电子天平制造技术

本发明专利技术提出一种电子天平(1)，包括：非接触传感器(30)，具有基板(31)、以指向目标侦测空间的方式固定于基板(31)的表面且具有指向性的发光元件(32)、及以与发光元件(32)分离并指向所述目标侦测空间的方式固定于基板(31)的表面且具有指向性的光接收元件(33)；以及动作控制部(50)，根据非接触传感器(30)的检测信号，对电子天平(1)的规定部分的动作进行控制。对电子天平(1)的规定部分的动作进行控制。对电子天平(1)的规定部分的动作进行控制。

【技术实现步骤摘要】
电子天平


[0001]本专利技术涉及一种电子天平。

技术介绍

[0002]在实验室等中，为了测定粉体等被测定物的质量(重量)而使用电子天平。此种电子天平为了防止测定环境中的对流等的影响，包括将秤量盘包围的风挡。在所述风挡设置有能够打开/关闭的门。在测定时，打开风挡的门，在电子天平的秤量盘的载置面上载置被测定物，关闭风挡的门，并确认显示部的秤量值，从而获得被测定物的重量值。
[0003]以前用户手动地进行风挡的门的打开/关闭，但近年来能够自动地打开/关闭风挡的门的电子天平得到普及。虽然也有通过用户按下物理开关来进行门的自动打开/关闭的操作的情况，但在专利文献1及非专利文献1中记载的电子天平中，使用非接触传感器来进行门的打开/关闭操作。在所述电子天平中，当在风挡的门闭合的状态下用户将手伸到非接触传感器时，驱动马达运行而所述门打开，当在门打开的状态下用户将手伸到非接触传感器时，所述驱动马达运行而所述门闭合。通过使用此种非接触传感器，用户可仅通过将手接近非接触传感器来进行操作，因此，不需要在每次门的打开/关闭操作时放下试剂瓶或药勺。另外，由于用户不需要使手接触开关等，因此，可防止经由电子天平发生新型冠状病毒感染病等传染病的接触感染。
[0004]在非专利文献1中记载的电子天平中，使用反射型非接触传感器。具体而言，使用排列有发光元件(发光二极管：LED(light emitting diode))与光接收元件(光电二极管：PD(photo diode))的一体的传感器装置。当用户以非接触方式将手等伸到传感器装置的附近时，从发光元件产生的具有特定波长的光被手等反射/散射，且通过光接收元件而检测到具有所述特定波长的反射/散射光，由此侦测到将手等伸到了传感器装置的附近。
[0005]此处，假设当从发光元件产生的光扩展为必需程度以上的广范围，或光接收元件接收到来自必需程度以上的广范围的光时，即便在用户的手等位于远离传感器装置的侧方位置时，光接收元件也会检测到反射/散射光，有可能使得尽管用户无意但仍会导致风挡的门打开/关闭。因此，在非专利文献1中记载的电子天平中，在一端设置开口的筒状的发光元件收纳部内，自开口沿轴向分离(向里侧)地配置发光元件，并且同样地在筒状的光接收元件收纳部内，自开口沿轴向分离(向里侧)地配置光接收元件。然后，使这些发光元件收纳部及光接收元件收纳部以彼此的轴在目标侦测空间交叉的方式倾斜地固定。如此，通过将发光元件配置得比发光元件收纳部的开口更靠里面的一侧，可抑制射出光的扩散，并且通过将光接收元件配置得比光接收元件收纳部的开口更靠里面的一侧，可抑制入射至光接收元件的光的范围。由此，防止由传感器装置在必需程度以上的广范围侦测到用户的手等，从而防止用户意外地打开/关闭风挡的门。然而，当想要使发光元件的发光方向与发光元件收纳部的开口方向一致时，必须使用发光元件收纳部对发光元件进行固定，因此，产生尺寸变大以使发光元件收纳部可足以固定发光元件的问题。
[0006][现有技术文献][0007][专利文献][0008][专利文献1]日本专利特开2019
‑
194575号公报
[0009][非专利文献][0010][非专利文献1]“参考手册分析天平与比较器XPR”，[在线(online)]，发行年月日不明，梅特勒
‑
托利多(mettler toledo)股份有限公司，[2021年8月11日检索]，互联网＜https://www.mt.com/dam/P5/labtec/02_Analytical_Balances/10_Excellence_Line/RM_XPR_Analytical_and_Comparators_JA.pdf＞

技术实现思路

[0011][专利技术所要解决的问题][0012]在大量电子天平中，为了提高分析者的操作性，将平板状的操作面板单元设置于秤量盘及风挡的前方且为自用户观察时不遮藏秤量盘的下方，所述操作面板单元收纳有显示所测定的重量等的显示装置、以及用于进行显示内容的切换等操作的开关。用于打开/关闭门的非接触传感器由于适当的是其侦测空间位于所述操作面板单元上部(或上部前方)，因此，理想的是设置于所述操作面板单元内。但是，在非专利文献1中记载的电子天平中，需要竖立设置筒状的发光元件收纳部及光接收元件收纳部，因此，非接触传感器需要规定的高度，收纳其的操作面板单元的厚度也变大。
[0013]本专利技术所要解决的课题为提供一种可减小设置非接触传感器所需的空间的电子天平。
[0014][解决问题的技术手段][0015]为了解决所述课题而成的本专利技术的电子天平包括：
[0016]非接触传感器，具有基板、以指向目标侦测空间的方式固定于所述基板的表面且具有指向性的发光元件、以及以与所述发光元件分离并指向所述目标侦测空间的方式固定于所述基板的表面且具有指向性的光接收元件；以及
[0017]动作控制部，根据所述非接触传感器的检测信号对电子天平的规定部分的动作进行控制。
[0018]在本专利技术的电子天平中，通过使用具有指向性的发光元件、与同样地具有指向性的光接收元件，不需要使用用于限制发光范围或光接收范围的筒状构件。由此，可抑制非接触传感器的高度。因此，对于设置于秤量盘及风挡的前方与下方的操作面板单元而言，可在不增大其厚度的情况下收纳非接触传感器。
[0019][专利技术的效果][0020]根据本专利技术的电子天平，可减小设置非接触传感器所需的空间。
附图说明
[0021]图1是表示本专利技术的电子天平的一实施方式的立体图。
[0022]图2是表示本实施方式的电子天平的俯视图。
[0023]图3是本实施方式的电子天平所具有的非接触传感器的分解立体图。
[0024]图4是本实施方式的电子天平所具有的非接触传感器的剖面图。
[0025]图5是表示将发光元件固定于基板的作业时的状态的剖面图。
[0026]图6是表示将非接触传感器固定于操作面板单元的框体内的状态的剖面图。
[0027][符号的说明][0028]1：电子天平
[0029]10：主体
[0030]101：基座
[0031]102：后壁体
[0032]11：秤量盘
[0033]12：操作面板单元
[0034]121：下部框体壁
[0035]122：上部框体壁
[0036]123：红外线穿过窗
[0037]13：静电消除器
[0038]14：电源开关
[0039]20：风挡
[0040]21：架框
[0041]22：前侧壁
[0042]23：后侧壁
[0043]24：右侧门
[0044]25：左侧门
[0045]26：上侧门
[0046]27：握柄
[0047]30：非接触传感器
[0048]301：右非接触传感器
[0049]302：左非接触传感器
[0050]31本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子天平，其特征在于，包括：非接触传感器，具有：基板；发光元件，以指向目标侦测空间的方式固定于所述基板的表面且具有指向性；及光接收元件，以与所述发光元件分离并指向所述目标侦测空间的方式固定于所述基板的表面且具有指向性；以及动作控制部，根据所述非接触传感器的检测信号，对所述电子天平的规定部分的动作进行控制。2.根据权利要求1所述的电子天平，其特征在于，还包括：元件盖，所述元件盖收纳所述发光元件和/或所述光接收元...

【专利技术属性】
技术研发人员：饭塚淳史，河合正幸，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：