中所述一个或多个应用程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行,所述一个或多个程序配置用于执行上述第一方面提供的基色校正方法。
[0007]第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读取存储介质,所述计算机可读取存储介质中存储有程序代码,所述程序代码可被处理器调用执行上述第一方面提供的基色校正方法。
[0008]本申请提供的方案,通过获取投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度,基于获取到的每个比特平面的投射亮度,确定每个比特平面对应的待投射时长,其中每个比特平面的待投射时长与每个比特平面的投射亮度呈正相关,然后将投影设备投影内容时每个比特平面的投射时长校准为每个比特平面的待投射时长。从而可以
实现基于投影设备投影测试图像时各个基色对应的每个比特平面实际的投射亮度,对各个基色对应的每个比特平面的投射时长进行校准,使每个比特平面的投射时长与其在校正前实际的投射亮度呈正相关,因此,在校正比特平面的投射时长后,能够保证投影设备在投影内容时,可以通过校正后的比特平面投射出正确灰阶的基色,使基色的灰阶过渡平滑,保证投影设备所投影的内容的显示效果。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0010]图1示出了本申请实施例提供的投影设备的一种结构示意图。
[0011]图2示出了根据本申请一个实施例的基色校正方法流程图。
[0012]图3示出了本申请实施例提供的投影设备的投影原理示意图。
[0013]图4示出了根据本申请另一个实施例的基色校正方法流程图。
[0014]图5示出了本申请另一个实施例提供的基色校正方法中步骤S220的一种流程示意图。
[0015]图6示出了本申请另一个实施例提供的基色校正方法中步骤S220的另一种流程示意图。
[0016]图7示出了根据本申请又一个实施例的基色校正方法流程图。
[0017]图8示出了根据本申请再一个实施例的基色校正方法流程图。
[0018]图9示出了根据本申请一个实施例的基色校正装置的一种框图。
[0019]图10是本申请实施例的用于执行根据本申请实施例的基色校正方法的投影设备的框图。
[0020]图11是本申请实施例的用于保存或者携带实现根据本申请实施例的基色校正方法的程序代码的存储单元。
具体实施方式
[0021]为了使本
的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0022]随着科技水平的进步,投影设备被人们广泛使用,人们可以在工作和生活中使用投影设备投影相应的内容,以查看和分享所需的内容。目前的投影设备,大部分采用数字光处理(Digital Light Processing,DLP)的投影技术,该技术是通过投影设备内部的数字显微镜器件(Digital Micromirror Device,DMD)控制光线的反射方向来实现工作的。
[0023]其中,请参阅图1,投影设备主要包括光源、色轮、DMD、分色棱镜和投影屏幕。DMD芯片是一种复杂的光开关器件,有大量铰接安装的微镜组成的矩形阵列,一个微镜对应一个像素,当微镜向光源倾斜时,光反射到镜头上,相当于光开关的“开”状态;当微镜向光源反方向倾斜时,光反射不到镜头上,相当于光开关的“关”状态。另外,投影设备在DMD芯片前还设置有一个多色的色轮,该多色包括构成颜色的所有基色,例如三基色中的红色(Red)、绿
色(Green)和蓝色(Blue)。在投影设备工作时,光源发出的光透过色轮投射到DMD芯片上,DMD芯片上的所有微镜,根据自身对应的像素中该颜色的灰阶,决定了其对这种色光处于开位置的次数,也即决定了反射后通过分色棱镜投射到投影屏幕上各个像素的相应基色的灰阶。对于一帧投影画面而言,当所有基色的光依次照射到DMD表面时,DMD表面中的所有微镜将极快地重复上面的动作,最终表现出来的结果就是在投影屏幕上呈现出彩色的投影画面。
[0024]专利技术人经过长时间的研究发现,由于驱动的一致性问题,会导致驱动光源的电流产生小的波动,或者光源的启动响应时间不同,会导致光的能量不均匀,使一些像素实际表现出的基色的灰阶与想要表现的灰阶不同,从而导致基色的灰阶范围里一些灰阶值无法正常表达,即导致基色的灰阶过渡不平滑,呈现出的像素颜色不准确,进而出现显示问题。
[0025]针对上述问题,专利技术人提出了本申请实施例提供的基色校正方法、装置、投影设备及存储介质,通过基于投影设备投影测试图像时各个基色对应的每个比特平面实际的投射亮度,对各个基色对应的每个比特平面的投射时长进行校准,使每个比特平面的投射时长与其在校正前实际的投射亮度呈正相关,因此,在校正比特平面的投射时长后,能够保证投影设备在投影本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基色校正方法,其特征在于,应用于投影设备,所述方法包括:获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度;基于所述每个比特平面的投射亮度,确定所述每个比特平面对应的待投射时长,所述每个比特平面对应的待投射时长与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关;将所述投影设备投影内容时所述每个比特平面的投射时长,校正为所述每个比特平面的待投射时长。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述每个比特平面的投射亮度,确定所述每个比特平面对应的待投射时长,包括:基于所述每个比特平面的投射亮度,确定所述每个比特平面对应的时长权重,所述每个比特平面对应的时长权重与所述每个比特平面的投射亮度呈正相关;基于所述每个基色的投射时长,以及所述每个比特平面对应的时长权重,获取所述每个比特平面对应的待投射时长。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述每个比特平面的投射亮度,确定所述每个比特平面对应的时长权重,包括:获取所述每个基色的所有比特平面的投射亮度的亮度和,得到所述每个基色对应的亮度和;获取所述每个基色对应的每个比特平面的投射亮度与所述每个基色对应的亮度和的比值,得到所述每个比特平面对应的时长权重。4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述每个比特平面的投射亮度,确定所述每个比特平面对应的时长权重,包括:获取所述每个基色对应的预设亮度和;获取所述每个基色对应的每个比特平面的投射亮度与所述每个基色对应的预设亮度和的比值,得到所述每个比特平面对应的目标权重;基于将所述每个比特平面对应的目标权重,对当前存储的所述每个比特平面对应的时长权重进行调整,得到调整后的所述每个比特平面对应的时长权重,其中,所述每个基色对应的每个比特平面对应的时长权重的和值为1。5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述每个基色的投射时长,以及所述每个比特平面对应的时长权重,获取所述每个比特平面对应的待投射时长,包括:获取所述每个基色的投射时长与所述每个基色对应的每个比特平面的时长权重的乘积,得到所述每个比特平面对应的待投射时长。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述投影设备投影测试图像时每个基色对应的每个比特平面的投射亮度,包括:获取每个基色对应的测试图像;对所述每个基色对应的测试图像依次进行投射;在所...

【专利技术属性】
技术研发人员:王振
申请(专利权)人:OPPO广东移动通信有限公司
类型:发明
国别省市:

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