成像装置和成像方法制造方法及图纸

[问题]不存在引起无用事件的可能性。[解决方案]一种成像装置包括：光电转换单元，包括执行光电转换以产生电信号的多个光电转换元件；设置单元，根据多个光电转换元件的预定区域的噪声水平设置阈值；以及第一检测单元，在由多个光电转换元件产生的电信号的变化量超过阈值的情况下，检测检测信号。检测检测信号。检测检测信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】成像装置和成像方法


[0001]本公开涉及成像装置和成像方法。

技术介绍

[0002]作为事件驱动型成像装置之一，提出了被称为动态视觉传感器(DVS)的异步成像装置(例如参照专利文献1)。在异步成像装置中，仅当场景中发生特定事件(例如，移动)时，获取由事件引起的亮度水平已经改变的部分的数据。因此，与不必要地以固定帧速率获取图像的所有数据的普通同步成像装置相比，异步成像装置能够以高得多的速度获取图像数据。
[0003]引用列表
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：JP 2017
‑
535999 A

技术实现思路

[0006]本专利技术要解决的问题
[0007]由于DVS的灵敏度优异，因此DVS还对由成像装置中的光电转换元件的噪声引起的电信号的变化做出反应，并且即使在最初没有运动的场景中也可能产生事件。此外，生成最初必需的不必要事件增加了DVS的功耗。
[0008]因此，本公开提供了不引起无用事件的成像装置和成像方法。
[0009]问题的解决方案
[0010]为了解决上述问题，根据本公开，提供了一种成像装置，包括：
[0011]光电转换单元，包括执行光电转换以产生电信号的多个光电转换元件；
[0012]设置单元，根据多个光电转换元件的预定区域的噪声水平设置阈值；以及
[0013]第一检测单元，在由多个光电转换元件生成的电信号的变化量超过阈值的情况下，检测检测信号。
[0014]可以对预定区域中的光电转换元件遮光，以及
[0015]除了预定区域之外的光电转换元件各自可以光电转换入射光以产生电信号。
[0016]多个光电转换元件可布置为二维矩阵，并且遮光区域可对应于光电转换元件以行为单元的布置或光电转换元件以列为单元的布置中的至少一者。
[0017]在以行为单元的光电转换元件的布置和在以列为单元的光电转换元件的布置可以包括布置为二维矩阵的多个光电转换元件的端部。
[0018]设置单元可以基于在预定区域中由光电转换元件生成的电信号的变化量的绝对值在预定时间段中超过阈值的数量来设置阈值。
[0019]第一检测单元可以，在电信号的信号电平增加的方向上的变化量的绝对值超过第一阈值时，检测第一检测信号，并且可以在电信号的信号电平减小的方向上的变化量的绝对值超过第二阈值时，检测第二检测信号，以及
[0020]设置单元，
[0021]可基于在预定区域中由电转换元件生成的电信号的信号电平增加的方向上的变化量的绝对值在预定时间段中超过第一阈值的数量来设置第一阈值，以及
[0022]可基于在预定区域中由电转换元件生成的电信号的信号电平减小的方向上的变化量的绝对值在预定时间段中超过第二阈值的数量来设置第二阈值。
[0023]设置单元也可以基于在预定时间段中超过阈值的数量来分阶段地设置阈值。
[0024]设置单元可以随时间流逝而减小阈值的变化率。
[0025]设置单元可以以渐近地接近初始设置值的方式而减小阈值的变化率。
[0026]设置单元在将阈值设置为第一阶段的阈值后，以渐近地接近预定的设置值的方式减小变化率。
[0027]设置单元在预定时间段中超过阈值的数量少于预定值的情况下，不改变阈值。
[0028]设置单元可以根据与多个光电转换元件相对应的温度来设置阈值。
[0029]设置单元可以随着温度变化的增加而增加阈值的变化率。
[0030]第一检测单元可顺序地读取预定区域中的光电转换元件的电信号，以及
[0031]设置单元可以对在预定时间段内超过阈值的检测信号的数量进行计数。
[0032]为了解决上述问题，根据本公开，提供了一种成像方法，包括：
[0033]根据被遮光的光电转换元件的噪声水平设置阈值；以及
[0034]在由多个光电转换元件生成的电信号的变化量的绝对值超过阈值的情况下检测检测信号，多个光电转换元件中的每一个对入射光进行光电转换以生成电信号。
附图说明
[0035]图1是示出根据本公开的技术所应用的成像系统的系统配置的示例的框图。
[0036]图2是示出根据本公开的第一配置示例的成像装置的配置示例的框图。
[0037]图3是示出了像素阵列单元的配置的示例的框图。
[0038]图4是示出像素的电路配置的示例的电路图。
[0039]图5是示出地址事件检测单元的第一配置示例的框图。
[0040]图6是示出遮光像素的地址事件检测单元的第一配置示例的框图。
[0041]图7是示出了电流
‑
电压转换单元的配置的示例的电路图。
[0042]图8是示出地址事件检测单元中的减法器和量化器的配置的示例的电路图。
[0043]图9是示出地址事件检测单元的第二配置示例的框图。
[0044]图10是示出遮光像素的地址事件检测单元的第二配置示例的框图。
[0045]图11是示出根据本公开的第二配置示例的成像装置的配置示例的框图。
[0046]图12是示意性示出成像装置的层压芯片结构的分解透视图。
[0047]图13是示出根据第一配置示例的成像装置的列处理单元的配置的示例的框图。
[0048]图14是示出噪声事件与温度之间的关系的示意图。
[0049]图15是示出阈值控制单元的处理示例的流程图。
[0050]图16是示出并行处理中的阈值控制单元的处理示例的流程图。
[0051]图17是示出图15和图16中的步骤S1000的处理示例的流程图。
[0052]图18是示意性示出在图17中示出的处理示例的示图。
[0053]图19是示出图17中所示的执行三个周期的处理的示例的示图。
[0054]图20是示出了独立地调整第一阈值和第二阈值的处理示例的流程图。
[0055]图21是示意性地示出了独立地调整第一阈值和第二阈值的处理示例的示图。
[0056]图22是示出在并行处理中独立地调整第一阈值和第二阈值的处理示例的流程图。
[0057]图23是示出阈值分阶段地改变的示例的流程图。
[0058]图24是示意性示出在图23中所示的处理示例的示图。
[0059]图25是示出第一阈值分阶段地改变的示例的流程图。
[0060]图26是示意性地示出了第一阈值分阶段地改变的示例的示图。
[0061]图27是示出分阶段地改变第二阈值的示例的流程图。
[0062]图28是示意性地示出了第二阈值分阶段地改变的示例的示图。
[0063]图29是示出设置有死区的示例的流程图。
[0064]图30是示意性地示出了设置有死区的第二阈值分阶段地改变的示例的示图。
[0065]图31是示出了阈值的变化量根据温度变化而改变的示例的流程图。
[0066]图32是示意性示出阈值的变化量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种成像装置，包括：光电转换单元，包括执行光电转换以产生电信号的多个光电转换元件；设置单元，根据所述多个光电转换元件中的预定区域的噪声水平设置阈值；以及第一检测单元，在由所述多个光电转换元件生成的所述电信号的变化量超过所述阈值的情况下，检测检测信号。2.根据权利要求1所述的成像装置，其中，所述预定区域中的所述光电转换元件被遮光，以及除了所述预定区域之外的所述光电转换元件各自光电转换入射光以产生所述电信号。3.根据权利要求2所述的成像装置，其中，所述多个光电转换元件被布置为二维矩阵，并且遮光区域对应于以行为单位的所述光电转换元件的布置和以列为单位的所述光电转换元件的布置中的至少一者。4.根据权利要求3所述的成像装置，其中，所述以行为单位的所述光电转换元件的所述布置和所述以列为单位的的所述光电转换元件的所述布置包括被布置为二维矩阵的所述多个光电转换元件的端部。5.根据权利要求1所述的成像装置，其中，所述设置单元基于由所述预定区域中的所述光电转换元件产生的电信号的所述变化量的绝对值在预定时间段中超过所述阈值的数量来设置所述阈值。6.根据权利要求1所述的成像装置，其中，所述第一检测单元，在所述电信号的信号电平增加的方向上的变化量的绝对值超过第一阈值时，检测第一检测信号，并且在所述电信号的所述信号电平减小的方向上的变化量的绝对值超过第二阈值时，检测第二检测信号，以及设置单元，基于在所述预定区域中由所述电转换元件生成的所述电信号的所述信号电平增加的所述方向上的所述变化量的绝对值在预定时间段中超过所述第一阈值的数量，设置所述第一阈值，以及基于在...

【专利技术属性】
技术研发人员：児玉和俊，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：