本发明专利技术公开了多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法、装置和系统，解决了现有装置无法对仪器自身进行校准，使得测量过程中存在误差，影响测量结果的问题，方法包括：获取多组待检测的物料数据；对多组待检测的物料进行多次水分测定，获取每组所述物料的实时水分值；提取物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数，基于物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数建立水分校准数据库，基于标准曲线，实现多频谱微波水分析仪的误差自校准；本申请能够实现对不同物料进行水分测量，同时可以根据物料的不同特质来选取特定的校准模型，校准曲线可以自动生成调整，提高了物料水分测量的精准度和效率。高了物料水分测量的精准度和效率。高了物料水分测量的精准度和效率。
【技术实现步骤摘要】
多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法、装置和系统
[0001]本专利技术具体涉及多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法、装置和系统。
技术介绍
[0002]绝大多数的产品都含有水分，通常水分含量的多少无关紧要，但对于需要销售的产品以及与含水量会影响产品的一些性质时需要测试水分的含量，微波水分测量技术已经普遍的应用到各个行业，该测量技术主要用来监控生产过程中物料的水分含量，以便企业提高产品质量、有效控制生产过程。
[0003]中国专利CN205581030U公开了一种基于微波的水分测量装置，该装置包括：发射天线，用于发射微波信号至所要测量的样品；接收天线，用于接收穿透样品的微波信号；C型框架，连接发射天线和接收天线，其中，发射天线位于C型框架的下端，接收天线位于C型框架的上端，且发射天线和接收天线中心同轴对称设置；但是现有装置无法对仪器自身进行校准，使得测量过程中存在误差，影响测量结果。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于针对现有技术的不足之处，提供多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法、装置和系统，解决了现有装置无法对仪器自身进行校准，使得测量过程中存在误差，影响测量结果的问题。
[0005]微波水分测量技术已经普遍的应用到各个行业，该测量技术主要用来监控生产过程中物料的水分含量，以便企业提高产品质量、有效控制生产过程，现有装置无法对仪器自身进行校准，使得测量过程中存在误差，影响测量结果，基于此，我们提出了多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法、装置和系统，其中，所述测量误差自校准方法包括：获取多组待检测的物料数据；对多组待检测的物料进行多次水分测定；然后建立水分校准数据库；最后，基于校正选取模型选择水分校正模型和算法，建立自动调整的标准曲线，基于标准曲线，实现多频谱微波水分析仪的误差自校准。本申请能够实现对不同物料进行水分测量，同时可以根据物料的不同特质来选取特定的校准模型，校准曲线可以自动生成调整，提高了物料水分测量的精准度和效率。
[0006]本专利技术是这样实现的，多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法，所述多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法包括：获取多组待检测的物料数据，其中，物料数据包括物料标准水分真值以及物料物理参数；对多组待检测的物料进行多次水分测定，获取每组所述物料的实时水分值；提取物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数，基于物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数建立水分校准数据库；基于校正选取模型选择水分校正模型和算法，获取选取后的水分校正模型和算法，提取水分校准数据库对应的物料数据，建立自动调整的标准曲线，基于标准曲线，实现
多频谱微波水分析仪的误差自校准。
[0007]优选地，所述获取多组待检测的物料数据的方法，具体包括：监控工具发送数据获取指令；启动频谱微波水分析仪，获取多频谱微波水分析仪的仪器参数；获取多组待检测物料的物理参数，判断多组待检测物料的物理参数是否正常，若正常，则执行仪器参数以及物理参数发送指令，若异常，则终止物理参数发送。
[0008]优选地，所述多频谱微波水分析仪的仪器参数包括CPU温度、CPU功耗、内存温度、内存功耗、存储功耗、GPU温度。
[0009]优选地，所述多组待检测物料的物理参数包括物料的品种、物料质量。物料厚度、物料密度以及物料所处环境的湿度和温度。
[0010]优选地，所述基于物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数建立水分校准数据库的方法，具体包括：加载实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数队列；遍历数据队列中目标提取任务集，识别目标提取任务集中待处理参数数据；获取基于校准数据库架构重要性和相关性分析，调取校准数据库架构的基础组织架构图。
[0011]优选地，所述基于物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数建立水分校准数据库的方法，具体还包括：基于主成分分析模型确定目标提取任务集中待处理参数数据的优先级，通过优先级顺序生成优先级队列。
[0012]优选地，所述基于校正选取模型选择水分校正模型和算法，获取选取后的水分校正模型和算法的方法，具体包括：生成校正模型选取指令；建立与多频谱微波水分析仪的虚拟连接通道，获取多频谱微波水分析仪中参数数据集；构建多频谱微波水分析仪中参数数据集与水分校正模型的映射架构树；基于映射架构树选取对应的水分校正模型。
[0013]一种基于所述的多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法的多频谱微波水分析仪测量误差自校准系统，所述多频谱微波水分析仪测量误差自校准系统，具体包括：物料数据获取模块，用于获取多组待检测的物料数据，其中，物料数据包括物料标准水分真值以及物料物理参数；实时水分值测定模块，用于对多组待检测的物料进行多次水分测定，获取每组所述物料的实时水分值；校准数据库建立模块，用于提取物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数，基于物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数建立水分校准数据库；误差自校准模块，基于校正选取模型选择水分校正模型和算法，获取选取后的水分校正模型和算法，提取水分校准数据库对应的物料数据，建立自动调整的标准曲线，基于标准曲线，实现多频谱微波水分析仪的误差自校准。
[0014]优选地，所述物料数据获取模块，具体包括：监控工具单元，所述监控工具单元用于驱动监控工具发送数据获取指令；水分析仪启动单元，用于启动频谱微波水分析仪，获取多频谱微波水分析仪的仪器参数；参数发送单元，用于获取多组待检测物料的物理参数，判断多组待检测物料的物理参数是否正常，若正常，则执行仪器参数以及物理参数发送指令，若异常，则终止物理参数发送。
[0015]一种多频谱微波水分析仪测量误差自校准装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时执行所述的多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法。
[0016]与现有技术相比，本申请实施例主要有以下有益效果：本申请能够实现对不同物料进行水分测量，同时可以根据物料的不同特质来选取特定的校准模型，校准曲线可以自动生成调整，提高了物料水分测量的精准度和效率。
附图说明
[0017]图1是本专利技术提供的多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法的实现流程示意图。
[0018]图2是本专利技术提供的获取多组待检测的物料数据方法的实现流程示意图。
[0019]图3是本专利技术提供的基于物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数建立水分校准数据库方法的实现流程示意图。
[0020]图4是本专利技术提供的基于校正选取模型选择水分校正模型和算法，获取选取后的水分校正模型和算法方法的实现流程示意图。
[0021]图5是本专利技术提供的多频谱微波水分析仪测量误差自校准系统的结构示意图。
[0022]图6是本专利技术提供的物料数据获取模块的结构示意图。
具体实施方式
[0023]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请
的技术人员通常理解的含义相同；本文中在申请的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法，其特征在于，所述多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法包括：获取多组待检测的物料数据，其中，物料数据包括物料标准水分真值以及物料物理参数；对多组待检测的物料进行多次水分测定，获取每组所述物料的实时水分值；提取物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数，基于物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数建立水分校准数据库；基于校正选取模型选择水分校正模型和算法，获取选取后的水分校正模型和算法，提取水分校准数据库对应的物料数据，建立自动调整的标准曲线，基于标准曲线，实现多频谱微波水分析仪的误差自校准。2.如权利要求1所述的多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法，其特征在于：所述获取多组待检测的物料数据的方法，具体包括：监控工具发送数据获取指令；启动频谱微波水分析仪，获取多频谱微波水分析仪的仪器参数；获取多组待检测物料的物理参数，判断多组待检测物料的物理参数是否正常，若正常，则执行仪器参数以及物理参数发送指令，若异常，则终止物理参数发送。3.如权利要求2所述的多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法，其特征在于：所述多频谱微波水分析仪的仪器参数包括CPU温度、CPU功耗、内存温度、内存功耗、存储功耗、GPU温度。4.如权利要求3所述的多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法，其特征在于：所述多组待检测物料的物理参数包括物料的品种、物料质量、物料厚度、物料密度以及物料所处环境的湿度和温度。5.如权利要求2
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4任一所述的多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法，其特征在于：所述基于物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数建立水分校准数据库的方法，具体包括：加载实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数队列；遍历数据队列中目标提取任务集，识别目标提取任务集中待处理参数数据；获取基于校准数据库架构重要性和相关性分析，调取校准数据库架构的基础组织架构图。6.如权利要求5所述的多频谱微波水分析仪测量误差自校准方法，其特征在于：所述基于物料的实时水分值、物料标准水分真值以及物料物理参数建立水分校准数据库的方法，具体还包括：基于主成分分析模型确定目标提取任务集...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢景奇，
申请(专利权)人：默斯测控技术长沙有限公司，
类型：发明
国别省市：
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