提供一种模拟装置,其用于对包括多个粒子的粉体的行为进行解析,该模拟装置具有:第一参数取得部,其取得包括与上述粉体相关联的参数的第一参数；第二参数计算部,其计算第二参数,该第二参数是将由多个上述粒子构成的粒子群粗视化而作为一个粗视化粒子的情况下的、关于上述粗视化粒子的参数；以及粗视化粒子行为解析部,其基于上述第一参数以及上述第二参数,对上述粗视化粒子的行为进行解析,上述第二参数计算部利用使用了上述粒子群的弹性能与上述粗视化粒子的弹性能的关系的特性方程式的解,计算上述第二参数。式的解,计算上述第二参数。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】模拟装置、模拟方法及程序
[0001]本专利技术涉及模拟装置、模拟方法及程序。
技术介绍
[0002]在专利文献1中,公开了一种如以下模拟装置等中公开的对于粉粒体的模拟装置,其具有:
[0003]进行模拟条件的输入的输入装置；
[0004]输出模拟结果的输出装置；以及
[0005]基于自上述输入装置输入的模拟条件,对包括大小不同的多个粒子的粉粒体的行为进行解析的处理装置,
[0006]上述处理装置基于自上述输入装置输入的用于规定模拟对象的粉粒体的粒径分布的参数的值、以及成为对粒子进行粗视化的基准的粗视化系数的值,通过模拟求得粗视化后的粉粒体的行为,
[0007]上述处理装置将通过模拟求得的粒子的行为与被输入的粗视化系数的值建立关联地输出至上述输出装置。
[0008](现有技术文献)
[0009](专利文献)
[0010]专利文献1:日本国特开2020
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57135号公报
技术实现思路
[0011](本专利技术要解决的问题)
[0012]以工场等中的工艺的改善、检讨制造工序时的试验工时的削减等为目的,以往通过离散元法(DEM:Discrete Element Method)计算等进行包括多个粒子的粉体(粉粒体)的行为的解析。
[0013]离散元法计算是通过对于每一个粒子解运动方程式,从而描述粉体整体的运动的模拟技术。
[0014]但是,在离散元法计算中,处理的粒子数越多计算负载越大。因此,在例如对于在工场中使用的机械设备等那样的较大規模下的粉体的行为进行解析的情况下,计算量庞大,现实中进行计算是困难的。
[0015]因此,以往一直在研究对于使用将由多个粒子构成的粒子群设定为一个粗视化粒子的粗视化的方法的模拟装置(参照专利文献1)。在使用了粗视化的放大的模拟装置中,为了获得正确的解析结果,需要恰当选择在计算中使用的与粗视化粒子相关的参数。因此,需求通过新的方法选择并设定与粗视化粒子相关的参数,从而能够对包括多个粒子的粉体的行为进行解析的新的模拟装置。
[0016]鉴于上述现有技术所具有的问题,在本专利技术的一个侧面中,其目的在于提供一种能够对包括多个粒子的粉体的行为进行解析的新的模拟装置。
[0017](用于解决问题的方法)
[0018]根据用于解决上述问题的本专利技术的一个方式,提供一种模拟装置,其用于对包括多个粒子的粉体的行为进行解析,该模拟装置具有:
[0019]第一参数取得部,其取得包括与上述粉体相关联的参数的第一参数；
[0020]第二参数计算部,其计算第二参数,该第二参数是将由多个上述粒子构成的粒子群粗视化而作为一个粗视化粒子的情况下的、关于上述粗视化粒子的参数；以及
[0021]粗视化粒子行为解析部,其基于上述第一参数以及上述第二参数,对上述粗视化粒子的行为进行解析,
[0022]上述第二参数计算部使用利用了上述粒子群的弹性能与上述粗视化粒子的弹性能的关系的特性方程式的解,计算上述第二参数。
[0023](专利技术的效果)
[0024]根据本专利技术的一个方式,能够提供一种能够对包括多个粒子的粉体的行为进行解析的新的模拟装置。
附图说明
[0025]图1A是由多个粒子构成的粒子群、以及粒子群与壁面的冲撞时的说明图。
[0026]图1B是由多个粒子构成的粒子群、以及粒子群与壁面的冲撞时的说明图。
[0027]图2A是将由多个粒子构成的粒子群粗视化后的粗视化粒子、以及粗视化粒子与壁面的冲撞时的说明图。
[0028]图2B是将由多个粒子构成的粒子群粗视化后的粗视化粒子、以及粗视化粒子与壁面的冲撞时的说明图。
[0029]图3是本专利技术的实施方式的模拟装置的硬件构成图。
[0030]图4是示出本专利技术的实施方式的模拟装置的功能的框图。
[0031]图5是说明本专利技术的实施方式的模拟方法的流程图。
[0032]图6是示出实验例1中的粉体的平均温度的变化的图表。
[0033]图7A是示出实施例2
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1中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0034]图7B是示出实施例2
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1中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0035]图7C是示出实施例2
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1中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0036]图7D是示出实施例2
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1中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0037]图8A是示出比较例2
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1中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0038]图8B是示出比较例2
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1中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0039]图8C是示出比较例2
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1中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0040]图8D是示出比较例2
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1中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0041]图9A是示出比较例2
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2中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0042]图9B是示出比较例2
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2中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0043]图9C是示出比较例2
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2中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0044]图9D是示出比较例2
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2中的在窑内的粉体的混合的状态的图。
[0045]图10A是示出实施例2
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1中的窑内的粉体的温度分布的图。
[0046]图10B是示出实施例2
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1中的窑内的粉体的温度分布的图。
[0047]图10C是示出实施例2
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1中的窑内的粉体的温度分布的图。
[0048]图11A是示出比较例2
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1中的窑内的粉体的温度分布的图。
[0049]图11B是示出比较例2
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1中的窑内的粉体的温度分布的图。
[0050]图11C是示出比较例2
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1中的窑内的粉体的温度分布的图。
[0051]图12A是示出比较例2
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2中的窑内的粉体的温度分布的图。
[0052]图12B是示出比较例2
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2中的窑内的粉体的温度分布的图。
[0053]图12C是示出比较例2
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2中的窑内的粉体的温度分布的图。
[0054]图13是示出实验例2中的粉体的平均温度的变化的图表。
具体实施方式
[0055]以下,参照附图对本专利技术的一个实施方式(以下记作“本实施方式”)的模拟装置、模拟方法、程序的具体例进行说明。需要说明的是,本专利技术不限于这些示例,其意图在于包括由权利要求所示且在与权利要求书等同的意义以及范围内的全部变更。
[0056]1.第一实施方式
[0057][模拟装置][005本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种模拟装置,其用于对包括多个粒子的粉体的行为进行解析,该模拟装置具有:第一参数取得部,其取得包括与上述粉体相关联的参数的第一参数；第二参数计算部,其计算第二参数,该第二参数是将由多个上述粒子构成的粒子群粗视化而作为一个粗视化粒子的情况下的、关于上述粗视化粒子的参数；以及粗视化粒子行为解析部,其基于上述第一参数以及上述第二参数,对上述粗视化粒子的行为进行解析,上述第二参数计算部利用使用了上述粒子群的弹性能与上述粗视化粒子的弹性能的关系的特性方程式的解,计算上述第二参数。2.根据权利要求1所述的模拟装置,其中,上述第二参数包括上述粗视化粒子的导热率,上述第二参数计算部使用上述特性方程式的解,计算上述导热率。3.根据权利要求1或2所述的模拟装置,其中,对于在旋转体内的、上述粉体的行为进行解析。4.一种模拟方法,其用于对包括多个粒子的粉体的行为进行解析,该模拟方法具有:第一参数取得工序,其取得包括与上述粉体相关联的参数的第一参数；第二参数计算工序,其计算第二参数,该第二参数是将由多个上述粒子构成的粒子群粗视化而作为一个的粗视化粒子的情况下的、关于上述粗视化粒子的参数；以及粗视化...
【专利技术属性】
技术研发人员：猿渡元彬，仲村英也，
申请(专利权)人：公立大学法人大阪，
类型：发明
国别省市：
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