一种波形量化装置及方法制造方法及图纸

本申请公开了一种波形量化装置及方法，涉及医疗波形领域。本申请所提供的一种波形量化装置，该装置包括能够将波形输出回路中的波形的负信号和正信号相叠加，并将叠加结果中的负信号转变为正信号的波形处理电路和MCU，MCU连接波形处理电路的输出端，MCU可以由积分处理方式对经由波形处理电路输出的信号进行量化处理，通过对量化处理的结果进行判断得出电荷量的累积是够超出用户可接收的范围，提供了一种检测波形是否完全对称，电荷量的累积是否超出范围的量化方式。本申请还提供了波形量化的方法，应用于包含上述的波形处理电路和MCU的装置，与波形量化装置相对应，同样能做到波形量化处理与分析。量化处理与分析。量化处理与分析。

【技术实现步骤摘要】
一种波形量化装置及方法


[0001]本申请涉及医疗波形领域，特别是涉及一种波形量化装置及方法。

技术介绍

[0002]近年来，电疗产品逐渐增多，但在电疗的过程中容易出现电灼伤的情况，电灼伤的情况通常是由电极片接触不良、接触面积过小、电疗输出波形等问题导致的，其中，电疗输出波形可能存在不对称或者波形有缺陷，因此会使积累的电荷量不为零，而积累的电荷量达到一定值时，就会产生电灼伤。对于电极片接触不良和接触面积过小可以通过观察排除，但电疗输出波形问题需要专业的排查。
[0003]现有的对电疗输出波形问题的排查主要是通过示波器完成的，示波器可以看到波形的形状、幅值、频率等常规参数，但无法判断波形是否完全对称，对波形对称的判断目前没有一个量化方法，也无法对累积的电荷量进行测量。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是提供一种波形量化装置及方法，能够对波形进行量化，根据量化结果进而判断波形是否完全对称、是否有电荷量的堆积。
[0005]为解决上述技术问题，本申请提供一种波形量化的装置，包括：波形处理电路、MCU；
[0006]波形处理电路的第一端连接波形输出回路，波形处理电路的第二端连接MCU的检测端，用于将波形输出回路中的波形的负信号和正信号相叠加，将叠加结果中的负信号转变为正信号；
[0007]MCU用于获取由波形处理电路处理输出的信号，将信号按照积分处理方式处理得到量化结果，判断量化结果是否满足预设条件，若是，则确定波形中的电荷量累积在预设范围内，若否，则确定波形中的电荷量累积超出预设范围。
[0008]优选地，波形处理电路包括：第一运算放大器、第二运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第一二极管、第二二极管；
[0009]其中，第一电阻的第一端连接波形输出回路、第四电阻的第一端；
[0010]第一运算放大器的第一端连接第一二极管的第一端、第二电阻的第一端、第一电阻的第二端，第一运算放大器的第二端接地，第一运算放大器的第三端连接第一二极管的第二端、第二二极管的第一端；
[0011]第二二极管的第二端连接第二电阻的第二端、第三电阻的第一端；
[0012]第三电阻的第二端连接第二运算放大器的第一端、第四电阻的第二端、第五电阻的第一端；
[0013]第二运算放大器的第二端接地，第二运算放大器的第三端连接第五电阻的第二端和MCU的检测端。
[0014]优选地，波形处理电路还包括：第一三极管；
[0015]第一三极管的第一端连接第四电阻的第二端、第五电阻的第一端，第一三极管的第二端连接第五电阻的第二端、第二运算放大器的第三端和MCU的检测端，第一三极管的第三端连接预设电源，用于将第二运算放大器的第三端的电压钳位在预设电压范围内。
[0016]优选地，还包括：正压控制电路、负压控制电路，用于控制电压降至预设电压值；
[0017]正压控制电路包括第六电阻、第七电阻、第一MOS管、第一电容，负压控制电路包括第八电阻、第九电阻、第二MOS管、第二电容；
[0018]其中，第七电阻的第一端连接经由PWM调制后输出的波形，第七电阻的第二端连接第一MOS管的控制端；
[0019]第一MOS管的第一端连接第六电阻的第二端，第一MOS管的第二端连接第一电容的第一端；
[0020]第六电阻的第一端连接电源正极；
[0021]第一电容的第二端接地；
[0022]第九电阻的第一端连接经由PWM调制后输出的波形，第九电阻的第二端连接第二MOS管的控制端；
[0023]第二MOS管的第一端连接第八电阻的第二端，第二MOS管的第二端连接第二电容的第一端；
[0024]第八电阻的第一端连接电源负极；
[0025]第二电容的第二端接地。
[0026]优选地，还包括：正压检测电路、负压检测电路，用于将波形中的负信号转变为正信号并输出至MCU，且将MCU的检测端的电压钳位在预设电压范围内，MCU还用于检测经由正压控制电路和负压控制电路控制后的电压值是否为第一预设电压值；
[0027]若是，则经由正压控制电路与负压控制电路输出的电压符合使用标准；
[0028]若否，则经由正压控制电路与负压控制电路输出的电压不符合使用标准；
[0029]正压检测电路包括第十电阻、第十一电阻、第三二极管、第三电容，负压检测电路包括第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第三运算放大器、第二三极管、第四电容；
[0030]其中，第十电阻的第一端连接第一MOS管的第二端和第一电容的第一端，第十电阻的第二端连接第十一电阻的第一端、第三二极管的第二端和第三电容的第一端；
[0031]第十一电阻的第二端接地；
[0032]第三二极管的第一端连接电源，第三二极管的第二端连接第二电容的第一端、MCU的检测端；
[0033]第三电容的第二端接地；
[0034]第十二电阻的第一端连接第二MOS管的第二端和第二电容的第一端，第十二电阻的第二端连接第二三极管的第一端、第十三电阻的第一端；
[0035]第十三电阻的第二端连接第三运算放大器的第一端、第十四电阻的第一端；
[0036]第三运算放大器的第二端接地，第三运算放大器的第三端连接第二三极管的第二端、第十四电阻的第二端、第四电容的第一端和MCU的检测端；
[0037]第二三极管的第三端连接电源；
[0038]第四电容的第二端接地。
[0039]优选地，还包括：峰峰值检测电路，用于当输入的是负半轴峰值电压，将负半轴峰
值电压转变为正半轴峰值电压输出，当输入的是正半轴峰值电压，将正半轴峰值电压输出，MCU还用于检测波形的峰峰值电压值是否为第二预设电压值；
[0040]若是，则峰峰值检测电路中的峰峰值电压符合使用标准；
[0041]若否，则峰峰值检测电路中的峰峰值电压不符合使用标准；
[0042]峰峰值检测电路包括第四运算放大器、第五运算放大器、第十五电阻、第十六电阻、第一开关器件、第二开关器件、第五电容、第六电容；
[0043]其中，第四运算放大器的第一端连接波形输出回路、第十五电阻的第一端，第四运算放大器的第二端连接第四运算放大器的第三端，第四运算放大器的第三端连接第一开关器件的第一端；
[0044]第一开关器件的第二端连接MCU的控制端，第一开关器件的第三端连接MCU的检测端、第五电容的第一端；
[0045]第五电容的第二端接地；
[0046]第十五电阻的第二端连接第十六电阻的第一端、第五运算放大器的第一端；
[0047]第五运算放大器的第二端接地，第五运算放大器的第三端连接第十六电阻的第二端、第二开关器件的第一端；
[0048]第二开关器件的第二端连接MCU的控制端，第二开关器件的第三端连接MCU的检测端、第六电容的第一端；
[0049]第六电容的第二端接地。
[0050]优选地本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种波形量化的装置，其特征在于，包括：波形处理电路、MCU；所述波形处理电路的第一端连接波形输出回路，所述波形处理电路的第二端连接所述MCU的检测端，用于将所述波形输出回路中的波形的负信号和正信号相叠加，将叠加结果中的负信号转变为正信号；所述MCU用于获取由所述波形处理电路处理输出的信号，将所述信号按照积分处理方式处理得到量化结果，判断所述量化结果是否满足预设条件，若是，则确定所述波形中的电荷量累积在预设范围内，若否，则确定所述波形中的电荷量累积超出预设范围。2.根据权利要求1所述的波形量化的装置，其特征在于，所述波形处理电路包括：第一运算放大器、第二运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第一二极管、第二二极管；其中，所述第一电阻的第一端连接所述波形输出回路、所述第四电阻的第一端；所述第一运算放大器的第一端连接所述第一二极管的第一端、所述第二电阻的第一端、所述第一电阻的第二端，所述第一运算放大器的第二端接地，所述第一运算放大器的第三端连接所述第一二极管的第二端、所述第二二极管的第一端；所述第二二极管的第二端连接所述第二电阻的第二端、所述第三电阻的第一端；所述第三电阻的第二端连接所述第二运算放大器的第一端、所述第四电阻的第二端、所述第五电阻的第一端；所述第二运算放大器的第二端接地，所述第二运算放大器的第三端连接所述第五电阻的第二端和所述MCU的检测端。3.根据权利要求2所述的波形量化的装置，其特征在于，所述波形处理电路还包括：第一三极管；所述第一三极管的第一端连接所述第四电阻的第二端、所述第五电阻的第一端，所述第一三极管的第二端连接所述第五电阻的第二端、所述第二运算放大器的第三端和所述MCU的检测端，所述第一三极管的第三端连接预设电源，用于将所述第二运算放大器的第三端的电压钳位在预设电压范围内。4.根据权利要求1至3任意一项所述的波形量化的装置，其特征在于，还包括：正压控制电路、负压控制电路，用于控制电压降至预设电压值；所述正压控制电路包括第六电阻、第七电阻、第一MOS管、第一电容，所述负压控制电路包括第八电阻、第九电阻、第二MOS管、第二电容；其中，所述第七电阻的第一端连接经由PWM调制后输出的波形，所述第七电阻的第二端连接所述第一MOS管的控制端；所述第一MOS管的第一端连接所述第六电阻的第二端，所述第一MOS管的第二端连接所述第一电容的第一端；所述第六电阻的第一端连接电源正极；所述第一电容的第二端接地；所述第九电阻的第一端连接经由PWM调制后输出的波形，所述第九电阻的第二端连接所述第二MOS管的控制端；所述第二MOS管的第一端连接所述第八电阻的第二端，所述第二MOS管的第二端连接所述第二电容的第一端；
所述第八电阻的第一端连接电源负极；所述第二电容的第二端接地。5.根据权利要求4所述的波形量化的装置，其特征在于，还包括：正压检测电路、负压检测电路，用于将所述波形中的负信号转变为正信号并输出至所述MCU，且将所述MCU的检测端的电压钳位在所述预设电压范围内，所述MCU还用于检测经由所述正压控制电路和负压控制电路控制后的电压值是否为第一预设电压值；若是，则经由所述正压控制电路与所述负压控制电路输出的电压符合使用标准；若否，则经由所述正压控制电路与所述负压控制电路输出的电压不符合所述使用标准；所述正压检测电路包括第十电阻、第十一电阻、第三二极管、第三电容，所述负压检测电路包括第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第三运算放大器、第二三极管、第四电容；其中，所述第十电阻的第一端连接所述第一MOS管的第二端和所述第一电容的第一端，所述第十电阻的第二端连接所述第十一电阻的第一端、所述第三二极管的第二端和所述第三电容的第一端；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：何永正，王虎，李鑫，
申请(专利权)人：河南翔宇医疗设备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：