一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统技术方案

本发明专利技术属于嵌入式计算机通信技术领域，具体涉及一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统，设计了模块自动测试(与激励模块交互)、模块自动测试(模块自测试)和模块单项测试(可选择某项测试)三种测试模式，对于可连续测试的功能项设计自动化测试用例；对于需单独测试的功能项，优化测试软件，提高测试用例使用的易操作性。其优点在于提升了调试测试的通用性，提高单板调试测试的自动化水平，减轻调试测试人员的单板测试工作负担，提高模块交付、维护质量。维护质量。维护质量。

【技术实现步骤摘要】
一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统


[0001]本专利技术属于嵌入式计算机通信
，具体涉及一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统。

技术介绍

[0002]随着航空机载电子设备复杂化程度和技术水平的日渐提高，电子模块的单板测试工作变得较为复杂，但是目前单板调试测试覆盖不够全面、自动化程度不高，目前自研单板种类和数量较大，调试测试工作严重依赖设计师手动逐项测试，调试测试效率低下，需要通过对调试测试的软硬件设计进行规范化，提高单板调试测试的完整性和自动化。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术提出一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统，以实现功能测试及测试结果输出的自动化，提高单板测试的自动化水平，提高模块交付、维护质量。
[0004]为了实现上述技术目的，本专利技术所采用的具体技术方案为：
[0005]一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统，用于完整性测试通用CPU模块以及提升所述通用CPU模块的自动化水平；包括：
[0006]调试台；
[0007]供电模块，用于为所述调试台供电；
[0008]测试电路，包括RS422接口测试电路、RS485接口测试电路、Arinc429接口测试电路、CAN接口测试电路、离散量接口测试电路、模拟量接口测试电路、PWM接口测试电路以及Lvds接口测试电路；
[0009]所述通用CPU模块配置有测试模块以及激励模块；所述测试模块针对不同种类所述CPU模块之间的通用测试资源以及CPU模块与激励模块之间的网口通信，配置有模块测试资源配置表、ICD循环缓冲区、UDP通信模块和测试用例配置表。
[0010]进一步的，所述模块测试资源配置表的配置依据为所述CPU模块的资源种类和数量以及每一次测试的资源范围；
[0011]所述模块测试资源配置表的配置信息包括：所述测试电路的测试资源种类以及所述测试电路的的资源范围；
[0012]其中：当所述测试资源中离散量和模拟量的收发通道数量不一致时，所述模块测试资源配置表的配置信息针对发送通道和接收通道进行单独配置。
[0013]进一步的，所述ICD循环缓冲区用于：
[0014]针对总线类接口，通过调试台线缆之间完成数据交互，通过网口传递收发数据量；
[0015]针对离散量和模拟量接口，通过网口传递测试结果。
[0016]进一步的，CPU模块与激励模块之间的网口数据交互周期间隔为3S。
[0017]进一步的，所述UDP通信模块用于实现CPU模块与激励模块之间的网络通信；包括：
[0018]UDP初始化单元，用于进行UDP初始化，建立UDP通信连接；
[0019]UDP发送单元，用于读取发送循环缓冲区的数据，并通过UDP发送数据；
[0020]UDP接收单元，用于通过UDP接收数据，并将数据存储在接收循环缓冲区中；
[0021]UDP处理单元，用于读取接收循环缓冲区的数据，并进行数据处理；
[0022]UDP周期单元，用于周期收集离散量、模拟量，并组成ICD，将数据放入发送所述ICD循环缓冲区中。
[0023]进一步的，所述测试用例配置表针对总线类接口的使用场景差异配置有：
[0024]测试用例编号，用于标识当前测试用例序号；
[0025]对应通道号，用于标识当前测试用例对应的通道号；
[0026]测试用例数量，用于标识此类接口的测试用例总数；
[0027]测试用例是否有效，用于标识当前测试用例是否可用；
[0028]初始化配置参数表，包含工作模式、接收模式、波特率和校验位。
[0029]进一步的，所述通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统的测试模式包括：
[0030]自测试模式，用于CPU模块完成自测试，包括：CPU测试资源、内存测试资源、Nvram测试资源、Flash测试资源和定时器资源；
[0031]交互测试模式，用于CPU模块和激励模块进行数据交互测试，包括Arinc429测试资源、Can测试资源、Uart测试资源、离散量测试资源和模拟量测试资源；
[0032]自定义测试模式，用于对所述自测试模式以及交互测试模式中包含的所有测试资源进行专项测试。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0034]图1为本专利技术具体实施方式中一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统的模块示意图；
[0035]图2为本专利技术具体实施方式中执行通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统的调试台的区域划分示意图；
[0036]图3为本专利技术具体实施方式中通用激励模块组成框图；
[0037]图4为本专利技术具体实施方式中测试用例配置表；
[0038]图5为本专利技术具体实施方式中测试用例分类；
[0039]图6为本专利技术具体实施方式中模块自动测试效果图；
[0040]图7为本专利技术具体实施方式中一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统的外形结构示意图；
[0041]图8为本专利技术具体实施方式中一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统的爆炸视图；
具体实施方式
[0042]下面结合附图对本公开实施例进行详细描述。
[0043]以下通过特定的具体实例说明本公开的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本公开的其他优点与功效。显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。本公开还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本公开的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
[0044]要说明的是，下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见，本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中，且本文中所描述的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本公开，所属领域的技术人员应了解，本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施，且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说，可使用本文中所阐述的任何数目个方面来实施设备及/或实践方法。另外，可使用除了本文中所阐述的方面中的一或多者之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。
[0045]还需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本公开的基本构想，图示中仅显示与本公开中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统，其特征在于，用于完整性测试通用CPU模块以及提升所述通用CPU模块的自动化水平；包括：调试台；供电模块，用于为所述调试台供电；测试电路，包括RS422接口测试电路、RS485接口测试电路、Arinc429接口测试电路、CAN接口测试电路、离散量接口测试电路、模拟量接口测试电路、PWM接口测试电路以及Lvds接口测试电路；所述通用CPU模块配置有测试模块以及激励模块；所述测试模块针对不同种类所述CPU模块之间的通用测试资源以及CPU模块与激励模块之间的网口通信，配置有模块测试资源配置表、ICD循环缓冲区、UDP通信模块和测试用例配置表。2.根据权利要求1所述的通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统，其特征在于，所述模块测试资源配置表的配置依据为所述CPU模块的资源种类和数量以及每一次测试的资源范围；所述模块测试资源配置表的配置信息包括：所述测试电路的测试资源种类以及所述测试电路的的资源范围；其中：当所述测试资源中离散量和模拟量的收发通道数量不一致时，所述模块测试资源配置表的配置信息针对发送通道和接收通道进行单独配置。3.根据权利要求2所述的通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统，其特征在于，所述ICD循环缓冲区用于：针对总线类接口，通过调试台线缆之间完成数据交互，通过网口传递收发数据量；针对离散量和模拟量接口，通过网口传递测试结果。4.根据权利要求3所述的通用的模块完整性测试及自动化水平提升系统，其特征在于，CPU模块与激励模块之间的网口数据交互周期间隔为3S。5.根据权利要求4所述的通用的模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：李泽坤，马晨南，李彦波，王威，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，
类型：发明
国别省市：