光纤特性测定系统技术方案

技术编号:36598450 阅读:17 留言:0更新日期:2023-02-04 18:10
本发明专利技术提供一种光纤特性测定系统。光纤特性测定系统包括:光纤特性测定装置,包括出射端口和入射出射端口,所述出射端口射出探测光,所述入射出射端口与被测定光纤的一端连接,射出泵浦光,并且入射在所述被测定光纤中产生的受激布里渊散射光;第一光纤,一端与所述出射端口连接,将所述探测光向所述被测定光纤的另一端引导;以及光隔离器,设置在所述第一光纤的另一端与所述被测定光纤的另一端之间,使由所述第一光纤引导的所述探测光入射到所述被测定光纤的另一端。所述被测定光纤的另一端。所述被测定光纤的另一端。

【技术实现步骤摘要】
光纤特性测定系统


[0001]本专利技术涉及一种光纤特性测定系统。
[0002]本申请主张2021年7月29日提交的日本专利申请第2021

124277号的优先权,并将其内容援引于此。

技术介绍

[0003]通过使光入射到光纤而产生的布里渊散射光的光谱(光谱的功率电平成为最大的频率)根据光纤的温度、应变的变化而变化。利用了这样的性质的光纤特性测定装置通过遍及光纤的长度方向来检测布里渊散射光的频率变化(布里渊频移(BFS)),从而测定光纤的长度方向的温度分布、应变分布。
[0004]这样的光纤特性测定装置之一存在有日本专利公报第6791218号和日本专利公报第5522063号所公开的BOCDA(Brillouin Optical Correlation Domain Analysis:布里渊光相关域分析)方式的光纤特性测定装置。该方式的光纤特性测定装置使频率调制后的光(泵浦光和探测光)分别从光纤的两端入射。并且,在泵浦光和探测光的调制相位一致的位置(出现“相关峰值”的位置),利用探测光因受激布里渊散射现象而被放大的性质来测定光纤的特性。
[0005]然而,光纤特性测定装置不能测定长度比由规格规定的最大测定长度(能够测定特性的光纤的最大长度)长的光纤的特性。在上述BOCDA方式的光纤特性测定装置中,需要将铺设于被测定对象物的光纤(被测定光纤)的两端与光纤特性测定装置连接,使频率调制后的光分别从被测定光纤的两端入射。因此,BOCDA方式的光纤特性测定装置存在如下问题:基本上不能测定存在于在直线距离上比最大测定长度的一半长度远的位置的被测定对象物。另外,被测定对象物例如是指桥梁等构造物或飞机之类的成为温度分布、应变分布的测定对象的物体。
[0006]在此,在日本专利公报第5522063号中,通过在基站以外设置远程站并将被测定光纤的两端与远程站连接,从而能够进行存在于远处的被测定对象物的测定。因此,如果使用日本专利公报第5522063号所公开的技术,则也可以认为能够进行存在于在直线距离上距基站(光纤特性测定装置)比最大测定长度的一半长度远的位置的被测定对象物的测定。
[0007]但是,在日本专利公报第5522063号中,需要使入射到被测定光纤的两端的泵浦光和探测光的偏振状态不同,并且使用保偏光纤从基站传输到远程站,因此存在着导致成本上升的问题。此外,由于偏振串扰(消光比)的影响,基站与远程站的距离受限(例如限制为1km左右),因此存在着用途受限的问题。

技术实现思路

[0008]为了解决上述课题,本专利技术的第一方式的光纤特性测定系统(1、1A~1C)包括:光纤特性测定装置(10),包括出射端口(P11)和入射出射端口(P12),所述出射端口(P11)射出探测光(L1),所述入射出射端口(P12)与被测定光纤(FUT)的一端(E1)连接,射出泵浦光
(L2),并且入射在所述被测定光纤中产生的受激布里渊散射光(BR);第一光纤(20),一端(E11)与所述出射端口连接,将所述探测光向所述被测定光纤的另一端(E2)引导;以及光隔离器(30),设置在所述第一光纤的另一端(E12)与所述被测定光纤的另一端之间,使由所述第一光纤引导的所述探测光入射到所述被测定光纤的另一端。
[0009]此外,在本专利技术的第一方式的光纤特性测定系统中,所述光隔离器配置成从所述光隔离器到所述被测定光纤的所述另一端的光路长度短于从所述第一光纤的所述一端到所述光隔离器的光路长度。
[0010]此外,在本专利技术的第一方式的光纤特性测定系统中,所述光隔离器配置于在从所述光隔离器到所述被测定光纤的所述另一端之间不产生所述探测光与所述泵浦光的相关峰值的位置。
[0011]此外,在本专利技术的第一方式的光纤特性测定系统中,所述被测定光纤和所述第一光纤使用一根多芯光纤(60)或一根多核光纤来实现。
[0012]此外,本专利技术的第一方式的光纤特性测定系统包括放大由所述第一光纤引导的所述探测光的光放大器(70A)。
[0013]此外,本专利技术的第一方式的光纤特性测定系统包括连接所述光纤特性测定装置和所述光放大器的线缆(CB),所述光纤特性测定装置经由所述线缆对所述光放大器供电以及对所述光放大器发送控制信号。
[0014]此外,在本专利技术的第一方式的光纤特性测定系统中,从外部电源向所述光放大器供电,所述光纤特性测定装置通过无线信号对所述光放大器发送控制信号。
[0015]为了解决上述课题,本专利技术的第二方式的光纤特性测定系统(2、2A~2C)包括:光纤特性测定装置(10A),包括与被测定光纤(FUT)的一端(E1)连接并射出探测光(L1)的第一出射端口(P11)、射出泵浦光(L2)的第二出射端口(P13)、以及入射在所述被测定光纤中产生的受激布里渊散射光(BR)的入射端口(P14);第二光纤(40A),一端(E21)与所述第二出射端口连接,将所述泵浦光向所述被测定光纤的另一端(E2)引导;第三光纤(40B),一端(E31)与所述入射端口连接,将在所述被测定光纤中产生的受激布里渊散射光向所述入射端口引导;以及光环行器(50),使由所述第二光纤引导的所述泵浦光入射到所述被测定光纤的另一端,并且使从所述被测定光纤的另一端射出的受激布里渊散射光入射到所述第三光纤的另一端(E32)。
[0016]此外,在本专利技术的第二方式的光纤特性测定系统中,所述光环行器配置成从所述光环行器到所述被测定光纤的所述另一端的光路长度短于从所述第二光纤的所述一端到所述光环行器的光路长度。
[0017]此外,在本专利技术的第二方式的光纤特性测定系统中,所述光环行器配置于在从所述光环行器到所述被测定光纤的所述另一端之间不产生所述探测光与所述泵浦光的相关峰值的位置。
[0018]此外,在本专利技术的第二方式的光纤特性测定系统中,所述被测定光纤、所述第二光纤和所述第三光纤使用一根多芯光纤(60A)或一根多核光纤来实现。
[0019]此外,本专利技术的第二方式的光纤特性测定系统包括放大由所述第二光纤引导的所述泵浦光的光放大器(70B)。
[0020]此外,本专利技术的第二方式的光纤特性测定系统包括连接所述光纤特性测定装置和
所述光放大器的线缆(CB),所述光纤特性测定装置经由所述线缆对所述光放大器供电以及对所述光放大器发送控制信号。
[0021]此外,在本专利技术的第二方式的光纤特性测定系统中,从外部电源向所述光放大器供电,所述光纤特性测定装置通过无线信号对所述光放大器发送控制信号。
[0022]为了解决上述课题,本专利技术的第三方式的光纤特性测定系统(3、3A~3C)包括:光纤特性测定装置(10B),包括射出探测光(L1)的第一出射端口(P11)、射出泵浦光(L2)的第二出射端口(P13)、以及入射在被测定光纤(FUT)中产生的受激布里渊散射光(BR)的入射端口(P14);第一光纤(20),一端(E11)与所述第一出射端口连接,将所述探测光向所述被测定光纤的一端(E1)引导;光隔离器(30),设置本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光纤特性测定系统,其特征在于,包括:光纤特性测定装置,包括出射端口和入射出射端口,所述出射端口射出探测光,所述入射出射端口与被测定光纤的一端连接,射出泵浦光,并且入射在所述被测定光纤中产生的受激布里渊散射光;第一光纤,一端与所述出射端口连接,将所述探测光向所述被测定光纤的另一端引导;以及光隔离器,设置在所述第一光纤的另一端与所述被测定光纤的另一端之间,使由所述第一光纤引导的所述探测光入射到所述被测定光纤的另一端。2.根据权利要求1所述的光纤特性测定系统,其特征在于,所述光隔离器配置成从所述光隔离器到所述被测定光纤的所述另一端的光路长度短于从所述第一光纤的所述一端到所述光隔离器的光路长度。3.根据权利要求1或2所述的光纤特性测定系统,其特征在于,所述光隔离器配置于在从所述光隔离器到所述被测定光纤的所述另一端之间不产生所述探测光与所述泵浦光的相关峰值的位置。4.根据权利要求1或2所述的光纤特性测定系统,其特征在于,所述被测定光纤和所述第一光纤使用一根多芯光纤或一根多核光纤来实现。5.根据权利要求1或2所述的光纤特性测定系统,其特征在于,包括放大由所述第一光纤引导的所述探测光的光放大器。6.根据权利要求5所述的光纤特性测定系统,其特征在于,包括连接所述光纤特性测定装置和所述光放大器的线缆,所述光纤特性测定装置经由所述线缆对所述光放大器供电以及对所述光放大器发送控制信号。7.根据权利要求5所述的光纤特性测定系统,其特征在于,从外部电源向所述光放大器供电,所述光纤特性测定装置通过无线信号对所述光放大器发送控制信号。8.根据权利要求1或2所述的光纤特性测定系统,其特征在于,所述探测光和所述泵浦光均为频率调制后的光。9.根据权利要求1或2所述的光纤特性测定系统,其特征在于,所述探测光是连续光,所述泵浦光是脉冲光。10.一种光纤特性测定系统,其特征在于,包括:光纤特性测定装置,包括与被测定光纤的一端连接并射出探测光的第一出射端口、射出泵浦光的第二出射端口、以及入射在所述被测定光纤中产生的受激布里渊散射光的入射端口;第二光纤,一端与所述第二出射端口连接,将所述泵浦光向所述被测定光纤的另一端引导;第三光纤,一端与所述入射端口连接,将在所述被测定光纤中产生的受激布里渊散射光向所述入射端口引导;以及光环行器,使由所述第二光纤引导的所述泵浦光入射到所述被测定光纤的另一端,并且使从所述被测定光纤的另一端射出的受激布里渊散射光入射到所述第三光纤的另一端。
11.根据权利要求10所述的光纤特性测定系统,其特征在于,所述光环行器配置成从所述光环行器到所述被测定光纤的所述另一端的光路长度短于从所述第二光纤的所述一端到所述光环行器的光路长度。12.根据权利要求10或11所述的光纤特性测定系统,其特征在于,所述光环行器配置于在从所述光环行器到所述被测定光纤的所述另一端之间不产生所述探测光与所述泵浦光的相关峰值的位置。13.根据权利要求10或11所述的光纤特性测定系统,其特征在于,所述被测定光纤、所述第二光纤和所述第三光纤使用一根多芯光纤或一根多核光纤来实现。14.根据权利要求10或11所述的光纤特性测定系统,其特征在于,包括放大由所述第二光纤引导的所述泵浦光的光放大器。15.根据权利要求14所述的光纤特性测定系统,其特征在于,包括连接所述光纤特性测定装置和所述光放大器的线缆,所述光纤特性测定装置经由所述线缆对所述光放大器供电以及对所述光放大器发送控制信号。16.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊谷芳宏
申请(专利权)人:横河电机株式会社
类型:发明
国别省市:

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